21.01.2015 Views

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Fizikanın müasir problemləri VI Respublika konfransı<br />

прямой зависимости<br />

где R = ,314 Дж /( мол ⋅ К )<br />

lg ρ<br />

_<br />

от 1 / T , рассчитали энергию активации проводимости:<br />

∆Еρ = 2, 303⋅<br />

R ⋅tgδ<br />

_<br />

8 – газовая постоянная.<br />

Для контрольного образца фиброина ∆ E ρ = 34,0 кДж / мол , для фиброина;<br />

_<br />

обогащенного селеном – 30,3 кДж/моль, т.е. энергия активации проводимости одного<br />

носителя, при обогащении фиброина селеном, уменьшается от 0,35 до 0,31 эВ. Это<br />

может связано с тем, что когда диэлектрик находится в электрическом поле и эмиссия<br />

носителей заряда происходит достаточно свободно. Ток, текущий через образцы,<br />

определяется ингибирующим влиянием носителей, захваченных на ловушках, т. е.<br />

возникает токи, ограниченные пространственным зарядом.<br />

При таких условиях, важную роль играет сам процесс захвата и ток,<br />

ограниченный пространственным зарядом, определяется следующей формулой [2]:<br />

2<br />

0<br />

⋅ / 8<br />

3<br />

( )<br />

J топз<br />

= 9µ ⋅ε<br />

′ ⋅ε<br />

θ ⋅U d<br />

(3)<br />

где J топз – плотность тока, ограниченная<br />

пространственным зарядом, µ – подвижность<br />

носителей; ε ′ – диэлектрическая<br />

проницаемость; ε – электрическая<br />

0<br />

постоянная; θ – параметр захвата мелкой<br />

ловушкой; U – приложенная напряжения; d<br />

– толщина образца.<br />

Согласно формуле (3), можно сказать,<br />

что атомы селена играют роль мелких<br />

ловушек и увеличивают проводимость<br />

материала.<br />

Пробой, под действием однородного<br />

поля и в отсутствие химического изменения<br />

структуры диэлектрика, может явиться либо<br />

тепловым, либо электрическим. Если в<br />

диэлектрике под действием длительного<br />

приложенного напряжения, то диэлектрик<br />

стареет, т.е. его электрическая прочность<br />

понижается, а электропроводность возрастает.<br />

Такое старение обычно заканчивается<br />

тепловым пробоем. Электрическое старение происходит особенно интенсивно, если<br />

диэлектрик содержит интенсивные воздушные включение, которые ионизируются в<br />

электрическом поле.<br />

Нами была определена электрическая прочность для контрольного и опытного<br />

образца фиброина. Перед испытанием образцов на пробивное напряжение их<br />

выдерживали в течение 24 ч при температуре (293 ± 2)К и относительной влажности<br />

(65 ± 2)%. Испытание проводили цилиндрическими электродами из латуни с<br />

диаметром: верхнего – 4мм и нижнего – 8мм. Давление электрода на образце<br />

составляло примерно 10МПа. Образцы помещали в трансформаторное масло, и пробой<br />

проводили при плавном подъеме напряжения со скоростью 2кВ/с на установке АИМ –<br />

80. На рис. 3 приведена зависимость пробивной напряженности электрического поля от<br />

толщины образца.<br />

Видно, что величина пробивного напряжения для фиброина составляет 10 7 В/м и с<br />

увеличением толщины образца пробивного напряжения уменьшается. Подобная

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!