12.07.2015 Views

Nastavni plan i program za drugi ciklus - Eksperimentalna fizika - PMF

Nastavni plan i program za drugi ciklus - Eksperimentalna fizika - PMF

Nastavni plan i program za drugi ciklus - Eksperimentalna fizika - PMF

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

PRIRODNO-MATEMATIČKI FAKULTETSARAJEVOODSJEK ZA FIZIKUNASTAVNI PLAN I PROGRAMDRUGI CIKLUS STUDIJAEKSPERIMENTALNA FIZIKA1 GODINA (2 SEMESTRA)60 (E) CTS BODOVAZVANJEMAGISTAR FIZIKE~ 1 ~


NASTAVNI PLANPREDMETISEMESTRIIXXECTSP+V P+V BODOVIFizika metala II 2+3 6Fizika poluprovodnika II 2+3 6Izborni predmet I 2+2 5Izborni predmet II 2+2 5Izborni predmet III 2+1 4Izborni predmet IV 2+1 4Ukupno sati/ECTS bodova 24 30Fizika čvrstog stanja III 3+2 6Izborni predmet I 2+2 5Izborni predmet II 2+1 4Izborni predmet III 2+0 3Ukupno sati/ECTS bodova 14 18Magistarski – <strong>za</strong>vršni rad 12Ukupno sati/ECTS bodova 39 30P-Predavanja, V-VježbeOdsjek <strong>za</strong> fiziku će svake akademske godine ponuditi listu izbornih predmeta~ 2 ~


NASTAVNI PROGRAMIX SEMESTAR~ 3 ~


Šifra predmeta PCM513 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoA. OPĆI PODACIFIZIKA METALA IINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)Naziv predmetaFizika metala IITip predmetaObavezniBroj (E) CTS bodova 6Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije105 30 45 15 15Samostalni rad (sati) 45Obavezni prethodno položenipredmetiFizika čvrstog stanja IFizika čvrstog stanja IITermodinamikaStatistička <strong>fizika</strong>Predmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AsistentiFizika metala IDefekti u čvrstim tijelima, Interakcija s zračenja sa čvrstim tijelom, Fizikatankih slojeva, Magnetni materijali Amorfni sistemiB. CILJEVI PREDMETANakon usvojenih znanja sa kurseva iz Fizike metala I, te Fizike čvrstog stanja, ovaj predmet ima <strong>za</strong> ciljupoznavanje sa specifičnim karakteristikama metala. Studenti treba da se upoznaju sa nastajanjem, ososbinama iponašanjem čistih komponenti kao i metalnih sistema – legura.Na praktičnim vježbama studenti treba da nauče kako se metalni uzorci pripremaju <strong>za</strong> ispitivanjametalografskom metodom.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETASpecifični <strong>za</strong>daci su:1. upoznavanje sa procesima nastajanja, tipovima i osobinama čistih metala i metalnih sistema2. upoznavanje sa eksperimentalnim metodama <strong>za</strong> ispitivanje nekih osobina metala3. upoznavanje sa <strong>fizika</strong>lnim procesima koji upravljaju i dominiraju u procesima nastajanja čvrstihfa<strong>za</strong>4. sticanje znanja i vještine <strong>za</strong> pripremu uzoraka <strong>za</strong> metalografska ispitivanjaD. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESANakon odslušane nastave na ovom predmetu student bi trebalo da-usvoji znanja o karakteristikama metala i metalnih sistema-razumije eksperimentalne tehnike koje omogućavaju ispitivanje <strong>fizika</strong>lnih osobina metala, njihovestrukture i i ispitivanje tačaka faznih preobražaja u metalima-usvoji znanja o pravilima nastajanja različitih tipova čvrtstih fa<strong>za</strong> pri procesu očvršćavanja, samproces izrastanja čvrstih fa<strong>za</strong> iz rastopa kao i njihove osobine~ 4 ~


-ovlada praktičnim znanjima o pripremi uzoraka <strong>za</strong> metalografska ispitivanja, samim metalografskimispitivanjima, te termijskom analizom metalnih uzorakaE. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice1. Ravnotežni dijagrami. Tipovi.Primjer 1. Potpuna nerastvorljivost komponenti i utečnom stanju i u čvrstom stanju2. Primjer2. Djelimična rastvorljivost u tečnomstanju, potpuna nerastvorljivost u čvrstom stanjuRaoultov <strong>za</strong>kon:<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalnopredavanja 7 1predavanja7 2Vježba I Kvantitativna ispitivanja složenijihsistema3. Primjer 3. Potpuna rastvorljivost komponenti i utečnom i u čvrstom stanju. Čvrsti rastvori saneograničenom rastvorljivošćuVježba I4. Binarne legure. Gibsova slobodna energija ufunkciji temperature ikoncentracije.Lab.vježbepredavanjaLab.vježbepredavanja7 37 3Vježba I5. Hemijski potencijal i aktivnostVježba II Termijska anali<strong>za</strong>6. Idealni, regularni i realni čvrsti rastvorilab.vježbepredavanja7 3lab.vježbepredavanja 7 3TEST7. Ravnotežna koncentracija vakansija.Primjer formiranja ravnotežnog dijagrama <strong>za</strong>binarni sistem crtanjem krivih <strong>za</strong> slobodne energijeVježba II8. Ravnotežni dijagrami <strong>za</strong> višekemponentne sistemeVježba II9. Difuzija u metalima. Atomski mehanizmi difuzijeVježba III Dobivanje legura10. Intersticijska difuzija. Supstitucijska difuzijaVježba III11. Samodifuzija. Difuzija vakansija.Vježba IIIpredavanjalab.vježbepredavanjalab.vježbelab.vježbapredavanjalab.vježbepredavanjalab.vježbe7 37 37 37 37 312. Difuzija u supstitucijskim legurama. Kirkendalovefektpredavanja 7 3~ 5 ~


13. Difuzija na granicama zrna i duž površina predavanja 7 314. Amorfni metali-metalna stakla. Metode dobivanja.Strukturna građa. ModeliVježba IV Priprema i proračun parametara <strong>za</strong>dobivanje amofnih trakapredavanjalab.vježbe7 315. Relaksacioni procesi u amorfnim metalima predavanja7 3Vježba IVlab.vježbe16 Završni ispit / / 3F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan broj Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Urednost pohađanja nastave - 95-100 10 AAngažman na nastavi 10 5,5 85-94 9 BTest tokom kursa 40 22 75-84 8 CSeminarski rad 20 11 65-74 7 DZavršni ispit 30 17,5 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 FG. LITERATURA1. T.Mihać: Fizika metala, skripta2. T.Mihać: Praktikum iz fizike metala, Univerzitetska knjiga, Sarajevo 2001.g..3. Ch.Kittel: Uvod u fiziku čvrstog stanja, Savremena administracija, Beograd 1970.4. V.Šips: Uvod u fiziku čvrstog stanja, Školska knjiga Zagreb5. S.Tomašević: Fizicka metalurgija, skripta, Metalurski fakultet, Zenica6. D.A.Porter, K.E.Easterling:Phase transformations in metals and Alloys, Chapman&Hall 1984.~ 6 ~


Šifra predmeta PCM511 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoFIZIKA POLUPROVODNIKA IIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)Naziv predmetaFizika poluprovodnika IITip predmetaObavezniBroj (E) CTS bodova 6Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije75 30 45Samostalni rad (sati) 50Obavezni prethodno položenipredmetiFizika čvrstog stanjaFizika poluprovodnikaIPredmet relevantan <strong>za</strong>predmetePoluprovodnički mikro-uređajiDefekti u čvrstim tijelima I i IINastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETACilj kursa je upoznati studente sa procesima u poluprovodničkim materijalima, kao i mogućnostima njihoveprimjene.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAUpoznavanje studenata sa procesima u poluprovodničkim materijalima, kao i mogućnostima njihove primjene.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAZaokruživanj znanja iz oblasti fizike poluprovodnika.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice1.Uvod; cilj i sadržaj kursa, literatura, značajpoluprovodničkih materijala<strong>Nastavni</strong> metodpredavanjaaud.vježbeSati radaKontakt Samostalno222. Difuzija i <strong>za</strong>nošenje neravnotežnih nosilaca;Jednačina kontinuiteta; Difuziona jednačina,Einsteinova relacija3. Difuzija i vodljivost u ekstrinsičnim materijalima;Skoro intrinsični materijali4. Raspršenje elektrona i šupljina; Promjene stanja;Mehanizmi raspršenja5. Raspršenje na vibracijama rešetke; Fononi;Vrijeme relaksacije~ 7 ~predavanjaaud.vježbepredavanjaaud.vježbe22predavanja2aud.vježbe2predavanja2aud.vježbe26. Raspršenje na neutralnim i jonizovanim predavanja 222


primjesama aud.vježbe 27. Raspršenje na defektima. Uticaj raspršenja napokretljivostpredavanjalab. vježbe228. - Procesi generacije i rekombinacije;predavanja2Radijaciona rekombinacija; Augerovalab. vježbe2rekombinacija.9. Rekombinacija uz pomoć stupica i lokaliziranihcentara. Površinska rekombinacijapredavanjalab.vježbe2210. Optičke pojave u poluprovodnicima, optičkekonstante poluprovodnikapredavanjalab. vježbe2211. Apsorpcija od strane slobodnih nosilaca, rešetke,primjesa i defekata, eksitona.predavanjalab. vježbe2212. Fotovodljivost; Foto- magnetski efekat. Emisija predavanja213. Efekti jakog električnog i magnetskog polja natransportne i optičke osobina.lab. vježberedavanjalab. vježbe22214. Kontaktne pojave u poluprovodnicima; Debyevadužina, Izlazni rad, Kontakni naponpredavanjaaud. vježbe15. Amorfni poluprovodnici i tečni kristali predavanjaaud. vježbe2222F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan broj Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Urednost pohađanja nastave 10 5,5 95 - 100 10 AAngažman na nastavi 10 5,5 85-94 9 B-- 75-84 8 CSeminarski rad 30 16,5 65-74 7 DZavršni ispit 50 27,5 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURA1. R.A. Smith: Semiconductors, Cambridge University Press, 1978.2. S. M. Sze: Physics of Semiconductor Devices, 3th ed. John Wiley & Sons 2002~ 8 ~


X SEMESTAR~ 9 ~


Šifra predmeta PCM514 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoFIZIKA ČVRSTOG STANJA IIIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeseti (X)Naziv predmetaFizika čvrstog stanja IIITip predmetaObavezniBroj (E) CTS bodova 6Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije95 45 30 5 15Samostalni rad (sati) 55Obavezni prethodno položeni Fizika čvrstog stanja I, Fizika čvrstog stanja IIpredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong> Za sve predmete X semestra Eksperimentalne fizikepredmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETAProdubljavanje znanja iz oblasti Fizike čvrstog stanja.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAKroz ovaj predmet treba izučiti oblasti koje su most ka razumijevanju specifičnih poglavlja mikroelektronike inanotehnologije.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESARezultat znanja stečenog na ovom predmetu treba da bude poznavanje teorija u poluprovodnicima, optičkih imagnetnih svojstava u čvrstom tijelu, u dielektričnim materijalima, te razumijevanje pojava supraprovodnosti.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice~ 10 ~<strong>Nastavni</strong> metod1. Fermi površina Predavanja, vježbei seminarski2. Eksperimentalno određivanje fermi površine: Predavanja, vježbeAnomalni površinski efekat. Ciklotronska i seminarskirezonancija. De Haas van Alpen’ov efekat3. Poluprovodnički uređaji Predavanja, vježbei seminarski4. Struja difuzije Predavanja, vježbei seminarski5. Direktna i indirektna eksitacija Predavanja, vježbei seminarskiSati radaKontakt Samostalno5 37 46 47 46 46. Dielektrične osobine Predavanja, vježbe 6 4


i seminarski7. I parcijalni ispitPredavanja, vježbe 7 3Klauzijus-Masotijeva relacijai seminarski8. Elektronska i jonska polari<strong>za</strong>bilnost Predavanja, vježbe 6 3i seminarski9. Optičke osobine Predavanja, vježbe 7 3i seminarski10. Lom, apsorpcija i refleksija Predavanja, vježbe 7 3i seminarski11. Kramers-Kroningove relacije. Unutarzonski Predavanja, vježbe 6 3prelazii seminarski12. II parcijalni ispitPredavanja, vježbe 7 3Magnetne osobinei seminarski13. Adijabatska demagneti<strong>za</strong>cija. Elektronska Predavanja, vježbe 6 3paramagnetna rezonancija. Hajzenbergova i seminarskiteorija feromagnetizma.14. Superprovodne karakteristike. Londonove Predavanja, vježbe 6 4jednačine. Pipardova teorijai seminarski15. Mikroskopska teorija supraprovodnosti. Predavanja, vježbe 6 3Superprovodno tuneliranje.i seminarski16. Završni ispit 4F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Zadaće (Seminarski) 20 11 95 - 100 10 APrvi parcijalni ispit 20 11 85-94 9 BDrugi parcijalni ispit 20 11 75-84 8 CZavršni ispit 40 22 65-74 7 D55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 FG. LITERATURA1. Solid State Physics, H.C.Gupta, Vikas Publ. 19962. The Solid State, H.M.Rosenberg, Oxford Sci. Publ. 19883. Principles of the Theory of Solids, J.M.Ziman, Cambridge Univ. Press, 1989.~ 11 ~


IZBORNI PREDMETIPREDMETISEMESTRIIX X (E) CTSP+V P+V BODOVIIzborni predmeti I, II, iII 14 18FotonikaViši kurs optike IDefekti u čvrstim tijelima IIInterakcija zračenja s čvrstim tijelomAmorfni sistemi2+22+12+12+12+1(2+1)54444Izborni predmeti I, II, III 9 12Kompjutaciona <strong>fizika</strong> IIIAkvizicija podataka pomoću računaraUređaji <strong>za</strong> dobivanje slike u medicinskoj fiziciPoluprovodnički mikro-uređajiMagnetni materijaliMetode <strong>za</strong> karakteri<strong>za</strong>ciju tankih slojeva(2+2)(2+0)2+22+22+12+02+02+0554333P-Predavanja, V-VježbeBrojevi u <strong>za</strong>gradama označavaju da se nastava iz toga predmeta može održati i u navedenomsemestru, o čemu će biti postignut dogovor na početku svake školske godine.~ 12 ~


Šifra predmeta PTH587 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoFOTONIKAA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)Naziv predmetaFotonikaTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 5Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije90 30 30 15 15Samostalni rad (sati) 45Obavezni prethodno položeni Optika, Osnove laserske fizikepredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteInterakcija elektromagnetnog polja i atoma, Kvantna optika, Odabranapoglavlja optike, Interakcija zračenja sa čvrstim tijelom, Primjena lasera.Nastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AsistentiB. CILJEVI PREDMETACilj predmeta je upoznavanje sa osnovama fotonike.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAOvladavanje znanjima iz fotonike. Upoznavanje sa različitim primjenama.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAOčekuje se da studenti uspješno usvoje sadržaj predmeta i polože ispit.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalno17. Uvod. Geometrijska optika, talasna optika i Predavanja23optika snopova.Računske vježbe 218. Fourierova optika. Predavanja23Računske vježbe 219. Elektromagnetna, polari<strong>za</strong>ciona i kristalna Predavanja23optika.Računske vježbe 220. Optika talasovoda. Optička vlakna. Rezonatori. Predavanja23Računske vježbe 221. Statistička optika. Predavanja23Računske vježbe 222. Optika fotona. Predavanja23Računske vježbe 223. Prvi parcijalni ispit 4 324. Fotoni i atomi. Laserski pojačavači. Laseri. PredavanjaRačunske vježbe223~ 13 ~


25. Fotoni u poluprovodnicima. Izvori. Detektori. Predavanja23Računske vježbe 226. Elektrooptika. Predavanja23Računske vježbe 227. Nelinearna optika. Predavanja23Računske vježbe 228. Akustooptika. Predavanja23Računske vježbe 229. Optički kompjuteri. Predavanja23Računske vježbe 230. Optičke komunikacije. Predavanja23Računske vježbe 231. Drugi parcijalni ispit 4 332. Završni ispit 4F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja – kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Zadaće 10 5 95-100 10 APrvi parcijalni ispit 25 14 85-94 9 BDrugi parcijalni ispit 25 14 75-84 8 CZavršni ispit 40 22 65-74 7 D55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 FG. LITERATURAUdžbenička literature:1. D. Milošević, Osnove lasera (sa zbirkom riješenih <strong>za</strong>dataka), 1996. (nerecenzirana skripta)2. B. E. A. Saleh, M. C. Teich, Fundamentals of photonics, John Wiley & Sons, New York, 1991.Dopunska literatura i <strong>drugi</strong> izvori:1. F. Graham, T. A. King, Optics and photonics, John Wiley & Sons, Chichester, 2000.2. R. Menzel, Photonics, Springer, Berlin, 2001.3. W. T. Silfvast, Laser Fundamentals, Cambridge University Press, Cambridge, 1996.4. E. Hecht, Optics, Addison-Wesley, San Francisco, 2002.5. O. S. Heavens, R. W. Ditchburn, Insight into optics, Wiley, Chichester, 1991.6. W. Christian i dr., Waves and optics simulations, Wiley, New York, 1995.7. Yung-Kuo Lim, Problems and solutions on optics, World Scientific, New Yersey, 2003.~ 14 ~


Šifra predmeta PTH396 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoVIŠI KURS OPTIKE IA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarŠesti (VI), sedmi (VII), osmi (VIII)Naziv predmetaViši kurs optike ITip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 4Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije63 30 15 9 9Samostalni rad (sati) 22,5Obavezni prethodno položeni Elektromagneti<strong>za</strong>m, OptikapredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AsistentiInterakcija elektromagnetnog polja i atoma, Kvantna optika, Odabranapoglavlja optike, Fotonika, Interakcija zračenja sa čvrstim tijelom, Primjenalasera.B. CILJEVI PREDMETACilj predmeta je da produbljivanje znanja koje su studenti stekli u toku opšteg kursa optike.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAOvladavanje znanjima i matematičkim aparatomkoji se koristi u optici.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAOčekuje se da studenti uspješno usvoje sadržaj predmeta i polože ispit.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalno1. Elektromagnetni talasi: osobine, gustoća fluksa Predavanja21,5energije i impulsa. Pritisak svjetlosti.Računske vježbe 12. Elektromagnetni talasi: superpozicija talasa, Predavanja21,5polari<strong>za</strong>cija. Usrednjavanje. Fotometrija.Računske vježbe 13. Prostiranje svjetlosti u izotropnim sredinama. Predavanja21,5Računske vježbe 14. Geometrijska optika. Predavanja21,5Računske vježbe 15. Interferencija. Predavanja21,5Računske vježbe 16. Difrakcija. Metod Fresnelovih zona. Kirchhoffova Predavanja21,5aproksimacija.Računske vježbe 17. Prvi test 3 1,58. Fraunhoferova difrakcija. Fresnelova difrakcija. Predavanja 2 1,5~ 15 ~


Računske vježbe 19. Nemonohromatsko zračenje. Predavanja21,5Računske vježbe 110. Osnovni koncepti Fourierove optike. Predavanja21,5Računske vježbe 111. Prostiranje svjetlosti u anizotropnim sredinama. Predavanja21,5Računske vježbe 112. Rasijanje svjetlosti. Predavanja21,5Računske vježbe 113. Laseri. Predavanja21,5Računske vježbe 114. Nelinearni fenomeni u optici. Predavanja21,5Računske vježbe 115. Drugi test 3 1,516. Završni ispitF. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja – kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Domaće <strong>za</strong>daće 10 5 95 - 100 10 APrvi parcijalni ispit 25 13 85-94 9 BDrugi parcijalni ispit 25 13 75-84 8 C65-74 7 DZavršni ispit 40 24 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURAObavezna literatura:1. N. Matvejev, Optics, Mir Publisher, Moscow, 1988.Šira literatura:1. E. I. Butikov, Optika, Visšaja škola, Moskva, 1986.2. E. Hecht, Optics, Addison-Wesley, San Francisco, 2002.3. E. Hecht, Theory and problems of optics, Schaum’s outline series, McGraw-Hill, New York,1975.4. E. Hecht, A. Zajac, Optics, Addison-Wesley, Reading, 1974.5. O. S. Heavens, R. W. Ditchburn, Insight into optics, Wiley, Chichester, 1991.6. M. Born, E. Wolf, Principles of optics, Pergamon, Oxford, 1970.7. J. W. Goodman, Introduction to Fourier optics, McGraw-Hill, New York, 1968.8. W. Christian i dr., Waves and optics simulations, Wiley, New York, 1995.9. Lim Yung-kuo, Problems and solutions on optics, World Scientific, New Yersey, 2003.10. D. V. Sivuhin, Sbornik <strong>za</strong>dač po obščemu kursu fiziki: Optika, Nauka, Moskva, 1977.11. M. Rousseau, G. P. Mathieu, J. W. Blaker, Problems in optics, Pergamon Press, Oxford, 1973.(ruski prevod)~ 16 ~


Šifra predmeta PCM581 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoDEFEKTI U ČVRSTIM TIJELIMA IIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)Naziv predmetaDefekti u čvrstim tijelima IITip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 4Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije60 30 15 15Samostalni rad (sati) 40Obavezni prethodno položenipredmetiFizika čvrstog stanjaDefekti u čvrstim tijelima IPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteFizika poluprovodnikaFizika metalaNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETAUpoznati studente sa defektima u čvrstim tijelima, načinima njihovog nastajanja i išče<strong>za</strong>vanja i uticaju defekatana osobine materijalaC. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAZadatak predmeta je da studente upozna sa mehanizmima kojim defekti mogu da mijenjaju osobine materijala.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESASavladavanje znanja o nesavršenostima u čvrstim tijelima, metodama njihovog uvođenja u čvrsta tijela, te uticajna osobine čvrstih tijelaE. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice1. - Uvod; Klasifikacija defekata ; Načini uvođenjadefekata u čvrsta tijela.2. -Eksperimentalni aspekti defekata; Elektronskaparamagnetska rezonacija; ElektronskaZeemanova interakcija Spinska rezonancija.3. -Optičke osobine, Vjerovatnoća prela<strong>za</strong>; Optičkipoprečni presjek:Teoretski model, Mjerenje.4. Električne osobine; Distribucija nosilaca izmeđuenergetskih vrpci i nivoa defekata~ 17 ~<strong>Nastavni</strong> metodpredavanjavježbepredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminariSati radaKontakt Samostalno221221123122311


5. Vodljivost u slučaju interakcije sa defektima;Raspršenje nosilaca; Eksperimentalno određivanjekoncentracije defekata i poprečnog presjekarasijanja.predavanjavježbeseminari21136. Emisija i rekombinacija nosilaca; Brzina emisije i<strong>za</strong>hvata; DLTS, Neradijacioni prelazi.7. Druge metode detekcije:Fotoeksitacija.Fotovodljivost; ODMR;Kalorimetrijska apsorpcija; Fotoelastičnaspektroskopija.8. TestUvođenje defekata radijacijom; Interakcijazračenja sa materijom; Dinamika sudara;Energetski prag <strong>za</strong> pomjeranja atoma9. -Odgrijavanje defekata; Izotermno i izohronoodgrijavanje; Određivanje parametaraodgrijavanja.. Napon, elestičnost i deformacijakristala, Plastična deformacija; Kli<strong>za</strong>nje10. - Dislokacije podjela i načini nastajanja- Napon,elestičnost i deformacija kristala, Plastičnadeformacija; Kli<strong>za</strong>nje11. Dislokacije u metalnim strukturama; Dislokacije u<strong>drugi</strong>m materijalima12. Burgersov vektor; Polja napre<strong>za</strong>nja okodislokacija; Gustina dislokacija13. - Interakcija dislokacija sa <strong>drugi</strong>m defektima injihov uticaj na osobine materijala.14. Umnožavanje dislokacija i kli<strong>za</strong>nje; Migracijadislokacija i čvrstoća legurapredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminaripredavanjavježbeseminari15. - Ostali defekti u čvrstim tijelima predavanjavježbeseminari21121121121121121121121121121116 Završni ispit / 33232232322F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan broj Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Urednost pohađanja nastave 10 5,5 95 - 100 10 AAngažman na nastavi 10 5,5 85-94 9 BTest tokom kursa 30 16,5 75-84 8 CSeminarski rad 10 5,5 65-74 7 DZavršni ispit 40 22 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FX~ 18 ~


G. LITERATURA1. Bourgoin M. Lannoo: Point Defects in Semiconductors, Springer-Verlag 19832. J. Friedel : Dislocations, Addison-Wesley~ 19 ~


Šifra predmeta PCM583 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoINTERAKCIJA ZRAČENJA SA ČVRSTIM TIJELOMA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX) Deseti (X)Naziv predmeta Interakcija zračenja sa čvrstim tijelomTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 4Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije75 30 15 15 15Samostalni rad (sati) 30Obavezni prethodno Fizika čvrstog stanja I i IIpoloženi predmetiPredmet relevantan <strong>za</strong> Fizika čvrstog stanja IIIpredmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilacpredmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETAAnali<strong>za</strong> različitih načina interakcije čestičnog zračenja (jonskih i elektronskih snopova) sa čvrstim tijelom.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAPrimjena teorijakih metoda interakcije na primjenu u elektronskoj mikroskopiji, Auger mikroskopiji,kompjuterskoj tomografiji.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESADobro poznavanje procesa interakcije jonskih, elektronskih snopova sa čvrstim tijelom u različitom opsegueksperimentalnih parametara (parametara upadnog čestičnog zračenja i parametara mete).E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalno1. Interakcija jonskog zračenja sa čvrstim Presavanja i3 2tijelomseminari2. Gubitak energije i snaga <strong>za</strong>ustavljanja “ 3 23. Rasprašivanje na metalnoj površini “ 3 24. Neutrali<strong>za</strong>cija jona na metalnoj površini“ 3 2(potencijalna emisija sekundarnih elektrona)5. Modifikacija materijala jonskim“ 3 2bombardovanjem6. Tehnologije jonske implementacije “ 3 27. Interakcija elektronskog zračenja sa čvrstim “ 3 2~ 20 ~


tijelom8. Radijacioni efekti u čvrstom tijelu “ 3 29. Auger elektronska spektroskopija “ 3 210. Emisija elektrona sa metalne površine2uzrokovana bombardovanjem sa naelektrisanimi neutralnim česticama (Kinetička emisija)11. Interakcija fotonskog zračenja sa čvrstim“ 3 2tijelom12. Spektrometrija X-zracima “ 3 213. Aplikacija u materijalima i nanotehnologiji “ 3 214. Sinhrotronski radijacioni instrumenti “ 3 215. Nadoknade16. Završni ispitF. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Zadaće (Seminarski) 20 9 95 - 100 10 APrvi parcijalni ispit 20 11 85-94 9 BDrugi parcijalni ispit 20 11 75-84 8 CZavršni ispit 40 24 65-74 7 D55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURAUdžbenička literature:1. M. Nastasi, J.W. Mayer and J.K. Hirvonen Ion-Solid Interactions Cambridge U. Press 19962. Roger Smith, Mario Jakas, Dave Ashworth, Bob Oven, Mark Bowyer, Ivan Chakarov and RogerWebb Atom and Ion Collisions in Solids and at Surfaces : Theory Simulation and ApplicationsCambridge University Press Hardback 1996Dopunska literatura i <strong>drugi</strong> izvori:1. Ed.: J.W. Rabalais. Low Energy Ion-Solid Interactions Wiley Interscience 19942. D.P. Woodruff and T.A. Delchar Modern Techniques of Surface Science, Second EditionCambridge U. Press 19943. Manfred Kaminski: Atomic and Ionic Impact Phenomena on Metal Surfaces, Springer Verlag,1965~ 21 ~


Šifra predmeta PCS531 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoKOMPJUTACIONA FIZIKA IIIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjerTeorijska <strong>fizika</strong>, <strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)- Teorijska <strong>fizika</strong>Deseti (X)-<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>Naziv predmetaKompjutaciona <strong>fizika</strong> IIITip predmetaTeorijska <strong>fizika</strong>: obavezni<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>: izborniBroj (E) CTS bodova 5Ukupno Predavanja Vježbe Seminari KonsultacijeKontakt sati30 30 Po potrebiSamostalni rad (sati)IndividualnoObavezni prethodno položenipredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETACilj predmeta je da studenti ovladaju numeričkim metodama u fizici i osposobe se <strong>za</strong> samostalan rad u primjeniračunara pri modeliranju <strong>fizika</strong>lnih sistema i procesa.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAD. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAE. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jediniceNumeričke metode <strong>za</strong> linearne sisteme, direktnei iterativne.Interpolacija polinomima i racionalnimfunkcijama, spline interpolacija.Rješavanje sistema nelinearnih jednačina.Tehnike numeričke integracije.Statistički opis i anali<strong>za</strong> podataka.Spektralna – Fourier anali<strong>za</strong>, DFT, FFT.Metode optimi<strong>za</strong>cije.Matrični problem vlastitih vrijednosti i vlastitihvektora.Integracija običnih i parcijalnih diferencijalni~ 22 ~<strong>Nastavni</strong> metodPredavanja i vježbeSati radaKontakt SamostalnoPo nast. Individualno<strong>plan</strong>u


jednačina, problemi sa početnim i graničnimuslovima.Generacija slučajnih brojeva, metode MonteCarlo.Programi i <strong>program</strong>ski jezici <strong>za</strong> simboličkaračunanja. Programi <strong>za</strong> vizuali<strong>za</strong>ciju podataka.Sve izložene tehnike ilustruju se relevantnim<strong>fizika</strong>lnim primjerima.Završni ispitF. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Zadaće 15 6 95 – 100 10 APrvi parcijalni ispit 25 12 85 – 94 9 BDrugi parcijalni ispit 25 12 75 – 84 8 CZavršni ispit 35 25 65 – 74 7 D55 – 64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 FVježbe prate <strong>program</strong> predavanja. Tokom semestra daju se dvije <strong>za</strong>daće. Prvi parcijalni ispit održava sesredinom semestra, a <strong>drugi</strong> na kraju semestra. Završnom ispitu pristupaju studenti koji su dobili najmanje55% bodova iz <strong>za</strong>daća i parcijalnih ispita. Parcijalni ispiti sastoje se u samostalnoj izradi i prezentacijiprojektnog <strong>za</strong>datka. Završni ispit po pravilu je usmeni.G. LITERATURAUdžbenička literatura:1. W.H. Press, S.A. Teukolsky, W.T. Vetterling, B.P. Flannery, Numerical Recipes, Third Edition,Cambridge University Press 2007.Dopunska literatura i <strong>drugi</strong> izvori:1. M. Hjorth-Jensen, Computational Physics, University of Oslo, 20072. R.H. Landau, M.J. Páez Mejiá, Computational Physics - Problem Solving with Computers, JohnWiley & Sons 19973. Baumann, Mathematica for Theoretical Physics, Second Edition, Springer Verlag 2005~ 23 ~


Šifra predmeta PCS580 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoAKVIZICIJA PODATAKA POMOĆU RAČUNARAA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeseti (X)Naziv predmetaAkvizicija podataka pomoću računaraTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 5Kontakt satiSamostalni rad (sati) 55Obavezni prethodno položenipredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije70 30 30 - 10B. CILJEVI PREDMETACilj i <strong>za</strong>datak predmeta je da studente upozna sa savremenim načinima mjerenja fizičkih veličina putem senzorai računaraC. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETANajveći dio <strong>program</strong>a predmeta AKVIZICIJA PODATAKA POMOĆU RAČUNARA bavi se praktičnimupustvima kako razumjeti međusobnu <strong>za</strong>visnost mjerenih analognih <strong>fizika</strong>lnih veličina i elektronskog mjerenjaistih. Cilj je da studenti razumiju i nauče kako da koriste savremene instrumente i kako da ih povežu saračunarom koji će na sebe preuzeti najveći dio rutinskog mjerenja.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAOčekuje se da studenti steknu vještinu i samopouzdanje u razmišljanju i komuniciranju kada se to odnosiisključivo na oblast njihovog studija i naučne discipline koju izučavaju.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr.Nastavne teme i nastavne jedinice1. MJERNI INSTRUMENTIInformacije, signali i sistemi. Sistemi <strong>za</strong> mjerenje.2. SISTEMI REGULACIJESistemi automatske regulacije. Analogni i digitalni.3. DIGITALNI PRETVARAČI IDirektno digitalno kodiranje. Digitalni enkoderi na bazikontakta. Magnetni i optički kodovi.~ 24 ~<strong>Nastavni</strong>metodSati radaKontakt SamostalnoPredavanja 2+2 2Predavanja 2+2 2Predavanja 2+2 2


4. DIGITALNI PRETVARAČI IIPredavanja 2+2 2Standardi i greške. Poboljšanje rezolucije.5. LOGIČKI ELEMENTIPredavanja 2+2 2Matematička logika i reali<strong>za</strong>cija logičkih elemenata.6. ULAZNO-IZLAZNE STRUKTURE IPredavanja 2+2 2Programirane, buffered i sa direktnim pristupom memoriji.7. ULAZNO-IZLAZNE STRUKTURE IIPredavanja 2+2 2Konvencionalni I-O bus, multiprocesorski,multidrop/multibus.8. INTERFACINGPredavanja 2+2 2Digitalno-analogna konverzija (adder i ladder pretvarači).Digitalni ulazni kodovi i analogni izlazi.9. KARAKTERISTIKE PRETVARAČA IPredavanja 2+2 2Dužina riječi i rezolucija. Širina skale, kodne greške, DACnelinearnodst.10. KARAKTERISTIKE PRETVARAČA IIPredavanja 2+2 2DAC i ADC diferencijalna nelinearnost, DAC gain greška,DAC glitch energija, DAC setting time i ADC offset, ADCcoverzion rate.11. PROCESIRANJE ULAZNIH I IZLAZNIH SIGNALA I Predavanja 2+2 2Karakteristike procesiranja. Greške. Konstante kašnjenja.Filtriranje.12. PROCESIRANJE ULAZNIH I IZLAZNIH SIGNALA II Predavanja 2+2 2Sistemi interfejsa i standardi. Komunikacije. Distribuiranisistemi regulacije. ISO sedmoslojni model.13. PRIMJER MJERENJA TEMPERATURE Predavanja 2+2 214. PRIMJER MJERENJA PRITISKA Predavanja 2+2 215. PRIMJER MJERENJA PROTOKA Predavanja 2+2 216. Završni ispit Praktični dio 1 10ispitaUkupno sati 60 30F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja – kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Kolokvirane vježbe 95 - 100 10 APrvi parcijalni ispit -test 30 16,5 85-94 9 BPrvi parcijalni ispit-praktični75-84 8 CdioDrugi parcijalni ispit -test 30 16,5 65-74 7 DDrugi parcijalni ispit-praktični55-64 6 EdioZavršni ispit 40 22 Manje od 55 5 F, FXU k u p n o 100 55~ 25 ~


G. LITERATURA1. George C. Barney: INTELLIGENT INSTRUMENTATION – Microprocessor application inmeasurement and control, Prentice Hall, New York, 1998.2. John P. Bentley: PRINCIPLES OF MEASUREMENT SYSTEMS, John Wiley and Sons, NewYork, 1993.3. Jacob Fraden: AIP HANDBOOK OF MODERN SENSORS, AIP Press, New York, 1993.4. Harry N. Norton: ELECTRONIC ANALYSIS INSTRUMENTS, Prentice Hall, Englewood Cliffs,New Jersey, 1992.~ 26 ~


Šifra predmeta PAP485 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoUREĐAJI ZA DOBIVANJE SLIKE U MEDICINSKOJ FIZICIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjerFizika- Opći smjer-<strong>Eksperimentalna</strong> i Medicinska radijaciona <strong>fizika</strong>SemestarDeseti (X)Naziv predmetaUređaji <strong>za</strong> dobivanje slike u medicinskoj fiziciTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 4Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije60 30 15 -- 15Samostalni rad (sati) 40Obavezni prethodno položeni Opće fizikepredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AsistentiB. CILJEVI PREDMETA-Cilj ovoga predmeta je dati studentima bazična teorijska i prektična znanja o uređajima <strong>za</strong> dobivanje slike iprocesima formiranja slike u medicinskoj fizici, kao pripreme <strong>za</strong> rad u medicinskoj praksi.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETASpecifični <strong>za</strong>daci predmeta su:-Upoznavanje sa osnovnim principima rada uređaja koji se danas najčešće koriste u dijagnostičkoj radiologiji-Usvajanje osnovnih znanja neophodnih <strong>za</strong> razumjevanje procesa nastanka slike u uređajima koji se danaskoriste u dijagnostičkoj radiologiji.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESANakon odslušanog predmeta studenti bi trebali da:-Razumiju i ovladaju osnovnim principima rada uređaja <strong>za</strong> dobivenje slike koji se danas najčešće koriste udijagnostičkoj radiologiji, te ih znaju primjeniti u medicinskoj praksi-Razumiju procese nastanka slike u uređajima koji se koriste u dijagnostičkoj radiologijiE. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr.Nastavne teme i nastavne jedinice1. Uvod:Opće karakterisitike uređaja <strong>za</strong> produkciju slike umedicinskoj fiziciVježbe2. Generatori X-zračenja:Zakočno zračenje (bremsstrahlung) i fluorescencija.Visokonaponski generatori. Izbor materijala<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt SamostalnoPredavanja 1Predavanja 2 2~ 27 ~


<strong>za</strong> izradu i geometrija anode. Heelov efekat. Utjecajizbora filtera na snop X-zračenja. Mjerenjepoludebljine (HVL). Efektivna energijaVježbe 2 13. Procesi interakcije X- i γ-zračenja u tijelu pacijenta:Slabljenje X- i γ-zraka u tkivu. F-faktor. Sekundarnozračenje i metode njegovog smanjenja. Tkivnado<strong>za</strong>. Kontrast u mediju. Mreža (Grid)Visoko i nisko-voltažna radiografija.Predavanja 22Vježbe4. Detektori u rendgenskoj dijagnostici:Pojačivači intenziteta slike. Fotografske ploče. Televizija.Pojačivački ekrani. Si-detektoriVježbe5. Radiografija:Rendgenski film. Pojačivački ekrani u radiografiji.Radiografska mreža (Grid). Metode i tehnike uvećanjaslike u radiografiji. Digitalna radiografija.Vježbe6. Fluoroskopija:Fluoroskopija i pojačanje intenziteta slike. Prikazfluoroskopske slike na TV-ekranu. Digitalna fluorografijai automatska kontrola osvjetljenja. Kinofluorografija.Vježbe7. Kompjuterizirana tomografija (CT):Princip formiranja slike u kompjuteriziranoj tomografiji.Rekonstrukcioni algoritmi. Proces skeniranja.Izvori rendgenskog zračenja u CT. Kolimiranjesnopova X-zračenja. Detektori X-zračenja. Sistem<strong>za</strong> prikaz slikeDoze pacijenta pri CT pretragama. Kontrola kvalitete.VježbePrva provjera znanja8. Mamografija:Osnove mamografije. Princip rada i komponentemamgrafskog sistema. Screen-mamografija. Rešetke.Dobivanje mamograma. Radiološki film i tipoviradiološkog filma korišteni u maografiji. Folijei kasete. Kompresija dojke.Digitalna mamografija.Kontrola kvalitete u mamografiji.Vježbe9. Kvalitet slike:Neoštrina. Kontrast. Šum. Rezolucija. Distorzija ideformacija slike. "Smetnje" u slici.Analitički opis kvaliteta slike. Tačkasta i lineranareakcija. Predmetaciona prenosna funkcija (MTF)10. Uređaji <strong>za</strong> produkciju slike u nuklearnoj medicini:Mjerenje brzine akumuliranja i ekstrakcije. Scintilacionekamere. Princip rada scintilacionih kamera.Rektilinearni skener. Emisona kompjuteriziranatomografija (ECT)~ 28 ~2Predavanja 21Predavanja 21Predavanja 2Predavanja152Test2Predavanja 21Predavanja 211Predavanja 2 11212121212112


Vježbe 2 111. Ultrazvuk:Bazični principi. Fizikalne karakteristike. Transduktor.Dopplerov efekat. Kvalitet slike. KliničkaprimjenaVježbePredavanja 211112. Nuklearna magnetna rezonancija (NMR):Bazični principi. Nuklearni spin. Nuklearni magnetnimoment. Larmorova precesija. NMR-osjetljivostna različita jezgra. Furierove transformacijeu NMR. T 1 i T 2 vrijednosti. Impulsne sekvenceNMR uređaj. Di<strong>za</strong>jn magneta, gradijentnih kalema,rf odašiljača i prijemnika. Klinička primjenaVježbePredavanja 632113. Druga provjera znanja Test 2 214. Zavrsni ispit 2 6F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja – kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTS ocjena)broj bodova prolaz bodova (BiH)Urednost pohađanja5 4 95 - 100 10 AnastaveTestovi 30 16 85-94 9 BSeminarski rad 20 10 75-84 8 CZavršni ispit 45 25 65-74 7 D55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURAOsnovna literatura:1. Hendee W. and E.R. Ritenour, Medical Imaging Physics, (Fourth Edition), John Wiley & Soons,Inc., New York, 2002.2. Kuperman V., Magnetic Resonance Imaging. Physical Priniples and Applications, AcademicPress, San Diego, USA, 2000.Dopunska literatura:1. Podgorsak E.B.(ed), Review of Radiation Oncology Physics: A Handbook for Teachers andStudents,2. IAEA Report series, Vienna, Austria, 20053. NCRP, Structural Shielding Design for Medical X-ray Imaging facilities, NCRP Report No. 147,2004 NCRP, A Gvide to Mammography and other Breast Imaging Procedure, NCRP Report No.149, 2004~ 29 ~


Šifra predmeta PCM586 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoPOLUPROVODNIČKI MIKRO-UREĐAJIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematičkiOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeseti (X)Naziv predmetaPoluprovodnički mikro-uređajiTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 3Kontakt satiSamostalni rad (sati)Obavezni prethodno položenipredmetiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije30 30 - -- 15Fizika čvrstog stanjaFizika poluprovodnika I i IIPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiDefekti u čvrstim tijelima I i IIB. CILJEVI PREDMETA--Cilj kursa je upoznati studente sa procesima u poluprovodničkim mikro uređajima, načinima njihove izrade inačinom njihovog rada.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAD. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAE. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice1.Uvod: cilj i sadržaj kursa; značajpoluprovodničkih uređaja u savremenom svijetu<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalnopredavanja 22. Izbor materijala <strong>za</strong> mikro-uređaje Tehnike rasta predavanja 2kristala.3. Tehnologija izrade poluprovodničkih mikro predavanja 2uređaja.4. p – n spoj; struktura i princip rada; elektrostatska predavanja 2anali<strong>za</strong>.5. Ostala električna svojstva p-n spoja. Temperaturna predavanja 2~ 30 ~


<strong>za</strong>visnost; <strong>za</strong>preminski i kontaktni otpor diode6. Metal- poluprovodnik spoj; struktura i princip predavanja 2rada. Schottky dioda.7. Performanse diode pri malim signalima, velikoj predavanja 2brzini i frekvenciji8. Bipolarni tranzistori ( BJT) tehnologija; struktura predavanja 2i princip rada9. Eber-Moll jednačine tranzistora. Bipolarni predavanja 2tranzistori u kolu10. Unipolarni field- effect tranzistori: JFET;predavanja 2MESFET11. -Power MOSFET ; HEMT predavanja 212. Optoelektronski uređaji; Fotodiode;predavanja 2Fotoprovodnici; Fotodetektori13. Solarne ćelije predavanja 214. Diode koje emituju svjetlost (LED) predavanja 215. Laserske diode predavanja 2F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan broj Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Urednost pohađanja nastave 10 5 95 - 100 10 AAngažman na nastavi 10 7 85-94 9 BTest tokom kursa - - 75-84 8 CSeminarski rad 10 8 65-74 7 DZavršni ispit 70 35 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURA1. S. M. Sze: Physics of Semiconductor Devices, 3th ed. John Wiley & Sons 20022. D.H.Navon: Semiconductor Microdevices and materials, CBS College Publishing 1986.~ 31 ~


Šifra predmeta PCM582 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoMAGNETNI MATERIJALIA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematičkiOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeseti (X)Naziv predmetaMagnetni materijaliTip predmetaIzborniBroj (E) CTS bodova 3Kontakt satiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije55 30 0 10 15Samostalni rad (sati) 20Obavezni prethodno položeni Kvantna mehanika, statistička <strong>fizika</strong>, matematičke metode fizike.predmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteElektromagneti<strong>za</strong>m, Fizika čvrstog stanja I, II, Napredna teorija fizikečvrstog stanja.Nastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiB. CILJEVI PREDMETAU cilju dobijanja novih magnetskih materijala potrebno je znati nešto više o porijeklu magnetskih svojstavasistema.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAKlasifikacija magnetskih materijala te kvantno-mehaničko objašnjenje magnetskih pojava te primjeri urađeni uskladu sa teorijskim izlaganjem.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESASvi oni koji se bave materijalima bilo metalnim ili nemetalnim potrebno je da nešto više znaju o magnetizmu okojem ne stiču znanje u ovolikom obimu i na ovaj način u toku studija te kroz ovaj predmet stječu potrebnopoznavanje magnetskih pojava u cilju kreiranja novih magnetskih sistema.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr. Nastavne teme i nastavne jedinice1. Uvod. Osnovni pojmovi. Interakcija izmeđupokretnog električnog naboja sa <strong>drugi</strong>melektričnim nabojem u kretanju. Coulombovainterakcija.2. Vektorski model magnetskog atoma.Magnetska susceptibilnost. Hamiltonijanelektrona u magnetskom polju.3. Susceptibilnost elektrona unutrašnjih ljuski.Paramagneti<strong>za</strong>m elektrona unutrašnjih ljuski.Dijamagneti<strong>za</strong>m elektrona unutrašnjih ljuski. VanVleckov paramagneti<strong>za</strong>m.<strong>Nastavni</strong> metodSati radaKontakt Samostalno-Predavanja 3 1Predavanja- 4 1Predavanja 4 1~ 32 ~


4. Susceptibilnost valentnih elektrona.Paramagneti<strong>za</strong>m valentnih elektrona na računspina Dijamagneti<strong>za</strong>m valentnih elektrona uslijedorbitalnog kretanja.5. Feromagneti<strong>za</strong>m. Feromagnetske domene ukristalu. Brillouinova funkcija.Heisenbergov hamiltonijan izmjene.6. Antiferomagneti<strong>za</strong>m. Apsorpcija energije.Blochove jednačine. Spinski sistem u linearnopolariziranom radiofrekventnom polju.Kompleksna magnetska susceptibilnost.7. Apsorpcija energije. Blochove jednačine.Spinski sistem u linearno polariziranomradiofrekventnom polju. Kompleksna magnetskasusceptibilnost.8. TestDisperzija.Teorijske osnove disperzije.Predavanja- 4 1Predavanja 4 1Predavanja 3 1Predavanja 3 1Predavanja 3 29. Utjecaj <strong>drugi</strong>h molekula sredine na disperziju. Predavanja 3 1Kvantna teorija disperzije.10. Opća magnetska susceptibilnost. -Predavanja- 4 111. Kramers – Krönigove relacije. Predavanja 4 112. Fluktuaciono-disipaciona teorema. Predavanja 4 113. Spinski valovi. Kvantovanje spinskih valova. Predavanja- 4 114. Primjeri magnetskih sistema. Predavanja 4 215. Primjeri magnetskih sistema. -Predavanja 4 216. Završni ispit / / 2F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja - kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Urednost pohađanja nastave 10 5,5 95 - 100 10 AAngažman na nastavi 10 5,5 85-94 9 BTest tokom kursa 30 16,5 75-84 8 CSeminarski rad 10 5,5 65-74 7 DZavršni ispit 40 22 55-64 6 EU k u p n o 100 55 Manje od 55 5 F, FXG. LITERATURA1. Suada Bikić, Uvod u teoriju magnetizma, univerzitetski udžbenik, Fakultet <strong>za</strong> metalurgiju imaterijale, Zenica 2005.~ 33 ~


Šifra predmeta PCM584 Fakultet <strong>PMF</strong> SarajevoMETODE ZA KARAKTERIZACIJU TANKIH SLOJEVAA. OPĆI PODACINASTAVNI PROGRAMFakultetPrirodno-matematički fakultet SarajevoOdsjekOdsjek <strong>za</strong> fizikuCiklus studijaIISmjer<strong>Eksperimentalna</strong> <strong>fizika</strong>SemestarDeveti (IX)Naziv predmetaMetode <strong>za</strong> karakteri<strong>za</strong>ciju tankih slojevaBroj (E) CTS bodova 3Kontakt satiSamostalni rad (sati) 20Obavezni prethodno položenipredmetiPredmet relevantan <strong>za</strong>predmeteNastavno osoblje- <strong>Nastavni</strong>k nosilac predmeta- Ostali nastavnici- AisistentiUkupno Predavanja Vježbe Seminari Konsultacije40 30 - - 10B. CILJEVI PREDMETACilj i <strong>za</strong>datak predmeta je da studente upozna sa savremenim dostignućima u fizici tankih slojeva i da ihosposobi u vještini razumijevanja analize površinskih oblasti različitih materijala.C. SPECIFIČNI ZADACI PREDMETAProgram predmeta METODE ZA KARAKTERIZACIJU TANKIH SLOJEVA bavi se praktičnimupustvima kako razumjeti principe i metode rada <strong>za</strong> identifikaciju elemenata na osnovu radijacioneenergije. Metod koji koristi Radefordovo rasijanje ustvari mjeri Kulonovo rasijanje na atomima. Formiranješupljina u unutrašnjem elektronskom omotaću se prati pomoću X-ray fotoelektronske spektroskopije, aprelaze između nivoa mjerimo pomoću elektronske mikroprobe i Auger spektroskopije. Sastav elemenatapo dubini sloja se izvodi pomoću istovremenog bombardovanja sloja teškim jonima i skupljanjainformacija tehnikama koje su osjetljive na svojstva <strong>za</strong>tečenih elemenata na površini stvorenog kratera.D. OČEKIVANI REZULTATI NASTAVNOG PROCESAOčekuje se da studenti steknu vještinu i samopouzdanje u razmišljanju i komuniciranju kada se to odnosiisključivo na oblast njihovog studija i naučne discipline koju izučavaju.E. SADRŽAJ NASTAVNOG PROCESABr.Nastavne teme i nastavne jedinice1. SPEKTROSKOPIJA RADEFORDOVOG RASIJANJAOsnovna uputstva <strong>za</strong> rad u toku semestra i upoznavanje<strong>plan</strong>a i <strong>program</strong>a predmeta.Parametri i karakteristike metoda.2. LEIS – LOW ENERGY ION SCATTERINGPrincipi i metod rada.~ 34 ~<strong>Nastavni</strong>metodSati radaKontakt SamostalnoPredavanja 2 2Predavanja 2 23. DUBINSKI PROFILI Predavanja 2 2


Gubici energije. Braggovo pravilo. Oblik spektraRadefordovog rasprašivanja. Širina energije.4. DUBINSKI PROFILI RASPRAŠIVANJEM IPredavanja 2 2Opšti principi. Gubici energije. Iznos rasprašivanja.5. DUBINSKI PROFILI RASPRAŠIVANJEM IIPredavanja 2 2SIMS – Secondary Ion Mass SpectroscopySNMS –Secondary Neutral Mass Spectroscopy6. CHANNELINGPredavanja 2 2Channeling u monokristalima. Lociranje nečistoća ukristalima. Epitaksijalni rast i anali<strong>za</strong>.7. ELEKTRONSKA SPEKTROSKOPIJA IPredavanja 2 2Anali<strong>za</strong> energije. Neelastični sudari elektron – elektron.Sudarni presjek. Dometi elektrona u čvrstim tijelima.8. ELEKTRONSKA SPEKTROSKOPIJA IIPredavanja 2 2EELS – Electon Energy Loss Spectroscopy.9. STRUKTURA POVRŠINE IPredavanja 2 2Parametri difrakcije. Termičke vibracije i faktor Debye -Waller. LEED – Low Energy Electron Diffraction.10. STRUKTURA POVRŠINE IIPredavanja 2 2Glancing Angle X-Ray Diffraction.Transmisiona elektronska mikroskopija.11. X-RAY FOTOELEKTRONSKA SPEKTROSKOPIJA Predavanja 2 2Principi i metod rada.12. ELEKTRONSKA MIKROPROBAPredavanja 2 2Kvantitativna anali<strong>za</strong>. PIXE – Proton Induced X-RayEmission.13. AUGER ELEKTRONSKA SPEKTROSKOPIJA I Predavanja 2 2Principi rada i kvantitativne analize.14. AUGER ELEKTRONSKA SPEKTROSKOPIJA II Predavanja 2 2Auger dubinski profili.15. NUKLEARNE TEHNIKEPredavanja 2 2Analize aktivacije. Reakcije uzrokovane neutronima inaelektrisanim česticama. Metod rezonance.16. Završni ispit Praktični dioispita1 10F. PROVJERA ZNANJA I OCJENJIVANJEProvjera znanja – kriterijiOcjenjivanjeKriterijMaksimalan Bodovi <strong>za</strong> Osvojen broj Ocjena (ECTSbroj bodova prolaz bodova (BiH) ocjena)Kolokvirane vježbe 10 5 95 - 100 10 APrvi parcijalni ispit -test 20 10 85-94 9 BPrvi parcijalni ispit-praktični dio 10 5 75-84 8 CDrugi parcijalni ispit -test 20 5 65-74 7 DDrugi parcijalni ispit-praktični dio 10 5 55-64 6 EZavršni ispit 40 20 Manje od 55 5 F, FXU k u p n o 100 55G. LITERATURA1. Tomislav Petković: Moderna eksperimentalna <strong>fizika</strong> i spoznajna teorija, Školska knjiga, Zagreb, 1990.2. Leonard C. Feldman and James W. Mayer: Fundamantals of Surface and Thin Film Analysis, NorthHolland, New York, 1996.~ 35 ~

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!