9 2007 jemn mechanika a optika fine mechanics and optics - Jemná ...
9 2007 jemn mechanika a optika fine mechanics and optics - Jemná ...
9 2007 jemn mechanika a optika fine mechanics and optics - Jemná ...
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Rastrovací hrotové mikroskopy Agilent Technologies<br />
Společnost H TEST a.s. rozšířila svoji nabídku testovacích<br />
systémů i o produkty divize Agilent Materials<br />
Sciences Solutions tj. AFM (Atomic Force Microscopy)/SPM<br />
(Scanning Probe Microscopy) rastrovací mikroskopy.<br />
Zásadní výhodou technologie AFM oproti elektronovým<br />
mikroskopům je, že měřené vzorky nemusí být<br />
vodivé! S technologií AFM lze dosáhnout rozlišení až<br />
v řádu jednotek nanometrů.<br />
Systémy Agilent se uplatní v:<br />
�� �������������<br />
�� ��������������<br />
�� ���������������������<br />
�� ����������������<br />
�� ��������<br />
Série 5500 AFM/SPM<br />
AFM mikroskop Agilent 5500 je vrcholný víceúčelový<br />
výzkumný mikroskopický systém pro AFM a SPM. Modulární<br />
koncepce této série dovoluje jednoduchou integraci stojanu<br />
pro velké vzorky až 150 x 200 mm (LS), invertovaného mikroskopu<br />
(ILM), scannerů pro malé i velké zobrazované plochy,<br />
adaptérů pro uchycení vzorků, soupravy pro elektrochemii<br />
nebo video mikroskopu.<br />
Série 5100 AFM/SPM<br />
AFM mikroskop Agilent 5100 je vhodný pro uživatele,<br />
kteří nepotřebují plnou funkčnost vrcholného modelu<br />
Agilent 5500, a přesto vyžadují možnost plné kontroly<br />
prostředí, ve kterém se nachází měřený vzorek. Pro plnou<br />
kontrolu prostředí, ve kterém se nachází měřený vzorek, je<br />
k dispozici volitelná hermeticky uzavřená komora a teplotně<br />
regulovaný adaptér pro uchycení vzorků.<br />
�� Velikost vzorku 20 mm x 20 mm<br />
�� Kontrola teploty a prostředí<br />
Série 5400 AFM/SPM<br />
Nový AFM mikroskop Agilent 5400 AFM/SPM je velmi<br />
přesný univerzální přístroj za dostupnou cenu, určený zejména<br />
pro oblast vzdělávání a výzkumu, a představuje tak ideální<br />
možnost zpřístupnění AFM technologie širokému spektru<br />
potenciálních uživatelů. Mikroskop je dodáván s podklady<br />
pro výuku AFM včetně vzorků pro experimenty.<br />
� Velikost vzorku 20 mm x 20 mm<br />
� Kontrola teploty<br />
��������������������<br />
H TEST a.s.<br />
Na okraji 44B<br />
162 00 Praha 6<br />
Tel.: 235 365 207, 204<br />
Fax: 235 363 893<br />
E-mail: info@htest.cz<br />
www.htest.cz<br />
www.agilent.com/find/nanotech
Change language