Nr 1 - ITME
Nr 1 - ITME
Nr 1 - ITME
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
M. Boniecki<br />
4. WYNIKI POMIARÓW<br />
4.1. Współczynniki dyfuzji Hf w ZrO 2<br />
Na Rys. 2 przedstawiono przykładowy wykres profilu dyfuzji Hf 4+ w ZrO 2<br />
otrzymany metodą SIMS. W celu wyeliminowania wpływu wahań strumienia jonów<br />
wtórnych do analizy matematycznej zastosowano stosunek zliczeń Hf/Zr. Głębokość<br />
krateru (o powierzchni ~ 100 x 100 μm) powstałego na powierzchni próbki w wyniku<br />
bombardowania wiązką jonów pierwotnych mierzono po zakończeniu pomiaru profilometrem.<br />
Mając czas pomiaru (~ 500 s) otrzymywano szybkość trawienia jonowego<br />
co umożliwiało przyporządkowanie wielkości zliczeń odpowiedniej głębokości, albo<br />
inaczej odległości od powierzchni na której osadzono warstwę trasera.<br />
Rys. 2. Profil dyfuzji jonów Hf 4+ w próbce ceramiki ZrO 2<br />
wygrzewanej w temperaturze<br />
1556 K przez 24 h.<br />
Fig. 2. Diffusion profile of Hf 4+ in ZrO 2<br />
sample annealed at 1556 K for 24 h.<br />
Współczynniki dyfuzji objętościowej D l<br />
oraz po granicach ziaren D gb<br />
obliczano<br />
odpowiednio z profili dyfuzji w obszarze 1 i 2 dopasowując do nich odpowiednie<br />
wzory wyprowadzone z drugiego prawa Ficka dla przypadku tzw. chwilowego źródła<br />
dyfuzji (bardzo cienkiej warstwy trasera) [24-25]:<br />
D<br />
l<br />
⎛ ∂lnc<br />
⎞<br />
= ⎜−<br />
4t<br />
2<br />
⎟<br />
⎝ ∂x<br />
⎠<br />
−1<br />
(4)<br />
13
Change language