Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

25. Przezroczystość bez uwzględniania załamania – przezroczystość
filtrowana
X 0,33
26. Nieuwzględniająca załamania przezroczystość interpolowana na
przykładzie przezroczystości typu „ekran-drzwi”
X 0,33
27. Przezroczystość z uwzględnieniem załamania – prawo Snella, całkowite
odbicie wewnętrzne
X 0,34
28. Teksturowanie – pojęcie teksela (texel), odwzorowanie tekstury,
korekcja perspektywy, tekstury proceduralne i wolumetryczne,
kompresja
X 0,33
29. Duszki (sprites, billboards), multiteksturowanie, odwzorowanie
środowiska, odwzorowanie nierówności, odwzorowanie przesunięcia
X 0,33
30. Odwzorowanie MIP, filtrowanie tekstur: izotropowe (dwuliniowe,
trójliniowe, MIP-dwulniowe), anizotropowe
X 0,34
31. Model Phonga dotyczący oświetlenia – tło oświetleniowe, odbicie
rozproszone (prawo Lamberta) i zwierciadlane, współczynniki odbicia
X 0,33
32. Tłumienie światła, model Warna światła kierunkowego X 0,33
33. Model Cooka-Torrance’a X 0,34
34. Pojęcie cieniowania, efekt Macha przy braku cieniowania X 0,33
35. Metoda cieniowania Gourauda – algorytm X 0,33
36. Metoda cieniowania Gourauda – własności i przykłady X 0,34
37. Metoda cieniowania Phonga – algorytm X 0,33
38. Metoda cieniowania Phonga – własności i przykłady X 0,33
39. Porównanie metod cieniowania X 0,34
40. Metody globalne wyznaczania oświetlenia, równanie renderingu X 0,33
41. Metoda śledzenia promieni, promienie pierwotne i wtórne, głębokość
analizy
X 0,33
42. Rozproszone śledzenie promieni i inne ulepszenia metody śledzenia
promieni
X 0,34
43. Metoda energetyczna, równanie energetyczne X 0,33
44. Wyznaczanie współczynników sprzężenia (ang. form factors)
występujących w równaniu energetycznym
X 0,33
45. Metoda energetyczna z progresywnym ulepszaniem X 0,34
Razem 15
Karta zajęć – laboratorium
poziom
liczba
Lp. Zagadnienie
wiedzy umiej.
godzin
A B C D E
1. Zasady zaliczenia laboratorium, opis zadań, wprowadzenie X 1
2. Własności krzywych i powierzchni: parametryczne krzywe
wielomianowe trzeciego stopnia, parametryczne powierzchnie trzeciego
stopnia
X 2
3. Modelowanie brył – własności reprezentacji, przekształcenia w
przestrzeni trójwymiarowej
X 2
4. Teksturowanie powierzchni brył – własności różnych metod X 2
5. Metody lokalne wyznaczania oświetlenia (metoda Gourauda i metoda
Phonga) – własności
X 2
6. Metody globalne wyznaczania oświetlenia (śledzenie promieni i metoda
energetyczna) – własności
X 2
7. Cieniowanie wierzchołków i cieniowanie pikseli – proste eksperymenty X 2
8. Uzupełnienie zaległości przez studentów X 2
Razem 15
355