Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehniÄkih nauka SANU
Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehniÄkih nauka SANU
Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehniÄkih nauka SANU
- No tags were found...
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
<strong>Ivana</strong> Jovanović<br />
Magistarska teza<br />
rendgenskom difrakcijom (XRD). XRD merenja su izvršena pomoću X-ray difraktometra za prah<br />
(Bruker D8 Advance). XRD eksperimenti su izvedeni u simetričnom refleksionom modu sa Cu Kα<br />
radijacijom (1.5418 Å) pomoću gradijenta iskrivljenog Göbel ogledala sa višeslojnom optikom.<br />
Opseg 2θ je od 10º-30º sa korakom od 0.05º i vremenom merenja od 6 s po koraku. Difraktogram<br />
praha PDLLA koji je korišćen u našim eksperimentima je prikazan na slici 3.3. Sa difraktograma se<br />
može videti da je PDLLA amorfan polimer sa najistaknutijim pikom na 15°. Na slici 3.4 je dat<br />
uporedni prikaz difraktograma semi-kristalnog PLLA [11] i amorfnog PDLLA [11].<br />
160<br />
140<br />
120<br />
PDLLA<br />
Intenzitet Intensity<br />
100<br />
80<br />
60<br />
40<br />
20<br />
0<br />
10 20 30 40 50 60<br />
2θ ( ο )<br />
Slika 3.3 Difraktogram praha PDLLA<br />
Intenzitet<br />
Slika 3.4 Uporedni prikaz difraktograma prahova PLLA i PDLLA<br />
47