26.01.2015 Views

Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehničkih nauka SANU

Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehničkih nauka SANU

Ivana Jovanovic MT.pdf (7089 KB) - Institut tehničkih nauka SANU

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

<strong>Ivana</strong> Jovanović<br />

Magistarska teza<br />

rendgenskom difrakcijom (XRD). XRD merenja su izvršena pomoću X-ray difraktometra za prah<br />

(Bruker D8 Advance). XRD eksperimenti su izvedeni u simetričnom refleksionom modu sa Cu Kα<br />

radijacijom (1.5418 Å) pomoću gradijenta iskrivljenog Göbel ogledala sa višeslojnom optikom.<br />

Opseg 2θ je od 10º-30º sa korakom od 0.05º i vremenom merenja od 6 s po koraku. Difraktogram<br />

praha PDLLA koji je korišćen u našim eksperimentima je prikazan na slici 3.3. Sa difraktograma se<br />

može videti da je PDLLA amorfan polimer sa najistaknutijim pikom na 15°. Na slici 3.4 je dat<br />

uporedni prikaz difraktograma semi-kristalnog PLLA [11] i amorfnog PDLLA [11].<br />

160<br />

140<br />

120<br />

PDLLA<br />

Intenzitet Intensity<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

20<br />

0<br />

10 20 30 40 50 60<br />

2θ ( ο )<br />

Slika 3.3 Difraktogram praha PDLLA<br />

Intenzitet<br />

Slika 3.4 Uporedni prikaz difraktograma prahova PLLA i PDLLA<br />

47

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!