2008-7KMI.pdf - Institut tehniÄkih nauka SANU
2008-7KMI.pdf - Institut tehniÄkih nauka SANU
2008-7KMI.pdf - Institut tehniÄkih nauka SANU
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Sedma konferencija mladih istraživača – Nauka i inženjerstvo novih materijala22.-24. decembar <strong>2008</strong>. godine, Sala 2, <strong>SANU</strong>, Knez Mihailova 35, BeogradI/5In situ sinteza Ag/poli(N-vinil-2-pirolidon) hidrogel nanokompozita γ-zračenjemŽeljka Jovanović 1 , Aleksandra Krklješ 2 , Nataša Bibić 2 , Miodrag Mitrić 2 ,Simonida Tomić 1 , Zorica Kačarević-Popović 2 , Vesna Mišković-Stanković 11 Tehnološko-metalurški fakultet, Univerzitet u Beogradu, Beograd2 <strong>Institut</strong> za nuklearne nauke Vinča, BeogradNanokompoziti na bazi nanočestica srebra (Ag) i poli(N-vinil-2-pirolidon) (PVP) hidrogelasu sintetisani γ-zračenjem, korišćenjem tečnošću ispunjenih šupljina u polimernoj matrici(prethodno umreženoj γ-zračenjem) kao nanoreaktora. Referentni sistemi su bili radiolitičkisintetisan koloidni rastvor Ag/PVP i nanokompozit neumrežene polimerne matrice. Dobijeninanokompoziti različitih arhitektura polimerne matrice su karakterisani UV-Vis i FTIRspektroskopijama, difrakcijom X-zraka i TEM analizom. Rezultati ukazuju na prisustvo nanočesticamalih dimenzija (< 10 nm), uskog opsega veličina i dobru stabilizaciju PVP-om. Nije uočenahemijska interakcija nanočestica sa polimerom. Uspešno sintetisani nanokompoziti ukazuju napotencijal γ-zračenja za nanoinženjering materijala, posebno za biomedicinsku primenu, zbogmogućnosti simultane sinteze i sterilizacije.Karakterizacija struktura nanometarskih dimenzijaprimenom spektroskopske elipsometrijeI/6Milka Mirić, M. B. Radović, R. Gajić, Zorica Dohčević-Mitrović, Zoran V. PopovićCentar za fiziku čvrstog stanja i nove materijale, <strong>Institut</strong> za fiziku, BeogradU ovom radu su metodom spektroskopske elipsometrije proučavana optička svojstva tankihfilmova, nanokristala i ugljeničnih nanotuba u UV-VIS-NIR oblasti. Primenom trofaznog modelaodređena je debljina tankog sloja SiO 2 filma na supstratu od silicijuma. Primenom višefaznogmodela u kombinaciji sa Bruggeman-ovom aproksimacijom efektivne sredine kod Si 3 N 4 i SiO 2filmova utvrđeno je postojanje neravnina na supstratu od stakla i izračunata je debljina tog sloja. Zaodređivanje debljine filmova u složenoj strukturi koja se sastoji od 12 naizmeničnih Si 3 N 4 i SiO 2slojeva na supstratu od stakla, korišćen je višefazni model. Dielektrična funkcija CeO 2 nanokristalaje modelovana pomoću Tauc-Lorentz modela i određena je vrednost energetskog procepa za ovajmaterijal. Analizirani su elipsometrijski spektri, za sloj ugljeničnih nanotuba na supstratu odsilicijuma.3
Change language