1 Úvod:

ve vakuové komoře, aby dopadající elektronový svazek i odražené nebo vyražené elektrony
nebyly rozptylovány srážkami s molekulami vzduchu. Informace o struktuře a složení látek z
povrchu vzorků lze získat detekcí elektronů různých druhů a pro jejich zachycení jsou
mikroskopy vybavovány různými typy detektorů, nejčastější pro odražené a vyražené
elektrony. Detektor vyražených elektronů poskytuje informaci o materiálovém složení látek,
jež se projevuje jako materiálový kontrast. Ke studiu mokrých vzorků jsou vyráběny speciální
rastrovací elektronové mikroskopy Enviromental Scanning Electron Microscopes - ESEM, u
nichž je vakuový prostor vytvářen fyzikálně pouze v oblasti pozorování.
Mikroskopická laboratoř FSv ČVUT je vybavena rastrovacím elektronovým mikroskopem
TESLA BS 340 s obrazovým procesorem Tescan TS 1201 umožňujícím volbu rozlišení, t.j.
velikost obrazu v pixelech do rozměru 2048x2048 při zvětšení až do 50-ti tisíc. Kvalita
snímků je podmíněna jak seřízením mikroskopu tak i přípravou vzorků. Laboratoř má též
zařízení pro napařování povrchu vzorků kovy.