KYP0040 MATERJALITEADUSE ÃLDALUSED - tud.ttu.ee
KYP0040 MATERJALITEADUSE ÃLDALUSED - tud.ttu.ee
KYP0040 MATERJALITEADUSE ÃLDALUSED - tud.ttu.ee
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
3.3 Joondefektid e dislokatsioonid<br />
Joondefekte nimetatakse ka dislokatsioonideks, kuna nende lähedusse kogunevad (dislots<strong>ee</strong>ruvad)<br />
lisandite aatomid.<br />
Dislokatsioonid on sellised jooned kristallvõres, mille ümber on osa aatomeid paigutunud<br />
ebaregulaarselt.<br />
Dislokatsioonid tekivad:<br />
- kristallide kasvamisel;<br />
- plastilisel deform<strong>ee</strong>rimisel;<br />
- vakantside kogunemisel;<br />
- tahkete lahuste tekkimisel.<br />
On olemas kaht tüüpi dislokatsioone:<br />
1) ääre(serv)dislokatsioon – lisapoolaatomkihi lõppemise äär (serv) (joon 3-5);<br />
2) vintdislokatsioon – ülemine aatomtasapind on nihuta<strong>tud</strong> alumise aatomtasapinna suhtes aatomite<br />
vahelise vahemaa võrra (joon 3-7).<br />
Dislokatsioonide teke vakantside kogunemisel on esita<strong>tud</strong> joonisel 3-6.<br />
Tavaliselt on dislokatsioonid kombin<strong>ee</strong>ri<strong>tud</strong>, st lähevad üksteiseks üle (joon 3-8).<br />
Dislokatsioonide uurimiseks kasutatakse optilist ja elektronmikroskoopiat. Enne optilise<br />
mikroskoobiga vaatamist tehakse dislokatsioonide väljumiskohad kristalli pinnal nähtavaks<br />
söövitamisega k<strong>ee</strong>miliste reagentide abil. Kuna dislokatsioonid omavad lisaenergiat (vabad<br />
sidemed), siis toimub seal kristalli lahustumine kiiremini ja tekivad söövitussüvendid (joon 3-9).<br />
Süvendite kuju järgi saab määrata välispinna tasapinna tüüpi.<br />
Dislokatsioonid ei ole tasakaalulised defektid. Põhimõtteliselt saab valmistada dislokatsioonivabu<br />
kristalle.<br />
3.4 Pinddefektid<br />
Pinddefektideks on välispinnad ja kristalliitide (terade) vahelised pinnad polükristalses materjalis.<br />
Terade vahelised pinnad võivad olla suurenurgalised ja väikesenurgalised (joon 3-10). Seal muutub<br />
kristallide orientatsioon. Väikese nihkenurga korral koosneb piirpind sisuliselt<br />
ääredislokatsioonidest (joon 3-11).<br />
3.5 Mikroskoopia<br />
Kristalliitide mikrostruktuuri, so terade kuju ja mõõtmeid saab uurida mikroskoopiliselt.<br />
Mõnede materjalide kristalliidid on nähtavad palja silmaga (Sn).<br />
Kiirte käik optilises mikroskoobis läbipaistmatu objekti korral (kasutatakse p<strong>ee</strong>geldunud valgust) on<br />
esita<strong>tud</strong> joonisel 3-12. Optilise mikroskoobi max suurendus on 2000 x.<br />
Enne uurimist objekt lihvitakse ja pol<strong>ee</strong>ritakse mehaaniliselt ning söövitatakse k<strong>ee</strong>miliselt.<br />
Söövitajad koosnevad kolmest komponendist:<br />
- oksüd<strong>ee</strong>rija; - lahustaja; - aeglustaja.<br />
Näit: HNO 3 + HF + CH 3 COOH<br />
14