21.01.2015 Views

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

I BÖLMƏ OPTO NANOELEKTRONİKA - Bakı Dövlət Universiteti

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Fizikanın müasir problemləri VI Respublika konfransı<br />

растворов предоставляют широкие возможности для управления свойствами их пленок.<br />

На основании расчета ионных равновесии и с учетом процесса гидролиза была<br />

определена область образования сульфидов цинка в зависимости от рН раствора и<br />

концентрации комплексообразователей. В результате проведенных исследований было<br />

установлено, что оптимальные концентрации составляют для CdCl 2 1,8 г/л, для<br />

тиомочевины 15,2 г/л и для гидроксида натрия 1,8 г/л, которые позволили получить<br />

пленку CdS р-типа толщиной 700–900Å. Пленки CdTe получены поверхностным<br />

осаждением из водного раствора диоксида теллура (11,4 г/л) с добавкой гидроксида<br />

натрия 1,8 г/л. При исследовании процесса осаждения CdZnS в виде тонкой пленки на<br />

стеклянную подложку с покрытием пленкой ITO (indium tin oxide) было установлено,<br />

что при однократном нанесении на подложку CdZnS из водного раствора, частичным<br />

замещением хлорида кадмия хлоридом цинка, покрытие имело вид тонкой ровной<br />

пленки с зернами размером 0,5–1 мкм.<br />

Фазовый состав и кристаллическую структуру осадков изучали методом<br />

рентгеновской дифракции (рис.1.) параллельно с комплексонометрическим<br />

определением концентрации ионов Cd + для исследования процесса образования CdТе.<br />

Рис. 1. Дифрактограмма пленок CdТе<br />

Структуры нанопорошков и тонких пленок CdТе, имеют характерные<br />

особенности, присущие дифрактограммам наноструктурированного CdТе. Три<br />

широких пика на углах ~24°, 38° и 54° соответствуют нано-CdТе. Размеры частиц<br />

варьируются от 2 до 14 нм.<br />

Данное сообщение посвящено также разработке новой технологии осаждения и<br />

иcследованиям фотоэлектрических свойств гетероструктур p-CdS/CdTe/CdZnS на<br />

алюминиевой подложке, играющей одновременно роль нижнего контакта. Проведен<br />

сравнительный анализ ВАХ и спектр фототока структур п-CdS/CdTe/CdZnS и p-<br />

CdS/CdTe/CdZnS (рис.2).

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!