Wykład 9

More documents

Recommendations

Info

Analiza informacji zawartej w rentgenogramach • wyznaczenie stałych sieciowych • analiza symetrii - wyznaczenie grupy punktowej symetrii (klasy Lauego) • analiza wygaszeń sieciowych - wyznaczenie typu komórki Bravais’go • analiza wygaszeń pasowych i osiowych - próba określenia grupy przestrzennej J. Chojnacki PG, Gdańsk 2008
Uzasadnienie teoretyczne wygaszeń • Intensywność refleksu:I hkl = F hkl 2 T A PL p (hkl) – czynniki: T – temperaturowy, A – absorpcyjny, PL – polaryzacja Lorentza, p – krotność płaszczyzny • Czynnik struktury F hkl dany jest wzorem: • gdzie: – i=-1, F hkl j 2i( hxj ky j lz j ) – x j , y j , z j współrzędne j-tego atomu – f j czynnik atomowy (zależy od rodzaju atomu i kąta , stabelaryzowany) f j e J. Chojnacki PG, Gdańsk 2008
Page 1: Krystalografia Wyznaczanie grupy pr
Page 5 and 6: Wygaszenia seryjne • osie śrubow
Page 7 and 8: Wygaszenia pasowe • Powodują je
Page 9 and 10: Przykład wygaszenia pasowego • G
Page 11 and 12: Wygaszenia dla układu rombowego
Page 13 and 14: Wygaszenia seryjne w układzie romb
Page 15 and 16: Przykład pełnej analizy warstwic
Page 17 and 18: Wynik analizy • Wygaszeń refleks
Page 19 and 20: Warstwice h0l i h1l i odpowiedź By

Wykład 9

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

Delete template?

Save as template?