I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - Bakı DövlÉt Universiteti
I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - Bakı DövlÉt Universiteti
I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - Bakı DövlÉt Universiteti
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
Fizikanın müasir problemləri VI Respublika konfransı<br />
прямой зависимости<br />
где R = ,314 Дж /( мол ⋅ К )<br />
lg ρ<br />
_<br />
от 1 / T , рассчитали энергию активации проводимости:<br />
∆Еρ = 2, 303⋅<br />
R ⋅tgδ<br />
_<br />
8 – газовая постоянная.<br />
Для контрольного образца фиброина ∆ E ρ = 34,0 кДж / мол , для фиброина;<br />
_<br />
обогащенного селеном – 30,3 кДж/моль, т.е. энергия активации проводимости одного<br />
носителя, при обогащении фиброина селеном, уменьшается от 0,35 до 0,31 эВ. Это<br />
может связано с тем, что когда диэлектрик находится в электрическом поле и эмиссия<br />
носителей заряда происходит достаточно свободно. Ток, текущий через образцы,<br />
определяется ингибирующим влиянием носителей, захваченных на ловушках, т. е.<br />
возникает токи, ограниченные пространственным зарядом.<br />
При таких условиях, важную роль играет сам процесс захвата и ток,<br />
ограниченный пространственным зарядом, определяется следующей формулой [2]:<br />
2<br />
0<br />
⋅ / 8<br />
3<br />
( )<br />
J топз<br />
= 9µ ⋅ε<br />
′ ⋅ε<br />
θ ⋅U d<br />
(3)<br />
где J топз – плотность тока, ограниченная<br />
пространственным зарядом, µ – подвижность<br />
носителей; ε ′ – диэлектрическая<br />
проницаемость; ε – электрическая<br />
0<br />
постоянная; θ – параметр захвата мелкой<br />
ловушкой; U – приложенная напряжения; d<br />
– толщина образца.<br />
Согласно формуле (3), можно сказать,<br />
что атомы селена играют роль мелких<br />
ловушек и увеличивают проводимость<br />
материала.<br />
Пробой, под действием однородного<br />
поля и в отсутствие химического изменения<br />
структуры диэлектрика, может явиться либо<br />
тепловым, либо электрическим. Если в<br />
диэлектрике под действием длительного<br />
приложенного напряжения, то диэлектрик<br />
стареет, т.е. его электрическая прочность<br />
понижается, а электропроводность возрастает.<br />
Такое старение обычно заканчивается<br />
тепловым пробоем. Электрическое старение происходит особенно интенсивно, если<br />
диэлектрик содержит интенсивные воздушные включение, которые ионизируются в<br />
электрическом поле.<br />
Нами была определена электрическая прочность для контрольного и опытного<br />
образца фиброина. Перед испытанием образцов на пробивное напряжение их<br />
выдерживали в течение 24 ч при температуре (293 ± 2)К и относительной влажности<br />
(65 ± 2)%. Испытание проводили цилиндрическими электродами из латуни с<br />
диаметром: верхнего – 4мм и нижнего – 8мм. Давление электрода на образце<br />
составляло примерно 10МПа. Образцы помещали в трансформаторное масло, и пробой<br />
проводили при плавном подъеме напряжения со скоростью 2кВ/с на установке АИМ –<br />
80. На рис. 3 приведена зависимость пробивной напряженности электрического поля от<br />
толщины образца.<br />
Видно, что величина пробивного напряжения для фиброина составляет 10 7 В/м и с<br />
увеличением толщины образца пробивного напряжения уменьшается. Подобная