I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - BakÄ± DÃ¶vlÉt Universiteti

More documents

Recommendations

Info

Fizikanın müasir problemləri VI Respublika konfransı Șəkildən göründüyü kimi tədqiq olunan nümunələrin hamısında aydın ifadə olunmuș iki maksimum müșahidə edilir. RTL-in birinci maksimumları x=0; 0.02, 0.04, 0.06 və 0.08 tərkiblər üçün 148 K-ə, ikinci maksimumlar isə müvafiq olaraq 334, 337, 348 və 352 K-ə uyğun gəlir. Alınmıș nəticələr göstərir ki, TlInSe 2 -nin kristallik qəfəsində üçvalentli İndium atomlarının qadolinium atomları ilə əvəz olunması halında RTL əyrilərinin ikinci maksimumları yüksək temperaturlara doğru sürüșür. Elə həmin ardıcıllıqla da hər iki pikin intensivliyi artır. Çox ehtimal ki, TlIn 1-x Gd x Se 2 kristallarının RTL - əyrilərində müșahidə edilən xüsusiyyət onların mürəkkəb zona qurulușuna malik olmaları və qadolinium atomlarının parıltını stimullașdırılması ilə əlaqədardır. Həqiqətən də, baza elementi olan TlInSe 2 -nin zona qurulușunun hesablanması bu birləșmənin mürəkkəb zona qurulușuna malik olduğunu göstərmișdir [ 3,4]. Bununla yanașı, rentgenofaza analizinin nəticələri göstərmișdir ki, həm TlİnSe 2 , həm də onun əsasında alınmıș TlIn1 − xGd xSe2 kristalları eyni, tetraqonal sinqoniyada kristallașdığından onların RTL - əyrilərinin xarakteri eynidir. ƏDƏBİYYAT 1) Ботемко В.В., Аулов В. А., Веновцев Ю. М. радиотермолюминесенцыя соединений В кН. Систем особых точек твердых тел. М. , Наука, 1986, с. 90-94 2) Нильсен А. механические свойства полимеров и полимерных кондиций. М., Химия, 1978,-309 с 3) Аулов В. А., Багаев М. Ф. Высокомолекулярные соединение, 1978, том 20, №10, с. 2338-2344 4) Аулов В. А. в кН. Физика и химия твердого тела, м., НИФХЛ им. л.я. Карпова, 1978, в 9, с 22-30. ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОРЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ КОМПОЗИЦИЙ АТОМНО-СИЛОВЫМ МИКРОСКОПОМ. ПП/ TlInSe 2 Э.М.Годжаев, Х.Р.Ахмедова, С.С.Сафарова Азербайджанский технический университет пр. Г.Джавида, 25, АЗ 1000, г.Баку Республика Азербайджан, gелдар-04 @ маил.ру. В работе изложены результаты исследования микрорельефа поверхности атомно-силовым микроскопом композиций ПП+ х об% TlInSe 2 , где х=3, 5. Выявлено, что с увеличением количество добавок о шероховатости поверхностей уменьшается. Известно, что сканирующая зондовая микроскопия – один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств твёрдого тела с высоким пространственным разрешением. Учитывая это в данной работе был исследован микрорельеф поверхности композиций ПП+ TlInSe 2 методами атомносилового микроскопа. В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа поверхности и её локальных свойств проводится, с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов имеет размеры порядка
Fizikanın müasir problemləri VI Respublika konfransı 10 нм. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах по порядку величин составляет 0,1 – 10 нм. В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью [1-8]. Для получения полимерного композита, в соответствии со стехиометрией, порошок полимера (полипропилен) перемешивают с порошком полупроводникового материала. Затем из смеси прессуют пленки толщиной 100 мкм при температуре плавления полимерной матрицы и давлении 10÷15 МПа между алюминиевой фольгой. Полученные образцы с фольгой быстро охлаждают в воде и далее фольгу удаляют. После этого указанные пленки поляризуют в коронном разряде в системе электродов игла-плоскость напряжением 6 кВ в течении 3 ·10 2 с. Расстояние между иглой и плоскостью выбирают ~1·10 -2 м. Добавка полупроводникового материала TlInSe 2 в соотношении 3÷5 об. % составляет полимерная композиция в соотношении 95÷97об.%. Образцы получены горячим прессованием из смеси порошков и наполнителя -TlInSe2 с дисперсностью до 50 мкм. Смешивание порошков полимера и наполнителя осуществлялось на лабораторной мельнице при комнатной температуре, а затем горячим прессованием при 10 7 Па. Результаты исследование микрорельефа поверхности композиций АСМ приведены на рисунках 1-4. На рисунке 1 показаны плоскостные изображения участка поверхности композиций ПП+ х об.% TlInSe 2 , где х=3;5. Исследование проводились без предварительных обработок. Результаты исследования показывают, что изменение добавки приводит существенному изменению морфологии поверхности композитов и сглаживанию дефектов исследуемых образцов. На объемном изображении (рис .2) отчетливо видно, что с увеличением добавка от 3 до 5% происходит отчетливее сглаживание поверхности композита, а с увеличением добавки шероховатость поверхности увеличивается, т.е. неоднородность поверхности растет. На рис. 3. приводится гистограммы поверхности композиций, а на рис.4. спектр Фурье. Расплывчатый спектр Фурье указывает на наличие в приграничных кластерах различных химических элементов. Результаты исследования состояния поверхности композиций указывает на сложный неоднородный характер приграничного слоя материала. Рельеф поверхности свидетельствует о шероховатостях в пределах 30 нм с резкими перепадами. а) б) Рис.1. Двухмерное АСМ-изображение поверхности монокристалла: а) 3 об. % TlInSe 2 ; б)5 об. % TlInSe 2
Page 1 and 2: Fizikanın müasir problemləri VI
Page 33: Fizikanın müasir problemləri VI
Page 85 and 86:
Fizikanın müasir problemləri VI
show all

I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - BakÄ± DÃ¶vlÉt Universiteti

Create successful ePaper yourself

Delete template?

Save as template?

I BÃLMÆ OPTO NANOELEKTRONÄ°KA - BakÄ± DÃ¶vlÉt Universiteti