Kemijsko inženjerstvo u razvoju materijala i zaštiti okoliša

Kemijsko inženjerstvo u razvoju materijala i zaštiti okoliša Kemijsko inženjerstvo u razvoju materijala i zaštiti okoliša

27.03.2014 Views

Naziv predmeta: KINETIČKA ANALIZA HIDRATACIJE CEMENTNIH VEZIVA Kod: DKIM18 Razina: izborni predmet Semestar: II. ili III. Oblici provođenja nastave: predavanja ECTS: 5 (2 za predavanja i konzultacije; 3 za samostalno učenje) Nastavnik: dr. sc. PERO DABIĆ, docent Kompetencije koje se stječu: Stjecanje znanja o mogućnostima matematičkog opisa složenih heterogenih sustava. Određivanje značajnih parametara sustava i kinetičkih konstanti, te izrada kinetičkih modela za ispitivane sustave. Okvirni sadržaj: Hidratacija osnovnih minerala klinkera, metode praćenja hidratacije i određivanja stupnja hidratacije pojedinih minerala klinkera. Kinetički modeli za opis hidratacije pojedinih minerala klinkera. Hidratacija cementa, problematika određivanja stupnja hidratacije radi polifaznosti i polidisperznosti višekomponentnog sustava cement - voda. Direktne i indirektne metode praćenja napredovanja hidratacije i izračun stupnja proreagiranosti sustava. Razvoj matematičkih modela ispitivanih sustava. Kinetički modeli koji uključuju više istodobnih procesa različitih brzina - određivanje kinetičkih konstanti pojedinih procesa hidratacije te redoslijed i trajanje pojedinih procesa: nukleacije i rasta kristala, procesa na granici faza i procesa difuzije. Kinetički modeli hidratacije cementnih veziva zasnovani na kontinuiranom praćenju značajnih komponenti sustava i analizi slike reagirajućeg sustava (in situ - ESEM + EDAX). Literatura potrebna za studij i polaganje ispita: 1. V.S. Ramachandran et al., Handbook of Thermal Analysis of Construction Materials, Noyes publication, William Andrew Publishing, Norwich, 2002. 2. R. Rixom, N. Mailvaganam, Chemical Admixtures for Concrete,Taylor & Francis, London, 2002. 3. J.E. House, Principles of Chemical Kinetics, Elsevier Inc., New York, 2007. Dopunska literatura: 1. M. Levitt, Concrete Materials - problems and solutions, E & FN SPON, New York, 2003. Način provjere znanja i polaganja ispita: usmeni ispit, seminarski rad Jezik poduke i mogućnosti praćenja na drugim jezicima: hrvatski i engleski Način praćenja kvalitete i uspješnosti izvedbe predmeta: Praćenje kvalitete i uspješnosti obavljat će se putem anketa na tri razine: (1) sveučilišnoj; (2) fakultetskoj, koju će provoditi Povjerenstvo za kontrolu kvalitete nastave te (3) nastavničkoj razini. 47

Naziv predmeta: METODE KARAKTERIZACIJE SILIKATNIH MATERIJALA Kod: DKIM19 Razina: izborni predmet Semestar: II. ili III. Oblici provođenja nastave: kombinirani oblici predavanja: predavanja, seminarski rad, rasprava i zaključivanje ECTS: 5 (1.5 za predavanja i konzultacije; 0.5 za seminarski rad; 3 za samostalno učenje) Nastavnik: dr.sc. JELICA ZELIĆ, izv. prof. Kompetencije koje se stječu: Stjecanje teorijskih znanja potrebnih za uspješnu provedbu analize i interpretaciju rezultata ovisno o metodi karakterizacije silikatnih materijala. Okvirni sadržaj: Temeljna načela rendgenske difrakcije. Kontinuirani i karakteristični spektri rendgenskog zračenja. Bragg-ova jednadžba. Kvalitativna i kvantitativna rendgenska analiza. Rendgenska strukturna analiza. Fourier-ova metoda sinteze u određivanju strukture kristala. Patterson-ova funkcija. Rendgenska fluorescentna analiza. Strukturne karakteristike silikata i njihove karakteristične rendgensko-difrakcijske slike. Elektronska mikroskopija i elektronska difrakcija. Elektroni u električnom i magnetskom polju. Primjena transmisijske i pretražne („scanning“) elektronske mikroskopije i elektronske mikroanalize na silikatne materijale. Infracrvena spektrofotometrija. Elektromagnetsko zračenje i vibracije molekula. Karakteristične vrpce pojedinih mineralnih grupa. Spektri slojevitih silikata. Modifikacije SiO 2 i karakteristike njihovih spektara. Stakla i pripadajući im spektri. Toplinske metode. Diferencijalno toplinska i termogravimetrijska analiza. Silikatni materijali i njihove karakteristične diferencijalno toplinske krivulje. Literatura potrebna za studij i polaganje ispita: 1. B. D. Cullity, S. R. Stock, Elements of X-Ray Diffraction, Addison-Wesly, New York, 2001. 2. I. F. Bergaya, B. K. G. Theng and G. Lagaly (eds.), Developments in Clay Science, Elsevier, Amsterdam, 2006. 3. V. S. Ramachandran, R. M. Paroli, J. J. Beaudoin, A. H. Delgado, Handbook of Thermal Analysis of Construction Materials, W. Andrew Publishing/ Noyes, Norwich, 2002. Dopunska literatura: 1. Članci iz znanstvenih časopisa Način provjere znanja i polaganja ispita: usmeni ispit, seminarski rad Jezik poduke i mogućnosti praćenja na drugim jezicima: hrvatski i engleski Način praćenja kvalitete i uspješnosti izvedbe predmeta: Praćenje kvalitete i uspješnost obavljat će se putem anketa na tri razine: (1) sveučilišnoj; (2) fakultetskoj, koju će provoditi Povjerenstvo za kontrolu kvalitete nastave; te (3) nastavničkoj razini. 48

Naziv predmeta:<br />

METODE KARAKTERIZACIJE SILIKATNIH<br />

MATERIJALA<br />

Kod:<br />

DKIM19<br />

Razina:<br />

izborni predmet<br />

Semestar:<br />

II. ili III.<br />

Oblici provođenja nastave: kombinirani oblici predavanja: predavanja, seminarski<br />

rad,<br />

rasprava i zaključivanje<br />

ECTS:<br />

5 (1.5 za predavanja i konzultacije; 0.5 za seminarski<br />

rad; 3 za samostalno učenje)<br />

Nastavnik:<br />

dr.sc. JELICA ZELIĆ, izv. prof.<br />

Kompetencije koje se stječu: Stjecanje teorijskih znanja potrebnih za uspješnu<br />

provedbu analize i interpretaciju rezultata ovisno o metodi karakterizacije silikatnih<br />

<strong>materijala</strong>.<br />

Okvirni sadržaj: Temeljna načela rendgenske difrakcije. Kontinuirani i<br />

karakteristični spektri rendgenskog zračenja. Bragg-ova jednadžba. Kvalitativna i<br />

kvantitativna rendgenska analiza. Rendgenska strukturna analiza. Fourier-ova metoda<br />

sinteze u određivanju strukture kristala. Patterson-ova funkcija. Rendgenska<br />

fluorescentna analiza. Strukturne karakteristike silikata i njihove karakteristične<br />

rendgensko-difrakcijske slike. Elektronska mikroskopija i elektronska difrakcija.<br />

Elektroni u električnom i magnetskom polju. Primjena transmisijske i pretražne<br />

(„scanning“) elektronske mikroskopije i elektronske mikroanalize na silikatne<br />

materijale. Infracrvena spektrofotometrija. Elektromagnetsko zračenje i vibracije<br />

molekula. Karakteristične vrpce pojedinih mineralnih grupa. Spektri slojevitih<br />

silikata. Modifikacije SiO 2 i karakteristike njihovih spektara. Stakla i pripadajući im<br />

spektri. Toplinske metode. Diferencijalno toplinska i termogravimetrijska analiza.<br />

Silikatni materijali i njihove karakteristične diferencijalno toplinske krivulje.<br />

Literatura potrebna za studij i polaganje ispita:<br />

1. B. D. Cullity, S. R. Stock, Elements of X-Ray Diffraction, Addison-Wesly, New<br />

York, 2001.<br />

2. I. F. Bergaya, B. K. G. Theng and G. Lagaly (eds.), Developments in Clay Science,<br />

Elsevier, Amsterdam, 2006.<br />

3. V. S. Ramachandran, R. M. Paroli, J. J. Beaudoin, A. H. Delgado, Handbook of<br />

Thermal Analysis of Construction Materials, W. Andrew Publishing/ Noyes,<br />

Norwich, 2002.<br />

Dopunska literatura:<br />

1. Članci iz znanstvenih časopisa<br />

Način provjere znanja i polaganja ispita: usmeni ispit, seminarski rad<br />

Jezik poduke i mogućnosti praćenja na drugim jezicima: hrvatski i engleski<br />

Način praćenja kvalitete i uspješnosti izvedbe predmeta: Praćenje kvalitete i<br />

uspješnost obavljat će se putem anketa na tri razine: (1) sveučilišnoj; (2) fakultetskoj,<br />

koju će provoditi Povjerenstvo za kontrolu kvalitete nastave; te (3) nastavničkoj<br />

razini.<br />

48

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!