26.02.2013 Views

диагностика низкотемпературной плазмы

диагностика низкотемпературной плазмы

диагностика низкотемпературной плазмы

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

МАТЕРИАЛЫ<br />

VII РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ<br />

СОВРЕМЕННЫЕ СРЕДСТВА ДИАГНОСТИКИ<br />

ПЛАЗМЫ И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ<br />

КОНТРОЛЯ ВЕЩЕСТВ И ОКРУЖАЮЩЕЙ СРЕДЫ<br />

Москва, НИЯУ МИФИ, 30 ноября-2 декабря 2010 г.<br />

Москва 2010


Министерство образования и науки РФ<br />

Государственная корпорация по атомной энергии «РОСАТОМ»<br />

Научный совет по физике <strong>низкотемпературной</strong> <strong>плазмы</strong> РАН<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

МАТЕРИАЛЫ<br />

VII РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ<br />

СОВРЕМЕННЫЕ СРЕДСТВА ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЫ<br />

И ИХ ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВЕЩЕСТВ И<br />

ОКРУЖАЮЩЕЙ СРЕДЫ<br />

Москва, НИЯУ МИФИ, 30 ноября-2 декабря 2010 г.<br />

Москва 2010<br />

2


ББК 22.333я5<br />

УДК: 533.9 (06)<br />

С-56<br />

Материалы VII Российскй Конференции «Современные средства<br />

диагностики <strong>плазмы</strong> и их применение для контроля веществ и<br />

окружающей среды». Москва, 30 ноября-2 декабря 2010 г.<br />

М.: НИЯУ МИФИ, 2010 г., 195 с.<br />

Сборник содержит материалы, представленные в виде устных и стендовых<br />

докладов на 7-ой российской конференции по диагностике <strong>плазмы</strong> и ее<br />

применению. Тематика сборника достаточно широка. Она охватывает как<br />

вопросы диагностики <strong>плазмы</strong> в термоядерных реакторах, включая проблемы<br />

диагностических зеркал, так и вопросы диагностики импульсных и<br />

стационарных газовых разрядов в исследовательских и технологических<br />

установках. Большой раздел сборника посвящен диагностике пылевой <strong>плазмы</strong>.<br />

Представлены также работы по исследованию новых плазменных объектов, в<br />

том числе образуемых в конденсированных средах, а также традиционных, но с<br />

применением нетрадиционных средств диагностики.<br />

Включенные в сборник материалы приведены в авторской редакции.<br />

Редакционная коллегия<br />

В.А.Курнаев<br />

А. С. Савѐлов<br />

Э. И. Додулад<br />

© Национальный<br />

исследовательский ядерный<br />

ISBN 978-5-7262-1379-8 университет «МИФИ», 2010<br />

3


ОРГАНИЗАТОРЫ КОНФЕРЕНЦИИ<br />

КАФЕДРА ФИЗИКИ ПЛАЗМЫ НАЦИОНАЛЬНОГО<br />

ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ЯДЕРНОГО УНИВЕРСИТЕТА<br />

«МИФИ»<br />

МИНИСТЕРСТВА ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ<br />

ГОСУДАРСТВЕННАЯ КОРПОРАЦИЯ ПО АТОМНОЙ ЭНЕРГИИ<br />

«РОСАТОМ»<br />

СЕКЦИЯ «ДИАГНОСТИКА НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ<br />

ПЛАЗМЫ» СОВЕТА «ФИЗИКА НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ<br />

ПЛАЗМЫ» РАН<br />

ПРОГРАММНЫЙ КОМИТЕТ<br />

Воронов Г.С. (ИОФ РАН)<br />

Гаранин С.Г. (РФЯЦ ВНИИЭФ) чл.корр. РАН<br />

Голубев А.А. (ИТЭФ)<br />

Ковальский Н.Г. (ТРИНИТИ)<br />

Кругляков Э.П. (ИЯФ СО РАН) - акад. РАН<br />

Курнаев В.А. (НИЯУ МИФИ)<br />

Лебедев Ю.А. (ОФО РФ, ИНХС)<br />

Литновский А.М. (FZJ, Juelich, Germany)<br />

Петров О.Ф.(ОИВТ РАН) чл.корр. РАН<br />

Пергамент М.И. (ТРИНИТИ)<br />

Савѐлов А.С. (НИЯУ МИФИ)<br />

Сергеев В.Ю. (СПбГТУ)<br />

Сон Э.Е. (ОИВТ РАН)-чл.корр. РАН<br />

Стрелков В.С. (ИФТ РНЦ "Курчатовский институт")<br />

ОРГАНИЗАЦИОННЫЙ КОМИТЕТ<br />

Курнаев В. А. (НИЯУ МИФИ)<br />

Савѐлов А. С. (НИЯУ МИФИ)<br />

Додулад Э. И. (НИЯУ МИФИ)<br />

Раевский И. Ф. (НИЯУ МИФИ)<br />

Саранцев С. А. (НИЯУ МИФИ)<br />

4


МАГНИТНАЯ ДИАГНОСТИКА ТОКАМАКОВ НОВОГО<br />

ПОКОЛЕНИЯ: ПРОБЛЕМЫ И РЕШЕНИЯ<br />

И. Большакова 1 , И. Васильевский 2 , Л. Виерербл 3 , Р. Голяка 1 , И. Дюран 4 ,<br />

В. Ерашок 1 , Р. Коноплѐва 5 , Я. Кость 1 , С. Куликов 6 , В. Курнаев 2 , К. Лерой 7 ,<br />

Е. Макидо 1 , В. Чеканов 5 , Ф. Шурыгин 1<br />

1. Национальный университет «Львовская политехника»<br />

2. Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

3. Nuclear Research Institute, Rež, Czech Republic<br />

4. Institute of Plasma Physics, Prague, Czech Republic<br />

5. Петербургский Институт Ядерной Физики<br />

6. Объединенный Институт Ядерных Исследований, Дубна<br />

7. Université de Montréal, Canada<br />

Успешная работа и эксплуатационные показатели токамаков зависят от<br />

точности информации, обеспечиваемой магнитной диагностикой. В самых<br />

больших из современных токамаков JET и TORE SUPRA количество магнитных<br />

датчиков достигает 500, в строящемся ITER их предусмотрено 1700. Сложность<br />

системы магнитной диагностики связана, с одной стороны, с высокими<br />

требованиями к точности измерения, с другой – с жѐсткими условиями<br />

эксплуатации. Среди них основное место занимают интенсивные радиационные и<br />

тепловые нагрузки, а в ITER ситуация осложняется ещѐ и тем, что техническое<br />

обслуживание элементов диагностики внутри токамака затруднительно и<br />

магнитная <strong>диагностика</strong> конструируется с расчѐтом на весь срок службы реактора<br />

(от 20 до 35 лет).<br />

В системах магнитной диагностики как действующих современных<br />

токамаков, так и ITER предусмотрено использование традиционных<br />

индуктивных методов, основанных на использовании pick-up coils и<br />

интеграторов. В существующих реакторах, в которых длительность импульсов<br />

магнитного поля не превышает несколько десятков секунд, индуктивные<br />

преобразователи удовлетворительно выполняют свою функцию.<br />

Проблема реакторов нового поколения состоит в том, что с возрастанием<br />

длительности импульса до 3600 сек, как это предусмотрено в ITER, точность<br />

интегрирования резко уменьшается, и индуктивные преобразователи не<br />

4


позволяют получить необходимую точность измерения квазистационарного<br />

(steady-state) магнитного поля.<br />

Другая проблема заключается в том, что радиационное поле в ITER<br />

будет намного жѐстче, чем в современных установках. Высокие уровни<br />

проникающего излучения могут существенно влиять на точность измерения<br />

индуктивных преобразователей посредством радиационно-индуцированных<br />

эффектов (RIEMF, RITES и др.) [1].<br />

Для решения этих проблем нами было предложено дополнить систему<br />

магнитной диагностики ITER гальваномагнитными преобразователями, а<br />

именно полупроводниковыми сенсорами Холла. В отличие от индуктивных<br />

преобразователей они не имеют ограничений относительно длительности<br />

импульса и с достаточно высокой точностью измеряют как высокочастотные,<br />

так и постоянные магнитные поля, и являются наиболее пригодными для<br />

измерения steady-state магнитных полей в реакторах нового поколения с<br />

большой длительностью импульса > 1000 сек [2].<br />

Задача состоит в том, чтобы обеспечить достаточную радиационную<br />

стойкость полупроводниковых сенсоров в потоках высокоэнергетических<br />

нейтронов и работоспособность при повышенных температурах в реакторе.<br />

Например, в ITER в местах, предназначенных для размещения steady-<br />

state сенсоров, температура выживания сенсоров составляет 220ºС и<br />

определяется условиями отжига камеры для ее дегазации, рабочая температура<br />

steady-state сенсоров находится на уровне 120ºС. Радиационные нагрузки в этих<br />

местах определяются флюенсом нейтронов за время жизни ITER и достигают<br />

максимального значения F = 10 18 н∙см -2 при интенсивности потока 7,71∙10 10<br />

н∙см -2 ∙с -1 .<br />

Для удовлетворения этим требованиям в Лаборатории Магнитных<br />

Сенсоров НУЛП (ЛМС) совместно с Центром нанотехнологий и<br />

наноматериалов НИЯУ «МИФИ» разработаны и изготовлены<br />

радиационностойкие сенсоры магнитного поля на основе полупроводниковых<br />

гетероструктур InSb/i-GaAs.<br />

Предварительно, для изучения радиационно-физических процессов в<br />

облученных полупроводниках, в ЛМС были выращены методом CVD<br />

структурно совершенные монокристаллические вискеры InSb, InAs и их<br />

твердые растворы InAsxSb1-x. Будучи практически бездефектными, они являются<br />

5


прекрасным модельным материалом для изучения влияния вводимых<br />

облучением радиационных дефектов на электрофизические свойства<br />

полупроводникового материала и определения его оптимальных исходных<br />

параметров для создания радиационно-стойких сенсоров [3].<br />

Методы повышения радиационной стойкости указанных<br />

полупроводников включают как химическое легирование комплексом<br />

донорных, изовалентных и редкоземельных примесей, так и другие технологии,<br />

составляющие ноу-хау разработчиков.<br />

Испытания радиационной стойкости полупроводниковых материалов и<br />

сенсоров проводились в нейтронных потоках исследовательских ядерных<br />

реакторов ИБР-2 (ОИЯИ, Дубна), ВВР-М (ПИЯФ, Гатчина) и LVR-15 (Rež, Czech<br />

Republic).<br />

Для проведения испытаний до высоких флюенсов нейтронов в ЛМС была<br />

создана специальная многофункциональная аппаратура, позволяющая проводить<br />

измерения параметров сенсоров в режиме реального времени во время их облучения<br />

в каналах ядерных реакторов (on-line измерения). Она включает оснастку для<br />

размещения тестируемых образцов в канале реактора, источник магнитного поля,<br />

управляющую электронику, линии связи и программное обеспечение, позволяющее<br />

получать информацию по сети интернет за тысячи километров от места проведения<br />

испытаний на протяжении нескольких месяцев длительности эксперимента [4].<br />

Проведенные испытания показали работоспособность<br />

полупроводниковых сенсоров в потоках нейтронов до самых высоких флюенсов<br />

F = 3∙10 18 н∙см -2 , превышающих уровень максимальной радиационной нагрузки<br />

в местах размещения steady-state сенсоров в ITER. При этом, изменение<br />

чувствительности сенсоров при облучении нейтронами до флюенов 10 15 н∙см -2<br />

составляет всего лишь 0,04%, при флюенсах 10 16 н∙см -2 – 0,08%, при самых<br />

высоких флюенсах 10 17 н∙см -2 ÷ 10 18 н∙см -2 дрейф чувствительности составляет<br />

всего лишь (5÷10)%.<br />

Для обеспечения требуемой высокой точности измерения (0,1÷0,3)%<br />

указанный уровень дрейфа сигнала сенсоров поддается периодической<br />

коррекции. Для решения этой задачи была разработана специальная<br />

электронная аппаратура. Она является многофункциональной и способной<br />

обеспечить периодическую диагностику и автоматическую коррекцию сигнала<br />

сенсоров без их переустановки в течение времени жизни ITER. Метод<br />

6


диагностики основан на периодическом измерении сигнала, обусловленного<br />

тестовым магнитным полем, которое создается медным микросоленоидом, в<br />

котором размещается сенсор, и не зависит от накопления радиационной дозы.<br />

Разработаны также методы обработки сигнала, основанные на синхронном<br />

детектировании, позволяющие выделить сигнал тестового магнитного поля<br />

(5 мТл) из тороидального поля ITER (5 Тл), превышающего тестовое поле в<br />

тысячу раз.<br />

Созданная магнитоизмерительная аппаратура на основе радиационно-<br />

стойких сенсоров была установлена и успешно апробирована в самых больших из<br />

действующих токамаков TORE SUPRA (Франция) и JET (Великобритания) [5].<br />

JET является наилучшим из токамаков для оценки радиационной<br />

стойкости в радиационном поле, подобном тому, которое ожидается в реакторах<br />

следующего поколения. В 2009 г. во время экспериментальной дейтериевой<br />

сессии на JET были установлены шесть комплектов нашей<br />

магнитоизмерительной аппаратуры с радиационно-стойкими 3D сенсорами. На<br />

протяжении всей сессии с июля по октябрь 2009 г. все шесть комплектов<br />

аппаратуры работали без сбоя, полученные результаты измерений хорошо<br />

совпадали с расчѐтными. Эти результаты оценены руководством JET как<br />

перспективные для ITER.<br />

Разработанные методы измерения магнитных полей защищены как<br />

национальными патентами, так и патентами Великобритании (2009) и Франции<br />

(2010).<br />

Работа выполнена при поддержке проектов УНТЦ, а также в рамках<br />

Соглашения с НИЯУ «МИФИ» о сотрудничестве в научной и академической<br />

областях от 12.12.2006 г.<br />

Литература:<br />

1. Vayakis G., Walker C. Magnetic Diagnostics for ITER/BPX plasmas // Rev. Sci.<br />

Instrum., 2003, vol.74, № 4, p.2409-2417.<br />

2. Bolshakova I., Duran I., Holyaka R., at al. Performance of Hall Sensor-Based Devices<br />

for Magnetic Field Diagnosis at Fusion Reactors // Sensor Letters, 2007, vol.5, p.283-288.<br />

3. Bolshakova I., Boiko V., Brudnyi V., at al. The effect of neutron irradiation on the<br />

properties of n-InSb whiskers // Semiconductors (Fizika i tekhnika poluprovodnicov),<br />

2005, vol.39, №7, p.780-785.<br />

7


4. Bolshakova I., Chekanov V., Leroy C., at al. Methods and Instrumentation for<br />

Investigating Hall Sensors During Their Irradiation in Nuclear Research Reactors // IEEE<br />

Xplore: Advancements in Nuclear Instrumentation, Measurement Methods and their<br />

Application, 2010, P.1-6.<br />

http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=5503722.<br />

5. Murari A., Edlington T., Angelone M., Bertalot L., Bolshakova I. at al, JET-EFDA<br />

Contributors. Measuring the radiation field and radiation hard detectors at JET:<br />

Recent developments // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A.,<br />

2008, vol.593, p.492-504.<br />

8


ЭРОЗИОННЫЕ ИСПЫТАНИЯ МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ<br />

ДИАГНОСТИЧЕСКИХ ЗЕРКАЛ РЕАКТОРА ITER<br />

М. Матвеева 1 , A. Литновский 1 , L. Marot 2 , B. Eren 2 , V. Philipps 1 , A. Pospieszczyk 1 ,<br />

H. Stoschus 1 , Д. Матвеев 3 и U. Samm 1<br />

1 Institut für Energieforschung-Plasmaphysik, Forschungszentrum Jülich GmbH,<br />

Assoziation EURATOM-FZ-Jülich, Trilaterales Euregio Cluster, Jülich, Germany<br />

2 Department of Physics, University of Basel, Klingelbergstr. 82, Basel, Switzerland<br />

3 Department of Applied Physics, Ghent University, Plateaustr. 22, Ghent, Belgium<br />

Аннотация<br />

Данная работа посвящена исследованию материалов, предлагаемых для<br />

изготовления так называемых первых диагностических зеркал реактора ITER в<br />

условиях эрозии. Представлены результаты экспериментов в токамаке<br />

TEXTOR, а также анализ возможности применения рассмотренных концепций<br />

зеркал для диагностик ITER. Показано, что все рассмотренные концепции<br />

подходят для применения в условиях умеренной эрозии в случае применения<br />

защитных методик и установки зеркал вглубь портов. Монокристаллические<br />

молибденовые зеркала продемонстрировали наивысшую устойчивость к<br />

сильной эрозии, ожидаемой в верхнем порту установки в случае газонапуска.<br />

Введение<br />

ITER будет нуждаться в точных измерениях широкого диапазона<br />

параметров <strong>плазмы</strong>, необходимых для защиты реактора, контроля <strong>плазмы</strong> и<br />

выполнения исследовательской программы [1]. Для этого будет использовано<br />

большое число различных диагностик, в том числе оптических, в которых в<br />

качестве первого элемента, обращенного к плазме, будут установлены<br />

металлические зеркала. Таким образом, время жизни зеркал будет критическим<br />

параметром для соответствующих диагностик [2]. Зеркала будут подвержены<br />

облучению нейтронами, гамма-излучением, большими потоками частиц.<br />

Наибольшее влияние на характеристики зеркала оказывает осаждение примесей<br />

на его поверхность или эрозия поверхности, осуществляемая атомами<br />

перезарядки с потоками порядка 10 19 –10 21 ат/м 2 с и энергиями до нескольких кэВ<br />

[3]. Отражательная способность зеркала в условиях эрозии зависит в основном<br />

от материала зеркала [4]. Данная работа основана на изучении изменения<br />

9


характеристик зеркал, предполагаемых к использованию в диагностических<br />

системах ITER. Эксперименты проводились в токамаке TEXTOR.<br />

Изготовление и определение параметров зеркал<br />

Зеркала с родиевым (Rh) и молибденовым (Мо) покрытиями на<br />

различных подложках, изготовленные в Университете города Базель [5],<br />

исследовались совместно с монокристаллическими молибденовыми зеркалами<br />

(SC Mo). SC Mo зеркала имеют ряд преимуществ по сравнению с<br />

поликристаллическими Мо зеркалами [6], однако ограничены в размерах.<br />

Измерение оптических и поверхностных характеристик зеркал производилось в<br />

Базеле и в лаборатории MirrorLab научного центра в Юлихе [7]. Вторичная<br />

ионная масс-спектрометрия (ВИМС) была использована для элементного<br />

анализа и анализа распределения элементов по глубине. Для измерения<br />

толщины пленок производилось исследование кратеров ВИМС с помощью<br />

профилометра DEKTAK. Полная и диффузная отражательная способности<br />

зеркал были измерены с помощью двулучевого спектрофотометра Lambda 950.<br />

Эксперименты в токамаке TEXTOR<br />

Было проведено два эксперимента с 3<br />

зеркалами каждый. Зеркала были установлены<br />

на тест-лимитере (Рис. 1) в пристеночной плазме<br />

токамака. Первый эксперимент проводился при<br />

умеренных эрозионных условиях: полный поток<br />

частиц на центр зеркал составил около 5.9×10 24<br />

ионов/м 2 . Параметры <strong>плазмы</strong> у поверхности<br />

зеркал, усредненные по всем разрядам, были<br />

ne = 2.6×10 18 м -3 , Te = 36 эВ. Температура<br />

поверхности зеркал во время разряда не превышала 570° C. Для этого<br />

эксперимента были использованы Rh и Mo покрытия на Мо подложке,<br />

изготовленные с помощью метода выпаривания, а также монокристаллическое<br />

Мо зеркало. Во время выращивания Мо пленки наблюдалось окисление ее<br />

поверхности, а после напыления – частичное ее отслаивание.<br />

Второй эксперимент производился с целью обнаружения предела<br />

применения зеркал при более интенсивных потоках частиц. Во время этого<br />

эксперимента исследовалось SC Mo зеркало наряду с Rh пленкой на<br />

10<br />

20°<br />

B<br />

Рис. 1: Тест- лимитер с<br />

зеркалами после эксперимента


вольфрамовой (W) подложке и Мо пленкой на молибденовой подложке,<br />

выращенной методом магнетронного распыления. Вольфрамовая подложка для<br />

зеркала с родиевым покрытием была выбрана как не образующая сплав с<br />

родием при высоких температурах, ожидавшихся во время эксперимента.<br />

Полный поток частиц на центр каждого из зеркал составил около 1.4×10 25<br />

ионов/м 2 , что в 2.3 раза больше, чем в предыдущем эксперименте. Усредненная<br />

по всем разрядам плотность <strong>плазмы</strong> около зеркал составила 3.6×10 18 м -3 при<br />

электронной температуре 31 эВ. Температура поверхности зеркал во время<br />

разряда находилась в пределах 670° C-1300° C.<br />

Результаты экспериментов<br />

В первом эксперименте зеркала<br />

продемонстрировали удовлетворительные<br />

результаты: изменение полного коэфициэнта<br />

отражения после облучения не превысило 4% в<br />

диапазоне длин волн от 250 до 2500 нм.<br />

Родиевое покрытие на вольфрамовой подложке,<br />

выбранное для второго эксперимента,<br />

изначально имело несколько отслоившихся<br />

участков. Плотность таких участков с размерами, превышающими 10 мкм, была<br />

около 120 единиц на мм 2 (Рис. 2а), однако их суммарная площадь не превышала<br />

1% поверхности зеркала.<br />

После эксперимента в токамаке TEXTOR родиевое зеркало было<br />

распылено в центре на 340 нм. За счет неоднородного распыления увеличилась<br />

шероховатость поверхности (Рис. 2b), что привело к росту диффузной<br />

11<br />

Рис. 2: Родиевое (Rh) покрытие на<br />

вольфраме (W) с отслоившимся<br />

участком до (a) и после (b)<br />

экспозиции (оптический микроскоп)<br />

Рис. 3: Диффузная (a) и зеркальная (b) отражательная способность зеркала с Rh<br />

покрытием до и после эксперимента (справочные данные [8])


компоненты отраженного света (Рис. 3а) с соответствующим уменьшением<br />

зеркально отраженного света (до 25% в УФ диапазоне (Рис. 3b)).<br />

После распыления 120 нм поверхность зеркала с Мо покрытием осталась<br />

неповрежденной, за исключением пары участков. Диффузная составляющая<br />

отраженного света увеличилась до 2.5% в УФ, оставаясь порядка 1% в видимой<br />

и ИК областях. Коэффициент зеркального отражения уменьшился на 4% в ИК<br />

области и на 12% в УФ (Рис. 4а).<br />

Рис. 4: Зеркальная отражательная способность зеркала с Mo покрытием (a) и SC Mo<br />

зеркала (b) до и после эксперимента (справочные данные [8])<br />

Шероховатость монокристаллического Mo зеркала осталась �2 нм, что<br />

подтверждается низкой, порядка 1%, диффузной отражательной способностью.<br />

Однородное распыление монокристала является его преимуществом и<br />

объясняется одинаковой ориентацией кристаллической решетки вдоль всей<br />

поверхности зеркала. Коэффициент зеркального отражения света уменьшился<br />

на 4% в ИК диапазоне (Рис. 4b), подобно всем изученным Мо зеркалам вне<br />

зависимости от количества распыленного материала. Для сравнения,<br />

шероховатость зеркала с Rh покрытием была порядка 20 нм.<br />

Обсуждение<br />

Все исследованные зеркала продемонстрировали удовлетворительные<br />

результаты в случае умернных эрозионных условий. Полный поток в первом<br />

эксперименте сравним с более чем 350 разрядами ITER для зеркал,<br />

установленных в экваториальных портах, и 10 разрядами для зеркал в верхних<br />

портах в случае газонапуска. Данные расчеты выполнены для зеркал,<br />

установленных в диагностических портах на уровне первой стенки [3]. Во<br />

втором эксперименте поток на зеркала соответствовал примерно 850 разрядам<br />

ITER для зеркал, находящихся в экваториальных портах, или 25 разрядам в<br />

случае верхних портов при условии газонапуска. Молибденовые зеркала<br />

сохранили свои оптические свойства, и лишь небольшое ухудшение в УФ<br />

12


области было выявлено для зеркала с Мо покрытием. Распыление поверхности<br />

и внедрение частиц привели к значительному ухудшению, достигающему 25% в<br />

УФ диапазоне, отражательной способности зеркала с Rh покрытием. С другой<br />

стороны, реалистичный сценарий предполагает установку первых зеркал глубже<br />

в портах ITER и применение защитных методов, таких как диафрагмы,<br />

открытые только во время измерений. Такие меры могут уменьшить поток на<br />

поверхность зеркала на порядки величины [9,10]. В этом случае все<br />

исследованные концепции зеркал могут применяться в ITER, однако<br />

монокристаллические молибденовые зеркала остаются предпочтительными для<br />

использования в условиях эрозии. В связи с тем, что наибольшее технически<br />

доступное SC Mo зеркало имеет размер порядка 10 см в диаметре [2], основные<br />

усилия должны быть направлены на производство зеркал больших размеров.<br />

Зеркала с использованием покрытий представляют собой многообещающую<br />

альтернативу для диагностик ITER, однако технология их изготовления должна<br />

быть усовершенствована и в дальнейшем выведена на промышленный уровень.<br />

Литература<br />

1. V. Mukhovatov et al, Plasma Phys. Control. Fusion 45 (2003) A235–A252<br />

2. A. Litnovsky et al, Nucl. Fusion 49 (2009) 075014<br />

3. V. Kotov et al, Journal of Nuclear Materials 390–391 (2009) 528–531<br />

4. A. Litnovsky et al, Journal of Nuclear Materials 363–365 (2007) 1395–1402<br />

5. L. Marot et al. Surf. Coat. Tech. 202 (2008) 2837<br />

6. A. Litnovsky et al, Fusion Engineering and Design 82 (2007) 123–132<br />

7. https://tec.ipp.kfa-juelich.de/mirrorlab/ Access details: mirrorlab@fz-<br />

juelich.de<br />

8. E.D. Palik (Ed.), Handbook of Optical Constants of Solids, Academic Press,<br />

1985<br />

9. J.N. Brooks and J.P. Allain, Nucl. Fusion 48 (2008) 045003<br />

10. A.E. Costley et al, Fusion Engineering and Design 55 (2001) 331-346<br />

13


ПРИМЕНЕНИЕ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО<br />

РЕФРАКТОМЕТРА 150 ГГц ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СРЕДНЕЙ<br />

ПЛОТНОСТИ ПЛАЗМЫ НА ТОКАМАКЕ-10<br />

Е.П.Горбунов 1 , А.А.Петров 2 , В.Г.Петров 2 , Д.С.Сергеев, 1 Ю.В.Скосырев 1<br />

1. Российский научный центр‖ Курчатовский институт‖<br />

2. ФГУП ― ГНЦ РФ ТРИНИТИ ‖<br />

Для экспериментов на Токамаке-10 весьма актуальной сейчас является<br />

наличие надежной (бессбойной) информации о плотности <strong>плазмы</strong>,<br />

определяемой по концентрации электронов, в реальном времени для управления<br />

поведением плотности <strong>плазмы</strong> в течение импульса разряда с применением<br />

обратной связи. На токамаках в Курчатовском институте с 60-х годов для<br />

определения средней по хорде зондирования концентрации электронов в<br />

плазменном шнуре применяются одноканальные СВЧ-интерферометры<br />

миллиметрового диапазона длин волн [1].<br />

Для определения профиля плотности <strong>плазмы</strong> используется<br />

многохордовое фазовое зондирование плазменного шнура [2] с более короткими<br />

волнами. На Токамаке-10 такое зондирование проводится по 8 вертикальным<br />

хордам на длине волны 0,9 мм с генератором ЛОВ [3] и по 8 хордам на длине<br />

волны 337 мкм с HCN – лазером [4]. Сигналы с центральных хорд этих<br />

интерферометров используются для определения и управления уровнем средней<br />

плотности <strong>плазмы</strong> в течение импульса разряда.<br />

К сожалению, иногда электромагнитные помехи приводят к появлению<br />

резкого «перескока» фазового сигнала, не отражающего физический процесс в<br />

плазме, а являющегося следствием воздействия помехи на системы регистрации<br />

интерферометров, в которых применены двоичные делители частоты для<br />

преобразования большого фазового сдвига от <strong>плазмы</strong> в сдвиг менее 2π радиан.<br />

При последующей обработке данных о профиле плотности используются<br />

различные алгоритмы для восстановления информации, но для управления<br />

параметрами разряда по величине средней плотности нужны надѐжные данные<br />

в реальном времени.<br />

14


Для уменьшения влияния электрических помех во всех интерферометрах<br />

применяются полосовые усилители на рабочей промежуточной частоте [1] .<br />

При исследовании на Токамаке-10 процессов с быстрым изменением плотности<br />

<strong>плазмы</strong> (инжекция пеллет, срыв тока) необходимо заранее определить<br />

необходимую широкополосность во избежание ошибок. Теория таких<br />

процессов рассмотрена в работе [5] , а наблюдающиеся явления при измерениях<br />

с интерферометрами на Токамаке-10 были рассмотрены в работе [6]. На рис. 3<br />

приводится пример влияния помехи на ― перескок ― фазы в СВЧ-<br />

интерферометре и реакция клапана напуска рабочего газа.<br />

Сейчас на Токамаке-10 проводится работа по наладке прибора<br />

―Дифференциальный Рефрактометр‖ с частотой зондирования 150 ГГц. Для<br />

этой частоты плазма с плотностью до 2,5.10 14 см -3 прозрачна. Метод впервые<br />

был применен в экспериментах на Токамаке -11 в ТРИНИТИ [7] .Принцип<br />

действия прибора основан на измерении разности фаз между двумя<br />

зондирующими пучками с близкими частотами и проходящих вдоль одной и<br />

той же хорды. После изготовления макета в ТРИНИТИ для Токамака-10 в нем<br />

заменены лучеводные элементы и добавлен второй канал для будущих<br />

двухканальных измерений. Для защиты от мощного излучения от гиротронов с<br />

частотой 130 ГГц и 140 ГГц вмонтирован волноводный фильтр перед<br />

измерительным детектором с ослаблением 40 дБ на указанных частотах<br />

гиротронов.<br />

Проводится испытание прибора в различных режимах плазменных<br />

разрядов при омическом и с дополнительным нагревом от гиротронов.<br />

Установленный волноводный фильтр пока полностью защищают<br />

чувствительный ДБШ - детектор при вводе в плазму мощности от гиротронов<br />

до 600 кВт с длительностью 100 мсек. Готовятся эксперименты с суммарной<br />

мощностью от четырѐх гиротронов 4 МВт.<br />

Аналоговый сигнал от рефрактометра подаѐтся через АЦП в базу данных<br />

Т-10. Получено удовлетворительное согласие (Рис.4) в показаниях фазового<br />

сдвига рефрактометра (кривая 1, зондирование вертикально через центр<br />

<strong>плазмы</strong>), лазерного интерферометра (кривая 2 , хорда +8,4 см) и СВЧ –<br />

интерферометра (кривая 3, хорда +4,2 см). Продемонстрирована бессбойность<br />

метода.<br />

15


Для управления газонапуском необходимо устранить небольшие<br />

колебания на выходном напряжении рефрактометра, которые возможно<br />

обусловлены переотражениями в тракте, в том числе и внутри металлической<br />

камеры Т-10.<br />

Прибор прост в эксплуатации. Настроенный прибор готов к работе сразу<br />

после подачи электропитания. Твердотельные микроволновые генераторы<br />

имеют большой срок службы. Данный рефрактометр может быть применен на<br />

других плазменных установках с квазистационарным разрядом при<br />

концентрации электронов менее 2,5.10 14 см -3 . Фазовая чувствительность 10<br />

мВ/град.<br />

В.<br />

Рис.1. Микроволновые полупроводниковые генераторы с блоками<br />

питания и квазиоптическая часть рефрактометра на Токамаке-10.<br />

Рис.2. Калибровка дифференциального рефрактометра – зависимость между<br />

измеряемым фазовым сдвигом и линейной плотностью nL .Изменение разности<br />

фаз на 180 град. соответствует изменению напряжения на выходе фазометра на 1,8<br />

16


Рис.3.Фазовый сдвиг в рефрактометре (1) при ―ложном перескоке‖ фазы вниз<br />

в СВЧ-интерферометре (2) в режиме с обратной связью по газонапуску.<br />

Литература:<br />

Рис.4. Сравнение показаний трех приборов.<br />

1. Горбунов Е.П. В сб. Диагностика <strong>плазмы</strong>, Госатомиздат, М. 1963, с.68-77<br />

2. Горбунов Е.П., Днестровский Ю.Н., Костомаров В.П. ЖТФ, 1968, т.38, вып.5,<br />

с.812-817.<br />

3. Багдасаров А.А., Бузанкин В.В., Васин Н.Л., и др. В кн.: Диагностика <strong>плазмы</strong>,<br />

М. Энергоиздат, 1981, с.141-146<br />

4. Горбунов Е.П., Кулешов Е.М., Нестеров П.К. и др. Физика <strong>плазмы</strong>,т.18, в.2,<br />

1992, с. 162<br />

5. Хилиль В.В. В кн. Диагностика <strong>плазмы</strong>, М.,Атомиздат,1973, вып.3,с.404-411.<br />

6. Горбунов Е.П., Денисов В.Ф., Крупин В.А. и др. В сб.материалов IV<br />

Российского семинара ― Современные средства диагностики <strong>плазмы</strong> и их<br />

применение для контроля веществ и окружающей среды‖.М.,МИФИ, 12-14<br />

ноября 2003 г,с.55-57.<br />

7. Петров В.Г., Петров А.А., Малышев А.Ю. и др. ПТЭ, 2006, №2, .99-104.<br />

17


ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ В<br />

ТОКАМАКЕ ТУМАН-3М С ПОМОЩЬЮ HIBP МЕТОДОМ<br />

ДВУХТОЧЕЧНОГО ЗОНДИРОВАНИЯ<br />

А.А. Белокуров 1 , Л.Г. Аскинази 2<br />

1. Санкт-Петербургский Государственный Политехнический университет<br />

2. ФТИ им. А.Ф. Иоффе<br />

Исследование радиальной и полоидальной компонент электрического<br />

поля в токамаке является важной задачей физики <strong>плазмы</strong> и УТС; информация<br />

об этих полях, их распределении и динамике может стать эффективным<br />

инструментом исследования аномального переноса.<br />

Диагностика пучком тяжелых ионов (Heavy Ion Beam Probe) – мощный<br />

инструмент, позволяющий производить невозмущающее локальное<br />

исследование целого ряда параметров <strong>плазмы</strong>: потенциала, электронной<br />

концентрации, магнитного поля, а также, что особо важно, флуктуаций этих<br />

величин. Основная физическая величина, измеряемая с помощью HIBP – это<br />

электростатический потенциал <strong>плазмы</strong>; однако, исследование радиального<br />

распределения потенциала не дает информацию о флуктуациях электрического<br />

поля, так как с помощью HIBP можно получить Er только как результат<br />

численного дифференцирования профиля потенциала. Проведение<br />

одновременных измерений потенциала в двух пространственных точках <strong>плазмы</strong><br />

позволит проводить с точностью до расстояния между точками локальные<br />

прямые измерения электрического поля и, таким образом, дает возможность<br />

измерения флуктуаций.<br />

На токамаке ТУМАН-3М [1] реализован диагностический комплекс<br />

HIBP с возможностью двухточечного зондирования <strong>плазмы</strong> [2]. Для<br />

детектирования вторичных ионов используется 30 о анализатор типа «плоское<br />

зеркало» Прока-Грина. В этом случае на два независимых трехканальных<br />

детектора поступают пучки вторичных ионов из соседних точек <strong>плазмы</strong>;<br />

расстояние между исследуемыми точками вторичной ионизации определяется<br />

расстоянием между щелями анализатора.<br />

Необходимо отметить, что при исследовании <strong>плазмы</strong> токамака с<br />

помощью HIBP положение и размер исследуемой области можно определить<br />

18


только расчѐтным путѐм. Реальные системы инжекции ионов обладают<br />

некоторой погрешностью, поэтому расчетные траектории даже при заданных<br />

параметрах инжекции не являются абсолютно точными. Решить задачу<br />

локализации может использование системы контроля первичного пучка,<br />

позволяющей точно задать координаты влета первичного пучка в плазму, т.е.<br />

определить точные начальные условия для расчета траекторий.<br />

На токамаке ТУМАН-3М существует подобная система контроля<br />

первичного пучка. Она представляет собой сеточный детектор, расположенный<br />

во входном патрубке токамака. Для максимально эффективного исследования<br />

электрического поля данная система была усовершенствована; разработан и<br />

реализован программно-аппаратный комплекс автоматизации измерений<br />

(рис. 1): электронная система позволяет эффективно собирать сигналы с 10<br />

каналов и при помощи мультиплексора подавать их через АЦП на компьютер.<br />

Рис. 1. Блок-схема системы контроля первичного пучка<br />

Рис. 1. Блок-схема системы контроля первичного пучка<br />

Специально созданное для этой задачи программное обеспечение обрабатывает<br />

сигнал с проволочек и восстанавливает значения координат центра пучка, его<br />

ширины и полного тока. Комплекс позволяет оперативно определять не только<br />

координаты влета пучка в плазму, но и угол влета как функцию напряжения на<br />

отклоняющих пластинах инжектора; это дает возможность более точно задать<br />

начальные условия для моделирования траекторий пучка в плазме и определить<br />

положение объема вторичной ионизации.<br />

Одна из проблем при исследовании электрического поля на токамаке<br />

ТУМАН-3М заключается в том, что анализатор ионов вторичного пучка<br />

подвержен засветке детекторных пластин и корпуса ультрафиолетовым и<br />

рентгеновским излучением из <strong>плазмы</strong>, что приводит к эмиссии электронов. Это<br />

дает дополнительный вклад в значение тока на детекторных пластинах, причем<br />

ошибка может быть обоих знаков: положительная при эмиссии электронов из<br />

детекторных пластин и отрицательная при попадании выбитых из корпуса<br />

19


электронов на детектор. Для борьбы с этим явлением используется специальный<br />

подавляющий электрод, установленный на детекторе, к которому подведен<br />

отрицательный потенциал. Важно, чтобы значение потенциала на электроде не<br />

было слишком большим – это может вызвать дополнительный поток<br />

электронов, выбитых из элементов конструкции, «засасываемых» полем. Чтобы<br />

узнать величину погрешности за счет фоновой засветки, были сделаны оценки<br />

для тока вторичных ионов, проведено экспериментальное исследование влияния<br />

фоновой засветки на сигнал детектора вторичных ионов. В результате<br />

эксперимента было обнаружено, что разные каналы детектора дают<br />

существенно разный результат - различие может быть связано с особенностями<br />

взаимного расположения детекторов и подавляющего электрода. В связи с этим<br />

была решена задача об определении оптимального напряжения на подавляющем<br />

электроде. Паразитные токи фоновой засветки при оптимальном напряжении<br />

равны 0.5-2 нА; исходя из оценки для тока вторичных ионов 20 нА, можно<br />

считать погрешность малой в режиме с оптимальным напряжением подавления.<br />

В связи с установкой на токамак двущхелевого анализатора возникает<br />

необходимость поиска таких наборов параметров инжекции (энергия ионов,<br />

тороидальное магнитное поле, угол инжекции, ток по плазме, etc.), при которых<br />

точки детектирования отстоят друг от друга только в радиальном или только в<br />

полоидальном направлении. Такие пары точек позволяют проводить измерения<br />

радиального или полоидального поля как отношение разности потенциалов в<br />

двух точках ионизации к межточечному расстоянию. Расстояние между точками<br />

составляет от 1 до 5 мм; характерный масштаб изменения электрического поля<br />

порядка 1 см на периферии в области транспортного барьера и порядка 10 см в<br />

центре токамака. Следовательно, соблюдено условие локальности диагностики.<br />

Установлено, что в режиме двухточечного зондирования при исследовании<br />

радиального электрического поля область, в которой можно проводить<br />

исследования, покрывает значительную часть сечения токамака (рис. 2), что при<br />

соответствующем подборе параметров дает возможность проводить<br />

исследования как центральной области, так и периферии плазменного шнура.<br />

Полоидальное поле можно измерять только в конкретных точках в центральной<br />

области <strong>плазмы</strong> при точно заданных параметрах диагностики (рис. 3). Это<br />

связано с тем, что даже при фиксированных энергии и угле инжекции<br />

небольшое отклонение величины магнитного поля от заданной приводит к<br />

изменению взаимного расположения точек вторичной ионизации и к появлению<br />

20


радиального смещения, не позволяющего однозначно выделить полоидальную<br />

компоненту электрического поля.<br />

.<br />

Литература:<br />

1. Vorobiev G.M., Golant V.E., Lebedev S.V. et al // Sov. J. Plasma Phys. (Fisika<br />

Plazmy). 1983. vol.9. p. 65.<br />

2. Askinazi L.G.; Kornev V.A.; Lebedev S.V. et al // Rev. Sci. Instrum. 75, 2004, 10<br />

Part 2 3517-3519.<br />

Y, cm<br />

Y, cm<br />

0<br />

-5<br />

-10<br />

10<br />

5<br />

0<br />

E=95 keV, �=25 o , B � =0.83 - 0.97 T<br />

0 5 10 15 20<br />

E = 75 keV, �=25 o , B�=0.8 T<br />

0 5 10<br />

21<br />

E = 80 keV, �=26 o , B�=0.8 T<br />

X, cm<br />

X, cm<br />

Рис. 2. Пример положения точек вторичной ионизации при<br />

измерении радиального электрического поля<br />

E = 85 keV, �=28 o , B�=0.8 T<br />

Рис. 3. Пример положения точек вторичной ионизации при<br />

измерении полоидального электрического поля


LASER INDUCED DESORPTION AS TRITIUM RETENTION<br />

DIAGNOSTIC METHOD<br />

STATUS & PLANS FOR EXPERIMENT AND THEORY<br />

M. Zlobinski, V. Philipps, A. Huber, B. Schweer, the TEXTOR Team et al.<br />

Forschungszentrum Jülich GmbH, Institute of Energy Research, IEF-4: Plasma<br />

Physics, 52425 Jülich, GERMANY, Association EURATOM-FZJ, Partner in the<br />

Trilateral Euregio Cluster<br />

Abstract:<br />

Measurement and control of long term tritium retention is one of the most<br />

critical issues for ITER and future fusion devices. Since the measurement of the<br />

hydrogenic retention by post mortem tile analysis becomes more and more difficult in<br />

future devices due to active water cooling and tile activation Laser Induced<br />

Desorption Spectroscopy (LIDS) is under development in TEXTOR to provide a tool<br />

to measure the tritium inventory in-situ without tile removal. The method is based on<br />

rapid spot laser heating and consecutive detection of thermally released hydrogen by<br />

spectroscopic detection of Balmer line emission. This talk presents a short overview<br />

of the LIDS setup, the laser heating process, the optical detection and data evaluation<br />

as well as the application of laser desorption to map the hydrogen content on a<br />

TEXTOR ALT limiter tile with erosion areas and deposition dominated areas with<br />

thick a-C:H layers in a laboratory setup, demonstrating the ability to create a 2D<br />

mapping of the hydrogenic inventory without damaging the substrate.<br />

Unacceptable long term retention of the fuel (tritium) in the walls of fusion<br />

devices is one of the critical issues for development of a fusion reactor. In order to<br />

have a solid base for the tritium retention behaviour in the activated phase of ITER, a<br />

detailed analysis of fuel retention is needed already in the non activated phase, to<br />

prove the predictions on retention and to qualify the tritium control schemes. The<br />

main goals are the identification of the amount of retention, its spatial distribution, its<br />

dependence on plasma operation and wall conditions and the qualification of tritium<br />

retention mitigation and cleaning techniques. The vast majority of data on fuel<br />

retention in present devices is based on post mortem analyses if tiles are taken out of<br />

22


fusion devices after a certain amount of operation, averaging thus normally over a<br />

variety of wall and plasma conditions. In addition, these measurements become more<br />

and more difficult with actively cooled tiles, which are activated with tritium and, in<br />

case of ITER, contaminated with Be. For this purpose LIDS is under development<br />

both in lab experiments and in the TEXTOR tokamak. The technique has been already<br />

successfully tested and approved to measure in-situ in TEXTOR the hydrogen content<br />

of thin (d < 500 nm) amorphous hydrocarbon layers (a-C:H layers) on graphite,<br />

showing a reasonable matching of data measured in-situ in TEXTOR with laboratory<br />

data on the same layers [1, 5]. The present activities are the extension of LID to much<br />

thicker layers deposited on graphite and on tungsten, both in lab laser desorption and<br />

in-situ in the TEXTOR tokamak as well as the extension to the measurement of only<br />

plasma-implanted hydrogen isotopes into W and W/C mixed substrates.<br />

The experimental setup and detection system of LIDS has been presented<br />

earlier in [1, 4]. Nevertheless a short update of the LIDS diagnostic will be given. For<br />

applying LIDS in fusion reactors a different setup with coaxial light paths for the laser<br />

and the collected light is being developed in order to reach the main plasma-wall<br />

interaction areas in ITER. This rather technical issues will not be addressed in the<br />

talk, although they are extensively investigated in our institute. With this<br />

improvements LIDS could become a highly valuable in-situ tritium monitoring<br />

system in the future. We propose this new setup as part of a combined laser wall<br />

characterization system for ITER, see [2]. For the development of LIDS and a more<br />

detailed analysis of the desorption process a laboratory method called LID-QMS has<br />

been developed, which has been presented in a similar setup in [3]. It will be reviewed<br />

quickly with a focus on the parameters used for the exemplary results presented in this<br />

talk.<br />

The physics of a typical LID measurement can briefly be summarized as<br />

follows: A high energy Nd:YAG laser pulse at 1064 nm wavelength with a nearly<br />

constant power throughout the pulse [3] with a duration of 3 ms is guided by fibre<br />

optics (fibre core diameter 400 µm) to a viewport above the limiter lock system [4] in<br />

TEXTOR. The multiple reflections inside the fibre produce a nearly constant spatial<br />

intensity distribution [3]. A lens images the laser to the sample position to be analyzed<br />

with a circular spot size with an area of 5.2 mm 2 . A 2.5 µm thick a-C:H layer (called<br />

―test layer‖) pre-coated on a tungsten substrate (with a Cr interlayer for better<br />

adhesion) was mounted on a holder with the surface tangential to the magnetic flux<br />

23


surfaces. The sample was placed 2 cm outside the last closed flux surface (LCFS) at a<br />

minor radius of 48 cm. The reflection of the laser light from the sample (14 %) was<br />

measured beforehand and added to the measured losses from reflections on the lenses<br />

and fibre (24 %) and the viewport window (8 %). The remaining light fraction (60 %)<br />

is mainly absorbed in the a-C:H layer, following the extinction coefficient of k = 0.2<br />

determined at 1064 nm by ellipsometry the layer thickness and applying Beer's law,<br />

��<br />

z 4�k<br />

I(<br />

z)<br />

� I0<br />

e with � �<br />

�<br />

giving an e-folding decay length of the light intensity of 0.4 µm. Here I is the light<br />

intensity and z is the depth from the surface. The temperature profile in the wall can<br />

be estimated roughly by<br />

�s<br />

�e � � serfc<br />

( ) �<br />

2 I t<br />

T(<br />

z)<br />

� T0<br />

�<br />

s<br />

� Kc�<br />

with<br />

s<br />

�<br />

2<br />

z<br />

�t<br />

24<br />

(1)<br />

(2)<br />

where T0 is the starting temperature (ca 400 K) and K, c,<br />

heat capacity and density of the heated material, respectively and t the time after the<br />

laser pulse. On graphite or tungsten with or without a thin a-C:H layer, the<br />

analytically calculated temperature is in good agreement with measured temperatures<br />

and more refined finite element calculations (Code: ANSYS) that solve the heat<br />

equation. For a standard surface temperature of 2000 K the temperature in 100 µm<br />

depth is around 1400 K, which is still enough for total desorption of hydrogen also<br />

from these depths. In the current case an initial laser energy of 22 J was used of which<br />

13 J remain for heating. This corresponds to an intensity of 85 kW/cm 2 , that led to an<br />

estimated temperature of ca 3100 °C. On the one hand this assures complete<br />

desorption, but causes partial removal of the layer and interlayer.<br />

The hydrogen releases mainly molecularly as H2 and in the case of deuterated<br />

layers also as HD and D2 with ca 12 % contribution from hydrocarbons. These species<br />

are then ionized, dissociated into atoms and excited by electron impact from the<br />

plasma. They are determined quantitatively in TEXTOR by local spectroscopy of the<br />

H-alpha light at 656 nm, when they emit photons during the de-excitation process. A<br />

narrow-band H-alpha filter was used with a FWHM of 1.5 nm, so that hydrogen and<br />

deuterium are detected simultaneously due to their small spectral separation of 0.18<br />

nm. The light is recorded by a 2D digital camera (Allied Vision Technology PIKE


F032B) with 0.3 MPixel, 14-bit depth resolution, 100 Hz framerate and an image<br />

intensifier. The camera and laser are synchronized via a common clock. For the<br />

detailed analysis of the desorption process a 500 Hz frame rate has been used utilizing<br />

an analog camera with 32 x 32 pixels. In future diodes with a much higher<br />

measurement rate will be used. After background subtraction by subtracting half of<br />

the intensity of the two neighbouring frames from each picture pixel by pixel the<br />

desorption image is obtained. By integration and multiplication of a calibration factor<br />

that accounts for the camera sensitivity, the amount of photons of each frame is<br />

calculated and transformed into the total amount of hydrogen and deuterium via<br />

conversion factors that include the photon to atom conversion (S/XB value) and a<br />

correction for the atomic yield factor. It takes into account that especially the<br />

hydrocarbon molecules dissociate weakly into hydrogen atoms compared to hydrogen<br />

molecules. This is due to the electron induced ionization and subsequent dissociation<br />

processes in the TEXTOR edge plasma that are summarized by the following<br />

dominant reaction:<br />

� �<br />

H2 � e � H2<br />

� H � H<br />

(3)<br />

generating only one neutral atom thus only one potential photon source. The atomic<br />

yield factor in the case of desorbing only H2 is therefore 2 - or for the case of only<br />

CH4 it is 5 for example. For the usual hydrocarbon fraction the atomic yield factor is<br />

2.2 to 2.6. In the present setup also a correction for the estimated light fraction outside<br />

the field of view has to be applied, which will not be needed in ITER.<br />

The heating process for LID-QMS is exactly the same as described above for LIDS<br />

but lower laser parameters have been chosen and therefore lower surface temperatures<br />

arise, in order to minimize surface changes. The detection of the released species is<br />

done by a quadrupole mass spectrometer. To optimize the sensitivity and obtain a<br />

complete spectrum of released species, the valve to the pumps is closed. The<br />

background mass spectrum is recorded with typically 15-50 ms/u after the flash laser<br />

desorption for 30 s. A simple fit procedure is then applied to the temporal behaviour<br />

of each mass peak from which the step of the mass signal due to the laser flash<br />

desorption is evaluated with high accuracy. The mass spectrometry is routinely<br />

calibrated with a calibrated gas injection for H2, D2, CH4, and C2H4. The parameters<br />

for the laser spot desorption on a TEXTOR ALT as well as typical desorption spectra<br />

will be presented in the talk.<br />

25


As an example the examination of the hydrogen retention on a limiter tile (fine<br />

grain graphite) of TEXTOR, which has faced the plasma for about 33200 s for more<br />

than two years of tokamak operation will be shown. The incoming hydrogen flux on<br />

the ALT limiter is routinely recorded spectroscopically by integrating the light in<br />

ploidal direction with a toroidal width of 1 cm. The light has been integrated for all<br />

the discharges in the corresponding time and converted to an average hydrogen flux<br />

density using a constant S/XB value of 20 and a calibration factor. In this way an<br />

averaged fluence of 1 . 10 26 /m 2 has been determined assuming toroidal symmetry of the<br />

flux density. The laser technique allows a spatial resolution of about 4 mm in this case<br />

and the whole limiter tile has been scanned in polidal and toridal direction. In the<br />

erosion dominated area, the hydrogen and deuterium retention amounts to about 5.5 .<br />

10 21 H/m 2 while the deuterium only is about 3.6 . 10 21 D/m 2 .<br />

During the operation period of the limiter tile, TEXTOR was operated in a<br />

mixture of H and D, since mostly H NBI was used, but in the average the deuterium<br />

plasma content was larger then the hydrogen. Evidently, part of the hydrogen<br />

retention is also from hydrogen background in the graphite as measured usually on<br />

non exposed graphite. One may speculate, that also fast H ions from not fully<br />

confined hydrogen beams may contribute to the increase in the hydrogen retention in<br />

the net erosion zone above a value expected from the H/D ratio of the thermalised<br />

plasma, since they can penetrate deeper into the material. Thus the total hydrogenic<br />

retention in the net erosion zone is about 10 22 H+D/m 2 . The limiter tile temperature<br />

during TEXTOR operation is routinely between 100 and 200 °C but may also<br />

temporally increase due to high heating power operation. In the deposition dominated<br />

area the hydrogenic retention is increased by factors up to 18 for hydrogen and 14 for<br />

deuterium, reaching values of the order of 10 23 H&D/m2. The H/D ratio is typically<br />

between 1.2 and 2. The detailed balance of erosion and deposition depends on details<br />

of tile geometry, which is easily detectable by LID. To confirm the data from LID-<br />

QMS, the tile has been cut in pieces and normal slow ramp TDS and NRA has been<br />

performed on few locations. The comparision will be shown and discussed in the<br />

presentation.<br />

The amount of deuterium bound in hydrocarbons is usually in the range of 10<br />

to 15 %. The total D content is calculated by taking into account HD, D2, CD3H, CD4<br />

and C2D4 but further contributing species may also contribute. The D atoms in the<br />

hydrocarbons account for 12 % of the total D content in most cases for C substrates.<br />

26


LID-QMS has also been applied to determine the inventory on the tile sides in<br />

between two limiter tiles. A quick presentation of this gap deposition and a<br />

presentation of details about the a-C:H layer properties can be done if requested.<br />

The different release mechanisms of hydrogen from graphite, a-C:H layers and<br />

tungsten will be presented in the way how we understand the involved processes,<br />

which then shall be modeled in our cooperation. The talk will finish with a list of<br />

requirements and options for the development of a theory/model/simulation for the<br />

explanation of our experimental results. (For a preliminary list of requirements see<br />

next the page.) In the discussion after the talk, I on the other hand expect a list of<br />

experimentally measurable quantities that are needed for such a model from your side.<br />

References<br />

1. B.Schweer et al. / Journal of Nuclear Materials 390–391 (2009) 576–580<br />

2. A.Huber et al., SOFT conference 2010, P2-114, will be published soon<br />

3. B.Schweer et al. / Journal of Nuclear Materials 363–365 (2007) 1375–1379<br />

4. B.Schweer et al. / Fusion Science and Technology, 47 (2005) 138<br />

5. F.Irrek, Entwicklung einer In-situ-Messmethode zur Bestimmung des<br />

Wasserstoffgehalts amorpher Kohlenwasserstoffschichten in Fusionsanlagen,<br />

Forschungszentrum Jülich GmbH – Zentralbibliothek, Nr. 4279 (2008)<br />

27


МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ПЕРЕОСАЖДЕНИЯ<br />

УГЛЕРОДНЫХ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ<br />

НА ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ ДИАГНОСТИК<br />

ТОКАМАКА ИТЭР<br />

С.Е. Кривицкий 1 , К.Ю. Вуколов 2 , Т.Р. Мухаммедзянов 2 , А.Ю. Таранченко 2<br />

1. Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана<br />

2. Российский научный центр «Курчатовский институт»<br />

Диагностика параметров <strong>плазмы</strong> в строящемся Международном<br />

экспериментальном термоядерном реакторе ИТЭР будет проводиться в<br />

основном с использованием бесконтактных методов. Около половины<br />

диагностических систем ИТЭР будут оптическими. Ряд диагностик создается в<br />

России. В РНЦ «Курчатовский институт» разрабатывается несколько<br />

диагностических систем, в том числе система спектроскопии водородных линий<br />

(Hα-<strong>диагностика</strong>). Излучение высокотемпературной <strong>плазмы</strong> будет поступать на<br />

диагностическое оборудование по системе оптических элементов (зеркал и<br />

оптоволоконных кабелей), расположенных в предназначенных для этого порт-<br />

плагах. При создании диагностики одной из основных является проблема<br />

первого зеркала. Обращенное непосредственно к плазме, оно будет<br />

подвергаться воздействию потока атомов перезарядки, кроме того, на<br />

поверхности зеркала переосаждаются углеводороды с диверторных пластин и<br />

бериллий с внутренней стенки камеры. Попадание этих компонентов на<br />

поверхность внутрикамерных зеркал в совокупности с процессом эрозии за счет<br />

атомов перезарядки может привести к деградации их оптических характеристик,<br />

а, следовательно, и к нарушению работы всего диагностического тракта.<br />

Тестирование зеркал в лабораторных условиях позволяет оценить время<br />

жизни данного элемента оптической системы и определить влияние <strong>плазмы</strong> на<br />

его оптические характеристики. Согласно расчетам [1], поток примесей,<br />

представленных в основном углеродом и бериллием в соотношении 3:1, в<br />

экваториальном и верхнем диагностических портах токамака ИТЭР составляет<br />

около 4·10 18 м -2 с -1 . Требуемые для тестирования зеркал условия можно<br />

28


обеспечить в магнетронном разряде. В нем за счѐт ионизации рабочего газа и<br />

ускорения образовавшихся ионов реализуется распыление поверхности катода и<br />

получение направленного атомарного потока. Поскольку бериллий токсичен, в<br />

лабораторных экспериментах его заменяют алюминием, как элементом с<br />

наиболее близкими химическими свойствами.<br />

Для проведения тестирования образцов диагностических зеркал<br />

использовался экспериментальный стенд, схема которого приведена на<br />

рисунке 1. С помощью магнетронной распылительной системы 1 в объеме<br />

вакуумной камеры 2 создавался поток атомов углерода и алюминия в<br />

требуемом отношении. Такую величину удалось получить в результате<br />

основанного на расчетах корректного выбора параметров разряда. Образец<br />

первого зеркала 3 располагался на специальном столике 4, оборудованном<br />

нагревателем 5 и термопарой 6 для контроля и поддержания заданной<br />

температуры образца. Величина потока регулировалась либо изменением<br />

расстояния между катодом и образцом, либо выбором величины разрядного<br />

тока.<br />

1 – магнетрон, 2 – камера, 3 – тестируемый образец, 4 – столик, 5 –<br />

нагреватель, 6 – термопара, 7 – поток распыленных атомов, 8 – клапан, 9 –<br />

регулятор расхода газа, 10 – газовый редуктор, 11 – баллон с газом й, 12 –<br />

преобразователь термопарный, 13 – преобразователь ионизационный, 14 –<br />

вакуумная система, 15 – блок питания катушек магнитного поля, 16 – блок<br />

питания разряда, 17 – блок питания нагревателя, 18 – вакуумметр, 19 – блок<br />

управления регулятором расхода газа, 20 – устройство сбора данных, 21 –<br />

ПЭВМ<br />

Рисунок 1 – Схема экспериментального стенда<br />

29


Рабочей средой в экспериментах служил дейтерий высокой чистоты. Для<br />

приближения к реальным условиям работы первого зеркала в ИТЭР в<br />

вакуумной камере экспериментального стенда поддерживалось давление менее<br />

1 Па. При таких условиях сравнительно тяжелые атомы углерода и алюминия не<br />

испытывали значительного рассеяния по направлению и изменения энергии на<br />

пути к тестируемому зеркалу.<br />

В ходе экспериментов было проведено тестирование ряда образцов<br />

металлических зеркал размером 22х22х4 мм из молибдена МЧВП и стали<br />

04Х16Н11М3Т. Для проведения анализа и сравнения результатов тестирования<br />

все образцы облучались потоками с одной и той же дозой атомов C и Al. В<br />

зависимости от величины генерируемого потока (1…4·10 18 м -2 с -1 ) расстояние<br />

между катодом и образцом составляло от 120 до 240 мм, а длительность<br />

эксперимента – от 60 до 120 минут. Зеркала экспонировались в интервале<br />

температур от 150 °С до 340 °С.<br />

Для каждого полученного в результате эксперимента образца зеркала с<br />

напыленной пленкой на спектрофотометре PerkinElmer Lambda 850 было<br />

проведено измерение коэффициента отражения от его поверхности.<br />

Полученные зависимости представлены на рисунке 2. По результатам анализа<br />

следует отметить две основные закономерности: с увеличением потока атомов<br />

коэффициент отражения снижается, а с ростом температуры имеет место<br />

обратная ситуация. Это хорошо согласуется с проводившимися ранее<br />

исследованиями влияния углеводородных пленок на коэффициент отражения<br />

[2, 3] и объясняется химической эрозией углерода в агрессивной дейтериевой<br />

среде.<br />

Проведенные тесты показали, что на всех зеркалах в ходе эксперимента<br />

образовались плѐнки, которые заметно ухудшали спектральные коэффициенты<br />

отражения. Наибольшее снижение отмечено в диапазоне 250 – 500 нм. Условия,<br />

в которых экспонировались зеркала, являются наиболее неблагоприятными с<br />

точки зрения работоспособности системы диагностики, т.к. тестирование<br />

проводилось в условиях отсутствия защитных элементов.<br />

30


1 – чистый образец; 2 – 1∙10 18 м -2 с -1 , 150 °С;<br />

3 – 2∙10 18 м -2 с -1 , 190 °С; 4 – 1∙10 18 м -2 с -1 , 175 °С;<br />

5 – 2∙10 18 м -2 с -1 , 250 °С; 6 – 4∙10 18 м -2 с -1 , 340 °С<br />

Рисунок 2 – Коэффициент отражения от поверхности протестированных<br />

молибденовых зеркал при фиксированных значениях потока и температуры<br />

Работа выполнена при поддержке Федерального агентства по атомной<br />

энергии (Росатом) в рамках Государственного контракта Н.4з.41.03.08.258 от<br />

20.03.2008 г<br />

Литература:<br />

1. Kotov V., Litnovsky A., Kukushkin A.S., Reiter D., Kirschner A. Journal of<br />

Nuclear Materials, June 2009, Volumes 390-391, 528-531.<br />

2. Изучение влияния нагрева на образование углеводородных пленок на<br />

диагностических зеркалах / К.Ю. Вуколов, Л.С. Данелян, В.В. Затекин и др. //<br />

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2008.<br />

- № 4. – С. 5-10.<br />

3. Влияние нагрева на скорость роста а-С:Н-пленок и характеристики<br />

металлических зеркал в условиях, подобных ИТЭР / К.Ю. Вуколов, Л.С.<br />

Данелян, С.Н. Звонков и др. // ВАНТ, Сер. Термоядерный синтез, 2006. - Вып. 4.<br />

– С. 21- 33.<br />

31


ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЬ СОДЕРЖАНИЯ ИЗОТОПОВ<br />

ВОДОРОДА И ДЕЙТЕРИЯ В ПЛАЗМЕ СТЕЛЛАРАТОРА Л-2М<br />

Г.С. Воронов и М.С. Бережецкий<br />

Учреждение Российской Академии Наук Институт Общей Физики им.<br />

А.М.Прохорова<br />

Время удержания энергии в токамаках и стеллараторах, наряду с<br />

другими параметрами, зависит также и от массы основного иона.<br />

По скэйлингу ИТЭР [1] : η ITER ~ M 0.19 . В стеллараторах на разных установках и<br />

в различных режимах зависимость η(М) сильно отличается. Поэтому в<br />

стеллараторном скэйлинге [2], усредненном по нескольким установкам, принято<br />

η ISS04 ~ M 0.01 . Эти зависимости отражают результат совместного действия<br />

различных механизмов неоклассического и турбулентного переноса.<br />

Зависимость от массы иона для отдельных механизмов переноса варьируется в<br />

широких пределах от ~ M -0.5 до ~ M 0.5. Изучение изотопного эффекта может<br />

дать полезную информацию о влиянии отдельных механизмов переноса на<br />

удержание энергии и частиц.<br />

H 2 D 2<br />

Никелевый фильтр<br />

Импульсный клапан<br />

Рис.1 Схема напуска рабочего газа в Л-2М<br />

32<br />

В настоящей работе изучалась<br />

методика измерений и<br />

контроля изотопного состава<br />

<strong>плазмы</strong>, состоящей из водорода<br />

и дейтерия.<br />

Напуск рабочего газа в<br />

стелларатор Л-2М<br />

производится с помощью<br />

импульсного клапана.<br />

Предварительно газ очищается<br />

путем диффузии через<br />

тонкостенную никелевую трубку. Трубка нагревается до 100-200�С . При этом<br />

давление в буферном объеме перед импульсным клапаном поднимается до 0.5


атм. Клапан открывается за 30-40 мс до начала разряда, чтобы давление газа<br />

успело выровняться по всей длине тороидальной камеры. Количество<br />

напускаемого газа регулируется длительностью открытого состояния клапана,<br />

обычно ~ 10-20 мс. Это обеспечивает получение <strong>плазмы</strong> с начальной<br />

плотностью 1 – 2 х 10 19 м -3 . В дальнейшем поддержание плотности <strong>плазмы</strong><br />

происходит за счет поступления газа, выделяющегося из стенок в результате<br />

воздействия <strong>плазмы</strong> (процесс рециклинга).<br />

До начала описываемых экспериментов стелларатор долгое время<br />

работал на водороде. Так что стенка была напитана изотопом водорода 1 Н.<br />

Затем водород в буферном объеме перед клапаном был заменен дейтерием 2 D.<br />

Так что плазма состояла из дейтерия, поступающего из импульсного клапана, и<br />

водорода выбиваемого из стенок в результате рециклинга.<br />

Измерения проводились с помощью комплекса спектральной аппаратуры<br />

стелларатора Л-2М [3], обладающего достаточно высоким спектральным<br />

(��~0.04 нм), временным (~ 2 мс) и пространственным (~0.2 см) разрешением.<br />

На рис.2 показан участок спектра вблизи линии Н� при омическом разряде в<br />

t=50 ms<br />

t=60 ms<br />

t<br />

Рис.2 Участок спектра. Линии D�, H� и CII<br />

33<br />

плазме из смеси водорода и<br />

дейтерия. Съемка велась со<br />

скоростью 100 кадров в секунду. На<br />

рисунке показаны два<br />

последовательных кадра с<br />

экспозицией 10 мс. Видно, что с<br />

течением разряда концентрация D<br />

убывает, а концентрация Н растет.<br />

После 30 разрядов инжектируемый газ был заменен обратно на водород. По<br />

мере "отстрела" в последовательности омических разрядов содержание D в<br />

стенке камеры уменьшается. Относительная концентрация дейтерия D/(D+H)<br />

уменьшается по экспоненте с постоянной ~ 94 разряда: D/(D+H) ~ exp(- N/94),<br />

N – количество разрядов после замены инжектируемого газа.


Da / (Da+Ha)<br />

уменьшения содержания дейтерия в стенке вакуумной камеры.<br />

100<br />

90<br />

80<br />

70<br />

60<br />

50<br />

110<br />

100<br />

90<br />

80<br />

70<br />

60<br />

50<br />

0,7<br />

0,6<br />

0,5<br />

0,4<br />

0,3<br />

0,2<br />

0,1<br />

62720 62740 62760 62780 62800 62820 62840 62860<br />

D �<br />

Номер выстрела<br />

580 590 600 610 620<br />

D �<br />

1620 1630 1640 1650 1660<br />

�<br />

H �<br />

H �<br />

Da/(Da+Ha) 50 ms<br />

~ exp( - (N-62760) / 94 )<br />

# 62736 50 ms<br />

# 62736 60 ms<br />

А Б<br />

Рис.4 Изменение профилей линий Dα и Нα .<br />

34<br />

Рис.3 Относительная<br />

концентрация дейтерия<br />

спадает по экспоненте с<br />

показателем 94 выстрела<br />

На рис.4 показано<br />

изменение спектральных<br />

профилей линий Dα и Нα по<br />

мере отстрела и<br />

А - при напуске дейтерия и высоком содержании водорода в стенке.<br />

Б - при напуске водорода и низком содержании дейтерия в стенке после 120<br />

выстрелов.<br />

580 590 600 610 620<br />

Экспоненциальный спад содержания изотопов водорода позволяет<br />

проводить замену рабочего газа в течение одной экспериментальной сессии и<br />

160<br />

140<br />

120<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

140<br />

120<br />

100<br />

80<br />

60<br />

40<br />

# 62857 50 ms<br />

# 62857 60 ms<br />

1620 1630 1640 1650 1660<br />


исследовать влияние массы основного иона на удержание <strong>плазмы</strong> при<br />

неизменных прочих параметрах эксперимента.<br />

Возможность контроля содержания изотопов и оперативного изменения<br />

состава <strong>плазмы</strong> важна также для экспериментов по ионному циклотронному<br />

нагреву с малой добавкой.<br />

Заключение<br />

• Обнаружено присутствие в плазме стелларатора Л-2М одновременно двух<br />

изотопов водорода – обычного водорода и дейтерия.<br />

• Спектральное разрешение спектрографа ВМС-1 и цифровой CCD-камеры<br />

достаточно для измерения их относительного содержания.<br />

• Измерения динамики изменения изотопного состава показывают, что<br />

"отстрел" дейтерия в стенках в режиме омического нагрева идет по экспоненте с<br />

показателем ~ 100 выстрелов.<br />

• Это дает возможность оперативной замены рабочего газа в ходе<br />

эксперимента.<br />

• Измерение и контроль изотопного состава рабочего газа важны для<br />

экспериментов по ИЦРН с малой добавкой.<br />

• Сравнение параметров водородной и дейтериевой <strong>плазмы</strong> при одинаковых<br />

прочих условиях может быть полезным для измерения скэйлингов времени<br />

удержания <strong>плазмы</strong>.<br />

Литература:<br />

1. IPB98(Y,2) // Nuclear Fusion 39 (1999) 2175<br />

2. A.Weller at al // IAEA FEC 2008 EX/P5-9<br />

3. Г.С. Воронов, Е.В. Воронова // Тезисы докладов на XII Всероссийской<br />

конференции по "Диагностике высокотемпературной <strong>плазмы</strong>" (Звенигород,<br />

2007), С.147-149.<br />

35


ПОЯС РОГОВСКОГО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМАГНИТНОГО<br />

ТОКА В МУЛЬТИПОЛЬНОЙ МАГНИТНОЙ ЛОВУШКЕ–<br />

ГАЛАТЕЕ ТРИМИКС -3М<br />

А.М. Бишаев, А.И. Бугрова, И.С. Гордеев, А.И. Денисюк, М.В.Козинцева,<br />

А.С.Липатов, А.С. Сигов, И.А.Тарелкин, В.А.Терехов,<br />

Московский государственный институт радиотехники, электроники и<br />

автоматики (технический университет). МИРЭА<br />

Измерение диамагнитного эффекта является обязательной частью<br />

измерений на всех магнитных ловушках по удержанию <strong>плазмы</strong>. Диамагнитный<br />

эффект позволяет оценить величину времени удержания энергии в плазме. В<br />

ловушке типа токамак поясом Роговского (ПР) измеряется индуцированный<br />

внешним магнитным полем ток. В проведенных исследованиях измеряется<br />

полный диамагнитный ток в плазме, и его величина связывается с величиной<br />

энергии в плазменном объеме. Это позволяет, как и в установках токамак, по<br />

магнитным и электротехническим измерениям определить температуру <strong>плазмы</strong>.<br />

Исследование проводилось на ловушке Тримикс-3М, установленной на<br />

Рис.1.Конфигурация<br />

магнитных силовых линий (1) и<br />

сечения плазменного объема<br />

(�) в ловушке Тримикс-3М,<br />

расположение пояса<br />

Роговского 2 , магнитных<br />

катушек 4,5 и антенн<br />

интерферометра 3.<br />

36<br />

стенде Галатея-3 �1�.<br />

Мультипольные магнитные ловушки-<br />

Галатеи �2� представляют систему<br />

магнитных катушек, часть из<br />

которых погружена в плазму. Такие<br />

катушки А.И. Морозов предложил<br />

называть миксинами. Конфигурация<br />

магнитного поля ловушки Тримикс-<br />

3М приведена на Рис.1. Магнитные<br />

поверхности сложного поперечного<br />

сечения образуют тор, в центре<br />

которого существует область с<br />

магнитным полем, равным нулю.<br />

Внешние замкнутые магнитные<br />

силовые линии образуют внешнюю магнитную корку (стенку) ловушки.<br />

Питание магнитных катушек ловушки, а также всех других силовых систем


стенда – импульсное. Характерное магнитное поле в корке ловушки (барьерное<br />

поле Вб) может изменяться от 0,025Тл до ~ 0.1Тл. Наполнение плазмой ловушки<br />

тоже осуществлялось импульсно. Плазма создавалась в виде плазменных<br />

сгустков плазменной пушкой. Сгустки, сформированные пушкой, направлялись<br />

в плазмовод. Длина плазмовода 1.35м. Во всех измерениях в каждом выстреле<br />

пушки магнитные поля указанных источников можно считать постоянными.<br />

Параметры поступающего в ловушку сгустка на стенде измерялись и<br />

рассчитывались по следующей методике. Энергия направленного движения<br />

ионов изменялась в каждом выстреле с помощью двух магнитных зондов,<br />

расположенных в плазмоводе на фиксированном расстоянии друг от друга. По<br />

временному сдвигу между сигналами на зондах определялась скорость сгустка<br />

V, и по известной формуле є = mpV 2 / 2e рассчитывалась энергия<br />

направленного движения ионов водорода. В этой формуле mp – масса протона, e<br />

– заряд электрона. Для выбранного режима работы пушки и плазмовода с<br />

помощью калориметров определялось среднее значение полной энергии Е<br />

сгустка, захваченного в ловушку. Деление Е на є дает полное число частиц,<br />

захваченных в ловушку, а, зная величину объема <strong>плазмы</strong> в ловушке, можно<br />

оценить начальную концентрацию. Величина плазменного объема была<br />

определена в �1� и составляет ~ 0,09 м 3 . Во всех оценках, приведенных ниже,<br />

используется это значение. Как правило, оценка концентрации, сделанная этим<br />

способом, близка, к величине концентрации, измеренной с помощью СВЧ-<br />

интерферометра. Место расположения антенн интерферометра указано на Рис.1.<br />

Приводившиеся ранее исследования показали, что после процесса заполнения<br />

плазмой ловушки распределение концентрации по азимуту ловушки можно<br />

считать равномерным �1,3�. Параметры захваченного в ловушку сгустка,<br />

приведенные в �4�, показаны в таблице 1.<br />

Энергия<br />

захваченного<br />

сгустка, Дж<br />

Температура<br />

<strong>плазмы</strong>, эВ<br />

37<br />

Время<br />

заполнения<br />

ловушки, мкс<br />

50 - 100 10 – 5 25 – 50<br />

Таблица 1


Рис.2. Фотография пояса<br />

Роговского.<br />

Для измерения диамагнитного тока в<br />

ловушке «Тримикс-3М» был изготовлен ПР со<br />

следующими параметрами: общее число<br />

витков ПР было равно Np = 4354; длина ПР<br />

составила l = 2,638 м; площадь поперечного<br />

сечения каждого витка катушки пояса<br />

равнялась S = 2×10 -5 м 2 ; омическое<br />

сопротивление ПР r = 6,4 Ом; сопротивление<br />

нагрузки R = 50 Ом. ПР был намотан медным<br />

проводом, диаметром 0,5 мм. Его индуктивность равна 180 мкГн. Фотография<br />

ПР представлена на Рис. 2. ПР был прокалиброван . Его чувствительность<br />

составила (4,0 � 0,3) 10 -8 В �с/ А. Для измерения сигнала с пояса<br />

использовалась стандартная схема, приведенная на Рис.3.<br />

38<br />

При длительности<br />

сигнала с пояса 1 мс<br />

индуктивное<br />

сопротивление равно ωL =<br />

1,13 Ом. Таким образом,<br />

выполняется соотношение<br />

ωL


давлению Р. Для расчета давления Рд использовались следующие соображения.<br />

Диамагнитный ток, протекающий в плазме вдоль тороидальной поверхности �,<br />

сечение которой показано на Рис. 1, направлен в ту же сторону, что и токи в<br />

миксинах ловушки, расположенных внутри контура γ, то есть перпендикулярно<br />

плоскости рисунка. Контур сечения плазменного объема γ совпадает с<br />

конфигурацией одной из силовых линий магнитного поля, создаваемого<br />

миксинами. В этом случае сила ампера будет направлена перпендикулярно<br />

силовым линиям магнитного поля внутрь ловушки. Еѐ можно оценить по<br />

формуле:<br />

Рис.4. Фотография пояса<br />

Роговского. 1 – пояс, 2 –<br />

катушки ловушки.<br />

L<br />

I Д<br />

� � B(<br />

l)<br />

2�r(<br />

l)<br />

dl � 2�I<br />

�Br�<br />

L<br />

F Д<br />

0<br />

где Iд – диамагнитный ток, L – длина линии �, - средняя величина<br />

произведения индукции магнитного поля на линии � на текущий радиус. При<br />

этом предполагается, что погонная плотность тока IД/L постоянна на линии �.<br />

Давление, обусловленное силой Ампера, будет равно:<br />

P<br />

Д<br />

�<br />

F<br />

S<br />

�<br />

I<br />

Д<br />

�Br�<br />

L<br />

�r�<br />

. Из равенства РД=Р следует, что:<br />

39<br />

3I<br />

Д �Br�<br />

� �<br />

2n<br />

� L�r�<br />

Зная диамагнитный ток, среднее значение индукции барьерного магнитного<br />

поля ловушки, концентрацию <strong>плазмы</strong>, длину<br />

контура γ, можно определить среднюю<br />

энергию <strong>плазмы</strong>, запасенную в ловушке.<br />

Величина диамагнитного тока намного<br />

меньше тока, протекающего в магнитных<br />

катушках ловушки. Для того, чтобы избежать<br />

влияния токов в «миксинах» на сигнал с<br />

пояса Роговского, он обвивал катушки<br />

ловушки специальным образом (см. Рис.1).<br />

Фотография пояса Роговского,<br />

обвивающего катушки ловушки «Тримикс-3М», изображена на Рис. 4.


ID,А<br />

В работе выполнено измерение зависимостей IД(t) для различных<br />

значений барьерного магнитного поля в ловушке Тримикс – 3М. На Рис. 5<br />

приведены результаты таких измерений. Зависимости получены усреднением<br />

осциллограмм сигналов с ПР<br />

140,00<br />

120,00<br />

100,00<br />

80,00<br />

60,00<br />

40,00<br />

20,00<br />

0,00<br />

0,00E+00 2,00E-04 4,00E-04 6,00E-04 8,00E-04<br />

,Па<br />

Рис.6. Зависимость р от<br />

величины барьерного магнитного<br />

поля ловушки Тримикс-3М<br />

6<br />

5<br />

4<br />

3<br />

2<br />

1<br />

0<br />

t,с<br />

0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1 0.12<br />

B,Тл<br />

77 мкс<br />

202 мкс<br />

40<br />

0.025 Тл<br />

0.0375 Тл<br />

0.05 Тл<br />

0.0625 Тл<br />

0.075 Тл<br />

0.0875 Тл<br />

0.1 Тл<br />

Рис. 5.<br />

Усредненные<br />

зависимости<br />

диамагнитного<br />

тока от времени<br />

для различной<br />

величины<br />

барьерного<br />

магнитного поля<br />

ловушки Тримикс-<br />

3М.<br />

по 5 – 10 выстрелам пушки при одном и<br />

том же магнитном поле. Вид<br />

полученных зависимостей показывает:<br />

рост тока IД начинается через 35 мкс<br />

после подачи напряжения на<br />

плазменную пушку. В течение<br />

следующих 35 – 40 мкс IД возрастает.<br />

Затем IД начинает<br />

уменьшаться. Такое поведение IД<br />

указывает, что процесс наполнения ловушки плазмой заканчивается на 70 – 80<br />

мкс. После 300–ой мкс Iд становится незначительным и его измерение в этой<br />

области становится затруднительным. По данным Рис. 5 и формуле для РД была<br />

рассчитана зависимость давления <strong>плазмы</strong> в ловушке от величины магнитного<br />

поля для 77-й мкс и 202-й мкс. Эта зависимость приведена на Рис.6. Видно,<br />

что сразу после заполнения плазмой ловушки (77-я мкс) давление примерно<br />

одинаковое для всех значений магнитного поля. Это указывает на то, что<br />

параметры сгустка, инжектируемого в ловушку, не зависят от магнитного поля.<br />

Зависимость р(В) при 202 мкс демонстрирует улучшение удержания энергии<br />

при увеличении величины магнитного поля. Оценка температуры <strong>плазмы</strong> из


одновременных измерений диамагнитного тока и концентрации (с помощью<br />

СВЧ интерферометра) позволили оценить температуру <strong>плазмы</strong> в 12 эВ.<br />

В заключение можно отметить следующее. В мультипольных магнитных<br />

ловушках – Галатеях с помощью пояса Роговского можно измерить полный<br />

диамагнитный ток, протекающий в плазме. Оценки температуры и времени<br />

заполнения ловушки плазмой совпадают с результатами, полученными с<br />

помощью калориметрических и зондовых измерений, приведенных в таблице 1.<br />

В данной работе предложена модель, связывающая величину диамагнитного<br />

тока со средним давлением <strong>плазмы</strong> в ловушке. Однако возможности такого<br />

рассмотрения требуют дальнейшего уточнения. Так, при наступлении<br />

равновесия по теории Грэда – Шафранова на магнитной поверхности остается<br />

постоянным не плотность тока, а давление.<br />

Работа была выполнена в рамках реализации федеральной целевой<br />

программы «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России»<br />

на 2009-2013 годы по госконтракту П957 от 20 августа 2009 г.<br />

Литература:<br />

1. Инжекция <strong>плазмы</strong> в Галатею «Тримикс» / А.И. Морозов, А.И. Бугрова,<br />

А.М. Бишаев и др. // Физика <strong>плазмы</strong>. – 2006. –Том 32. - № 3. - С. 195-202.<br />

2. А.И Морозов. B.B. Савельев. О Галатеях-ловушках с погруженными в<br />

плазму проводниками // УФН,- 1998г. -Том168. - № П.- С. 1153-1194<br />

3. Параметры <strong>плазмы</strong> в модернизированной ловушке Галатее «Тримикс-М» /<br />

А.И.Морозов, А.И. Бугрова, A.M. Бишаев и др.// Журнал технической<br />

физики. -2007. -Том 77. -Вып. 12. -С. 15-20<br />

4. «Исследование времени удержания <strong>плазмы</strong> в мультипольной магнитной<br />

ловушке-галатее ―Тримикс-М‖»/ Бишаев А.М., Бугрова А.И., Козинцева<br />

М.В., Липатов А.С., Сигов А.С., Харчевников В.К. // «Письма в ЖТФ».-<br />

2010 г.- том 36, вып.10.- С.91-94.<br />

41


СОВРЕМЕННЫЙ СТАТУС РАБОТ ПО ПРОБЛЕМЕ ПЕРВОГО<br />

ЗЕРКАЛА ДЛЯ ДИАГНОСТИК H-ALPHA И CXRS<br />

И.И. Орловский, К.Ю.Вуколов, С.Н.Тугаринов, Д.К.Вуколов<br />

Российский Научный Центр «Курчатовский Институт»<br />

Оптические системы всех диагностик установки ИТЭР включают в свой<br />

состав зеркала для передачи излучения от <strong>плазмы</strong> к детекторам за биозащитой.<br />

При этом первое зеркало, смотрящее на плазму, будет эксплуатироваться в<br />

чрезвычайно суровых условиях, будучи подвержено значительным нейтронным<br />

потокам, тепловым нагрузкам, а главное, потокам высокоэнергичных нейтралов<br />

перезарядки и переосаждению загрязнений с элементов конструкции вакуумной<br />

камеры и диагностических каналов. В результате при проектировании узла<br />

первого зеркала необходимо решить задачи выбора подходящего материала и<br />

технологии изготовления самого зеркала, проработать системы защиты зеркала<br />

от неблагоприятных воздействий среды, а также сделать оценку времени жизни<br />

зеркала в условиях ИТЭР для разработки регламента эксплуатации диагностики.<br />

Кроме того, само понятие «условия ИТЭР» во-первых, специфично для каждой<br />

диагностики, а во-вторых, до конца не определено, и определение этих условий<br />

также представляет собой одну из задач, входящих в проблему первого зеркала.<br />

В данном докладе описан современный статус работ по проблеме<br />

первого зеркала для диагностик спектроскопии водородных линий (H-alpha) и<br />

активной спектроскопии (CXRS), проводимых в РНЦ «Курчатовский<br />

Институт», перечислены проблемы, характерные для конкретной диагностики и<br />

возможные способы их решения.<br />

42


ИССЛЕДОВАНИЕ РАЗРЯДА С ЭЛЕКТРОЛИТНЫМ<br />

ЭЛЕКТРОДОМ ПРИ ТОКЕ ПОРЯДКА ДЕСЯТКОВ АМПЕР<br />

(ГАТЧИНСКИЙ РАЗРЯД)<br />

А.М. Астафьев<br />

. Санкт-Петербургский государственный университет<br />

Разнообразные процессы, происходящие в разрядах с электролитными<br />

электродами, весьма сложны и пока недостаточно изучены [1, 2]. В работах<br />

авторов [3] описывается эксперимент, который используется для моделирования<br />

шаровой молнии и представляет собой электрический разряд между<br />

поверхностью слабо проводящего раствора и центральным металлическим или<br />

угольным катодом, изолированным от воды. Нами было обнаружено, что<br />

отличительной особенностью такого разряда после его установления является<br />

низкая плотность тока (~ 10 -1 A/cm 2 ), привязка которого к поверхности<br />

электролитного анода распределена равномерно при токах порядка десятков<br />

ампер [4]. При уменьшении тока в процессе разряда емкостного накопителя до<br />

~10 A наблюдается обрыв однородно распределенной привязки,<br />

сопровождающийся формированием нескольких локальных разрядов,<br />

плотность тока которых (~10 2 A/cm 2 ) соответствует тлеющему разряду<br />

атмосферного давления. В настоящей работе приводятся результаты<br />

исследования режимов этого разряда.<br />

Рис. 1. Схема разрядного устройства.<br />

В экспериментах использовалась установка (рис.1) более подробно<br />

описанная в [4]. В качестве центрального электрода использовался угольный<br />

или стальной стержень, а в сосуд наливалась водопроводная или<br />

43


дистиллированная вода с добавлением поваренной соли, пищевой соды или<br />

азотной кислоты. Используя различия химического состава выбираемых<br />

комбинаций плазмообразующих компонентов по данным видео записей<br />

изображений разряда, его спектрограмм и спектральных изображений изучали<br />

динамику растворенного вещества и различных фаз разряда при прямой и<br />

обратной полярностях. Характеристики распределения привязки разряда к<br />

электролиту исследовались с помощью двух электрических зондов,<br />

расположенных на разном удалении от центрального катода и погруженных в<br />

воду на глубину около 3mm.<br />

Для прояснения влияния пылевой компоненты и легко ионизируемых<br />

атомов на разряд и послесвечение был проведен эксперимент, в котором такие<br />

компоненты, вносимые материалом твердого электрода и растворенного<br />

вещества были устранены. Для этого были выбраны электроды в виде двух<br />

стоящих рядом стеклянных банок с раствором азотной кислоты. Было<br />

обнаружено, что длительность послесвечения приблизительно та же, что и при<br />

других растворенных веществах. Вклад в общий объем <strong>плазмы</strong>, поступающей с<br />

положительного и отрицательного электродов примерно одинаков. Однако<br />

излучение в видимом диапазоне многократно ослаблено, а послесвечение имеет<br />

вид облака неправильной формы. Взаимодействие разряда с соприкасающимися<br />

краями банок могло порождать эрозионную струю, влетавшую в объем водяной<br />

<strong>плазмы</strong>. Это приводило к возникновению в вихревой зоне темной полости с<br />

резкими границами желтого цвета.<br />

При использовании раствора пищевой соды и стального электрода на<br />

стадии распределенного разряда с низкой плотностью тока в области привязки<br />

образуется плазма с примесью железа, натрий же отсутствует. После перехода к<br />

неоднородной привязке возникает сильное излучение натрия эрозионных струй<br />

с поверхности воды, и их плазма проникает в ранее образованный объем <strong>плазмы</strong><br />

и растворяется в нем, после чего и формируется шароподобный объект (рис. 2).<br />

Принудительный обрыв тока разряда непосредственно перед переходом к<br />

неоднородной привязке приводит к исчезновению стадии сильного излучения<br />

(рис. 3).<br />

44


Рис. 2. Видеограмма (200 ms) разряда с электролитным анодом на основе<br />

раствора пищевой соды.<br />

Рис. 3. Осциллограмма относительной интенсивности излучения разряда в<br />

видимом диапазоне (S) и тока разряда (I) – слева; то же в случае<br />

принудительного обрыва тока перед переходом к неоднородной привязке<br />

разряда к поверхности электролита на 80-ой миллисекунде - справа.<br />

По данным видеосъемки наблюдались существенные различия в<br />

поведении разряда при разной полярности. В случае обратной полярности при<br />

растворе на основе солей натрия разряд сразу приобретает характерный ему<br />

желтый цвет, а привязка объемного разряда к раствору-катоду имеет вид<br />

множества пятен (рис.4).<br />

45


Рис. 4. Привязка разряда к поверхности электролитных анода (слева) и катода<br />

(справа).<br />

Наблюдается также существенные различия и в осциллограммах<br />

сигналов электрических зондов (рис. 5). При однородном распределении и пока<br />

оба зонда находятся под разрядом (от 20ms до 50 ms) разностный сигнал имеет<br />

малую величину (~ 100V) в октавном диапазоне токов (35-19А) с минимумом<br />

при токе 23 А на 40 ms, что, по-видимому, соответствует близости<br />

проводимостей <strong>плазмы</strong> и раствора. В случае неоднородной привязки заметная<br />

доля потенциала падает в воде около пятна, нагревая воду, температура и<br />

проводимость <strong>плазмы</strong> около катодного пятна значительно выше, чему<br />

соответствует меньшая масса гидратированных зарядов.<br />

Рис. 5 Сигналы двух зондов, расположенных на разном удалении от<br />

центрального катода (слева) и разностные сигналы с этих зондов при разной<br />

полярности (справа).<br />

46


При использовании электролита на основе азотной кислоты однородная<br />

привязка к аноду и формирование послесвечения сохраняются при больших<br />

токах разряда. В этом случае при обратной полярности в разряде с угольным<br />

электродом наблюдается яркая вспышка, а послесвечение не формируется (рис.<br />

6). Это указывает на интенсивное объемное взаимодействие эрозионных<br />

пылевых частиц с водяной химически активной плазмой [5].<br />

Рис. 6. Видеограмма (120 ms) при электролитном катоде и напряжении<br />

накопителя 5 kV (HNO3).<br />

Однако эти и другие результаты исследования лишь несколько<br />

проясняют физику Гатчинского разряда, скорее указывают на сложность<br />

изучения наблюдаемого обширного комплекса явлений.<br />

Литература:<br />

1. Стройкова И.К. // Химическая активация водных растворов электролитов<br />

тлеющим и диафрагменным газовыми разрядами: Дис. Канд. Хим. Наук.<br />

Иваново. 2001. 183 с.<br />

2. Пискарев И.М. Условия инициирования активными частицами из газовой<br />

фазы реакции в жидкости // Журнал физической химии. 1998. Т.33. №5. С.332.<br />

3. Егоров А.И., Степанов С.И. //ЖТФ. 2002. Т. 72. С. 102-104.<br />

4. Emelin S.E., Astafiev A.M., Pirozerski A.L. Investigation of space-time structure<br />

of the discharge with an electrolytic anode and face-type, air half-space directed<br />

cathode (Gatchina’s discharge). Proceedings of ISBL-08, 16-19 July 7, 2008.<br />

Kaliningrad, Russia. P. 42.<br />

5. Emelin S.E., Astafiev A.M., Pirozerski A.L. Effect of Polarity on the Discharge<br />

with an Electrolytic Anode and Face-Type, Air Half-Space Directed Cathode<br />

(Gatchina’s Discharge) and its afterglow. Proceedings of ISBL-10,<br />

47


ВЛИЯНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ПЛАЗМЫ<br />

ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ЕМКОСТНОГО РАЗРЯДА НА ЕГО<br />

ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ<br />

Ю.Ю. Луценко, В.А. Власов, Е.П. Зеленецкая<br />

Национальный исследовательский Томский политехнический университет<br />

Высокочастотный емкостной разряд, горящий при атмосферном<br />

давлении, представляет собой ярко святящейся плазменный шнур, окружѐнный<br />

диффузионной оболочкой. Горение емкостного разряда осуществляется за счѐт<br />

диссипации энергии электромагнитной волны, распространяющейся вдоль его<br />

канала. Затухание электромагнитной волны, распространяющейся вдоль канала<br />

высокочастотного емкостного разряда, должно увеличиваться при уменьшении<br />

величины удельной электропроводности <strong>плазмы</strong> разряда. Величина удельной<br />

электропроводности <strong>плазмы</strong> разряда будет определяться в значительной<br />

степени величиной концентрации электронов. В свою очередь концентрация<br />

электронов в плазме разряда может быть определена из измерений электронной<br />

температуры.<br />

В настоящей работе нами были проведены измерения осевого<br />

распределения первых пяти гармоник радиальной компоненты электрического<br />

поля высокочастотного емкостного разряда, горящего в аргоне и смеси аргон –<br />

воздух. Одновременно с измерениями электродинамических характеристик<br />

проводились измерения электронной температуры <strong>плазмы</strong> разряда. По<br />

измеренной электронной температуре на основе уравнения Саха проводилась<br />

оценка концентрации электронов <strong>плазмы</strong> разряда.<br />

Схема экспериментальной установки приведена на рис.1.<br />

Высокочастотный емкостной разряд возбуждался в кварцевой трубке с<br />

внутренним диаметром 28 и длиной 500 мм. Для возбуждения разряда<br />

использовался один кольцевой электрод, диаметром 70 мм, на который<br />

подавался высокочастотный потенциал. Второй – заземлѐнный электрод не<br />

использовался. Мощность разряда ориентировочно находилась в пределах от 0,5<br />

до 1,0 кВт. Частота горения разряда составляла 37,5 МГц.<br />

48


Измерения радиальной компоненты электрического поля проводились<br />

посредством емкостного зонда, сигнал с которого по линии с двойной<br />

экранировкой подавался на вход спектроанализатора GSP - 827. Емкостной зонд<br />

представлял собой медный штырь длиной 5 и диаметром 1 мм. Расстояние от<br />

оси разряда составляло 60 мм. Проводились измерения первых пяти гармоник<br />

электрического поля. Гармоники более высокого порядка имели амплитуду<br />

менее 10 дБмВ, поэтому в нашем случае они не рассматривались.<br />

Измерения электронной температуры разряда проводились на основе<br />

частотной зависимости интенсивности излучения континуума атомов аргона в<br />

диапазоне длин волн 3300…4000Ǻ. Согласно работе [1] интенсивность<br />

континуума � � атомов аргона в диапазоне длин волн 3300…4000Å может быть<br />

описана следующей зависимостью:<br />

� h�<br />

�<br />

��<br />

� const �exp ��� � kTe<br />

�<br />

Здесь: h − постоянная Планка; � − частота; T e − электронная температура.<br />

Измерения интенсивности континуума проводились спектрографом Shamrock –<br />

303i.<br />

7<br />

6<br />

1 2<br />

≈<br />

Рис.1. Схема экспериментальной установки. 1 – высокочастотный генератор;<br />

2 – высоковольтный электрод; 3 – разряд; 4 – разрядная камера; 5 – емкостной<br />

зонд; 6 – линзы; 7 – спектрограф Shamrock – 303i.<br />

Результаты измерений осевого распределения амплитуд гармоник<br />

радиальной компоненты электрического поля высокочастотного емкостного<br />

49<br />

3<br />

4<br />

5


Er,<br />

дБмВ<br />

60<br />

0<br />

50<br />

40<br />

30<br />

20<br />

10<br />

0<br />

Er,<br />

дБмВ<br />

60<br />

50<br />

40<br />

30<br />

20<br />

10<br />

0<br />

0<br />

разряда, горящего в аргоне и смеси аргон-воздух, представлены на рис.2. На<br />

этом рисунке по оси абсцисс отложено осевое расстояние от верхней кромки<br />

высоковольтного электрода до точки измерения. По оси ординат − амплитуда<br />

сигнала в логарифмическом масштабе.<br />

90 170 250 330<br />

Z, мм<br />

а<br />

1<br />

4<br />

2<br />

3<br />

5<br />

90 170 250 330<br />

Z, мм<br />

в<br />

1<br />

4<br />

2<br />

3<br />

5<br />

Рис.2. Осевое распределение амплитуд гармоник электрического поля<br />

емкостного разряда, горящего в смеси аргон – воздух: 1, 2, 3, 4, 5 – номера<br />

гармоник; а).чистый аргон Te= 8300K, ne = 4,5∙10 20 м -3 ; б) А:В = 90:10, Te=<br />

6950K, ne = 9,9∙10 18 м -3 ; в) А:В = 80:20, Te= 6500K, ne = 2,0∙10 18 м -3 ; г) А:В =<br />

70:30, Te= 6200K, ne = 5,1∙10 18 м -3 .<br />

Здесь же приведены результаты измерений электронной температуры<br />

канала разряда и результаты расчѐтов концентрации электронов. Расчѐт<br />

50<br />

Er,<br />

дБмВ<br />

60<br />

50<br />

40<br />

30<br />

20<br />

10<br />

0<br />

0<br />

Er,<br />

дБмВ<br />

60<br />

50<br />

40<br />

30<br />

20<br />

10<br />

0<br />

0<br />

90 170 250 330<br />

Z, мм<br />

б<br />

90 170 250<br />

Z, мм<br />

г<br />

1<br />

4<br />

2<br />

3<br />

5<br />

1<br />

4<br />

2<br />

3<br />

5<br />

330


концентрации электронов проводился по формуле Саха для двухтемпературной<br />

[2] <strong>плазмы</strong>. При этом учитывалось, что отношение электронной температуры [1]<br />

к газовой составляет 3,5…4.<br />

Из рис.2. видно, что при добавления воздуха в аргон происходит<br />

увеличение затухания всех гармоник электромагнитного поля, за исключением<br />

третьей. При разбавлении аргона воздухом электронная температура и<br />

концентрация электронов уменьшаются. Соответственно уменьшается удельная<br />

электропроводность <strong>плазмы</strong> разряда и увеличивается величина затухания<br />

электромагнитного поля. Аномальный же рост третьей гармоники может быть<br />

объяснѐн следующим образом. При разбавлении аргона воздухом концентрация<br />

электронов, и соответствующая ей плазменная частота уменьшаются до<br />

величин, обеспечивающих параметрический резонанс третьей гармоники поля.<br />

Вследствие этого наблюдается рост третьей гармоники вдоль оси разряда. При<br />

дальнейшем увеличении количества воздуха в плазмообразующем газе,<br />

концентрация электронов в плазме уменьшается в ещѐ большей степени, что<br />

вызывает рассогласование частоты третьей гармоники поля с резонансной<br />

частотой.<br />

Таким образом, аномальный рост третьей гармоники электромагнитного<br />

поля при уменьшении удельной электропроводности <strong>плазмы</strong> разряда может<br />

быть объяснѐн на основе предположения параметрического резонанса внешнего<br />

электромагнитного поля с собственными колебаниями <strong>плазмы</strong>.<br />

Литература:<br />

1. Janča J. Spectral diagnostics of a unipolar high-frequency discharge excited in<br />

nitrogen and argon at pressures from 1 to 12 atm // Czech. J. Phys., 1967, Vol.B17, №<br />

9, P.761 – 772.<br />

2. Kannapan D., Bose T.K. Transport properties of a two-temperature argon plasma //<br />

The Physics of Fluids, 1977, vol.20, №10, P.1668 – 1673.<br />

51


ДВУХЧАСТОТНАЯ СВЧ-ФЛУКТУАЦИОННАЯ<br />

РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ МНОГОКОМПОНЕНТНОЙ<br />

ГАЗОМЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛАЗМЫ<br />

Ю.В. Ковтун, А.И. Скибенко, Е.И. Скибенко, Ю.В. Ларин, В.Б. Юферов<br />

Национальный научный центр «Харьковский физико-технический институт»,<br />

НАНУ.<br />

скрещенных<br />

Одной из особенностей <strong>плазмы</strong>, создаваемой и находящейся в<br />

�<br />

�<br />

E� B полях, является ее дрейфовое вращение. При определенных<br />

условиях во вращающейся плазме возможно развитие различных<br />

неустойчивостей, приводящих, например, к нагреву ионной компоненты <strong>плазмы</strong><br />

[1,2]. Вращение плазменного столба приводит, в случае многокомпонентной<br />

<strong>плазмы</strong>, к пространственному разделению ионной компоненты [3].<br />

Эффективность радиального разделения ионов напрямую зависит от скорости<br />

вращения. В связи с вышесказанным определение скорости вращения<br />

многокомпонентной <strong>плазмы</strong> представляет вполне определенный интерес.<br />

Особенностью и целью данной работы является использование<br />

двухчастотной СВЧ флуктуационной рефлектометрии для определения<br />

скорости вращения плазменных слоев с np = ncr 1,2 в отражательном разряде. СВЧ<br />

флуктуационная рефлектометрия основана на определении авто- и взаимно-<br />

корреляционных функций двух полоидально разнесенных СВЧ сигналов,<br />

отраженных от слоя <strong>плазмы</strong> одной плотности. Авто - и взаимно -<br />

корреляционные функции могут быть вычислены по формулам:<br />

1<br />

cxx ( � k ) � x(<br />

t)<br />

x(<br />

t ��<br />

k ) , (1)<br />

N<br />

52<br />

� � N 1<br />

t�0<br />

1<br />

cxy ( � k ) � x(<br />

t)<br />

y(<br />

t ��<br />

k ) , (2)<br />

N<br />

, где cxx(τk) и cxy(τk) – авто- и взаимно-корреляционная функция между сигналами<br />

x(t) и y(t), N – число точек в реализации сигналов x(t) и y(t), τk – время задержки<br />

между двумя сигналами. Частота зондирования <strong>плазмы</strong> выбиралась таким<br />

образом, чтобы, во-первых, в образованной плазме существовал слой равный np<br />

� � N 1<br />

t �0


= n 1,2 cr, во-вторых, плазменные слои с различными n 1,2 cr должны находится на<br />

некотором расстоянии друг от друга, чтобы, были выбраны две зондирующие<br />

частоты f 1,2 = 37,13 и 72,88 ГГц, соответственно, ncr 1 =1,7 10 13 см -3 и ncr 2 = 6,5<br />

10 13 см -3 . Локация <strong>плазмы</strong> производилась обыкновенной волной (O) поперек<br />

плазменного столба в одном сечении для обоих частот. В отличие от измерений<br />

по Допплеровскому смещению частоты, при котором зондирование наклонное и<br />

точки отражения не совпадают со слоем с np = ncr, корреляционный метод<br />

основан на нормальном зондировании и поэтому возможно одновременное<br />

определение пространственного положения слоя и его скорости вращения.<br />

Схема размещения СВЧ антенн представлена на рис. 1. Использование двух<br />

приемно-передающих антенн, разнесенных полоидально на угол 60 ○ , дает<br />

возможность использовать авто- и взаимно-корреляционные функции в<br />

зависимости от схемы подключения антенн, т.е. каждую из антенн использовать<br />

только для одной зондирующей частоты, либо на обе антенны одновременно<br />

подавать СВЧ сигналы на различных частотах. Одновременно с<br />

рефлектометрическими измерениями проводилось измерение максимальной np<br />

= n 1,2 cr и средней плотности с помощью СВЧ-интерферометра, что позволяло<br />

определять временной интервал существования слоя с критической плотностью.<br />

Регистрация сигналов проводилась с помощью АЦП с частотой 20 МГц.<br />

Газометаллическая плазма образовывалась в результате разряда в среде<br />

рабочего вещества, состоящего из H2, Ar или газовой смеси 88,9%Kr-7%Xe-<br />

4%N2-0,1%O2 и распыленного материала катодов. Катоды были выполнены из<br />

монометаллического Ti или композитного материала, а именно Cu, с<br />

напыленным вакуумно-дуговым способом Ti. Использование двух типов<br />

катодов, в обоих случаях, приводит к поступлению материала катодов (Ti) в<br />

плазму, что подтверждается спектрометрическими измерениями [4-6].<br />

Максимальная плотность <strong>плазмы</strong> составляла np ≥ 6,5 10 13 см -3 . Разрядное<br />

напряжение Udis. ≤ 4 кВ. Длительность и максимальное значение силы<br />

разрядного тока составляли, соответственно, tdis. ~ 1 мс, Idis. ~ 1,8 кА.<br />

Импульсное магнитное поле пробочной конфигурации (пробочное отношение<br />

1,25) длительностью 18 мс создавалось соленоидом состоящим из шести<br />

катушек, максимальная индукция магнитного поля B0 ≤ 0,65 T.<br />

53


Изменение радиуса отражающего слоя с np � 1,7 10 13 см -3 (слой Α) и np �<br />

6,5 10 13 см -3 (слой Β), определенное по изменению фазы отраженной от <strong>плазмы</strong><br />

СВЧ волны, во времени представлено на рис.2. Зависимости скорости и частоты<br />

вращения плазменных слоев Α и Β от времени для смеси Ar+Ti представлены на<br />

рис.3 а,б (эксперименты проведены с монометаллическим катодом).<br />

Рис. 1. Схема расположения антенн<br />

при проведении корреляционных и<br />

интерферометрических измерений. 1<br />

– приемная антенна<br />

интерферометра, 2 – вакуумная<br />

камера, 3, 4 – приемно-передающие<br />

антенны рефлектометра, A, B –<br />

плазменные слои с np = n 1,2 cr.<br />

54<br />

r, см<br />

5<br />

4<br />

3<br />

2<br />

1<br />

0<br />

2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4<br />

t, мс<br />

Рис. 2. Зависимость радиуса<br />

отражающего слоя с np = n 1,2 cr во<br />

времени,<br />

□ – Α, ncr 1 =1,7 10 13 см -3 , ○ – Β, ncr 2 =<br />

= 6,5 10 13 см -3 .<br />

Значение скорости вращения газометаллической <strong>плазмы</strong> в максимуме<br />

для слоя Α составило vφ A = 8,7 10 5 см/с, слоя Β, соответственно, vφ B = 7,9 10 5<br />

см/с. В случае вращения <strong>плазмы</strong> как единого целого угловая частота вращения<br />

ωφ, различных по радиусу слоев, должна быть одинаковая для всех слоев, а<br />

скорость вращения должна линейно расти с увеличением радиуса. В данном<br />

случае частоты вращения слоев Α и Β не совпадает друг с другом, т.е. ωφ A ≠ ωφ B ,<br />

см. рис.3б. Частота вращения слоя Β ωφ B >ωφ A т.е. слой Β с меньшим радиусом<br />

имеет более высокую частоту вращения, чем слой Α с большим радиусом.<br />

Таким образом, плазма вращается не как единое целое. Скорость вращения<br />

электронной компоненты <strong>плазмы</strong>, соответственно, частота вращения,<br />

определяется как vφ=-cEr/B, отсюда можно оценить напряженность<br />

электрического поля, которая для случая Ar+Ti <strong>плазмы</strong> равна 13,3 В/см (слой Α)


и 12,2 В/см (слой Β). Аналогичные результаты были получены и для других<br />

газометаллических смесей.<br />

v � , 10 5 см/с<br />

10<br />

8<br />

6<br />

4<br />

2<br />

0<br />

а<br />

2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4<br />

t, мс<br />

55<br />

� � �, 10 5 рад/с<br />

4<br />

3<br />

2<br />

1<br />

0<br />

б<br />

2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4<br />

t, мс<br />

Рис.3. Временные зависимости скорости и частоты вращения плазменных<br />

слоев для смеси Ar+Ti (p =6 10 -3 Torr, Udis. = 3,8 kV, монометаллические<br />

катоды). □ – Α, ncr 1 =1,7 10 13 см -3 , ○ – Β, ncr 2 = 6,5 10 13 см -3 , а – скорость; б –<br />

частота.<br />

Таким образом, в работе впервые представлены результаты<br />

экспериментов по одновременному определению скорости и частоты вращения<br />

плазменных слоев различной плотности с помощью двухчастотной СВЧ<br />

флуктуационной рефлектометрии.<br />

Литература:<br />

1. Михайловский А.Б., Ломинадзе Дж. Г., Чуриков А.П., Пустовитов В.Д.<br />

Прогресс в теории неустойчивостей вращающейся <strong>плазмы</strong> // Физика <strong>плазмы</strong>,<br />

2009, т.35, №4, с.307-350.<br />

2. Долгополов В.В., Сизоненко В.Л., Степанов К.Н. Ионная циклотронная<br />

неустойчивость вращающейся <strong>плазмы</strong> // УФЖ, 1973, т.18, №1, с.18-28.<br />

3. Жданов В.М. Явления переноса в многокомпонентной плазме. М.<br />

Энергоиздат, 1982, 176 с.<br />

4. Ковтун Ю.В., Ларин Ю.В., Скибенко А.И. и др. Спектральные<br />

характеристики плотной газометаллической <strong>плазмы</strong> отражательного разряда //<br />

ЖТФ, 2010, т. 80, №5, с. 143-145.<br />

5. Ковтун Ю.В., Скибенко А.И., Скибенко Е.И. и др. Влияние параметров<br />

импульсного отражательного разряда на его плазменные характеристики //<br />

ВАНТ Серия: Плазменная электроника и новые методы ускорения (7), 2010,<br />

№4, с. 214-218.<br />

6. Ковтун Ю.В. и др. Исследование параметров водородно-титановой <strong>плазмы</strong> в<br />

импульсном отражательном разряде // Физика <strong>плазмы</strong>, 2010, т. 35, № 11, с. 1–7.


ВЛИЯНИЕ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ПОТЕНЦИАЛА НА<br />

ТЕМПЕРАТУРУ ОБРАЗЦА В ПОТОКЕ<br />

ВЫСОКОЧАСТОТНОЙ ПЛАЗМЫ ПОНИЖЕННОГО<br />

ДАВЛЕНИЯ<br />

И.Ш. Абдуллин , М.Ф. Шаехов , А.А. Хубатхузин , Р.Ф. Шарафеев<br />

Казанский государственный технологический университет<br />

Низкотемпературная плазма широко применяется для проведения различных<br />

видов обработки материалов. Одним из наиболее перспективных видов<br />

<strong>низкотемпературной</strong> <strong>плазмы</strong> является плазма высокочастотного (ВЧ) струйного<br />

разряда пониженного давления (p = 13,3-133 Па). В отличие от других видов<br />

электрофизической обработки, воздействие потока ионов, создаваемого в плазме ВЧ<br />

разряда пониженного давления с продувом газа, позволяет осуществлять упрочнение<br />

поверхностного слоя и получить принципиально новые устройства и материалы с<br />

характеристиками, значительно превосходящими их современный уровень, что весьма<br />

важно для интенсивного развития многих областей техники.<br />

В процессе плазменного воздействия образцы материалов нагреваются,<br />

что в ряде случаев может оказаться нежелательным. В связи с этим проведены<br />

исследования термического воздействия потока ВЧ <strong>плазмы</strong> пониженного<br />

давления на поверхность образцов материалов.<br />

Эксперименты проводились на ВЧ плазменной установке индукционного<br />

разряда (частота генератора 1,76 МГц). Установка позволяет регулировать:<br />

потребляемую мощность в диапазоне от 0,5 до 5 кВт, рабочее давление от 13,3<br />

до 133 Па, расход плазмообразующего газа до 0,12 г/с, в качестве<br />

плазмообразующего газа использовался технический аргон. Подробное<br />

описание установки представлено в [1].<br />

При указанных параметрах установки плазма обладает следующими<br />

характеристиками: концентрация электронов ne= 10 16 -10 18 м -3 , электронная<br />

температура Тe= 1-2 эВ, температура тяжелых частиц в плазменной струе может<br />

достигать 1000°C. При этом поверхность материалов, помещенных в<br />

56


плазменную струю подвергается воздействию потока ионов, обладающих<br />

энергией до 10-40 эВ при плотности ионного тока на поверхность 15-25 А·м -2 .<br />

Образец изготавливался из стали 40Х в виде пластины с размерами<br />

50х50 мм и толщиной 5 мм. Пластину устанавливали перпендикулярно потоку<br />

<strong>плазмы</strong> на различных высотах от среза плазмотрона: 30, 60, 90 и 120 мм.<br />

Для контроля температуры в центре образца на глубине 2,5 мм с<br />

обратной стороны от плазменного потока зачеканивалась хромель-алюмелевая<br />

термопара. С целью устранения влияния ВЧ наводки на показания прибора,<br />

фиксирующего ЭДС термопары, измерения температуры проводили сразу после<br />

гашением разряда. Одновременно с этим прекращали подачу<br />

плазмообразующего газа, таким образом, пластина при минимальном<br />

теплообмене в условиях вакуума в начальный момент времени сохраняла свою<br />

температуру. Время установления температуры пластины в зависимости от<br />

расстояния от среза плазмотрона и режима плазменного воздействия составляла<br />

15 мин при этом максимальная скорость нагрева в начальный момент<br />

составляла 2°С/с.<br />

� Исследование влияния подачи потенциала на образец при<br />

плазменной обработке проводилось с помощью кольцевого<br />

электрода диаметром 40 мм, расположенного на выходе из сопла<br />

плазмотрона так, чтобы видимая часть плазменной струи,<br />

проходящей через него, не соприкасалась с кромками отверстия.<br />

Электрод, держатель и сам образец изолировались друг от друга<br />

керамическими пластинками. Приложенный отрицательный<br />

потенциал к изделию ограничивался величиной 90 В из-за<br />

возникновения электрического пробоя межэлектродного<br />

промежутка через плазму.<br />

Опыты показали, что при введении образца в плазменную струю<br />

температура выравнивается по радиусу струи, и отклонение от осевого значения<br />

составляет 20-25%. Таким образом, при воздействии на образец плазменной<br />

струи пониженного давления его поверхность находится практически в<br />

одинаковых условиях. Струя в рассматриваемом диапазоне параметров<br />

позволяет нагревать образец до 1000°С.<br />

В исследуемом диапазоне режимов плазменного воздействия с ростом<br />

мощности температура образца увеличивается по линейному закону.<br />

57


При увеличении расстояния от среза плазмотрона до образца<br />

приобретаемая им температура довольно сильно изменяется на расстояниях до<br />

60 мм. При больших расстояниях температуры образца изменяется<br />

незначительно до 10%.<br />

При подаче дополнительного отрицательного потенциала на образец и<br />

одинаковых параметрах работы генератора температура образца возрастает.<br />

Увеличение значения дополнительного потенциала позволяет поднять<br />

температуру образца на 10-30% в зависимости от мощности вкладываемой в<br />

разряд (рис. 1).<br />

750<br />

700<br />

650<br />

600<br />

550<br />

500<br />

450<br />

400<br />

t обр , о C<br />

1 1,1 1,2 1,3 1,4 1,5 1,6<br />

U = 0 B U = 30 B U = 70 B<br />

P р , кВт<br />

Рис. 1 Зависимость температуры образца от мощности вкладываемой в<br />

разряд Pр и дополнительного отрицательного потенциала на образец U<br />

(G = 0,08 г/с, p = 90Па).<br />

Объяснить подобный характер взаимодействия плазменной струи и<br />

образца можно, проанализировав элементарные процессы, происходящие в<br />

окрестности обрабатываемого тела. Проведенными ранее оценками [1]<br />

установлено, что наибольший вклад в модификацию поверхности твердых тел<br />

вносят рекомбинация ионов с электронами на поверхности твердых тел,<br />

передача кинетической энергии ионов и термическое воздействие.<br />

В плазме при изменении мощности разряда от 0,5 кВт до 5,0 кВт энергия<br />

ионов возрастает, растет концентрация электронов в плазменной струе и<br />

температура частиц. Подача дополнительного отрицательного потенциала на<br />

58


образец позволяет повысить кинетическую энергию ионов и таким образом<br />

увеличить плотность теплового потока на поверхность образца, что приводит к<br />

росту его температуры.<br />

Установленные зависимости между входными параметрами установки и<br />

параметрами разряда показывают на возможность эффективной и достаточно<br />

простой регулировки характеристик струи разряда. Режим обработки можно<br />

регулировать не только, изменяя расход, мощность разряда, перемещением<br />

обрабатываемого тела вдоль струи, но и подачей дополнительного потенциала.<br />

Литература:<br />

1. Абдуллин И.Ш. Модификация нанослоев в высокочастотной плазме<br />

пониженного давления / И.Ш. Абдуллин, В.С. Желтухин, И.Р. Сагбиев,<br />

М.Ф.Шаехов. – Казань: Изд-во Казан. технол. ун-та, 2007. – 356 с.<br />

59


СПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ<br />

ИНДУКЦИОННЫХ РАЗРЯДОВ<br />

Абдуллин И.Ш. 1 , Быканов А.Н. 1 , Гафаров И.Г. 1 , Ибрагимов О.Е. 2<br />

1 Казанский государственный химико-технологический университет<br />

2 Инновационный технопарк «Идея»<br />

Обработка в высокочастотном разряде пониженного давления (при<br />

давлении от 1.33 до 266 Па) является эффективным способом модификации<br />

поверхности материалов органической и неорганической природы и позволяет<br />

проводить очистку, полировку поверхности, нанесение тонкопленочных<br />

покрытий, упрочнение поверхностного слоя, повышение усталостной<br />

прочности, износостойкости и срока службы конструкционных материалов.<br />

ВЧИ разряды атмосферного давления, применяются при плазмохимическом<br />

производстве сверхчистых соединений, гранул тугоплавких веществ, ультра - и<br />

нанодисперсных порошков. Во всех пречисленных процессах температура газа<br />

является одним из основных параметров, определяющих процесс<br />

взаимодействия <strong>плазмы</strong> с материалом. В настоящей работе проведены<br />

исследования по разработке методики измерения газовой температуры ВЧ<br />

разрядов в присутствии твердого для разрядов как пониженного, так и<br />

атмосферного давления.<br />

Спектры снимались оптоволоконным спектрометром USB4000 компании<br />

Ocean Optics. Спектрометр и световод оптимизированы на диапазон длин волн<br />

от 190 до 410 нм. Фотоприемная матрица спектрометра (CCD) имеет 3648<br />

элементов на весь спектральный диапазон. Перед проведением измерений<br />

выполнялась калибровка спектрометров по длине волны и измерялась<br />

корректирующая характеристика чувствительности спектрометра во всем<br />

диапазоне длин волн. Корректировка длины волны производилась по ртутной<br />

лампе, а корректировка чувствительности по фотометрическому<br />

калиброванному источнику DH2000 (дейтериевая лампа).<br />

Изображение разряда при помощи линзы, изготовленной из плавленого<br />

кварца, проецировалось на плоскость размещения торца световода. Таким<br />

60


образом производился контроль зоны, излучение которой снималось<br />

спектрометром. При сканировании торца световода в плоскости изображения и<br />

применении абелевых преобразований возможно измерение пространственных<br />

спектральных характеристик.<br />

ВЧИ разряд пониженного давления (30 - 65 Па) создавался на частоте<br />

1.76 МГц при уровне мощности 1 - 2 кВт. Спектр снимался на осевой линии в<br />

20 мм от верхнего витка индуктора. ВЧИ разряд атмосферного давления<br />

создавался в водоохлаждаемом плазмотроне на частоте 1.76 МГц в диапазоне<br />

мощностей 7 - 12 кВт. Спектр снимался на оси разряда при разных уровнях<br />

мощности, вкладываемой в реактор. Плазмообразующим газом во всех<br />

экспериментах был аргон с примесью воздуха или воздух.<br />

При снятии спектров определялась изолированная колебательная полоса<br />

электронного перехода, которая может использоваться для измерения газовой<br />

температуре по неразрешенной вращательной структуре. На рисунке 1<br />

представлен спектр ВЧИ разряда пониженного давления.<br />

Интенсивность, отн. ед<br />

4.0<br />

3.5<br />

3.0<br />

2.5<br />

2.0<br />

1.5<br />

1.0<br />

0.5<br />

0.5A<br />

0.8A<br />

1.0A<br />

0.0<br />

200 250 300 350 400<br />

Длина волны, нм<br />

Рисунок 1 Спектры в УФ диапазоне для ВЧИ разряда пониженного давления<br />

Полоса 0-0 2+ системы азота (красный кант на 337.1 нм), пригодная для<br />

диагностики, не является изолированной, на нее накладываются другие полосы<br />

61


(в частности, 1-я отрицательная система N2+). В то же время полоса 0�2 2+<br />

системы азота (красный кант на 380.5 нм) является достаточно изолированной и<br />

позволяет осуществить корректное вычитание фоновой интенсивности,<br />

создаваемой соседними линиями.<br />

Рисунок 2 показывает полные спектры ВЧИ разряда атмосферного<br />

давления, снятые в УФ диапазоне для трех значений мощности разряда.<br />

Спектры являются многокомпонентными и, в отличие от спектров<br />

неравновесных разрядов пониженного давления, выделить изолированную<br />

полосу 2+ системы N2 не удается. Поэтому применена более сложная модель,<br />

позволяющая рассчитывать спектры воздушной <strong>плазмы</strong>, задаваясь ее составом,<br />

четырьмя температурами (поступательной, вращательной, колебательной и<br />

электронной) и относительными интенсивностями спектральных полос.<br />

Интенсивность, отн. ед.<br />

4.0<br />

3.5<br />

3.0<br />

2.5<br />

2.0<br />

1.5<br />

1.0<br />

0.5<br />

7.8 kW<br />

10.2 kW<br />

12.0 kW<br />

0.0<br />

200 250 300 350 400<br />

Длина волны, нм<br />

Рисунок 2. Спектры ВЧИ разряда атмосферного давления<br />

Из моделирования молекулярных спектров, в частности, 2+ системы<br />

азота, в соответствии с [1], интенсивность изолированной колебательной<br />

полосы при неразрешенной вращательной структуре перехода меняется<br />

экспоненциально с длиной волны, причем показатель экспоненты однозначно<br />

связан с вращательной температурой, которая в наших разрядах с хорошей<br />

62


точностью равна температуре газа. Таким образом, выделив изолированную<br />

полосу, вычтя «подставку» интенсивности от соседних переходах (что<br />

довольно просто на изолированных полосах) и построив спектр в<br />

полулогарифмическом масштабе, мы можем обнаружить участок линейной<br />

зависимости логарифма интенсивности от длины волны. Обычно, в присутствии<br />

соседних линий, диапазон линейности составляет около 2 нм. Промоделировав<br />

этот участок спектра, можно однозначно связать тангенс угла наклона прямой<br />

(параметр Gamma) с температурой, что было сделано для наблюдаемых<br />

изолированных переходов.<br />

Таким образом, исследованы спектры ВЧИ разрядов пониженного и<br />

атмосферного давления, существенно отличающихся способом создания <strong>плазмы</strong><br />

и плазменными параметрами, в частности, температурой газа и степенью<br />

неравновесности. Снятые в УФ диапазоне спектры исследованных разрядов<br />

позволили найти участки диапазона, пригодные для диагностики <strong>плазмы</strong>, в<br />

частности, измерения газовой температуры. Спектральные измерения находятся<br />

в хорошем соответствии с результатами исследований энергетического баланса<br />

установок. Разработанные методики позволяют проводить оптимизацию<br />

плазменных параметров при разработке новых технологических процессов и<br />

при функционировании действующего оборудования.<br />

Литература<br />

1. G. Hertzberg// Moleculaar spectra and molecular structure Vol. 1. Spectra of<br />

Diatomic Molecules. Second Edition.– D.Van Nostard Company, Inc. Princeton, New<br />

Jersey.<br />

63


ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ<br />

ИМПУЛЬСНОГО НАНОСЕКУНДНОГО РАЗРЯДА В<br />

ВОЗДУХЕ АТМОСФЕРНОГО ДАВЛЕНИЯ<br />

Е.А. Елистратов, А.П. Кузнецов, С.П. Масленников, А.А. Протасов,<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

В настоящее время проводятся активные исследования в области физики<br />

импульсных газовых разрядов с объемной пространственной структурой. Это<br />

связано с перспективами их использования для различных практических<br />

применений, в частности для обеззараживания загрязненной среды и обработки<br />

поверхностей. Данная работа посвящена исследованиям подобного разряда в<br />

воздушной среде атмосферного давления, проводимым в течение ряда<br />

последних лет в НИЯУ МИФИ.<br />

на рис.1.<br />

1<br />

Схема установки и расположения измерительных датчиков представлена<br />

3 4<br />

Рис.1. Упрощенная электрическая схема установки и расположение<br />

измерительных устройств. 1 – импульсный генератор; 2 – разрядная камера; 3<br />

– высоковольтный делитель напряжения; 4 – токовый шунт; 5 –<br />

фотоэлектронный умножитель; 6 – спектрометр.<br />

Электропитание разряда осуществляется высоковольтным генератором<br />

импульсов напряжения (1) амплитудой от 20 до 50 кВ и длительностью (на<br />

полувысоте) 50 нс (частота повторения до 1 кГц) [1]. Генератор разработан на<br />

основе автотрансформатора, в качестве коммутатора емкостного накопителя<br />

выходного каскада используется водородонаполненный тиратрон. В разрядной<br />

камере (2) располагаются электродные системы различного конструктивного<br />

64<br />

2<br />

5 6<br />

TDS 3054 PC


исполнения, характерные длины межэлектродных промежутков составляют<br />

0,5-3 см. Контроль электрических параметров осуществляется при помощи<br />

высоковольтного делителя напряжения Tektronix P6015A (3) и резистивного<br />

токового шунта сопротивлением 2 Ом (4).<br />

На рис.2 представлены импульсы напряжения, тока и динамика вложения<br />

энергии диффузного разряда. В данной работе использовалась электродная<br />

система «лезвие-плоскость» длина лезвия составляла 6 см, Измерения<br />

проводились при межэлектродном зазоре dМЭП=2,5 см. Длительность импульса<br />

напряжения на полувысоте не превышает 100 нс при этом время интегральной<br />

светимости <strong>плазмы</strong> в видимом диапазоне спектра, регистрируемое при помощи<br />

ФЭУ (5), составляло 25 нс (по уровню 0,5).<br />

U<br />

Рис. 2 Импульсы напряжения (U), тока (I), динамика вложения энергии (W) и<br />

свечение диффузного разряда (L) (dМЭП=2,5 см; f=50 Гц)<br />

Импульс тока имеет сложную форму, что обусловлено изменением во<br />

времени параметров плазменной нагрузки. На переднем фронте импульса<br />

напряжения формируется короткий пик емкостного тока, протекающего через<br />

емкость межэлектродного промежутка. В дальнейшем в разряде преобладает<br />

активная составляющая тока.<br />

Для исследования пространственной структуры разряда и развития<br />

разряда во времени проводилось высокоскоростное фотографирование при<br />

помощи электронно-оптической камеры Bifo К008. Результаты<br />

фотографирования разряда, развивающегося в электродной конфигурации<br />

лезвие-плоскость (dМЭП=2,5см) представлены на рис.3. Видно, что разряд имеет<br />

стримерную форму и его развитие происходит с кромки катода в виде большого<br />

количества каналов.<br />

W<br />

65<br />

L<br />

I


Рис.3. Фотографирование развития разряда во времени<br />

Для анализа компонентного состава <strong>плазмы</strong> и оценки вращательной и<br />

колебательной температур в плазме были проведены спектральные<br />

исследования разряда. Спектры получены при помощи спектрометра ASP-<br />

150TF (Avesta Project) со спектральным разрешением 0,9 и диапазоном 180 -<br />

1100 нм. Характерный вид спектра представлен на рис.4(а). Все спектральные<br />

линии разряда сосредоточены в области 250-410 нм и представляют собой<br />

линии молекулярного азота. Также на данном графике обозначены линии,<br />

соответствующие колебательным переходам (2 + )-системы азота с указанием<br />

номеров колебательных уровней, между которыми происходят<br />

соответствующие оптические переходы.<br />

Определение вращательной температуры в разряде осуществлялись по<br />

неразрешенной вращательной структуре излучения 0-0-полосы (2 + )-системы<br />

азота [2]. Зависимости температуры от частоты подаваемых импульсов<br />

представлены на рис.4(б).<br />

Как видно, температура разряда меняется в широких пределах в<br />

зависимости от условий горения разряда: наблюдается рост температуры с<br />

увеличением частоты, а также прослеживается влияние диэлектрического<br />

барьера, устанавливаемого на заземленном электроде: максимальные<br />

температуры достигаются при отсутствии барьера, увеличение толщины<br />

барьера ведет к снижению температур.<br />

66


0→0<br />

1→0<br />

Рис.4. а - Характерный вид спектра разряда; б - зависимость вращательной<br />

температуры от частоты 1 – без диэлектрического барьера, 2 – оргстекло<br />

толщиной 1 мм, 3 – ПВХ пленка толщиной 200 мкм<br />

Измерения колебательной температуры проводилось по относительной<br />

интенсивности электронно-колебательных полос (2 + )-системы азота. При этом<br />

во всех исследуемых режимах колебательная температура лежала в диапазоне<br />

от 3 до 6тысяч градусов Кельвина. Такие различия вращательных и<br />

колебательных температур свидетельствуют о неравновесности <strong>плазмы</strong>.<br />

Проведены измерения концентрации электронов в плазме разряда.<br />

Измерения проводились с использованием лазерного интерферометра,<br />

собранного по схеме Майкельсона с квадратурной регистрацией сигналов [3]. В<br />

качестве излучателя использовался одночастотный малошумящий<br />

твердотельный лазер ДТЛ-317 мощностью до 50 мВт с генерацией на частоте<br />

532 нм. Квадратурные каналы регистрации получаются методом<br />

позиционирования фотоприемников на интерференционной полосе. В<br />

результате обработки полученных сигналов получены значения электронной<br />

плотности 3*10 15 см -3 .<br />

Литература:<br />

1→2<br />

2→3<br />

0→1<br />

2→4<br />

0→2<br />

1→3<br />

3→5<br />

1. Крастелев Е.Г., Масленников С.П., Школьников Э.Я. Генератор<br />

высоковольтных наносекундных импульсов для возбуждения диффузных<br />

газовых разрядов при атмосферном давлении. // ПТЭ, №5, 2009, с.98-101.<br />

2. Ельяшевич М.А. Атомная и молекулярная спектроскопия. – М.: Физматгиз,<br />

1962.<br />

3. Вовченко Е.Д., Кузнецов А.П., Савѐлов А.С. Лазерные методы диагностики<br />

<strong>плазмы</strong>. – М.: МИФИ, 2008<br />

67<br />

1<br />

3<br />

2


ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗЛУЧАТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК<br />

СИЛЬНОТОЧНОГО ИМПУЛЬСНОГО МАГНЕТРОННОГО<br />

РАЗРЯДА<br />

Д.В. Мозгрин 1 , Т.В. Степанова 1 , В.И. Тройнов 2 , Г.В. Ходаченко 1 ,<br />

А.В. Шумов 2 , И.А. Щелканов 1<br />

1. Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

2. Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана<br />

Сильноточный магнетронный разряда (СМР) низкого давления<br />

характеризуется широким диапазоном токов 0,2 – 120 А при плотности тока до<br />

25 А/см 2 с растущей c некоторого критического напряжения вольтамперной<br />

характеристикой (ВАХ). Разряд этого вида обладает высоким (до 1,2 кВ)<br />

напряжением горения и реализуется в диапазоне давлений 10 -3 � 10 -1 Тор и<br />

магнитных полей 0,4 � 1,0 кГс. Особенностью СМР является интенсивное<br />

распыление материала катода, связанное с высокой энергией и плотностью<br />

ионного потока. Оценки для типичных режимов, характерных для<br />

технологических приложений, показали, что концентрация <strong>плазмы</strong> СМР может<br />

достигать 5�10 13 см -3 [1].<br />

В качестве исследуемого разрядного устройства в работе использовался<br />

планарный магнетрон с титановым катодом диаметром 120 мм. Сначала в нем<br />

инициировался стационарный магнетронный разряд постоянного тока, а для<br />

формирования СМР разрядный промежуток подключался к ступени высокого<br />

напряжения от искусственной длинной линии с сосредоточенными<br />

параметрами, состоящей из 19 LC – секций с общим энергозапасом 6,3 кДж.<br />

Для регистрации спектра излучения <strong>плазмы</strong> магнетронного разряда<br />

применялся 4-х канальный спектрометр AvaSpec-2048 с дифракционными<br />

решетками, перекрывающими видимый диапазон длин волн (355 - 810 нм).<br />

Оптическое разрешение составляло от 0,05 до 0,2 нм и зависело от диапазона<br />

регистрируемых длин волн. Излучение из разрядного промежутка выводилось<br />

через кварцевое окно вакуумной камеры, проходило фокусирующую<br />

68


коллимационную линзу, оптоволоконный кабель и попадало на вход<br />

спектрометра.<br />

Далее развернутый в спектр световой поток регистрировался ПЗС-<br />

линейкой, проходил предварительную обработку с помощью встроенного в<br />

спектрометр микропроцессора и по USB-интерфейсу передавался на<br />

персональный компьютер. Здесь с использованием программного обеспечения<br />

AvaSoft и специально разработанного для этих целей программного комплекса<br />

SpectrAN [2] производилась цифровая обработка полученного сигнала,<br />

позволяющая проводить анализ спектра с целью получения компонентного<br />

состава и количественных характеристик <strong>плазмы</strong>.<br />

Эксперименты по исследованию излучательных характеристик <strong>плазмы</strong><br />

СМР производились при следующих условиях: рабочий газ – аргон, давление<br />

рабочего газа в камере – 8 . 10 -3 Торр, напряжение стационарного магнетронного<br />

разряда – 300 -340 В. Ток стационарного разряда составлял 100 – 120 мА,<br />

напряжение импульсного разряда – 500 – 900 В, ток импульсного разряда 3,0 –<br />

86 А, длительность импульса варьировалась в пределах 5,0 – 25 мс.<br />

Для анализа процессов возбуждения плазмообразующего газа СМР<br />

производилась регистрация спектра излучения как стационарного, так и<br />

импульсного магнетронного разряда. На рис. 1 приведен типичный<br />

интегральный спектр излучения <strong>плазмы</strong> СМР.<br />

Для идентификации спектральных линий использовалась база данных<br />

Национального института стандартов и технологии США [3]. В спектре<br />

излучения СМР были обнаружены линии Ti, Ti + , Ti 2+ , Ar, Ar + , Ar 2+ ,<br />

отсутствующие в спектре стационарного разряда, что указывает на различия в<br />

механизмах возбуждения в данных типах разряда.<br />

Качественный анализ спектра позволил сделать вывод о наличии в<br />

плазме СМР большого количества ионов Ti + и Тi 2+ . Это свидетельствует о том,<br />

что плазма СМР обладает более высокой степенью ионизации по сравнению со<br />

стационарным разрядом. При увеличении мощности отмечено появление ряда<br />

новых линий, соответствующих компонентам Ar, Ar + , Ti + , Ti 2+ , и увеличение<br />

доли материала катода в плазме разряда. Наличие сильно ионизованной <strong>плазмы</strong><br />

и поддержание высокого напряжения горения разряда приводили к<br />

интенсивному распылению катодной мишени.<br />

69


Рис. 1. Интегральный спектр излучения <strong>плазмы</strong> СМР: напряжение разряда<br />

900 В, ток импульсного разряда 74 А, длительность импульса 20 мс,<br />

время интегрирования 400 мс<br />

Для проведения количественного анализа параметров <strong>плазмы</strong><br />

использовалась методика, описанная в [2]. По полученным относительным<br />

интенсивностям идентифицированных спектральных линий определялась<br />

заселенность верхних уровней Nk = Ik→i / [Ak→i (Ek-Ei)]. Далее формировался<br />

массив значений<br />

y<br />

x� Ek(абсцисса).<br />

���N � � N ���<br />

(ордината) от энергии верхних уровней<br />

�������� k<br />

0<br />

� ln ������ gkg0 Из рис. 2, отражающего указанную зависимость, видно, что<br />

экспериментальные точки группируются вдоль различных прямых<br />

���N � � k N ��<br />

0 � Ek<br />

ln �������� , соответствующих закону Больцмана. С помощью<br />

���gk��g0��� kT Á<br />

метода наименьших квадратов каждая группа точек аппроксимировалась<br />

70


прямой, тангенс угла наклона которой позволял получить температуру<br />

распределения для атома или иона каждого химического элемента.<br />

а) б)<br />

Рис. 2. Распределения заселенностей уровней атомов и ионов компонентов<br />

(а):в стационарном разряде (напряжение 320 В, ток 110 мА);<br />

(б): в сильноточном разряде (напряжение 900 В, ток 35 А)<br />

Анализ полученных распределений позволяет сделать вывод, что разброс<br />

экспериментальных точек относительно прямых, построенных по методу<br />

наименьших квадратов, уменьшается при переходе разряда в сильноточную<br />

форму. Таким образом, СМР является более равновесным, т.к. распределение<br />

заселенностей групп уровней лучшей подчиняется закону Больцмана.<br />

Литература:<br />

1. Фетисов И.К. Газовый разряд низкого давления в магнитном поле. М: НИЯУ<br />

«МИФИ», 1999.<br />

2. Автоматизированный спектрометрический комплекс для диагностики <strong>плазмы</strong><br />

магнетронного разряда / В.М. Градов, А.М. Зимин, С.Е. Кривицкий, А.В.<br />

Шумов // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Термоядерный синтез. 2009.<br />

Вып. 1. С. 64-71.<br />

3. Atomic Spectra Database Lines Form // National Institute of Standards and<br />

Technology (NIST). URL: http://physics.nist.gov/ (дата обращения: 10.09.2010).<br />

71


СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ<br />

ПЛАЗМЕННОГО АЭРОЗОЛЯ<br />

Л.А.Луценко, А.В.Ильницкая, А.М.Егорова, И.В.Березняк<br />

ФГУН ФНЦГ им. Ф.Ф.Эрисмана Роспотребнадзора МЗ и СР<br />

В современном производстве существуют источники непреднамеренного<br />

антропогенного загрязнения производственной и окружающей среды<br />

наночастицами, которые могут присутствовать в различных аэрозолях не<br />

свободно, изолированно, а в виде комплексов с более крупными частицами или<br />

с газами. Среди непреднамеренных источников поступления частиц в воздух<br />

рабочей зоны можно назвать, например, плазменные технологии.<br />

Тепловое взаимодействие <strong>плазмы</strong> и обрабатываемого материала может<br />

приводить к образованию субмикронных и наночастиц высокой степени<br />

чистоты в узком диапазоне гранулометрического состава со сферической<br />

формой частиц.<br />

В таблице 1 представлены данные о концентрациях и размерах<br />

аэрозольных наночастиц при разных видах деятельности человека.<br />

Таблица 1.Концентрации и размеры аэрозольных наночастиц<br />

[цит. по В.Н.Лысцову, Н.В.Мурзину, 2007]<br />

Вид деятельности Концентрация<br />

НЧ, х10 4 см -3<br />

72<br />

Размер, нм<br />

Шлифовка, обработка металлов 1 – 20 17 – 170<br />

Бытовая пайка и сварка 1- 40 40 – 70<br />

Промышленная сварка 5 – 350 30 – 130<br />

Строительная сварка 10 – 5000 30 – 600<br />

Плазменная резка 5 – 50 120 – 180<br />

В силу того, что распределение температур в плазменной струе<br />

характеризуется неоднородностью при некоторых видах технологий, например<br />

при напылении, наплавке, плазменно-механической обработке не происходит<br />

достаточного проплавления вещества и, поэтому, образуются оплавленные


сферические частицы разных размеров с небольшим числом пор и с невысокой<br />

сорбционной способностью.<br />

При плазменной резке, когда обрабатываемый материал нагревался до<br />

испарения или при плазменно-химической технологии, вследствие конденсации<br />

паров и последующей коагуляции частиц в воздух рабочей зоны поступает<br />

высокодисперсный аэрозоль с высокой сорбционной способностью.<br />

Проявлением вредного действия высокотоксичной пыли на организм<br />

может быть развитие острых и хронических интоксикаций (отравлений),<br />

включая пневмокониозы от аэрозолей токсико-аллергического действия,<br />

токсико-пылевые бронхиты. Аэрозоли некоторых металлов способны вызывать<br />

отдаленные эффекты, в том числе – канцерогенный, могут наблюдаться<br />

аллергические реакции, генотоксический эффект и др.<br />

Плазменно-струйные процессы при их технологическом применении<br />

являются источниками ряда физических и химических факторов, которые в<br />

свете выявленных закономерностей сочетанного и комбинированного действия<br />

вредных веществ в виде высокодисперсных аэрозолей и физических факторов<br />

обуславливают достаточно раннее развитие неспецифических патологических<br />

изменений в различных органах и системах организма человека.<br />

Результаты медицинского обследования работающих, обслуживающих<br />

различные типы плазменных установок в динамике 10 лет показали наличие<br />

функциональных расстройств в состоянии центральной и вегетативной нервной<br />

систем, сердечно-сосудистой системы, анализаторов. В легочной ткани<br />

отмечена выраженная клеточная реакция, преимущественно лимфоидной<br />

ткани, множество макрофагов (эпителиоидного типа) компактно<br />

расположенных в альвеолах и перегородках; признаки периваскулярного отека,<br />

набухание и разволокнение стенок сосудов.<br />

Приведенные данные свидетельствуют о необходимости<br />

совершенствования методов идентификации плазменных наночастиц в воздухе<br />

рабочей зоны и окружающей среды.<br />

В России основными гигиеническими критериями вредности<br />

промышленных аэрозолей являются: масса действующей пыли; еѐ<br />

вещественный состав; время действия, которые были положены в основу<br />

нормирования пылевого фактора, гигиенического контроля и системы медико-<br />

профилактического обслуживания работников предприятий. Эти критерии<br />

73


обоснованы результатами фундаментальных работ отечественных гигиенистов;<br />

анализом мирового опыта.<br />

За рубежом, принята концепция, где ведущую роль отводят<br />

респирабельной фракции. В частности, за рубежом устанавливаются<br />

дифференцированные стандарты для общей (вдыхаемой) пыли и<br />

респирабельной (дыхательной) фракции. Соответственно для пылевого<br />

контроля, как правило, применяют приборы двухступенчатой гравиметрии.<br />

В то же время в России утвержден национальный стандарт Российской<br />

Федерации: ГОСТ Р ИСО 7708-2006 (дата последнего изменения - 23.06.2009):<br />

«Качество воздуха. Определение гранулометрического состава частиц при<br />

санитарно-гигиеническом контроле». Стандарт подготовлен на основе<br />

аутентичного перевода международного стандарта ИСО 7708:1995 «Air quality –<br />

Particle size fraction definition for health-related sampling». Качество воздуха.<br />

Определение гранулометрического состава частиц при санитарно-<br />

гигиеническом контроле".<br />

Существует также ГОСТ Р ИСО 14644-3-2007 «Чистые помещения и<br />

связанные с ними контролируемые среды. Часть 3. Методы испытаний». В<br />

стандарте приведены методы и приборы для определения аэрозольных макро и<br />

микрочастиц.<br />

Согласно ГОСТ Р ИСО 7708-2006, доля взвешенных в воздухе частиц,<br />

вдыхаемых человеком, зависит от свойств частиц, скорости и направления<br />

движения воздуха вблизи человека, интенсивности вдыхания, типа вдыхания:<br />

через нос или рот. Вдыхаемые частицы могут оседать в какой-либо области<br />

дыхательных путей или могут быть выдохнуты. Стандарт устанавливает<br />

нормативы по отбору проб при определении гранулометрического состава<br />

взвешенных частиц, содержащихся в воздухе рабочей зоны и окружающей<br />

атмосфере, с целью оценки влияния на здоровье человека.<br />

В стандарте приведены нормативы (условные характеристики) устройств<br />

для отбора проб вдыхаемой, торакальной и респирабельной фракции, а также<br />

расчет нормативов по экстраторакальной и трахеобронхиальной фракциям<br />

(вдыхаемую фракцию иногда называют инспирируемой - термины<br />

эквивалентны). Выбор нормативов зависит от области дыхательных путей, в<br />

которой исследуемый компонент взвешенных частиц воздействует на здоровье<br />

человека. Выбирают норматив по вдыхаемой фракции, если вещество может<br />

74


привести к болезни независимо от области оседания; по торакальной фракции -<br />

если областью оседания были проводящие пути легких (бронхи); по<br />

респирабельной фракции - если областью оседания был участок газообмена от<br />

дыхательных бронхиол до альвеол.<br />

Методы оценки и идентификации наночастиц предложены в<br />

международных стандартах: TECHNICAL REPORT ISO/TR 27628 First edition<br />

2007-02-01 «Workplace atmospheres — Ultrafine, nanoparticle and nano-structured<br />

aerosols — Inhalation exposure characterization and assessment», ISO/TR<br />

12885:2008(E) First edition 2008-10-01 Nanotechnologies — Health and safety<br />

practices in occupational settings relevant to nanotechnologies.<br />

В данных документах указано, что ингаляционный путь считается одним<br />

из основных при воздействии наноматериалов, наряду с другими путями<br />

проникновения наночастиц: через желудочно-кишечный тракт и через кожу.<br />

Имеются доказательства того, что не только массовая концентрация,<br />

определяет риск здоровью при действии некоторых аэрозолей. Как указывают<br />

многие токсикологи, некоторые очень маленькие респирабельные<br />

нерастворимые частицы могут быть более токсичными, чем большие<br />

респирабельные частицы с подобным составом (по массе к массовому<br />

основанию). Становится очевидным, что риск здоровью после ингаляции<br />

некоторых профессиональных аэрозолей связан не только с массовой<br />

концентрацией.<br />

Т.о, гравиметрический метод не всегда применим для частиц менее 100<br />

нм, ввиду особенностей наночастиц: относительно маленькая масса, большая<br />

поверхностная площадь, быстрое рассеивание, образование агломератов.<br />

Необходимы дальнейшие исследования взаимосвязи показателей состава<br />

и свойств наноаэрозолей и их вредных эффектов; опережающая разработка<br />

гигиенических мер защиты работников; разработка приборов контроля, методов<br />

идентификации воздействия наночастиц.<br />

Литература:<br />

1. Лысцов В.Н., Мазурин Н.В.Проблемы безопасности нанотехнологий. –<br />

М., МИФИ, 2007. – 70 с.<br />

75


ТОМОГРФИЧЕСКИЙ ПОДХОД В ЗАДАЧЕ 3D<br />

РЕКОНСТРУКЦИИ ПЛАЗМЕННО-ПЫЛЕВЫХ СТРУКТУР<br />

А.В. Бульба<br />

Петрозаводский государственный университет<br />

При определенных условиях в плазме, в частности, в тлеющем разряде<br />

постоянного тока в газах из введенных в плазму частиц размером от нескольких<br />

до сотен микрометров возникают самоупорядоченные плазменно-пылевые<br />

структуры [1]. В случае высокой степени упорядоченности структура<br />

называется ―плазменным кристаллом‖.<br />

Получить информацию о пространственном распределении частиц<br />

―кристалла‖ возможно путѐм регистрации нескольких двумерных изображений<br />

области с частицами под различными углами наблюдения с последующей<br />

математической обработкой методом томографии.<br />

Для реализации предложенного подхода на основе метода обратного<br />

проецирования [2, 3] разработан алгоритм, позволяющий итеративно находить<br />

оптимальное решение для случая неоткалиброванных камер, учитывая<br />

ограничения, накладываемые используемой аппаратурой и условиями<br />

проведения эксперимента.<br />

Создано соответствующее программное обеспечение и успешно<br />

проведены эксперименты по восстановлению структур, состоящих из<br />

нескольких десятков частиц.<br />

Экспериментальная установка представляет собой вертикально<br />

установленную газоразрядную трубку с внутренним диаметром 2.6 см (рис. 1).<br />

Промежуток между электродами 45 см. Частицы 2 3 O AL (полидисперсионный<br />

порошок с диаметром частиц от нескольких единиц до нескольких десятков<br />

микрон) инжектируются из контейнера, расположенного в верхней части<br />

трубки. Исследования проводились в постоянном токе тлеющего разряда.<br />

В установке использовались три идентичные фотокамеры ―Canon EOS<br />

10D‖ с объективами ―Canon EF 100 F2.8 Macro‖ и удлинительными кольцами.<br />

76


Синхронизация фотокамер осуществлялась, благодаря возможности<br />

одновременного электронного управления несколькими затворами.<br />

Пылевая структура освещалась расширенным лучом (диаметр луча 5 мм)<br />

полупроводникового лазера с длиной волны 532 нм. При этом луч направлялся<br />

не перпендикулярно трубке, а, используя зеркала, под углом ≈ 45º, чтобы<br />

избежать бликов.<br />

Рис. 1 Вид экспериментальной установки.<br />

Проекции (фотографии) одной из пылевых структур представлены на<br />

рис. 2а, б, в. Серые размытые пятна (рис. 2а, б, в) – частицы плазменно-пылевой<br />

структуры; белые одинаковые кружки (рис. 2а, б, в) – проекции, вычисленные с<br />

восстановленной структуры и наложенные поверх изображений частиц<br />

―кристалла‖ для проверки точности восстановления. Результат обработки<br />

можно сразу оценить визуально, т.к. восстановленная структура выводится в 3-х<br />

мерном виде (рис. 2г).<br />

77


Рис. 2 Три проекции (фотографии) пылевой структуры (a, б, в) при углах<br />

наблюдения 1.05 0 , 31.63 0 и 158.53 0 ; масштаб 105 pix на 250 мкм, время<br />

экспозиции 1/500 с., диафрагма 4; газ Ar, P=29 Па, I=0.31 мА; восстановленная<br />

структура из 40 частиц (г).<br />

На рис. 3 представлена парная корреляционная функция<br />

восстановленной трѐхмерной структуры с rgmax=364 мкм.<br />

0,012<br />

0,01<br />

0,008<br />

0,006<br />

0,004<br />

0,002<br />

g(r)<br />

Парная корреляционная функция<br />

0<br />

0 0,2 0,4 0,6 0,8 1 1,2 1,4<br />

78<br />

r, мм<br />

Рис. 3 Парная корреляционная функция восстановленной структуры.<br />

Предложенным методом исследованы зависимости параметров<br />

трехмерной пылевой структуры (средние расстояния между частицами rср,<br />

горизонтальные составляющие rxy и вертикальные rz) из полидисперсного<br />

порошка Al2O3 с диаметром частиц от нескольких единиц до нескольких


десятков микрон от токов (в диапазоне 0.1-1.2 мА, с шагом 0.1 мА) и давлений<br />

(27 - 80 Па, с шагом 13 Па) в тлеющем разряде постоянного тока в Ar.<br />

Литература:<br />

1. Fortov V. [et al.]. Emission properties and structural ordering of strongly coupled<br />

dust particles in a thermal plasma // Phys. Lett. A., 1996, V. 219, P. 89-94.<br />

2. Пикалов В.В., Преображенский Н.Г. Вычислительная томография и<br />

физический эксперимент // УФН, 1983, т. 141, № 3, с. 469 - 498.<br />

3. Терновой К.С., Синков М.В. Введение в современную томографию. Киев:<br />

Наукова думка, 1983, с. 232.<br />

79


ЛАЗЕРНАЯ ДИАГНОСТИКА ДИСПЕРСНОГО УГЛЕРОДА<br />

В.А. Власов, В.Ф. Мышкин, Д.Л.Гамов, И.А.Ушаков, А.В.Еремин, В.А.Борисов<br />

Национальный исследовательский Томский политехнический университет<br />

Нами разрабатывается метод сепарации изотопов углерода в плазменных<br />

процессах. При этом изотопы углерода с магнитными и немагнитными ядрами,<br />

в зависимости от соотношения скоростей протекания различных процессов,<br />

концентрируются в газовой или конденсированной фазах. Для сохранения<br />

изотопного состава фаз необходимо их разделять с момента формирования<br />

дисперсной фазы. Задача исследования – определение зависимости места<br />

интенсивного образования и гранулометрического состава дисперсной фазы от<br />

количества кислорода в плазмообразующей смеси.<br />

Для решения поставленной задачи дуговой плазмотрон является<br />

технологичным и простым в изготовлении. Низкотемпературная плазма<br />

содержит ионы, электроны, радикалы. Конденсированная фаза, используемая<br />

для сепарации по изотопам продуктов плазменных процессов, также может<br />

оказывать существенное влияние на протекающие в плазменных системах<br />

физико-химические процессы, например, на распределение зарядов по объему и<br />

концентрацию молекул в необходимых, для протекания целевого процесса,<br />

возбужденных состояниях.<br />

Для экспериментального определения участка плазменной струи, на<br />

котором начинает формироваться конденсированная фаза, возбуждали дуговой<br />

разряд в цилиндрической обойме диаметром 30 мм. Плазмообразующий газ<br />

(смесь аргона и кислорода) подавали тангенциально на расстоянии 20 мм от оси<br />

электрической дуги. В обойму радиально, через тефлоновые изоляторы, были<br />

вставлены два графитовых электрода диаметром 6 мм. При расстоянии между<br />

электродами 2-3 мм ток дуги выдерживали в диапазоне 10-15 А.<br />

Плазмотрон снабжен системой автоматической подачи электродов. При<br />

этом в качестве контролируемого параметра использовали ток дуги.<br />

Установлено, что при скорости подачи плазмообразующего газа 0,06 л/с<br />

скорость испарения графита не превышала 0,1 г/мин.<br />

Для диагностики наличия дисперсной фазы плазменный поток облучали<br />

по оси (со стороны электрической дуги) излучением второй гармоники<br />

80


неодимового лазера. Появление дисперсного углерода сопровождается резким<br />

увеличением рассеянного лазерного излучения. Поток лазерного излучения,<br />

рассеянного на дисперсных частицах, регистрировали по направлению вбок.<br />

Система выделения потока рассеянного излучения содержала объектив,<br />

диафрагму, фотоэлектронный умножитель. Сигнал ФЭУ наблюдали с помощью<br />

цифрового осциллографа. Были определены точки на оси плазменного потока, в<br />

которых начинается формирование дисперсной фазы при различном<br />

содержании кислорода в плазмообразующей смеси.<br />

Все способы воздействия на химическую активность целевого изотопа<br />

плазменной системы необходимо осуществлять до точки начала интенсивного<br />

образования дисперсных частиц.<br />

Лазерная <strong>диагностика</strong> относится к одному из наиболее эффективных<br />

безотборных методов диагностики гранулометрического состава гетерогенных<br />

систем. Обратная задача светорассеяния, например, для метода спектральной<br />

прозрачности сводится к решению интегрального уравнения<br />

R<br />

� 2<br />

R<br />

2<br />

� , ��<br />

f �r� � r dr � ��� � r � ,<br />

1<br />

где R1 - R2 - диапазон размеров, � � , ��<br />

�r� r - фактор эффективности ослабления,<br />

f - функция распределения по размерам, � ��� - коэффициент прозрачности.<br />

Для количественной диагностики гранулометрического состава<br />

ультрадисперсных систем необходимы широкополосные источники излучения.<br />

На этапе разработки алгоритмов решения интегрального уравнения в<br />

распоряжении экспериментаторов имелась аппаратура для выполнения<br />

экспериментальных исследований, позволявшая регистрировать ограниченный<br />

объем информации. Современная аппаратура позволяет получать практически<br />

неограниченный объем экспериментальных данных. Такой объем информации<br />

является избыточным при решении интегрального уравнения с известными и<br />

проверенными неоднократно регуляризующими алгоритмами.<br />

В связи с этим нами впервые предложен новый подход обработки<br />

экспериментальных спектров пропускания, по которому из всего набора<br />

экспериментальных данных составляется несколько выборок. Эти выборки<br />

обрабатываются независимо друг от друга с помощью известных алгоритмов.<br />

Из полученных гистограмм в результате обработки нескольких выборок из<br />

экспериментальных спектров пропускания достоверными можно считать те,<br />

которые имеют максимальное совпадение между собой, а невязка между<br />

81


экспериментальным и расчетным спектрами пропускания для каждой выборки -<br />

наименьшее значение. Нами показано, что предлагаемый алгоритм обработки<br />

данных лазерного зондирования аэрозолей позволяет увеличивать<br />

достоверность определения дисперсности гетерогенных систем [1].<br />

При экспериментальном изучении закономерностей формирования в<br />

плазме сажи из недогоревшего графита использовали галогенную лампу.<br />

Изображение нити лампы с увеличением в 2 раза строили в счетном объеме.<br />

Прошедший через плазму зондирующий пучок с помощью второго объектива<br />

формировали в изображение спирали на входной щели малогабаритного<br />

спектрографа (второй объектив переносит изображение счетного объема на<br />

плоскость щели спектрографа). Оптическая схема регистрации спектрального<br />

хода коэффициентов пропускания приведена на рисунке.<br />

1 1,5F 2 3F 3 2F 2 2F 4<br />

1 – лампа накаливания, 2 – объектив, 3 – поток <strong>плазмы</strong>, 4 – световод<br />

спектрографа<br />

Для учета потока свечения <strong>плазмы</strong> последовательно регистрировали<br />

л<br />

п<br />

спектр излучения лампы (без <strong>плазмы</strong>) I ��� , спектра <strong>плазмы</strong> ��� 82<br />

I ,<br />

л п<br />

суммарный спектр из свечения <strong>плазмы</strong> и зондирующего пучка I ��� �<br />

Спектральный ход коэффициентов пропускания определяли по формуле<br />

л�п<br />

п<br />

I<br />

� �<br />

��� � I ��� � � � л<br />

I ��� Выборки по 10 значений �� �<br />

i<br />

.<br />

� (при i � 1024) группировали в областях<br />

экстремума функции в разных областях спектра [1]. Были определены функции<br />

распределения по размерам f �r� дисперсного углерода в различных сечениях<br />

плазменного потока во внешнем магнитном поле 1,4 Тл для разных<br />

плазмообразующих смесей. Установлена зависимость f �r� от магнитного поля.<br />

Литература:<br />

1. Мышкин В.Ф., Власов В.А., Хан В.А. и др. О повышении достоверности<br />

решения интегрального уравнения при безотборной диагностике наночастиц //<br />

Научный журнал КубГАУ, №31(7), 2007. - http://ej.kubagro.ru/2007/07/pdf/13.pdf.<br />

.


МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ПОВЕДЕНИЯ<br />

МАКРОЧАСТИЦ В УПОРЯДОЧЕННЫХ СТРУКТУРАХ<br />

КОМПЛЕКСНОЙ ПЛАЗМЫ<br />

А.А. Пискунов, С.Ф. Подрядчиков, А.Д. Хахаев<br />

Петрозаводский государственный университет, Научно-образовательный<br />

центр по фундаментальным проблемам приложений физики<br />

<strong>низкотемпературной</strong> <strong>плазмы</strong><br />

Комплексная (пылевая) плазма, содержащая частицы конденсированного<br />

вещества (КДФ или макрочастицы), широко распространена в природе и<br />

технологических процессах. Присутствие макрочастиц существенным образом<br />

влияет на коллективные процессы в плазме и модифицирует свойства<br />

плазменной среды, что имеет большое значение в энергетических установках<br />

(токамаки, лазеры, ракетные двигатели и др.), в плазменных технологиях<br />

получения новых материалов, астрофизике, для физического моделирования<br />

конденсированного состояния вещества, объектов микромира и космических<br />

объектов, недоступных для эксперимента. Большой заряд макрочастиц сильно<br />

искажает электрическое поле в пространстве около неѐ, вследствие чего<br />

формируются сложные структуры заряда, поля, массы, потоков частиц.<br />

Благодаря большому размеру макрочастиц (1-100 мкм) и относительно<br />

большому расстоянию между ними (100-500 мкм) существует замечательная<br />

возможность исследовать такие многочастичные системы на кинетическом<br />

уровне в рассеянном на макрочастицах свете.<br />

Наблюдаемые структуры макрочастиц и их кинетика отражают<br />

внутренние процессы, происходящие в комплексной плазме. Исследование<br />

поведения частиц КДФ в плазме представляет не только фундаментальный<br />

интерес, но также и прикладной. Макрочастицы можно использовать как<br />

зондовые частицы для диагностики плазменной среды.<br />

В данной работе освещаются методика и результаты исследования<br />

кинетики макрочастиц в комплексной плазме. Наблюдать макрочастицы в<br />

плазме можно в рассеянном свете, для этого их подсвечивают расширенным в<br />

83


одном направлении лазерным пучком (т.н. лазерный нож), благодаря чему<br />

можно выделить одно из сечений структуры.<br />

Используя технологию IMAQ Vision, было создано программно-<br />

аппаратное средство для распознавания макрочастиц в плазме и слежения за их<br />

движением в течение заданного промежутка времени. Данные о структуре<br />

макрочастиц поступают в виде, формируемого с помощью видеокамеры,<br />

видеосигнала на плату видеозахвата ПК, где сигнал преобразуется в цифровые<br />

изображения структуры (рис.1).<br />

Рисунок 1 Исходное изображение структуры состоящей из макрочастиц (слева) и<br />

отображение результата захвата объектов на изображении (справа).<br />

Далее эти изображения обрабатываются с помощью программы,<br />

реализованной в среде LabVIEW. Критерием обнаружения макрочастицы на<br />

изображении является яркость и размер объекта. Каждое следующее положение<br />

макрочастицы определяется в предполагаемой области, размер которой задается<br />

в виде параметра. В случае если в данной области появляются две или более<br />

макрочастиц, то каждая из них считается потерянной, т.к. не существует<br />

возможности отличить их друг от друга. Макрочастица считается также<br />

потерянной, если выходит за пределы поля зрения. Процесс, начинающийся<br />

захватом сигнала от макрочастиц и заканчивающийся формированием файла<br />

данных о координатах макрочастиц в последовательные моменты времени,<br />

происходит в режиме реального времени. Имея такой файл, можно довольно<br />

легко восстановить движение любой из обнаруженных в структуре макрочастиц<br />

(рис.2). Траектория движения отдельной макрочастицы за время наблюдения<br />

представляет собой ломаную линию, локализованную в пространстве и не<br />

имеющую пересечений с траекториями других макрочастиц. Из полученных<br />

данных можно извлечь информацию о необходимых величинах значимых для<br />

84


диагностирования. Алгоритмы обработки данных реализованы в отдельной<br />

программе и выполняются после проведения эксперимента по захвату данных,<br />

т.к. для этого требуется дополнительное программное время.<br />

Рисунок 2 Восстановленные траектории движения центра масс макрочастиц в<br />

сечении упорядоченной структуры.<br />

Технические характеристики комплекса: видеокамера (25 кадров/с),<br />

BNC-кабель, соединяющий видеокамеру и плату видеозахвата, плата<br />

видеозахвата PCI-1411, персональный компьютер (Intel Celeron 500 МГц, ОЗУ<br />

256 Мб, емкость ж/д Гб, ОС Windows 98, 32-разрядная PCI-шина (100 Мбит/с)).<br />

Статистическая обработка полученных данных позволяет получать<br />

достоверную информацию о кинетике макрочастиц в структурах. В последнее<br />

время [1] с использованием данного инструмента проводятся исследования по<br />

выяснению влияния компонентного состава упорядоченных плазменно-<br />

пылевых структур (УППС), получаемых в стратах тлеющего разряда<br />

постоянного тока, на их кинетические свойства. Отыскание зависимости<br />

изучаемой величины от параметра задающего то или иное условие, значимое<br />

для существования и формирования УППС, позволяет проводить<br />

сравнительные исследования. Для УППС в тлеющем разряде такими<br />

параметрами являются температура и концентрация нейтральных частиц газа,<br />

концентрация и температура заряженных частиц. В эксперименте с плазмой<br />

газового разряда удобнее оперировать физическими величинами,<br />

характеризующими сам разряд (давление газа, плотность тока, температура<br />

стенок разрядной трубки, радиус трубки), задавая которые, можно<br />

контролировать характеристики <strong>плазмы</strong>.<br />

Данные, отраженные на рис.4, показывают зависимость средней скорости<br />

движения макрочастиц (Al2O3, Zn) в УППС различного состава от давления p<br />

плазмообразующего газа (Ar, Ne).<br />

85


Рисунок 3 Зависимость скорости движения макрочастиц в УППС от давления<br />

плазмообразующего газа при комнатной температуре (радиус газоразрядной трубки<br />

30 мм).<br />

За время наблюдения 4 секунды для каждой видимой в сечении<br />

структуры макрочастицы фиксируется 100 перемещений, каждое из которых<br />

происходит с какой-то скоростью vi. Вычисляя vi для всех перемещений, можно<br />

оценить среднюю скорость за все время наблюдения. Т.о. для каждой частицы<br />

получается величина скорости и дисперсии этого значения. Учитывая<br />

дисперсию, далее можно рассчитать среднюю скорость v по ансамблю<br />

макрочастиц [2]. Погрешность измерений в каждой точке оценивалась по<br />

результатам 3-х независимых экспериментов.<br />

Аналогичным образом были получены зависимости скорости<br />

перемещения макрочастиц от плотности разрядного тока [3].<br />

Литература:<br />

1. Жариков Н.Н., Пискунов А.А., Подрядчиков С.Ф., Семенов А.В., Хахаев А.Д.,<br />

Щербина А.И. Модификация свойств плазменно-пылевых структур и<br />

микрочастиц в комплексной плазме//Ученые записки ПетрГУ, 2010, №6 (111),<br />

c.99-108.<br />

3. Гнеденко Б.В. Курс теории вероятностей. М.: Наука, 1965, 400 с.<br />

2. Пискунов А.А., Хахаев А.Д. Управление свойствами упорядоченных<br />

плазменно-пылевых структур//Краткие сообщения по физике, 2010, №1, c.35-38.<br />

86


DUSTY PLASMA LIQUID AS A STRONGLY COUPLED<br />

COULOMB SYSTEM: DIAGNOSTICS AND RESULTS<br />

Oleg F.Petrov 1,2 , Vladimir E.Fortov 1,2<br />

1. Institution of the Russian Academy of Sciences Joint Institute for High<br />

Temperatures RAS, Moscow, Russia<br />

2. Moscow Institute of Physics and Technology, Dolgoprudny, Russia<br />

Dusty plasma is a unique laboratory tool for the investigation of the physics of<br />

systems with strong Coulomb interaction. This is due to the fact that the interaction of<br />

micron-sized dust particles (0.1-10 �m in diameter) with charges up to 102-105<br />

elementary charges may form the ordered structures of liquid (dust liquid) and crystal<br />

(dust crystal) types accessible to observe them at kinetic level, i.e. at level of behavior<br />

of separate particles of medium.<br />

In present work the results of experimental and theoretical investigations of<br />

structural and dynamic properties of dusty plasma in dc glow discharge at the<br />

temperatures of 4.2-300 K were presented. The dependence of dust particle’s density<br />

on discharge temperature in dust structures was obtained. The kinetic processes of<br />

interaction of dust particles with the plasma component at cryogenic temperatures<br />

were analyzed with consideration for the ion-atom collisions. This analysis made<br />

possible to determine main mechanism responsible for the observed increase in the<br />

dusty plasma density..<br />

For confinement and investigation of strongly coupled systems of charged dust<br />

particles, we propose to use a trap based on the known possibility of the levitation of<br />

diamagnetic bodies in a nonuniform steady-state magnetic field. An experimental<br />

setup is described, which is capable of forming and confining clusters of charge<br />

graphite particles sized 100 to 300 μm in magnetic field B�1 T and |�B|�10 T/cm.<br />

The dust charging under effect of electron beam was studied. The experiments<br />

were carried out with particles of different materials and sizes (10-200 �m) in the<br />

atmosphere of air and helium at pressures 0.2 - 2 torr. The electron beam current was<br />

varied from 1 to 10 mA; energy of electrons was about 25 keV. Under action of<br />

electron beam dust particles became charged. Due to strong Coulomb interaction the<br />

87


particles were accelerayed and were moved in different directions. The average<br />

velocities of dust particles were obtained and their charge was estimated. For Al2O3<br />

particles the charge was about 107 e (2-3 order more than dust charge in rf or dc<br />

discharges).<br />

Measurements in dusty plasmas were carried out to find the region of validity<br />

of approximate relation in statistical theory of liquid states. The integral equations<br />

with the Percus-Yewick and the hypernetted-chain closures as well as the<br />

superposition approximation were chosen as the objects for investigation. The range<br />

of validity of these approaches was obtained by the use of experimental methods for<br />

analysis of spatial correlation of dust particles in plasma.<br />

A new technique for analyzing the pair interaction forces between dust<br />

particles is presented. The technique is based on a solution of the inverse problem<br />

describing the movement of dust particles by a system of Langevin equations. The<br />

first approbations of the proposed technique for analysis of intergrain interactions in a<br />

plasma of rf discharge are presented.<br />

This work was supported by the Research Program of the Presidium of the<br />

Russian Academy of Sciences ―Fundamentals of Basic Studies of Nanotechnologies<br />

and Nanomaterials‖ and by the Russian Foundation for Basic Research, Project No.<br />

10-02-90056 and Project No. 10-02-01428.<br />

88


ВОЗМУЩЕНИЕ ЕМКОСТНОГО ВЧ-РАЗРЯДА<br />

ВЫСОКОВОЛЬТНЫМ НАНОСЕКУНДНЫМ ИМПУЛЬСОМ<br />

М.Ю. Пустыльник 1 , Л. Ху 1 , А.В. Ивлев 1 , Х.М. Томас 1 , Г.Е. Морфилл 1<br />

Л.М. Василяк 2 , В.Е. Фортов 2<br />

1 Институт внеземной физики общества Макса Планка<br />

2 Объединенный институт высоких температур РАН<br />

Высоковольтные наносекундные импульсы являются в настоящие дни<br />

широко применяемым в физике <strong>низкотемпературной</strong> <strong>плазмы</strong> инструментом.<br />

Они используются, к примеру, для генерации так называемых<br />

высокоскоростных ионизационных волн [1], для инициирования химических<br />

реакций в реагирующих смесях [2], для создания пространственно однородного<br />

барьерного разряда в медицинских приложениях [3], для стабилизации разряда<br />

в CO2 лазерах [4].<br />

Были попытки применять короткие высоковольтные импульсы и для<br />

Рис. 1. Схема экспериментальной<br />

установки по исследованию<br />

комбинированного ВЧ- импульсного<br />

разряда.<br />

89<br />

манипуляции левитирующими в<br />

стационарной плазме пылевыми<br />

частицами. В отличие от обычно<br />

применяемых низкочастотных<br />

синусоидальных электрических полей,<br />

воздействие наносекундного импульса<br />

на фоновую плазму и опосредованно на<br />

пылевые частицы существенно<br />

нестационарно. Было<br />

продемонстрировано, что<br />

наносекундные импульсы оказывают<br />

существенное влияние на динамику<br />

пылевых частиц, левитирующих в<br />

плазме [5,6]. Однако, механизмы столь<br />

сильного воздействия остались<br />

невыясненными.


В настоящей работе исследуется возмущение, создаваемое<br />

наносекундным высоковольтным импульсом в плазме стационарного<br />

высокочастотного емкостного разряда. Экспериментальная установка сделана<br />

на основе стандартной вакуумной камеры GEC (Рис.1). Металлические<br />

электроды диаметром 150 мм находятся на расстоянии 54 мм. Высоковольтный<br />

электрод соединен через нагрузочный 50-омный резистор с землей. На ВЧ-<br />

электрод через блокирующий конденсатор подается синусосуидальное<br />

напряжение с частотой 13.56 МГц и амплитудой 30-40 В. Параметры<br />

высоковольтного импульса: длительность 20 нс, амплитуда 2-17 кВ, частота<br />

повторения до 1 кГц. Разряд создается в аргоне при давлениях 0.1-4 Па.<br />

Glow intensity [a.u.]<br />

4 ,5<br />

4 ,0<br />

3 ,5<br />

3 ,0<br />

2 ,5<br />

2 ,0<br />

1 ,5<br />

1 ,0<br />

0 ,5<br />

0 ,0<br />

-1 x1 0 -4<br />

-0 ,5<br />

0 1 x10 -4<br />

time [s]<br />

2x1 0 -4<br />

a m plitu d e 7.1 kV<br />

90<br />

pre ssu re<br />

0 .0 7 Pa<br />

0 .3 8 Pa<br />

1 .2 5 Pa<br />

3 x1 0 -4<br />

4 x10 -4<br />

Рис. 2. Эволюция свечения <strong>плазмы</strong> при разных давлениях газа.<br />

С помощью<br />

ФЭУ-модуля с<br />

полосой усиления в<br />

200 кГц измерялся<br />

временной ход<br />

интенсивности<br />

разряда (Рис. 2). Было<br />

обнаружено, что<br />

непосредственно<br />

после подачи<br />

высоковольтного<br />

импульса<br />

интенсивность излучения <strong>плазмы</strong> резко возрастает, однако затем она падает до<br />

значений много меньше интенсивности излучения стационарного ВЧ-разряда.<br />

Эта темная фаза продолжается несколько сотен мкс, после чего интенсивность<br />

возвращается на стационарный уровень. Продолжительность и глубина темной<br />

фазы растет с увеличением давления и амплитуды импульса.<br />

Одним из предполагаемых механизмов появления темной фазы было<br />

перераспределение ВЧ-напряжения между плазмой и внешней цепью<br />

вследствие избыточной ионизации и падения ВЧ-импеданса <strong>плазмы</strong> после<br />

импульса (по аналогии с [7]). Наблюдаемое падение ВЧ-напряжения составляет<br />

в данной схеме 20% и имеет длительность по порядку величины схожую с<br />

длительностью темной фазы. Однако, при увеличении импеданса внешней цепи,<br />

когда падение напряжения достигло 50%, эволюция свечения не претерпела


существенных изменений. Следовательно, внешняя цепь не оказывает<br />

существенного влияния на формирование темной фазы, и перераспределение<br />

ВЧ-полей (экранировка) происходит по всей видимости в самой плазме.<br />

Проводилось моделирование рассматриваемого воздействия методом<br />

крупных частиц в одномерном приближении, которое показало следующую<br />

картину происходящих в плазме процессов. При подаче импульса за несколько<br />

нс из разряда вытягиваются практически все электроны. Сильное электрическое<br />

поле ионного остова способствует повышенной ионизации. Даже если после<br />

импульса в разрядном промежутке не осталось ни одного электрона,<br />

затравочные электроны появляются вследствие вторичной ион-электронной<br />

эмиссии с электродов. За несколько мкс плотность <strong>плазмы</strong> увеличивается до<br />

значений, превышающих стационарное значение до 20 раз. Скачок<br />

концентрации <strong>плазмы</strong> увеличивается с увеличением давления и с уменьшением<br />

амплитуды импульса. Среда между электродами вновь становится<br />

квазинейтральной и релаксирует к равновесному состоянию за счет<br />

амбиполярной диффузии. Темная фаза наблюдается при давлениях 4 Па и выше.<br />

t=0<br />

t=5 ns<br />

t=10 ns<br />

t=15 ns<br />

Рис. 3. Изображения разряда после подачи<br />

высоковольтного импульса. Амплитуда импульса 7 кВ,<br />

давление 1,2 Па. Высоковольтный электрод находится<br />

внизу изображения.<br />

3) с разрешением в 2 нс показали отсутствие филаментации.<br />

91<br />

Для сравнения с<br />

результатами<br />

моделирования были<br />

проведены эксперименты, в<br />

которых для регистрации<br />

свечения использовалась<br />

ПЗС-камера с усилителем<br />

яркости. Было показано,<br />

что скачок интенсивности<br />

свечения растет с<br />

увеличением как давления,<br />

так и амплитуды импульса,<br />

что идет в разрез с<br />

результатами<br />

моделирования.<br />

Изображения разряда (Рис.


В качестве возможных причин расхождения модели и эксперимента на<br />

данный момент выдвигаются следующие: автоэмиссия электронов с острых<br />

краев электродов, двумерные транспортные эффекты (напр. перенос электронов<br />

с периферийных областей разряда), электромагнитные эффекты (напр.<br />

образование стоячей поверхностной волны за время импульса [8]).<br />

Литература:<br />

1. Василяк Л.М., Костюченко С.В., Кудрявцев Н.Н., Филюгин И.В.,<br />

Высокоскоростные волны ионизации при электрическом пробое// УФН, 1994,<br />

т.164, с.263-286<br />

2. S. M . Starikovskaia, Plasma assisted ignition and combustion//J. Phys. D 2006,<br />

V.39, R265-R299<br />

3. H. Ayan, G. Fridman, A. F. Gustol, V. N. Vasilets, A. Fridman, and G. Friedman,<br />

Nanosecond-Pulsed Uniform Dielectric-Barrier Discharge// IEEE Trans. Plasma Sci.,<br />

2008, V. 36, 504<br />

4. Василяк Л.М., Ветчинин С.П., Кадиева П.Г., Поляков Д.Н., Хотина А.В.,<br />

Влияние наносекундной ионизации на характеристики быстропроточного CO2<br />

лазера с самоподдерживающимся разрядом// Письма в ЖТФ, 2002, т.28, с.48-53<br />

5. Василяк Л.М., Ветчинин С.П., Поляков Д.Н., Фортов В.Е., Кооперативное<br />

формирование пылевых структур в плазме// ЖЭТФ, 2001, т.121, с.521-524<br />

6. M.Y. Pustylnik, A.V. Ivlev, H.M. Thomas, G.E. Morfill, L.M. Vasilyak, S.P.<br />

Vetchinin, D.N. Polyakov, V.E. Fortov, Effect of high-voltage nanosecond pulses on<br />

complex plasmas// Phys. Plasmas, 2009, V.16, 113705<br />

7. Дятко Н.А., Латышев Ф.Е., Мельников А.С., Напартович А.П., Исследование<br />

темной фазы в начальной стадии формирования положительного столба<br />

тлеющего разряда в неоне// Физика Плазмы, 2006, т.132, с.180-192<br />

8. P. Chabert, Electromagnetic effects in high-frequency capacitive discharges used<br />

for plasma processing// J. Phys. D, 2007, V.40, p. R63-R7<br />

92


ДИАГНОСТИКА ИОНОСФЕРНОЙ ПЛАЗМЫ НАД<br />

СПРАЙТАМИ НА СДВ-ТРАССАХ<br />

Институт физики Земли РАН<br />

С.Л. Шалимов<br />

Спрайты были открыты случайно 20 лет назад, когда молодой научный<br />

сотрудник Роберт Франс обрабатывал измерения, полученные с помощью<br />

оптической камеры, направленной в ночное небо штата Миннесота поверх<br />

дальних гроз. Неожиданно он обнаружил, что камера зарегистрировала две<br />

гигантские световые вспышки, осветившие на 30 мсек небо над грозами.<br />

Позднее эти высотные атмосферные разряды красноватого цвета,<br />

появляющиеся между грозовыми облаками и ионосферой, назовут «спрайтами»<br />

(red sprites). Ряд специально организованных экспериментальных исследований<br />

с помощью высокочувствительных телекамер позволил, в дополнение к<br />

спрайтам, открыть целое семейство оптических явлений, также ранее никому не<br />

известных, также связанных с грозами и возникающих между грозовыми<br />

облаками и ионосферой: гигантские струи, голубые струи (blue jets) и стартеры,<br />

красноватые эльвы (от elves, Emissions of Light and VLF perturbations due to<br />

Electromagnetic pulse Sources) и гало (halo) и др. Все они теперь объединены<br />

общим названием – кратковременные световые вспышки (Transient Luminous<br />

Events, TLE). Термин «кратковременные» подчеркивает, что электромагнитная<br />

жизнь этих явлений длится лишь мгновенье – всего сотые или тысячные доли<br />

секунды, и глаз человека не способен их увидеть. Однако TLE - это не просто<br />

красивые, подобно радуге, природные явления. Электромагнитное излучение<br />

молний и спрайтов способно производить дополнительную ионизацию верхней<br />

атмосферы и нижней ионосферы как непосредственно, так и опосредованно.<br />

Удобным методом дистанционного изучения воздействия грозовой<br />

активности на ионосферу служит регистрация амплитудно-фазовых<br />

характеристик сигналов ДВ и СДВ-радиостанций. Частоты этих сигналов (3-30<br />

кГц) таковы, что они способны распространяться на тысячи км (от передатчика<br />

до приемника) со слабым затуханием (~2 db на 1000 км) в естественном<br />

волноводе земля-ионосфера (отражение от верхней стенки волновода –<br />

93


ионосферы, происходит на высотах около 60 км днем и около 85 км ночью).<br />

Амплитуда и фаза сигналов является чувствительным индикатором состояния<br />

ионосферы.<br />

Пример опосредованного влияния молний на ионосферу,<br />

регистрируемый указанным методом - индуцированные молниевыми разрядами<br />

высыпания магнитосферных электронов в ионосферу (lightning-induced electron<br />

precipitation, LEP) – Тримпи-эффект. Механизм этого явления таков:<br />

электромагнитный импульс молнии распространяется в волноводе Земля-<br />

ионосфера, но часть этого излучения проникает в ионосферу и далее в<br />

магнитосферу, где распространяется на моде вистлеров. В экваториальной<br />

области магнитосферы вистлеры на частотах 1-10 кГц взаимодействуют<br />

посредством циклотронного резонанса с энергичными электронами (~100-300<br />

кэВ) радиационного пояса, приводя к их рассеянию по питч-углам и энергиям.<br />

Эти электроны попадают в конус потерь, и при своем баунс-движении<br />

начинают высыпаться в ионосферу (60-120 км), где при столкновениях с<br />

молекулами приводят к увеличению концентрации электронов. Такая<br />

модификация верхней стенки волновода Земля-ионосфера регистрируется как<br />

возмущение амплитудно-фазовых характеристик СДВ сигналов.<br />

Для Тримпи-эффекта характерна задержка начала возмущения (по<br />

амплитуде и фазе) СДВ сигнала приблизительно в 1 с относительно возвратного<br />

удара молнии (рис.1а). Задержка складывается из времени, которое необходимо<br />

для распространения вистлера до экваториальной области радиационного пояса<br />

и времени прохождения энергичного электрона (после его взаимодействия с<br />

вистлером) из экваториальной области до нижней ионосферы.<br />

Однако Армстронг в 1983 г., используя данные с высоким временным<br />

разрешением, обнаружил новый тип возмущений СДВ сигналов. Новое явление<br />

имело аналогичное с обычным Тримпи-эффектом время релаксации (~10-100 с),<br />

но характеризовалось очень малой (< 100 мс, предел разрешения аппаратуры в<br />

тех экспериментах) задержкой между возвратным ударом молнии и<br />

возникновением возмущения. Такая задержка свидетельствовала о прямом (а не<br />

опосредованном) воздействии молнии на ионосферу. Новое явление получило<br />

название «ранний» или «ранний/быстрый» Тримпи-эффект (early/fast, E/F VLF<br />

event, рис.1б). Здесь термин «быстрый» отмечает обычно быстрое (


университета) после открытия спрайтов. Несмотря на попытки предложить<br />

механизм этого явления, оно не понято до сих пор.<br />

Между тем, начиная с 2000 г., специальные кампании по исследованию<br />

TLE стали проводить и в Европе. Было сделано много открытий. Одно из них<br />

непосредственно связано с рассматриваемой темой корреляции возмущений на<br />

СДВ-трассах и спрайтами [1]. Кроме регистрации обычных явлений E/F VLF<br />

было замечено, что достаточно часто после спрайтов начало возмущения<br />

амплитуды и фазы, после малой (


Литература<br />

Рис.1<br />

Рис.2<br />

1. Haldoupis C., Steiner R.J., Mika A., Shalimov S., Marshall B., Inan U., Bosinger<br />

T., Neubert T. // J. Geophys. Res. 2006. V.11. NA11. CiteID A11321.<br />

2. Haldoupis, С., Mika, A., Shalimov, S. // J. Geophys. Res. 2009. V.114. A00E04,<br />

doi:10.1029/2009JA014313.<br />

96


О ПРИРОДЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ АНОМАЛИИ ПЛАЗМЫ<br />

ДИНАМО СЛОЯ АВРОРАЛЬНОЙ ИОНОСФЕРЫ<br />

Е.Е. Тимофеев 1 , С.Л. Шалимов 2,4 , М.К. Валлинкоски 3 , Й. Кангас 3<br />

1. Государственная морская академия им. адм. С.О. Макарова, С.-Петербург<br />

2. Институт физики земли им. О.Ю. Шмидта, РАН, Москва<br />

3. Отдел космофизики университета г. Оулу, Финляндия<br />

4 Институт космических исследований, РАН, Москва<br />

Введение. В работе [Timofeev et al., 2003] наряду с перегревом<br />

электронов, известным и ранее при величинах электрического поля,<br />

превышающих порог плазменной неустойчивости Фарлея-Бунемана (ФБ), был<br />

обнаружен эффект аномального охлаждения электронов при малых<br />

(допороговых) полях. Методом наложения эпох аномалия была выявлена по<br />

данным измерений, выполненных в 20-ти отдельных событиях, в течение<br />

весенних сезонов 1988 и 1989 гг. Поэтому осталось неясным возможно ли<br />

наблюдение такой аномалии в одном из реальных событий. Остались не<br />

исследованными и проявления аномалии на временных масштабах временного<br />

разрешением радаров (30-90 c). Заполнение указанных пробелов составляет<br />

цель настоящей работы. Еѐ материал составляют около 300 измерений<br />

электрического поля, а также температур ионов и электронов, выполненных с<br />

разрешением в 45 секунд радарами на высотах динамо слоя (ДС), в ходе<br />

авроральной суббури 23 марта 1988г.<br />

Результаты анализа. Как оказалось на масштабе временного<br />

разрешения радара рост одной из температур (Тэ или Ти) в подавляющем числе<br />

измерений сопровождался уменьшением другой. Высотный ход процента таких<br />

противофазных вариаций (ППВ) показан для события 23.03.1988 в Таблице 1.<br />

Высота (км) 101.6 106 110.4 114.8 119.2<br />

ППВ (%) 0 75 74 62 52<br />

Из-за огромной частоты столкновений на высоте 101.6 км любые вариации<br />

температур отсутствуют. По данным других событий отличными от нуля они<br />

становятся выше 102.2 км. Как видно процент максимален на высоте 106 км и<br />

97


�Te, K<br />

монотонно убывает с высотой. На рисунке 1 показаны диаграммы рассеяния<br />

временных вариаций Тэ и Ти на высотах (106±2.2) км в том же событии.<br />

200<br />

100<br />

0<br />

-100<br />

R= - 0.65<br />

18.58-19.16 UT<br />

-200<br />

-200 -100 0<br />

�Ti, K<br />

100 200<br />

a )<br />

dTe, K<br />

98<br />

200<br />

100<br />

0<br />

-100<br />

R= - 0.91<br />

19.35-19.53 UT<br />

-200<br />

-200 -100 0<br />

dTi, K<br />

100 200<br />

Рис. 1 а) и б)<br />

Диаграммы рассеяния временных вариаций температур ионов и электронов.<br />

Приведены прямые линейной регрессии, а также коэффициенты корреляции (в<br />

рамках). Методом скользящего среднего на материале ещѐ 15-ти подобных<br />

интервалов было предпринято изучение зависимости коэффициента корреляции<br />

от величины ионосферного электрического поля. При этом величина поля<br />

усреднялась за время интервала, а начало каждого последующего сдвигалось на<br />

5 длительностей импульса радара (~3,5 минуты). Результаты такого анализа,<br />

перекрывающие примерно часовой интервал представлены на рисунке 2.<br />

Коэффициент корреляции �Tи , �Tе<br />

1<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

0<br />

23 Марта 1988; Высота 106 км<br />

19:10:01 19:18:21 19:26:41 19:35:01 19:43:21 19:51:41 20:00:01<br />

Мировое время<br />

Рис.2<br />

Зависимость напряженности электрического поля (пунктирная линия) и<br />

коэффициента корреляции Тэ и Ти (сплошная линия) от мирового времени середины<br />

каждого из 17-ти интервалов, подобных данным на Рис.1<br />

30<br />

25<br />

20<br />

15<br />

10<br />

5<br />

Ионосферное электрическое поле, мВ/м<br />

б)


Как видно, при малых полях временной ход величины поля подобен<br />

поведению коэффициента корреляции (КК) температур. Однако, как только<br />

величина поля достигает, а затем и превышает порог ФБ-неустойчивости (около<br />

18 мВ/м), эти кривые становятся противофазными. Пороговый уровень поля<br />

отмечен на рисунке штрихпунктирной прямой. При величинах поля около 30<br />

мВ/м коэффициент корреляции температур практически равен нулю.<br />

Обсуждение результатов. По данным визуальных наблюдений [2] в<br />

рассматриваемом событии (23.03.88) отмечен весьма заметный уровень<br />

метеорных потоков. Этим фактом продиктована целесообразность включения<br />

пылевых макрочастиц в качестве третьей компоненты ионосферной <strong>плазмы</strong><br />

обсуждаемых ниже интерпретационных моделей. Микроскопические токи<br />

электронов и ионов и их рекомбинация на поверхности этих макрочастиц<br />

приводят к зарядке последних. В условиях ночной ионосферы и вследствие<br />

более высокой подвижности электронов частицы пыли заряжаются<br />

отрицательно. По нашим оценкам на высотах динамо слоя (ДС) выполняются<br />

условия зондового приближения [Фортов и др., 2010], что позволяет для<br />

типичных параметров ДС получить оценку характерного заряда макрочастицы<br />

Z d порядка десяти электронных зарядов. Отрицательный потенциал<br />

� � Z e / a , приобретаемый в результате зарядки макрочастицей с характерным<br />

s d<br />

размером а, приводит к тому, что для электронов с энергией � �� e�s<br />

заряженная микрочастица представляет потенциальный барьер. Поэтому<br />

присутствие пылевых частиц может привести к «изъятию» энергичных<br />

электронов, что должно приводить к охлаждению электронного газа. Очевидно,<br />

что охлаждение будет тем более заметным, чем больше концентрация пылевой<br />

компоненты <strong>плазмы</strong>, поскольку увеличение плотности пыли приводит к<br />

обеднению <strong>плазмы</strong> электронами, и, как следствие, к уменьшению высоты<br />

потенциального барьера. При этом концентрация пыли должна быть не менее<br />

10 3 см -3 , чтобы существенно влиять на электронную компоненту <strong>плазмы</strong><br />

ночного динамо слоя. Для создания столь значительных концентраций<br />

заряженной пыли нужны специальные условия. В качестве одного из них мы<br />

рассматриваем процесс сгонки ионов металлов в Es-слои, описываемый теорией<br />

вертикального ветрового сдвига [Axford, 1963]. Оценки в рамках этой модели,<br />

свидетельствуют, что требуемая для охлаждения электронной компоненты<br />

99


концентрация заряженной пыли в слое вполне достижима. Более тонкие<br />

температурные эффекты, связанные с образованием слоев Еs, рассмотрены в<br />

публикации [Тимофеев и др., 2010]. Реальность существования эффекта<br />

охлаждения электронов подтверждается результатами экспериментов в<br />

запылѐнной лабораторной плазме [Олеванов и др., 2003]<br />

На высоких широтах поперечная к геомагнитному компонента<br />

электрического поля играет в образовании спорадических слоев Е роль вполне<br />

сопоставимую с ветровым сдвигом [Nygren et al., 1984].<br />

Поэтому рост усредненной величины квазистационарного электрического поля<br />

может способствовать уплотнению слоев, дальнейшему охлаждению<br />

электронов и, следовательно, росту коэффициента антикорреляции (рис. 2).<br />

Литература:<br />

1. Timofeev E. et al., Материалы IV Российского семинара «Современные<br />

средства диагностики <strong>плазмы</strong> и их применение для контроля веществ и<br />

окружающей среды», М.: «МИФИ», 2003, с.64-65.<br />

2. Данные визуальных наблюдений метеорных потоков на сайте<br />

ИМО:http://www.imo.net/data/visual.<br />

3. Фортов В. Е., Храпак Ф.Г., Якубов И.Т. Физика неидеальной <strong>плазмы</strong>. М.<br />

Физматлит. 2010<br />

4. Axford W.I. // J. Geophys. Res. 1963. V.68. P.769.<br />

5. Тимофеев и др. Материалы VII Всероссийской конференции «Современные<br />

средства диагностики <strong>плазмы</strong> и их применение для контроля веществ и<br />

окружающей среды», М.: НИЯУ МИФИ, 2010, (этот сборник).<br />

6. Олеванов М.А., Манкелевич Ю.А., Рахимова Т.В. // ЖЭТФ, 2003, т.123, с.503-<br />

517.<br />

7. Nygren et al. // JATP. 1984. V.46. P.373.<br />

100


ТЕПЛОВЫЕ СТРУКТУРЫ ПЛАЗМЫ ПОЛЯРНОЙ<br />

ИОНОСФЕРЫ КАК ПРОЯВЛЕНИЕ НЕУСТОЙЧИВОСТИ<br />

ЭКМАНОВСКОГО ТИПА<br />

Е.Е. Тимофеев 1 , С.Л. Шалимов 2,5 , О.Г. Чхетиани 3,5 , М.К. Валлинкоски 4 ,<br />

Й. Кангас 4<br />

1. Государственная морская академия им. адм. С.О. Макарова,С.-Петербург<br />

2. Институт физики земли им. О.Ю. Шмидта, РАН, Москва<br />

3. Институт физики атмосферы им. А.М. Обухова, РАН, Москва<br />

4. Отдел космофизики университета г. Оулу, Финляндия<br />

5 Институт космических исследований, РАН, Москва<br />

Введение. В суточном ходе аномалии охлаждения электронов динамо<br />

слоя (ДС) ионосферы в работе [Timofeev et al., 2006] была выявлена<br />

полусуточная приливная гармоника. Как оказалось, такое совпадение не<br />

случайно. Дальнейшие исследования аномалии [Тимофеев и др., 2010] привели<br />

к обнаружению систематической антикорреляции во временных вариациях<br />

температур электронов и ионов (с амплитудами порядка средних температур) и<br />

было показано, что антикорреляция может быть обусловлена присутствием<br />

пылевой компоненты <strong>плазмы</strong> на указанных высотах при еѐ одновременной<br />

аккумуляции в так называемые спорадические слои Е. В той же работе по<br />

данным около 300 радарных измерений параметров ДС, выполненных для<br />

события 23 марта 1988 г., были выявлены гармоники с временными масштабами<br />

от 2-х часов (21 - 23 MLT) до получаса (19.27-57; 21.27-57 UT), а также от 4.5<br />

мин вплоть до масштаба временного разрешения радара (45 с). С учѐтом<br />

средней скорости горизонтальных ионосферных ветров на нижнем пределе это<br />

даѐт пространственные масштабы 9 и даже 1.5 км. Подобная иерархия структур,<br />

с которой связываются вариации температур <strong>плазмы</strong>, может быть обусловлена<br />

неустойчивостью экмановского типа для профиля ветра с точкой перегиба<br />

[Чхетиани и Шалимов, 2010], который как раз имеет место на высоте ДС во<br />

время формирования спорадических слоев Е.<br />

Результаты анализа. Очевидно, что в условиях огромного разброса<br />

температур ионов (Ти) и электронов (Тэ) динамо слоя (ДС) целесообразно<br />

101


работать со средними величинами температур, а также их стандартными<br />

отклонениями. Для серии измерений с 18.45 до 23.45 UT в событии 23.03.1988<br />

высотный ход разности (Ти – Тэ), усреднѐнной по 4-ѐм интервалам величины<br />

электрического поля иллюстрируется данными Таблицы 1.<br />

Высота\Эл.поле 0 - 10 10 - 15 15 - 25 25 - 45<br />

101.6 � 2.5 0 0 0 0<br />

106 � 2.5 53 61 46 33<br />

110.4 � 2.5 33 24 30 15<br />

Высоты даны в километрах, интервалы изменения поля в мВ/м. Меньшая<br />

величина 2-го из них выбрана с целью выравнивания статистической<br />

значимости результатов во всех интервалах. Как видно величина аномального<br />

охлаждения электронов (Ти –Тэ) достигает максимума (61 К) во 2-ом интервале<br />

на высоте 106 км. При этом величины стандартного отклонения для Ти и Тэ<br />

составили 30 и 51 К соответственно. Поэтому дальнейшее изучение<br />

особенностей аномалии целесообразно ограничить высотами 106�2.5 км.<br />

Поведение средних Тэ и Ти дано в 4-ѐх интервалах изменения поля в Таблице 2.<br />

Электрич. поле 0 - 10 10 - 15 15 - 25 25 - 45<br />

Ти 207 210 201 204<br />

Тэ 153 149 155 170<br />

Как видно из Таблицы 2 при переходе от 1-го ко 2-му интервалу средний<br />

уровень Ти растѐт, а Тэ - падает. Такое противофазное поведение температур<br />

здесь проявляется на масштабе в три четверти часа. На рисунке 1 подобный<br />

пример показан уже на масштабе времени разрешения радара (45 c).<br />

Рисунок 1<br />

Вариации Тэ и Ти в серии 17-ти последовательных импульсах радара.<br />

102


Более крупный 4.5 минутный масштаб был выделен по поведению двух<br />

кластеров из 6-ти импульсов, (со 2-го по 6-ой) и (с 8-го по 13-ый). Оказалось,<br />

что по истечении каждого из них обе величины Тэ и Ти возвращались к<br />

значениям температур средних для всего 20-ти минутного интервала. Отметим,<br />

что вся эта серия принадлежит к интервалу максимально жесткой<br />

антикорреляции (см. рис. 1б работы [Тимофеев и др., 2010]).<br />

Обсуждение. Для объяснения эффекта антикорреляции температур на<br />

разных масштабах рассмотрим условия формирования спорадических слоев Е<br />

(Еs) на высотах 100-110 км. Как известно, процесс формирования слоев<br />

описывается в рамках теории ветрового сдвига [Axford, 1963], согласно которой<br />

ионы в ДС (особенно долгоживущие ионы металлов) могут собираться в тонкие<br />

слои под действием ветрового сдвига (шира скорости) и силы Ампера. Этот<br />

процесс происходит периодически в основном с периодом полусуточного<br />

прилива [Haldoupis et al., 2006]. Однако современные наблюдения<br />

(использующие когерентные радары и лидары) показывают, что в нижней<br />

ионосфере (на высотах от 90 до 120 км) часто присутствуют (как в нейтральной,<br />

так и в плазменной компоненте) упорядоченные (квазипериодические) и<br />

вихревые структуры (типа роллов) с горизонтальной осью ориентированной под<br />

углом к зональному направлению [Hysell et al., 2004; Larsen et al., 2004]. Эти<br />

структурные образования имеют пространственные масштабы по вертикали<br />

порядка 5-6 км, горизонтальные – порядка 10 км и временные масштабы (время<br />

жизни) 1-3 часа. По своим масштабам и ориентации указанные структуры<br />

имеют сходство с образованиями, которые формируют квазипериодические<br />

радиоотражения от дрейфующих со скоростью ветра слоев Еs [Hysell et al.,<br />

2004]. Иными словами, слои Еs на самом деле не являются сплошными, а<br />

представляют собой чередующиеся области фоновой и более плотной (внутри<br />

роллов, действующих подобно ветровому сдвигу), чем фоновая, <strong>плазмы</strong>.<br />

В работе [Чхетиани и Шалимов, 2010] было показано, что на высотах ДС<br />

возможно развитие так называемых неустойчивостей экмановского типа,<br />

которые и приводят к образования наблюдаемых структур типа роллов. Для нас<br />

важно, что заряженная пыль, присутствующая на этих высотах, подвержена<br />

действию тех же сил, что и ионы металлов. Поэтому внутри роллов образуется<br />

повышенная концентрация заряженной пылевой компоненты и, как следствие еѐ<br />

влияния на плазму, внутри роллов температура электронов будет ниже фоновой<br />

103


[Тимофеев и др. 2010]. Таким образом, дрейфующие мимо луча радара<br />

пространственные структуры указанных масштабов будут иметь разные<br />

температурные характеристики. Обнаруженная по температурным измерениям<br />

иерархия масштабов устанавливается вследствие нелинейной эволюции<br />

неустойчивости экмановского типа.<br />

Литература:<br />

1. Timofeev E. et al., Материалы V Российского семинара «Современные<br />

средства диагностики <strong>плазмы</strong> и их применение для контроля веществ и<br />

окружающей среды», М.: НИЯУ «МИФИ», 2006, с.96-97.<br />

2. Тимофеев Е.Е. и др. Материалы VII Российской конференции «Современные<br />

средства диагностики <strong>плазмы</strong> и их применение для контроля веществ и<br />

окружающей среды», М.: НИЯУ МИФИ, 2010, (этот сборник).<br />

3. Чхетиани О., Шалимов С.// ДАН, 2010. Т.431. С.113.<br />

4. Axford W.I. // J. Geophys. Res. 1963. V.68. P.769.<br />

5. Haldoupis C. et al. // J. Atm. Solar-Terr. Phys. 2006. V.68. P.539.<br />

6. Hysell et al. // Ann. Geophys. 2004. V.22. P.3277.<br />

7. Larsen et al. // J. Geophys. Res. V. 109, D02S04, doi: 10.1029/ 2002JD003067,<br />

2004.<br />

104


СПУТНИКОВЫЙ ЭКСПЕРИМЕНТ «ФОКА» ПО<br />

РЕГИСТРАЦИИ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО И<br />

ЭКСТРЕМАЛЬНОГО УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ<br />

СОЛНЕЧНОЙ ПЛАЗМЫ<br />

Ю.Д. Котов, А.В. Кочемасов, А.С. Гляненко, В.Н. Юров, А.И. Архангельский<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

С февраля по декабрь 2009 года на борту спутника КОРОНАС-ФОТОН<br />

при помощи радиометра ФОКА (рис.1) проводились измерения солнечного<br />

мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового излучения.<br />

Измерения осуществлялись в трех спектральных диапазонах: 0,5-11 нм,<br />

27-37 нм и 116-125 нм (в линии Лайман-альфа водорода121,6 нм). Во время<br />

захода спутника в тень Земли и выхода из нее осуществлялись оккультационные<br />

измерения, т.е. измерения поглощения излучения верхними слоями атмосферы<br />

Земли.<br />

В качестве детекторов в приборе<br />

использовались кремниевые фотодиоды с<br />

напыленными на поверхность фильтрами из Ti и<br />

Pd (для диапазона 0,5-11 нм), Cr и Al (для<br />

27-37 нм) и с внешними интерференционными<br />

фильтрами на основе MgF2 для измерения<br />

Лайман-альфа излучения. Фильтры обеспечивали<br />

формирование необходимых диапазонов<br />

чувствительности каналов прибора, а также<br />

подавление очень яркого видимого излучения Солнца на 7-8 порядков. Перед<br />

запуском детекторы были абсолютно откалиброваны на синхротронных<br />

источниках в рабочих спектральных окнах.<br />

Для оценки стабильности фотодетекторов в полете каждый канал<br />

прибора ФОКА был снабжен дублером, который большую часть времени был<br />

105<br />

Рис. 4 Блок детекторов<br />

прибора ФОКА


закрыт и открывался приблизительно раз в две недели на непродолжительное<br />

время для сравнения с основным.<br />

На протяжении всего времени работы спутника (порядка 10 месяцев)<br />

прибор полностью сохранял работоспособность, однако, было обнаружено<br />

увеличение чувствительности в основном канале Лайман-альфа на ~30%. За<br />

время проведения эксперимента были получены профили солнечного излучения<br />

в условиях очень слабой активности Солнца в минимуме одиннадцатилетнего<br />

цикла, измерены профили в имевших место слабых солнечных вспышках<br />

(нескольких десятков вспышек класса С и ниже), получено несколько тысяч<br />

кривых оккультационного поглощения.<br />

Литература:<br />

1. Котов Ю.Д., Кочемасов А.В., Гляненко А.С., Юров В.Н.,<br />

Архангельский А.И., «Первые результаты эксперимента ФОКА по<br />

регистрации солнечного жесткого ультрафиолетового излучения», рабочее<br />

совещание по проекту «КОРОНАС-ФОТОН» «Первые этапы летных<br />

испытаний и выполнение программы научных исследований», г. Таруса,<br />

Калужская обл., 22-24 апреля, 2009. Опубликовано в трудах рабочего<br />

совещания М., 2010, с 119–127.<br />

106


ИЗМЕРЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК<br />

ЛАЗЕРНОИНДУЦИРОВАННЫХ ПЛАЗМЕННЫХ ФАКЕЛОВ<br />

МЕТАЛЛОВ С ВЫСОКИМ ВРЕМЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ<br />

В.К. Гончаров, К.В. Козадаев, Д.В. Щегрикович<br />

НИУ «Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко<br />

Белорусского государственного университета»<br />

Для изучения динамики эрозионных лазерных факелов (ЭЛФ) металлов с<br />

высоким временным разрешением была применена экспериментальная лазерная<br />

установка, принципиальная схема которой приведена на рис.1. Функционально<br />

данную установку можно разделить на несколько блоков: генерации<br />

воздействующих импульсов, генерации зондирующих импульсов, регистрации<br />

компонент зондирующего излучения и синхронизации.<br />

1 - система синхронизации; 2 - вращающаяся призма полного внутреннего<br />

отражения с возможностью генерации синхронизирующего импульса; 3 –<br />

неодимовый лазер; 4 – полупрозрачное зеркало (на 1064 нм);; 5, 7 и 15 –<br />

ответвляющие плоскопараллельные кварцевые пластинки; 6 – подвижная<br />

линза; 8, 10, 21 ,22 – фотодетекторы: 9 – калориметр; 11 - компьютер с<br />

блоком АЦП; 12 - интегрирующая сфера; 13 – мишень; 14 – эрозионный<br />

лазерный факел; 16, 17 – поворотные призмы; 18 - 20 –рубиновый лазер в<br />

конфокальном резонаторе<br />

Рисунок 1. Принципиальная схема экспериментальной установки для изучения<br />

процессов, протекающих в эрозионных лазерных факелах<br />

107


Блок генерации воздействующего излучения представлен стандартной<br />

лазерной установкой ГОС 1001, работающей в режиме модуляции добротности<br />

резонатора вращающейся призмой полного внутреннего отражения.<br />

Длительность воздействующего излучения составляет 100 нс, энергия 2-3 Дж,<br />

что при фокусировке в пятно с диаметром 1 мм позволяет получать плотности<br />

мощности 1-2 ГВт/см 2 . Контроль параметров ЭЛФ осуществлялся с помощью<br />

методики лазерного зондирования. В настоящем эксперименте использовались<br />

мишени из цинка, свинца и серебра. Данные металлы сильно отличаются по<br />

своим теплофизическим параметрам, что позволяет на качественном уровне<br />

понять основные закономерности поведения плазменного факела в целом для<br />

металлов.<br />

Изучение временной формы интегральной светимости ЭЛФ при<br />

воздействии субмикросекундных (100 нс) импульсов с плотностью мощности<br />

10 8 -10 9 Вт/см 2 на различные типы металлических мишеней показывает, что<br />

свечение плазменного образования достигает своего максимума уже на спаде<br />

интенсивности воздействующего импульса отставая от максимума<br />

воздействующего излучения на 70-100 нс в зависимости от типа металла (см.<br />

рис 2).<br />

При этом вся энергия переднего фронта воздействующего импульса<br />

беспрепятственно доходит до поверхности мишени. Следует заметить, что<br />

первоначально высокий коэффициент отражения на длине волны<br />

воздействующего импульса (для металлов 0,8-0,99) при интенсивном<br />

воздействии быстро снижается, при этом интегральная доза поглощенного<br />

излучения может доходить до 50% от энергии, дошедшей до поверхности<br />

мишени.<br />

При исследовании временной формы прозрачности (обратной<br />

экстинкции) ЭЛФ на высоте 1 мм (см. рис. 2) прослеживается схожая<br />

закономерность: через 30-50 нс после максимума интенсивности<br />

воздействующего импульса потери зондирующего излучения достигают своего<br />

наибольшего значения. Это означает, что через ~50нс после начала воздействия<br />

108


а б в<br />

Рисунок 2. Временные формы: 1,2 – прозрачности факела для зондирующего<br />

излучения на высоте 1 и 2 мм соответственно, 3 – интегрального свечения<br />

факела, 4 – воздействующего импульса; для а) цинка, б) свинца и в) серебра.<br />

Плотность мощности воздействующего импульса 2 ГВт/см 2 .<br />

(указанный промежуток времени сопоставим с длительностью фронта<br />

нарастания интенсивности воздействующего излучения) происходит<br />

формирование плазменного образования и его продвижение в направлении,<br />

перпендикулярном поверхности мишени. Измерение прозрачности на высоте 2<br />

мм позволяет по результатам сравнения с данными зондирования на высоте 1<br />

мм оценить скорость распространения ЭЛФ – она составляет 8-20 км/с в<br />

зависимости от типа металлической мишени.<br />

В процессе своей эволюции плазменное образование начинает активно<br />

поглощать излучение на заднем фронте воздействующего импульса, что<br />

приводит к быстрому увеличению параметров <strong>плазмы</strong> и возрастанию ее<br />

непрозрачности, о чем говорит нарастание интегрального свечения факела и<br />

увеличение потерь зондирующего излучения. Это можно объяснить эффектом<br />

обратного тормозного поглощения оптического излучения (как<br />

воздействующего, так и зондирующего) в плазме на свободных носителях<br />

заряда. Как правило, максимум свечения ЭЛФ приходится на 120-150 нс после<br />

начала воздействия. Приблизительно через такой же промежуток времени от<br />

начала воздействия (80-100 нс) достигают своего максимума потери<br />

зондирующего излучения на высоте 1 мм от поверхности мишени.<br />

Как видно из формы интегрального свечения ЭЛФ для разных металлов<br />

(см. рис.2), тенденция уменьшения значения данного параметра несколько<br />

затянута по сравнению со спадом интенсивности лазерного импульса (см. рис.<br />

109


2). Если спустя 500 нс после начала воздействия интенсивность лазерного<br />

излучения находится на уровне ~10% от максимального значения, то подобного<br />

уровня интегральное свечение достигает лишь спустя 2 мкс после начала<br />

воздействия. Это говорит о достаточно медленном остывании ЭЛФ за счет<br />

адиабатического разлета <strong>плазмы</strong>.<br />

Результаты проведенных исследований показывают, что при воздействии<br />

на металлы высокоинтенсивных субмикросекундных лазерных импульсов<br />

образуются плазменные потоки, активно взаимодействующие с падающим<br />

излучением. Поэтому применение для обработки металлов лазерных импульсов<br />

с указанными характеристиками перспективно лишь в случае достаточно малой<br />

их длительности (50–100 нс). В противном случае основная часть энергии<br />

действующего импульса не доходит до поверхности мишени и расходуется на<br />

повышение параметров образующейся <strong>плазмы</strong>.<br />

110


ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ, СПЕКТРАЛЬНЫХ<br />

И КОГЕРЕНТНЫХ СВОЙСТВ ПУЧКА МЯГКОГО<br />

РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ЛАЗЕРА НА СВОБОДНЫХ<br />

ЭЛЕКТРОНАХ ЗА ОДНО ИЗМЕРЕНИЕ ДИФФРАКЦИОННОЙ<br />

КАРТИНЫ.<br />

А.Н. Митрофанов 1,2 , А.Я. Фаенов 2 ,А.В. Виноградов 1 , Т.А. Пикуз 2<br />

1.<br />

Учреждение Российской Академии Наук Физический институт им. П.Н.<br />

Лебедева РАН.<br />

2.<br />

Учреждение Российской Академии Наук Объединенный институт высоких<br />

температур РАН.<br />

Если лазерная абляция вещества и разогрев <strong>плазмы</strong> до термоядерных<br />

температур в последние 50 лет интеснивно изучались для лазеров с различными<br />

длительностями импульса и с длинами волн, лежащих в ИК или видимой<br />

области спектра, то исследования особенностей нагрева вещества<br />

рентгеновскими импульсами стали возможными только на протяжении<br />

последних пяти лет в связи с быстрым развитие способов генерации коротких<br />

импульсов лазерного рентгеновского излучения (высоких гармоник импульсов<br />

фемтосекундных лазеров, плазменных рентгеновских лазеров, рентгеновских<br />

лазеров на свободных электронах). Такие рентгеновские лазеры начинают также<br />

применятся и для получения изображений различных нано объектов, в том<br />

числе и биологических с высокой степенью разрешения. Оптимизация<br />

использования рентгеновских лазеров для всех приложений существенно<br />

зависит от качества генерируемого пучка. Поскольку рентгеновские источники<br />

лазерного излучения развиваются хотя и недавно, но достаточно стремительно<br />

необходимо создание высокоэффективных методов и средств диагностики<br />

таких пучков, в частности, позволяющих проводить прецизионные измерения<br />

пространственных, спектральных и когерентных характеристик. В данной<br />

работе описан метод, позволяющий получить распределение этих свойств за<br />

одну вспышку лазерного излучения.<br />

111


В качестве источника мягкого рентгеновского излучения использовался<br />

лазер на свободных электронах (self-amplified spontaneous emission-free electron<br />

laser) разработанный в Японии (SPring-8 Compact SASE Source) [1,2] . Лазерный<br />

пучок с энергией до 11 �Дж, длительностью ~300 фс и длинами волн 51-62 нм<br />

распространялся в вакуумной системе (cм. Рис. 1). На пути пучка на расстоянии<br />

16.3 м от источника ставилась металлическая сетка с периодом 350 мкм и<br />

толщиной проволоки 36 мкм. На расстоянии 26 мм от сетки был расположен<br />

детектор из кристалла LiF, который обладал высоким динамическим<br />

диапазоном регистрации, высокой чувствительностью и позволял<br />

регистрировать мягкое рентгеновское излучение с пространственным<br />

разрешением ~0.6<br />

�м за одну вспышку лазерного излучения [3]. Дифракционная картина,<br />

полученная<br />

Рис. 1 . Схема эксперимента.<br />

детектором в каждой ячейке сетки (Рис. 2), затем, сравнивалась с<br />

дифракционной картиной, полученной с помощью численного моделирования<br />

(Рис. 3). Подбирая параметры моделирования и добиваясь наилучшего<br />

112


совпадения с экспериментом можно восстановить параметры<br />

экспериментального пучка для каждой ячейки сетки.<br />

Рис.2. Дифракционная картина Рис.3. Дифракционная картина<br />

полученная детектором.<br />

полученная с помощью численного<br />

моделирования.<br />

На Рис. 4 изображены экспериментальное распределение интенсивности<br />

(синяя линия) и распределение интенсивности, полученное моделированием<br />

(красная линия) вблизи одной из проволок. Численное моделирование<br />

проводилось при следующих параметрах: толщина проволоки d = 36.5<br />

мкм, расстояние от сетки до детектора z = 26 мм, длина волны λ = 52 нм, длина<br />

пространственной когерентности Lc= 100 мкм. Для сравнения<br />

эксмериментального и расчетного распределений использовалась величина δ,<br />

характеризующая среднее отклонение расчетного распределения от<br />

экспериментального на отрезке x=[-150,0]. При данных параметрах величина δ<br />

= 0.045.<br />

113


Рис. 4. Экспериментальное<br />

распределение интенсивности (синяя<br />

линия) и распределение интенсивности,<br />

полученное моделированием (красная<br />

линия) вблизи одной из проволок (d =<br />

36.5 мкм, z = 26 мм, λ = 52 нм).<br />

114<br />

Рис. 5. Зависимость δ от толщины<br />

проволоки (z = 26 мм, λ = 52 нм).<br />

Моделирование распространения пучка производилось с помощью<br />

параболического волнового уравнения:<br />

2 2<br />

�u<br />

� u � u<br />

2ik � � � 0.<br />

2 2<br />

(1)<br />

�z<br />

�x<br />

�y<br />

Зная распределение поля в плоскости z=0 можно найти распределение<br />

поля во всем пространстве:<br />

�<br />

2<br />

2<br />

k<br />

� �x ��<br />

� � �y ���<br />

�<br />

u( x,<br />

y,<br />

z)<br />

� u0(<br />

�,<br />

�)<br />

exp �ik<br />

�d�d�. 2�iz<br />

�<br />

(2)<br />

� 2z<br />

��<br />

�<br />

Пространственная когерентность моделировалась с помощью разбиения<br />

волнового фронта на отдельные участки, которые коррелировали между собой<br />

согласно функции корреляции. Функция корреляции бралась в виде<br />

распределения Гаусса.<br />

Для определения чувствительности метода к изменению параметров в<br />

модели были изменены по очереди все параметры. Полученное распределение<br />

интенсивности сравнивалось с исходным экспериментальным распределением<br />

(с неизменѐнными параметрами). На Рис. 5 отображена зависимость δ от<br />

толщины проволоки, на Рис. 6 - зависимость δ от расстояния от сетки до<br />

детектора, и на Рис. 7 - зависимость δ от длины волны. Видно, что даже при<br />

незначительном отклонении параметров от оптимальных (менее 10%) величина<br />

δ значительно увеличивается.


Рис. 6. зависимость δ от расстояния<br />

от сетки до детектора (d = 36.5<br />

мкм, λ = 52 нм).<br />

115<br />

Рис.7. зависимость δ от длины волны (d<br />

= 36.5 мкм, z = 26 мм).<br />

Метод также позволяет определить спектральную ширину линии пучка.<br />

В данном случае она составляет � 1 нм, что хорошо совпадает с данными<br />

измерения спектральной ширины лазерной генерации, измеренной с помощью<br />

другого метода.<br />

Таким образом, в настоящей работе экспериментально и теоретически<br />

продемонстрировано, что предложенный метод позволяет с точностью лучшей<br />

чем 10 % измерять распределение по сечению пучка интенсивности,<br />

когерентноси, а также спектральных характеристик пучков рентгеновских<br />

лазеров.<br />

Литература:<br />

1. Inagaki T., Imoue S., Ishi M. et al. A compact free-electron laser for<br />

generating coherent radiation in the extreme ultraviolet region.// Nature<br />

Photonics,2008, т.2, с. 555<br />

2. Faenov A.Ya., Kato Y., Tanaka M., et al., Submicrometer-resolution in situ<br />

imaging of the focus pattern of a soft x-ray laser by color center formation in<br />

LiF crystal// Optics Letters, 2009, т. 34, с.941


ИССЛЕДОВАНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕКТРОВ<br />

МНОГОЗАРЯДНЫХ ИОНОВ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ<br />

В. А. Бураков 1 , М. В. Осипов 2 , В. Н. Пузырев 2 , А.Н.Стародуб 2 , О. Ф. Якушев 2<br />

1. Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

2. Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН<br />

Одной из задач физики <strong>плазмы</strong> является изучение состояния <strong>плазмы</strong><br />

путем измерения ее параметров: температуры, концентрации заряженных и<br />

нейтральных частиц, распределения различных частиц по возбужденным<br />

состояниям, а также нахождение пространственного распределения этих<br />

параметров. Лабораторная лазерная плазма может быть химически однородна, а<br />

ее плотность меняться от сравнимой с плотностью твердого тела до вакуума [1].<br />

В столь широком диапазоне параметров изучаемых объектов<br />

спектроскопические методы исследования являются наиболее универсальными,<br />

а зачастую (в случае астрофизической <strong>плазмы</strong>) и единственно возможными. По<br />

общей структуре спектра уже можно сделать качественные выводы о<br />

присутствии того или иного элемента, а степень ионизации элемента<br />

характеризует по порядку величины температуру исследуемой <strong>плазмы</strong>.<br />

Мягкий рентгеновский диапазон электромагнитного излучения, к<br />

которому условно можно отнести область длин волн от 10 до 300 Å, в<br />

последние десятилетия стал активно осваиваться для различных приложений в<br />

науке и технике. Созданные на основе высоких технологий специальные<br />

рентгенооптические системы позволили расширить и найти новые области<br />

применения рентгеновского излучения. Примером могут являться<br />

рентгеновская микроскопия и литография, астрофизика и материаловедение,<br />

биология и медицина [2]. В МР диапазоне лежит максимум излучательной<br />

способности <strong>плазмы</strong> с температурой от сотен электронвольт до нескольких<br />

килоэлектронвольт. Отсюда ясны значения МР диапазона в работах по<br />

диагностике <strong>плазмы</strong> и важность совершенствования методов регистрации и<br />

анализа энергетического состава мягкого рентгеновского излучения.<br />

116


Таким образом, одним из перспективных методов диагностики лазерной<br />

<strong>плазмы</strong> является регистрация потоков квантов в мягком рентгеновском<br />

диапазоне с пространственным и энергетическим разрешением. В данной работе<br />

основное внимание будет посвящено рассмотрению рентгеновских спектров<br />

многозарядных ионов лазерной <strong>плазмы</strong> в МР диапазоне спектра. Целью<br />

исследований, при этом, является не только идентификация спектральных<br />

линий, но и установление механизмов возбуждения рентгеновского спектра, т.<br />

е. идентификация физических процессов в источнике излучения.<br />

Эксперименты проводились на лазерной установке «Канал–2»,<br />

представляющей собой одноканальный лазер, построенный по принципу<br />

формирования в задающем генераторе импульса с согласованной с<br />

характеристиками мишени пространственной и временной когерентностью и<br />

последующим усилением его в цепи последовательных усилительных каскадов<br />

стержневого типа, созданных на базе промышленных активных элементов из<br />

силикатного стекла [3]. Основные параметры лазерного импульса следующие:<br />

длина волны излучения 1,06 мкм, длительность импульса �и – 2,5 нс, энергия<br />

импульса �L – (50 – 100) Дж, плотность мощности излучения 10 12 -10 14 Вт /см 2 .<br />

В ходе выполнения данного цикла экспериментов был создан<br />

диагностический комплекс для исследования параметров <strong>плазмы</strong> в<br />

рентгеновском диапазоне спектра, состоящий из 3-х диагностических каналов:<br />

� Канал, на основе камеры-обскуры, обеспечивающий регистрацию<br />

изображения <strong>плазмы</strong> с пространственным разрешением ~ 16 мкм в<br />

спектральном диапазоне ≤ 1 Å;<br />

� Канал регистрации изображения <strong>плазмы</strong> с высоким пространственным<br />

разрешением (~ 0.2 мкм) в спектральном диапазоне 180-200 Å на основе<br />

объектива Шварцшильда;<br />

� Канал регистрации рентгеновских спектров <strong>плазмы</strong> на основе<br />

спектрографа скользящего падения.<br />

В данной работе мы подробнее остановимся на работе и результатах,<br />

полученных с помощью третьего канала регистрации.<br />

Спектрограф скользящего падения [4] представляет собой прибор,<br />

предназначенный для проведения спектральных исследований в мягком<br />

рентгеновском и вакуумно-ультрафиолетовом диапазоне спектра излучения<br />

117


<strong>плазмы</strong>. Конструктивно спектрограф состоит из дифракционной решетки<br />

скользящего падения и металлического корпуса. В спектрографе использована<br />

внероуландовская схема регистрации спектров. Излучение, падающее на<br />

дифракционную решетку, разлагается в спектр и регистрируется на фокальной<br />

поверхности, перпендикулярной к дифрагированным лучам. При этом,<br />

идеальная фокусировка осуществляется только для одной длины волны λ0,<br />

соответствующей точке пересечения плоскости регистрации с кругом Роуланда,<br />

однако, благодаря малой угловой апертуре спектрографа, запись спектра<br />

возможна в достаточно широком спектральном диапазоне λ0 ± ∆λ. Величина ∆λ<br />

связана с наблюдаемым спектральным разрешением λ/δλ – чем шире диапазон<br />

∆λ, тем меньше величина λ/δλ, вызванная дефокусировкой. Настройка на разные<br />

длины волн λ0 производится изменением расстояния между плоскостью<br />

регистрации и решеткой. В данном спектрографе используется съемная<br />

дифракционная решетка 600 штр/мм радиусом кривизны 1 м. Вывод данных<br />

осуществляется на компьютер.<br />

Основные параметры спектрографа:<br />

– диапазон длин волн – 20 ÷ 400 Å;<br />

– макс. спектральная разрешающая сила – 300;<br />

– спектральное разрешение λ/δλ – 50 ÷ 300;<br />

– угол скольжения, падающего излучения на решетку – 4º;<br />

– габаритные размеры дифракционных решеток, мм – 10х20х30;<br />

– габаритные размеры спектрографа, мм – 250х50;<br />

Для регистрации интегральных по времени спектров использовалась ПЗС<br />

– матрица TCD1304A с люминофором на базе GdO. Размер гранулы равнялся 3<br />

мкм, размеры ячейки равнялись 8х200 мкм.<br />

Использование внероуландовской схемы регистрации позволило<br />

значительно упростить процедуру установки и юстировки прибора. В<br />

используемой схеме спектрограф был съюстирован таким образом, чтобы<br />

центральная длина волны составляла �0 = 80 Å. Спектральный интервал, в<br />

котором дефокусировка отсутствовала, был не меньше 50 Å.<br />

В представленных экспериментах лазерному воздействию подвергались<br />

мишени различного химического состава и структуры, в частности,<br />

твердотельные, пористые мишени и мишени из нанокластеров металлов.<br />

118


Твердотельные мишени представляли собой металлическую фольгу<br />

толщиной от 100 мкм до 500 мкм из алюминия и гадолиния. Другой тип<br />

мишеней представлял собой пористую структуру с объѐмной плотностью 4<br />

мг/см 3 . Пористая структура достигается хаотическим распределением волокон<br />

(нитей) в пространстве. В качестве материала волокон используется триацетат<br />

целлюлозы. Толщина таких мишеней в наших экспериментах составляла 1000<br />

мкм.<br />

В результате проведенных экспериментов были зарегистрированы<br />

спектры как мишеней из металла, так и пористых мишеней, идентификация<br />

которых осложняется тем фактом, что в составе мишеней присутствует некое<br />

неконтролируемое количество примесей, что вызвало необходимость в<br />

дальнейшем использовать в экспериментах только химически чистые вещества.<br />

Таким образом, создан канал для регистрации рентгеновских спектров<br />

многозарядных ионов лазерной <strong>плазмы</strong> в МР диапазоне спектра (~80 Å),<br />

проведены предварительные эксперименты, получены спектры излучения<br />

металлических и объемно-структурированных мишеней, идентификация<br />

которых производится.<br />

Литература.<br />

1. О.Б. Ананьин, Ю.В. Афанасьев, Ю.А. Быковский, О.Н. Крохин.<br />

Лазерная плазма. Физика и применения: монография. Москва: Наука,<br />

2003;<br />

2. Оптика мягкого рентгеновского излучения: пер. с англ. А. Мишетт.<br />

Москва: Мир, 1989;<br />

3. Рентгеновская оптика и микроскопия: пер. с англ. Под ред. Г. Шмаля и<br />

Д. Рудольфа. Москва: Мир, 1987;<br />

4. S.I. Fedotov, L.P. Feoktistov, M.V. Osipov, and A.N Starodub, Lasers for ICF.<br />

Journal of Russian Laser Research. V. 25. No. 1. 2004. P. 79; Препринт<br />

ФИАН №35, Москва 2002.<br />

5. Шевелько А.П. и др. «ВУФ – спектроскопия <strong>плазмы</strong>, создаваемой в<br />

конечном анод–катодном промежутке сильноточного импульсного<br />

генератора ―Z-Machine‖ (SNL)». ФИАН, 2009.<br />

119


ПРЕДВАРИТЕЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ<br />

УСЛОВИЙ ИНИЦИИРОВАНИЯ НА ДИНАМИКУ ПЛАЗМЫ<br />

СИЛЬНОТОЧНОЙ ВАКУУМНОЙ ИСКРЫ НА УСТАНОВКЕ<br />

«ПИОН»<br />

Э.И Додулад, А.П. Кузнецов, С.А. Саранцев<br />

Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ<br />

К настоящему времени отсутствует полная картина динамики <strong>плазмы</strong><br />

микропинчевого разряда (МПР): относительно малоизученными являются<br />

физические процессы, протекающие на поверхности электродов, начальная фаза<br />

развития такого типа разрядов и процессы в периферийной, относительно оси<br />

разрядного промежутка, области. Для получения наиболее полной информации<br />

о процессах в МПР необходимо создание комплекса диагностических средств.<br />

На кафедре физики <strong>плазмы</strong> в НИЯУ МИФИ была разработана и создана<br />

установка «Пион» [1] для исследования плотной импульсной<br />

высокотемпературной <strong>плазмы</strong> с разрядом типа НВИ в «чистых» вакуумных<br />

условиях. Этому способствовал богатый экспериментальный опыт,<br />

накопленный в экспериментах на микропинчевых установках кафедры «Зона-2»<br />

[2] и «ПФМ-72» [3].<br />

На динамику <strong>плазмы</strong> МПР может оказывать существенное влияние<br />

условия инициирования основного разряда: длительность инициирующего<br />

импульса и его амплитуда, плазмообразующий диэлектрик триггерного<br />

поджига, а также геометрия системы инициирования. Физический пуск<br />

установки «Пион» показал отсутствие стабильности динамики <strong>плазмы</strong> МПР с<br />

первоначальной системой инициирования, особенностью которой было<br />

расположение плазмообразующего диэлектрика в «тени» катода [1]. Это<br />

свидетельствовало о недостаточном количестве фор<strong>плазмы</strong>, поступающей в<br />

межэлектродный промежуток основного разряда. В связи с этим, геометрия<br />

системы инициирования была видоизменена, для того, чтобы вынести<br />

плазмообразующую поверхность диэлектрика ближе к анод-катодному<br />

промежутку МПР и тем самым увеличить количество фор<strong>плазмы</strong>, поступающей<br />

в межэлектродный промежуток.<br />

120


Предварительные исследования были проведены с использованием ГИТ<br />

на основе тиратрона ТГИ1-1000/25 и конденсатора К75-48 емкостью 0.22 мкФ.<br />

Применялись два варианта схемы ГИТ с повышающим импульсным<br />

высоковольтным трансформатором и без него. В качестве плазмообразующих<br />

диэлектриков использовались керамика и фторопласт. Исследования<br />

проводились для двух полярностей на центральном триггерном электроде.<br />

Напряжение на основной конденсаторной батарее составляло 10÷15 кВ.<br />

Напряжение на центральном триггерном электроде составляло 7÷18 кВ (как<br />

выяснилось в ходе экспериментов наилучшие результаты наблюдались для U =<br />

12 кВ, поэтому все результаты приводятся для этого напряжения).<br />

Первые исследования показали, что<br />

лучшая стабильность МПР наблюдается для<br />

схемы с применением импульсного<br />

трансформатора о чем свидетельствовали<br />

характерные для всех разрядов типа Z-пинч<br />

провалы на осциллограмме тока, а также<br />

соответствующие этому моменту времени<br />

сигналы рентгеновского излучения из области<br />

МПР, регистрируемые с помощью pin-диода. В<br />

случае использования фторопласта при отрицательной полярности на<br />

центральном триггерном электроде, наблюдалось довольно устойчивое<br />

появление микропинча, но при этом присутствовал довольно большой разброс<br />

по времени появления микропинча ~ 500 нс. Для керамики при той же<br />

полярности на центральном триггерном электроде также наблюдались<br />

устойчивые пики рентгеновского, но при этом временной разброс составлял ~<br />

100 нс.<br />

Рис. 1. Электродная<br />

система установки «Пион»<br />

Рис. 2. Два последовательных разряда<br />

при использовании фторопласта.<br />

При увеличении расстояния между катодом и анодом с 4 до 7 мм<br />

(триггерный диэлектрик – керамика) импульсы рентгеновского излучения<br />

возросли по амплитуде, при этом в некоторых разрядах наблюдалось несколько<br />

пиков (от 2 до 4). Стабильность появления пиков рентгена от разряда к разряду<br />

также увеличилась. Для получения более полной картины о процессах<br />

121<br />

Рис. 3 Два последовательных разряда<br />

при использовании керамики


протекающих в межэлектродном промежутке требуется дальнейшее<br />

исследование с применением рентгеновской камеры – обскуры.<br />

Рис. 3. Четыре последовательных разряда при использовании керамики и<br />

увеличенном расстоянии катод-анод.<br />

Доклад подготовлен при проведении научно-исследовательской работы в<br />

рамках реализации ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры<br />

инновационной России» на 2009 – 2013 годы.<br />

Литература<br />

1. Башутин О.А., Бялковский О.А., Вовченко Е.Д., Додулад Э.И., Кузнецов<br />

А.П., Савѐлов А.С., Саранцев С.А. // тезисы докладов 3 Всероссийская<br />

молодежная школы-семинара с международным участием «Инновационные<br />

аспекты фундаментальных исследований по актуальным проблемам физики»<br />

2009 г. ФИАН, Москва – Технопарк ФИАН, г.Троицк, Московская обл.<br />

2. А.П. Кузнецов, О.А. Башутин, О.А. Бялковский и др. // Физика <strong>плазмы</strong>, 2008,<br />

т.34, № 3, С.219-225.<br />

3. O.A.Bashutin, E.D.Vovchenko, A.S.Savjolov, V.A.Kadetov, Lee Zh.H. Optical<br />

diagnostics of the plasma dynamics in �vacuum spark" // Proc. ICCP, Prague,<br />

Czech Republic (1998), 22C, p.1021-1022.<br />

122


ДВУХВОЛНОВЫЙ КВАДРАТУРНЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР<br />

ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЕННОЙ МИШЕНИ В<br />

ЭКСПЕРИМЕНТАХ ПО ТОРМОЖЕНИЮ ТЯЖЕЛЫХ ИОНОВ<br />

В ИОНИЗОВАННОМ ВЕЩЕСТВЕ<br />

О.А. Бялковский 1 , Р.О. Гаврилин 1 , А.А. Голубев 2 , К.Л. Губский 1 ,<br />

А.П. Кузнецов 1 , В.И. Туртиков 2 , А.В. Худомясов 2 ,А.Д. Фертман 2 ,<br />

1. Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» г. Москва<br />

2. ФГУП ГНЦ РФ Институт теоретической и экспериментальной физики<br />

г. Москва<br />

В настоящее время широкий круг явлений и прикладных задач,<br />

связанных с взаимодействием ионизирующего излучения с веществом,<br />

стимулирует интерес к экспериментальным исследованиям эффективности<br />

торможения быстрых ионов в плазме. При торможении ионного пучка в плазме,<br />

за счет столкновений со свободными электронами наблюдается увеличение<br />

энергетических потерь по сравнению с веществом в нормальном состоянии. С<br />

уменьшением энергии частиц разница в тормозной способности холодного и<br />

ионизованного вещества для тяжелых ионов возрастает [1,2]. Для изучения<br />

процессов, происходящих при торможении ионов в ионизованном веществе,<br />

широко используются плазменные мишени, созданные внешними источниками<br />

энергии, - разряд в газе, капиллярный разряд, лазерная плазма, плазма<br />

взрывного генератора и т.д. – включенные в линию транспортировки пучка<br />

ионов от ускорителей. При этом важнейшим аспектом данного класса<br />

экспериментов является сопоставление потерь энергии ионами с параметрами<br />

ионизованного вещества – плотностью, температурой и степенью ионизации<br />

плазменной мишени [3].<br />

В работе представлены результаты исследования линейной электронной<br />

плотности <strong>плазмы</strong> в плазменной мишени, разработанной в ИТЭФ (рис. 1).<br />

Плазма в мишени создается при электрическом разряде в канале � 6 мм,<br />

заполненном водородом при начальном давлении 50—200 Па [4].<br />

Конденсаторная батарея емкостью 3 мкФ, разряжается при напряжениях 2 - 4<br />

кВ, инициировала ток в мишени до 3 кА.<br />

123


Рис. 1. Принципиальная схема плазменной мишени<br />

Для измерения линейной электронной плотности и степени ионизации<br />

<strong>плазмы</strong> в мишени был разработан интерферометр на основе двухволнового<br />

лазера YVO4:Nd на длинах волн 0.532 мкм (Pmax=50 мВт) и 1.064 мкм<br />

(Pmax=10мВт), позволяющий разделять вклады в фазовый сдвиг зондирующей<br />

электромагнитной волны, вносимые свободными электронами и нейтральной<br />

компонентой в частично ионизованной плазме в условиях возможных вибраций<br />

оптических элементов установки. Схема интерферометра показана на рис. 2.<br />

Осциллограф<br />

Д1<br />

Д2<br />

Блок<br />

регистрации<br />

Рис.2. Схема двухволнового лазерного квадратурного интерферометра.<br />

Фазовый сдвиг в зондирующей электромагнитной волне в плазме<br />

определяется выражением:<br />

� � �4.<br />

49 �10<br />

�14<br />

Д3<br />

PC<br />

2��<br />

Д4<br />

М2<br />

�<br />

3<br />

2�<br />

d�<br />

� Са�<br />

N d�<br />

�<br />

Ne а<br />

Оптический блок<br />

Двухволновый лазер<br />

где Cа – рефракция нейтральных частиц в расчете на одну частицу, Nа – число<br />

нейтральных частиц в единице объема [5]. Из (1) видно, что при использовании<br />

4<br />

124<br />

М1<br />

Плазма<br />

1<br />

2<br />

(1)


одной длины волны невозможно выделить вклад в фазовый сдвиг, вызванный<br />

нейтральными частицами и электронами. В тоже время переход к двухволновой<br />

схеме позволяет разделить эти вклады. Так линейная электронная плотность при<br />

двухволновой интерферометрии определяется следующим выражением:<br />

� Ne d�<br />

�1�1<br />

��<br />

2�2<br />

,<br />

14 2 2<br />

4.<br />

49�10<br />

( � � � )<br />

� �<br />

1<br />

2<br />

где � 1,<br />

� 2 - фазовый сдвиг, вносимый плазмой в излучение длины волны � 1 и � 2<br />

соответственно.<br />

В работе использован квадратурный метод формирования<br />

информативных сигналов, позволяющий проводить измерения от долей до<br />

единиц и более интерференционных полос с высокой однородной<br />

дифференциальной чувствительностью.<br />

В блоке фотоэлектрической регистрации (рис.2) зондирующие излучения<br />

на дихроичном зеркале М2 разделяются по длинам волн. После<br />

фотоэлектрического преобразования на фотодетекторах Д1 – Д4 информативные<br />

сигналы по всем четырем каналам регистрируются цифровым осциллографом и<br />

0 5 10 15 20<br />

а) I, кА<br />

б)<br />

2,0<br />

1,5<br />

1,0<br />

0,5<br />

0,0<br />

0 5 10 15 20<br />

Рис.3. Сигналы с квадратурного интерферометра на длине волны 0.532<br />

мкм (а, б), временная зависимость разрядного тока (в) и динамика линейной<br />

электронной плотности <strong>плазмы</strong> водородной мишени (г).<br />

125<br />

Ne � x 10 17 , cм -2<br />

Время, мкс Время, мкс<br />

в<br />

)<br />

г<br />

)


передаются в компьютер для последующей обработки. Преобразование (2)<br />

позволяет однозначно измерить сдвиг фаз только в области главных значений<br />

функции arctg, в пределах одного фазового цикла -�/2


ИССЛЕДОВАНИЕ ЭРОЗИОННОГО КАПИЛЛЯРНОГО<br />

РАЗРЯДА В ВОЗДУХЕ АМОСФЕРНОГО ДАВЛЕНИЯ<br />

МЕТОДАМИ ТЕНЕВОГО ФОТОГРАФИРОВАНИЯ<br />

А.П. Кузнецов, А.С. Савѐлов, О.А. Бялковский, С.А.Саранцев,<br />

И.Ф.Раевский<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Интерес к импульсным эрозионным разрядам связан с возможностью<br />

получения интенсивных источников излучения УФ- и оптического диапазонов,<br />

использованием плазменных потоков для технологических задач обработки<br />

материалов, применения плазменных струй в плазмохимии. Конструкции таких<br />

установок различны и определяются, в основном, условиями применения.<br />

Понимание физических явлений, протекающих в такого рода разрядах,<br />

позволяет оптимизировать их параметры.<br />

Интересным объектом исследования является эрозионный капиллярный<br />

разряд в воздухе атмосферного давления (рис.1). Электрическая энергия<br />

запасается в конденсаторах С1 и С2 и при зарядном напряжении UЗ=200-300 В<br />

составляет 60-140 Дж. При замыкании ключа К формируется высоковольтный<br />

импульс амплитудой ~10 кВ, приводящий к пробою капилляра 2 диаметром<br />

d=0,5-3 мм по поверхности диэлектрика 1, изготовленного из<br />

полиметилметакрилата (С2H8O3) толщиной 3 мм.<br />

+<br />

U<br />

–<br />

З<br />

R1 П<br />

C1<br />

+<br />

U<br />

–<br />

R2<br />

C3<br />

L1<br />

C2<br />

K<br />

L<br />

3 L<br />

2<br />

6<br />

Триггер<br />

4<br />

а)<br />

2<br />

3<br />

5<br />

1<br />

Время,<br />

Рис. 1. а) Схема импульсного эрозионного капиллярного разряда мс в воздухе: 1 -<br />

диэлектрик; 2 - капилляр; 3 - катод; 4 - анод; 5 - плазменный факел; 6 - пояс<br />

Роговского; б) осциллограммы тока разряда (1) и интенсивности свечения <strong>плазмы</strong><br />

факела (2).<br />

127<br />

б)<br />

200<br />

Ток разряда,<br />

А<br />

150<br />

100<br />

50<br />

1<br />

2<br />

0<br />

0 2 4 6 8 10<br />

Интенсивность света,<br />

отн. ед.<br />

1,<br />

0<br />

0,75<br />

0,<br />

5<br />

0,25


Высоковольтный пробой межэлектродного промежутка инициирует<br />

основной капиллярный разряд. Поток <strong>плазмы</strong> и возбужденных атомов<br />

формирует протяженную светящуюся область- факел 5 длиной 12-15 см и<br />

диаметром керна центральной (плазменной) части факела несколько мм.<br />

Длительность разряда ~ 10 мс. На рис. 1б представлены осциллограмма тока<br />

разряда и изменение во времени интенсивности свечения <strong>плазмы</strong> факела.<br />

Максимальное значение температуры �0.75 эВ достигается в области капилляра<br />

и быстро спадает вдоль оси до 0.15 эВ в головной части факела. Линейная<br />

электронная плотность ne � в максимуме тока, измеренная методами<br />

двухволновой лазерной интерферометрии [1], составляет 5·10 16 см -2 .<br />

В представленной работе для исследования пространственной структуры<br />

и временной динамики газо-плазменной струи был применен метод теневого<br />

фотографирования [2] с использованием в качестве осветителя лазера на парах<br />

меди (рис.2). За счет достаточно короткой длительности импульсов (30 нс) с<br />

помощью Cu-лазера можно регистрировать контрастные изображения быстро<br />

протекающих процессов, а относительно высокая частота повторения (14 кГц)<br />

позволяет проводить многокадровую съемку и получать информацию о<br />

пространственно-временной динамике плазменного образования.<br />

от лазера<br />

1 2 3 4<br />

5<br />

Рис. 2. Оптические схемы теневого фотографирования (пояснения в тексте).<br />

Излучение Сu-лазера коллимировалось линзой 1 в параллельный пучок<br />

диаметром 6 см. В отсутствие оптической неоднородности световой пучок<br />

беспрепятственно проходит через диафрагму с диаметром отверстия 0,4 мм,<br />

расположенной в фокальной плоскости приемного объектива 2. С помощью<br />

второй линзы (визуализирующего объектива) 3 изображение объекта<br />

проецируется на экран 4. Отклонение лучей в исследуемом объекте приводит к<br />

смещению лучей и перераспределению освещенности в изображении объекта на<br />

экране. Освещенность экрана при этом изменяется пропорционально угловому<br />

отклонению луча ε. В то же время угол отклонения ε пропорционален градиенту<br />

128<br />


показателя преломления n, проинтегрированному по линии наблюдения (вдоль<br />

оптической оси z). Изменение освещенности экрана описывается выражением<br />

Z<br />

2<br />

�I<br />

�n<br />

�n<br />

�<br />

dz<br />

I � ( � ) .<br />

�x<br />

�y<br />

Z<br />

1<br />

Роль диафрагмы состоит в том, что лучи света идущие под углами к оси,<br />

бóльшими некоторого, определяемого размерами отверстия в фокусе линзы 2,<br />

отсекаются и, соответственно, вклад в изображение будут давать только те<br />

области объекта, в которых поперечные градиенты показателя преломления<br />

превышают некоторую заданную величину.<br />

На рис.3 представлены теневые фотографии факела эрозионного<br />

капиллярного разряда в разные моменты времени. Как видно, развитие <strong>плазмы</strong><br />

сопровождается значительным увеличением турбулентности оптической<br />

плотности из-за того, что изменение показателя преломления в факеле<br />

определяется как изменением электронной компоненты в плазме разряда, так и<br />

сильным изменением показателя преломления в шубе – нагретом воздухе,<br />

окружающем плазменный керн.<br />

0,2 мс 1см<br />

0,3 мс<br />

0,6 мс 1,0 мс<br />

Рис. 3. Теневые фотографии факела эрозионного капиллярного разряда в разные<br />

моменты времени.<br />

129


Интересные результаты были получены при визуализации процессов<br />

взаимодействия «плазменного факела» с плоскими преградами из проводящего<br />

и диэлектрического материалов толщиной в доли мм. В медной фольге<br />

толщиной 80 мкм плазменная струя прожигает отверстие диаметром 2 ÷ 3 мм.<br />

Затем следует рост факела за преградой и восстановление его размеров и<br />

структуры (рис. 10). Размеры отверстия существенно меньше «шубы» и<br />

сопоставимы с диаметром керна. Взаимодействие с диэлектрической пленкой<br />

останавливает его дальнейшее осевое распространение, но наличие в ней<br />

совмещенного с осью капилляра отверстия ~ 1 мм обеспечивает прохождение с<br />

уменьшением поперечных размеров струи <strong>плазмы</strong> через преграду.<br />

Рис. 4. Теневые фотографии плазменного факела в процессе его взаимодействия с<br />

Литература<br />

плоскими преградами (медная фольга толщиной 80 мкм).<br />

1. Кузнецов А.П., Голубев А.А., Савѐлов А.С. и др., // ПТЭ, 2006, №2, С 109.<br />

2. Вовченко Е.Д., Кузнецов А.П., Савелов А.С. Лазерные методы диагностики<br />

<strong>плазмы</strong> // М.: МИФИ, 2008<br />

1см<br />

0,3 мс 0,4<br />

мс<br />

0,45<br />

мс<br />

130<br />

0,6 мс


ОИВТ РАН<br />

СПЕКТРЫ МНОГОЗАРЯДНЫХ ПОЛЫХ ИОНОВ В<br />

РЕНТГЕНОВСКОМ ИЗЛУЧЕНИИ СВЕРХПЛОТНОЙ<br />

ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ<br />

И.Ю. Скобелев, А.Я. Фаенов, Т.А. Пикуз<br />

Рентгеновские спектры излучения нано- и субнаносекундной лазерной<br />

<strong>плазмы</strong> интенсивно исследовались на протяжении более чем 30 последних лет.<br />

В частности, к настоящему времени очень подробно изучены спектральные<br />

характеристики излучения в окрестности резонансных линий H-подобных и He-<br />

подобных многозарядных ионов. Спектры в этой области имеют типичную<br />

структуру, характеризуемую присутствием сателлитных линий, которая хорошо<br />

описывается радиационно-столкновительными кинетическими моделями.<br />

Эксперименты, проведенные с плазмой, создаваемой пико- и<br />

субпикосекундными лазерами сверхвысокого контраста, а также лазерами с<br />

короткими длинами волн (вплоть до рентгеновских) позволили<br />

зарегистрировать спектры нового типа, не наблюдавшихся ранее в этой<br />

спектральной области [1-7].<br />

Наблюдаемые ―необычные‖ спектры отличаются наличием сложной<br />

спектральной структуры квазинепрерывного характера, в которую погружаются<br />

основные линии. В настоящей работе дан обзор наблюдений такого нового типа<br />

эмиссионных спектров, полученных для различных мишеней (твердотельные Si<br />

и Mg, кластеры N и Ar) и параметров лазерного импульса. Показано, что эти<br />

спектры связаны с радиационными переходами в многозарядных полых ионах<br />

которые являются многозарядными ионами с пустой внутренней K-оболочкой<br />

(KK-полые ионы ) или с вакансиями в K- и L-оболочках (KL- полые ионы).<br />

Эксперименты с аргоновыми кластерами были выполнены с JAEA<br />

(Киото, Япония). Использовался титан-сапфировый лазер, позволяющий<br />

генерировать импульсы длительностью до 20 фс при плотности потока до 10 20<br />

Вт/см 2 [8]. В нашей работе был использован 30-фс импульс с энергией 360 мДж.<br />

Применение одной или двух ячеек Поккельса позволяло получать лазерный<br />

131


импульс с контрастами 5x10 -4 или 4.6x10 -6 . Эксперименты были выполнены с<br />

различными лазерными энергиями (49 - 115 мДж), и в широком диапазоне<br />

длительностей лазерного импульса (от 30 фс до 1 пс), что соответствовало<br />

потокам от 6x10 16 до 2x10 18 Вт/см 2 .<br />

Кластерная мишень создавалась при расширении порции аргона<br />

начального давления 60 атм в вакуум через специальное импульсное 3-х<br />

ступенчатое сопло, позволявшее получать кластеры со средним диаметром<br />

около 1.5 мкм. Столь большие кластеры использовались для того, чтобы<br />

минимизировать их разрушение лазерным предимпульсом [8,9]. Рентгеновские<br />

спектры с пространственным разрешением регистрировались спектрографом со<br />

сферически изогнутым кристаллом [10].<br />

Рис. 1. Сравнение теории (1) и эксперимента (2) для Ar-спектров в области<br />

4.1 – 4.2 Å.<br />

Детальные теоретические расчеты были сделаны с помощью<br />

кинетического кода ATOMIC [11], в котором были учтены конфигурации как<br />

КК-, так и KL- полых ионов. Было найдено [12], что наилучшее согласие с<br />

экспериментом дают расчеты, где электронная температура составляет 50 эВ,<br />

3% электронов <strong>плазмы</strong> являются горячими (энергия порядка 5 КэВ), а атомная<br />

плотность <strong>плазмы</strong> равна 10 22 см -3 (см. рис. 1). Расчеты показывают, что<br />

доминирующими линиями в области 4.17-4.18 Å являются переходы в F-<br />

подобных ионах, в области 4.14-4.16 Å наиболее интенсивными оказываются<br />

линии O-подобного аргона, хотя ряд особенностей обусловлен исключительно<br />

полыми ионами. В частности, расчеты показывают, что роль полых ионов<br />

132


наиболее важна в те моменты времени, когда плазма является сильно<br />

нестационарной. Из проведенных исследований следует, что в кластерной<br />

плазме роль полых ионов проявляется заметнее, когда фемтосекундный<br />

лазерный импульс взаимодействует с плотным холодным веществом, а не с<br />

преплазмой.<br />

В экспериментах [6], проведенных при использовании сравнительно<br />

низкоинтенсивного, но более коротковолнового эксимерного XeCl-лазера<br />

(энергия 2 Дж, длительность 12, поток 4x10 12 Вт/см 2 ), были зарегистрированы<br />

рентгеновские спектры магния в области между резонансными линиями Н- и<br />

Не- подобных ионов. Эти спектры (особенно около поверхности мишени)<br />

имеют квазинепрерывный характер. Мы предположили, что наблюдаемый<br />

квазинепрерывный спектр обусловлен переходами в полых ионах магния [6],<br />

однако проведенное ранее моделирование не позволяло учесть целый ряд<br />

возможных конфигураций в KK- и KL- полых ионах.<br />

Рис. 4. (1) – Спектр Mg-<strong>плазмы</strong>, рассчитанный по программе ATOMIC с<br />

учетом полых ионов, (2) – экспериментальный спектр [6].<br />

В настоящей работе выполнены новые расчеты по программе ATOMIC,<br />

использующие MUTA-приближение (смешанное приближение массивов<br />

неразрешаемых переходов). Это позволило добавить в расчет целый ряд важных<br />

конфигураций, сохранив время счета на разумном уровне. Как видно из<br />

результата, приведенного на рис. 2, новые расчеты подтвердили предположение<br />

о том, что наблюдаемый спектр обусловлен переходами в полых ионах<br />

(подчеркнем, что при пренебрежении учетом полых ионов никаких<br />

спектральных линий в интервале длин волн 8.55 - 9.15 Å не могло бы быть).<br />

133


В докладе обсуждается возможность использования спектров<br />

многозарядных полых ионов:<br />

1) для диагностики сверхплотной лазерной <strong>плазмы</strong>, создаваемой как<br />

лазерами оптического, так и рентгеновского диапазонов;<br />

2) для оценки интенсивности мощных пучков рентгеновских лазеров на<br />

свободных электронах.<br />

Работа поддержана грантами РФФИ 10-07-00227-а, 10-02-91174-ГФЕН_а,<br />

10-02-00345-а.<br />

Литература:<br />

1. McPherson A, Thompson B.D, Borisov A.B. et al. // Nature, 1994, т.370, с.631.<br />

2. Gauthier J.-C, Geindre J.-P, Audebert P. et al. // Phys. Rev. E., 1995, т.52, с.2963.<br />

3. Faenov A.Ya., Abdallah J. Jr., Clark R.E.H. et al. // Proceedings of SPIE-97, 1997,<br />

т.3157, с.10.<br />

4. Urnov A.M., Dubau J., Faenov A.Ya et al. // JETP Letters, 1998, т.67, с.489.<br />

5. Faenov A.Ya., Magunov A.I., Pikuz T.A. et al. // Physica Scripta, 1999, т.T80,<br />

с.536.<br />

6. Abdallah J. Jr., Skobelev I.Yu., Faenov A.Ya. et al // Quantum Electronics, 2000,<br />

т.30, с.694.<br />

7. Rosmej F.B., Faenov A. Ya., Pikuz T.A. et al. // J. Phys. B., 1999, т.32, с.L107.<br />

8. Boldarev A.S., Gasilov V.A., Faenov A.Ya. et al. // Rev. Sci. Instrum., 2006, т.77,<br />

с.083112.<br />

9. Faenov A.Y., Skobelev I.Y., Magunov A.I. et al. // Proc. SPIE, 2001, т.4504, с.121.<br />

10. Faenov A.Ya,. Pikuz S. A, Erko A. I. et al. // Physica Scripta, 1994, т.50, с.333.<br />

11. Magee N.H, Abdallah J.Jr., Colgan, et al. // 11th APS Topical Conference on<br />

Atomic Processes in Plasmas, (Eds: J. S. Cohen, S. Mazevet, and D. P. Kilcrease) AIP<br />

Conference Proceedings, Melville, New York, 2004, с.l68.<br />

12. Colgan J., Abdallah J, Jr., Faenov A.Ya. et al. // Laser and Particle Beam, 2008,<br />

т.26, с.83.<br />

134


ИМПУЛЬСНЫЙ БОЛОМЕТР В ИЗМЕРЕНИЯХ МЯГКОГО<br />

РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В СИЛЬНОТОЧНОМ Х-<br />

ПИНЧЕ.<br />

Ю.Л. Бакшаев, С.А. Данько, Е.Е. Соколов, К. В. Чукбар.<br />

Российский научный центр Курчатовский институт<br />

В инерциальных термоядерных исследованиях наряду с измерениями<br />

спектра мягкого рентгеновского излучения (МРИ) измеряется его полная<br />

энергия и мощность, для чего служат различные детекторы (вакуумные и<br />

полупроводниковые диоды). Их общим недостатком является, как ни странно,<br />

высокая чувствительность. Важным дополнением к этим приборам служат<br />

болометры. С их помощью можно независимо измерить энергию РИ в области<br />

мягких квантов и провести абсолютную калибровку других детекторов.<br />

Основной компонент болометра - очень тонкая металлическая фольга. От<br />

излучения она нагревается и еѐ сопротивление растет. По ходу сопротивления<br />

болометра во времени определяется энергия излучения. В ряде работ описано<br />

применение таких болометров на мощных импульсных установках [1], [2], [3],<br />

[4], [5].<br />

В работе [6] для оценки времени прогрева фольг было использовано<br />

фундаментальное решение уравнения теплопроводности, приведенное в работе<br />

[7] для случая стержня бесконечной длины. В данной работе на основе<br />

уравнения теплопроводности для «стержня» ограниченной длины приведены<br />

соотношения для временного разрешения болометра на алюминиевой фольге и<br />

предельных тепловых нагрузок на датчик. При выборе 10%-ной погрешности<br />

установления температурного равновесия, т.е. �T � 0.1T�,<br />

получается оценка по<br />

времени t > 0.375d 2 / Коэффициент температуропроводности<br />

алюминия см 2 /с. Для толщины фольги d1=2 мкм время установления<br />

равновесной температуры (с погрешностью 10%) составит t1=19 нс. Для<br />

толщины d2 = 8 мкм – t2=300 нс. При создании болометра требуется расчет<br />

предельной мощности излучения, падающей на его поверхность. Чем быстрее<br />

135


прогревается материал датчика, тем меньше вероятность кипения<br />

поверхностного слоя. Благодаря высокой температуропроводности алюминия и<br />

конечной длительности импульса РИ, тепло во время излучения успевает<br />

распространиться на значительную толщину. Поэтому для определения<br />

максимальных температур, достигаемых фольгой, необходим учѐт времени<br />

импульса излучения � , а глубиной энерговыделения можно пренебречь. В<br />

рамках выполнения неравенства<br />

2<br />

d �� �� получаем зависимость предельной<br />

энергии и интенсивности излучения от длительности прямоугольного импульса<br />

РИ для фольги из Al толщиной 2 мкм и площадью s=0.3 см 2 , доводя<br />

максимальную температуру до Тмах=2100 o С (Ткип=2330 o С).<br />

Рис.1. Зависимость предельной энергии (слева) и интенсивности<br />

излучения (справа) от длительности импульса для алюминиевой фольги<br />

толщиной 2 мкм и площадью 0.3 см 2 .<br />

Расчет предельных нагрузок проводился по формуле Tmax � 2 dT / ��� с<br />

учетом отношения выбранной предельной температуры к Tmax для полной<br />

энергии источника в 1 кДж.<br />

Для измерения скачка сопротивления датчика под действием нагрева<br />

излучением использовалась электрическая схема, подобная описанной в работе<br />

[1]. На рис. 2 приведена схема LCR контура, в цепь которого был включен<br />

образец с алюминиевой фольгой. Два конденсатора общей емкостью C=0.1 мкФ,<br />

были подключены через разрядник типа РУ-62 к индуктивности L=40 мкГ (2.5<br />

Ом) и резисторам R1 и R2 величиной 1 Ом. Волновое сопротивление контура 20<br />

Ом. Последовательно с резисторами был включен измерительный элемент<br />

болометра. Ток в контуре измерялся поясом Роговского в режиме<br />

трансформатора тока (LR).<br />

136<br />


Рис.2. Блок- схема измерений электрических сигналов.<br />

С учетом декремента затухания ток в первом максимуме должен<br />

составить ~90 А. Следует отметить совпадение сигналов в ряде<br />

последовательных пусков, что говорит о стабильности условий измерений.<br />

Болометр с алюминиевой фольгой толщиной 2 или 8 мкм, располагался<br />

на расстоянии 45 см от источника при токах через нагрузку 1.5-1.7 МА.<br />

Измерения проводились с открытым болометром, а также с фильтрами из<br />

лавсана толщиной 2.5 мкм или 12 мкм с напыленным слоем алюминия<br />

толщиной 0.05 мкм. В качестве примера на рис. 3 приведены два сигнала<br />

напряжения на фольге толщиной 8 мкм с источником РИ и без него.<br />

Рис. 3. Контрольный (1) и рабочий (2) сигналы напряжения на<br />

болометре. Нагрузка: 24 проволочки из нихрома диаметром 55 мкм, ток – 1.6<br />

МА, напряжение – 0.35 МВ, энергия источника МРИ -5.8 кДж.<br />

Энергия источника составила в данном пуске 5.8 кДж. Важный вывод<br />

можно сделать на основании того, что при работе с фильтрами из майлара,<br />

закрывавшими прорезь в крышке датчика, приращения сигнала напряжения с<br />

болометра не наблюдалось при обеих толщинах фольги. Следовательно,<br />

основная доля энергии МРИ заключена в диапазоне до 1 кэВ.<br />

137


Описанная конструкция болометра с высоким разрешением на основе<br />

алюминиевых фольг толщиной 2 и 8 мкм и схема измерений достаточно просты<br />

и могут быть воспроизведены без существенных затрат, обеспечив измерения<br />

энергии в малоисследованном рентгеновском диапазоне до 1 кэВ. На генераторе<br />

С-300 проведены интегральные измерения энергии МРИ в интервале энергий<br />

квантов до 1 кэВ с помощью болометра с временным разрешением.<br />

Динамический диапазон регистрации энергии составлял 1-10 кДж. Основная<br />

доля энергии МРИ заключена в диапазоне до 1 кэВ. Приведены простые<br />

соотношения для временного разрешения прибора и предельных тепловых<br />

нагрузок на фольгу, что может быть весьма полезно для других типов<br />

болометров в экспериментах на других установках.<br />

Литература.<br />

1. J.H. Degnan. Fast, large-signal, free-standing foil bolometer for measuring ultrasoft<br />

x-ray burst fluence. Rev. Sci. Instrum. 50, pp.1223-1226, 1979.<br />

2. R. B. Spielman, C. Deeney, D. L. Fehl, et al. Fast resistive bolometry. Rev. Sci.<br />

Instrum. 70, pp. 651-655, 1999.<br />

3. Daniel B. Sinars. 1MA X-pinch experiments at Cornell University, Wire Array<br />

Workshop, Battle, UK, 2007. Sandia (unpublished).<br />

4. С.А. Сорокин, С. А. Чайковский. Измерение мощности и спектрального<br />

распределения излучения плазменных лайнеров. ЖТФ, 70, стр. 78-81, 2000.<br />

5. Г.С. Волков, Н.И. Лахтюшко, О.В. Терентьев. Фольговый радиационный<br />

болометр для измерения энергетических потерь <strong>плазмы</strong> быстрых Z-пинчей.<br />

Тезисы докладов 37 Международной (Звенигородской) конференции по физике<br />

<strong>плазмы</strong> и УТС. Стр. 161, 2010.<br />

6. Ю.Л. Бакшаев, С.А.Данько, Е.Е.Соколов, Импульсный болометр для<br />

измерения энергии рентгеновского излучения. Препринт ИАЭ, 2010.<br />

7. А.Н. Тихонов и А.А. Самарский. Уравнения математической физики.<br />

«ГИТТЛ», Москва, Ленинград (1951). Гл. 3, стр. 216.<br />

8. С.А. Пикуз. Докторская диссертация, гл. 5, 2007.<br />

138


ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРАЛЬНОГО СОСТАВА ИЗЛУЧЕНИЯ<br />

НИЗКОИНДУКТИВНОЙ ВАКУУМНОЙ ИСКРЫ<br />

Д.Л.Кирко, А.С.Савелов, Э.И.Додулад<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Низкоиндуктивная вакуумная искра исследуется ввиду моделирования<br />

пинчевых процессов, присущих термоядерным установкам. Вместе с тем,<br />

плазма искры является мощным источником электромагнитного излучения в<br />

широком диапазоне спектра. В данной работе исследовались излучательные<br />

характеристики наиболее важных плазменных областей с целью проведения<br />

спектральных исследований [1].<br />

Электродная система вакуумной искры содержит медный анод (диаметр<br />

3 мм) и катод из нержавеющей стали (диаметр 20 мм) цилиндрической формы,<br />

при расстоянии между электродами 5 мм. Рабочее давление в камере составляло<br />

10 -5 -10 -6 Торр, а на электроды подавалось напряжение 5-15 кВ. Срабатывание<br />

устройства происходило при включении тригерного поджига. Плазма разряда<br />

образовывалась во время эрозии электродов при токе 100-150 кА и периоде<br />

разряда 8 мкс.<br />

Плазма вакуумной искры состоит из сильно сжатой центральной<br />

пинчевой области и периферийной разреженной области - оболочки.<br />

Образование микропинчей наблюдается в непосредственной близости к аноду.<br />

Согласно лазерным измерениям, выполненным с помощью азотного лазера<br />

(�=337 нм) диапазон концентрации пинчевой области составляет ne=10 17 -10 18<br />

см -3 [2]. Спектральный состав излучения этой области содержит рентгеновские<br />

линии К-оболочек меди и железа.<br />

Излучение вакуумной искры в видимой и ультрафиолетовой областях<br />

регистрировалось с помощью спектрометра Avantes (рабочий диапазон 200-1000<br />

нм, спектральное разрешение 0,3 нм). Характерный вид спектра излучения<br />

искры представлен на рис. (напряжение 10 кВ). В спектре содержатся<br />

интенсивные водородные линии H� 434 нм, H� 656 нм, и линии металлов Cu I<br />

276 нм, 521 нм; Fe I 300 нм, 382 нм, входящих в состав электродов. В<br />

139


излучении также присутствуют однократные и двукратные ионы, как, например,<br />

O II 253 нм, N III 286 нм, и достаточно сильный непрерывный спектр.<br />

I, отн.ед.<br />

70000<br />

60000<br />

50000<br />

40000<br />

30000<br />

20000<br />

10000<br />

Cu I<br />

O II N III<br />

Fe I<br />

Fe I<br />

H γ<br />

N I<br />

Cu I<br />

C I<br />

0<br />

200 300 400 500 600 700 800 900 1000<br />

�, нм<br />

H α<br />

Ввиду наличия непрерывного спектра допускалось, что плазма оболочки<br />

(периферийной области) находится в состоянии локального термического<br />

равновесия. С помощью метода относительных интенсивностей спектральных<br />

линий по водородным линиям H� и H� была рассчитана температура <strong>плазмы</strong>,<br />

которая принимает величину в диапазоне Т=8000-10000 К в зависимости от<br />

режимов установки. Ряд спектральных линий имеют значительное уширение в<br />

диапазоне 2,0-10,0 нм. В предположении существования микрополей в плазме<br />

по штарковскому уширению водородных линий H� и H� был рассчитан<br />

диапазон концентрации <strong>плазмы</strong> ne = (1-6)�10 16 см -3 , который реализуется при<br />

различных параметрах установки. Непрерывная составляющая спектра была<br />

аппроксимирована планковским распределением с температурой T�9700 К, что<br />

находится в диапазоне температур, который был получен с помощью<br />

водородных линий.<br />

В ходе данного исследования было показано, что рассмотренные<br />

спектральные методы являются достаточно эффективными для диагностики<br />

разреженной периферийной <strong>плазмы</strong> низкоиндуктивной вакуумной искры.<br />

Литература:<br />

1. Диагностика <strong>плазмы</strong>. Ред. Р.Хаддлсоун, С.Леонард. М.: Мир, 1967. 515 с.<br />

2. Савелов А.С., Вовченко Е.Д., Сивко П.А. Лазерный комплекс для<br />

исследования плотной импульсной <strong>плазмы</strong>. II Рос. семин. Соврем. средства<br />

диагн. <strong>плазмы</strong>. М.: НИЯУ «МИФИ», 2000, с.46-48.<br />

140


МЕТОДИКА РЕГИСТРАЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ<br />

ОБСКУРОГРАММ МИКРОПИНЧЕВОГО РАЗРЯДА С<br />

ПОМОЩЬЮ ПЗС КАМЕРЫ<br />

О.А. Башутин, Е.Д. Вовченко, Э.И Додулад, С.А. Саранцев<br />

Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ<br />

Разряд типа низкоиндуктивная вакуумная искра (НВИ) является<br />

интенсивным источником рентгеновского излучения. Для получения<br />

изображения межэлектродного промежутка применяются камеры-обскуры.<br />

Регистрирующим элементом камеры-обскуры может быть рентгеновская<br />

фотопленка или другой двухкоординатный детектор на основе МКП.<br />

Основными недостатками фотопленки являются длительность ее проявки и, как<br />

следствие, невозможность контролировать результаты эксперимента в процессе<br />

его проведения, а также влияние условий проявки пленки на качество<br />

получаемого изображения. Поэтому практический интерес представляет<br />

создание относительно простой, недорогой методики регистрации изображения<br />

быстропротекающих плазменных процессов, позволяющей наблюдать<br />

результаты в режиме реального времени.[1]<br />

На установке «Зона-2» кафедры физики <strong>плазмы</strong> НИЯУ МИФИ<br />

отработана методика получения изображений разряда типа НВИ, позволяющая<br />

делать предварительный анализ экспериментальных данных непосредственно во<br />

время эксперимента. Схема эксперимента представлена на рис.1.<br />

Рис. 1 Схема эксперимента<br />

141<br />

На одном из фланцев<br />

вакуумной камеры (ВК)<br />

установки, закрытом<br />

бериллиевой фольгой,<br />

прозрачной для<br />

рентгеновского излучения<br />

была установлена камера-<br />

обскура. Обскурограммы регистрировались с помощью рентгеновского экрана<br />

типа «УС»(Э) и расположенного после него электронно-оптического


преобразователя(ЭОП). На экране электронно-оптического преобразователя<br />

получалось изображение разряда в видимом свете, которое регистрировалось<br />

камерой «Видеоскан»(К), подключенной к персональному компьютеру(ПК).<br />

Управление камерой осуществлялось с помощью компьютера, значение<br />

выдержки, а также чувствительность и разрешение устанавливались<br />

программно. Это позволило получить изображение с необходимой яркостью и<br />

пространственным разрешением. Одновременно с помощью рентгеновского p-i-<br />

n-диода(Д) регистрировалась временная динамика излучения разряда. Ток<br />

разряда регистрировался с помощью пояса Роговского.<br />

Площадь экрана электронно-оптического преобразователя позволяла<br />

одновременно регистрировать несколько обскурограмм. В эксперименте<br />

камера-обскура представляла собой ряд из трех одинаковых отверстий,<br />

закрытых алюминиевыми фильтрами различной толщины(центральное<br />

отверстие без фильтра, 220мкм на левом и 450мкм на правом отверстии). На<br />

полученных изображениях разряда(рис.2) заметны до трех плазменных точек,<br />

видимых даже сквозь наиболее толстый фильтр. На сигналах p-i-n-диода видны<br />

пики рентгеновского излучения, время их регистрации соответствует времени<br />

формирования плазменных точек.<br />

Рис.2. Изображение разряда и сигналы пояса Роговского и p-i-n-диода.<br />

При подаче на ЭОП импульса напряжения с заданной задержкой<br />

относительно начала разряда и заданной длительности, эта методика позволит<br />

получать изображения межэлектродного промежутка в различные временные<br />

интервалы.<br />

С помощью данной методики было исследовано испускание<br />

рентгеновского излучения различными областями разряда. Она позволила<br />

сохранять данные непосредственно в электронном виде, делать<br />

142


предварительный анализ экспериментальных данных в режиме реального<br />

времени и вносить корректировки в ход эксперимента. Все это, а также<br />

относительная дешевизна и простота использованного оборудования<br />

существенно уменьшило стоимость и время проведения работ, повысило<br />

качество проводимых экспериментов.<br />

Доклад подготовлен при проведении научно-исследовательской работы в<br />

рамках реализации ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры<br />

инновационной России» на 2009 – 2013 годы.<br />

Литература<br />

1. А.Е.Гурей, А.Н.Долгов, Д.Е.Прохорович, А.С.Савѐлов, А.А.Тихомиров<br />

Корреляция параметров ионной эмиссии и рентгеновского излучения из<br />

<strong>плазмы</strong> микропинчевого разряда // Физика <strong>плазмы</strong>, 2004, т.30, № 1, с.41-<br />

46.<br />

143


ИССЛЕДОВАНИЕ ПЛАЗМЕННОЙ РАЗРЯДНОЙ СИСТЕМЫ С<br />

ПОЛЫМ КАТОДОМ И ИНЕРЦИОННО-<br />

ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИМ УДЕРЖАНИЕМ ИОНОВ<br />

Е.Д.Вовченко, К.И.Козловский, А.В.Самарин, А.С.Цыбин, А.Е.Шиканов<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Представляются первые экспериментальные результаты исследования<br />

плазменной разрядной системы, электроды которой выполнены в виде<br />

аксиально-симметричного диода с двухдисковым полым катодом и внешним<br />

цилиндрическим анодом (рис. 1). Разработка такого устройства, при<br />

дейтериевом газовом наполнении разрядной камеры, предполагает<br />

осуществление ядерных реакций d-d в режиме инерционно-электростатического<br />

удержания ионов с целью создания компактного нейтронного источника.<br />

Оценки, выполненные на основе расчетно-теоретической модели плазменного<br />

IEC-диода [1] показали, что эффективное удержание ионов возможно как в<br />

квазистационарном высоковольтном разряде при длительности возбуждения<br />

Ти ~ 100мкс, так и при комбинированном возбуждении с предварительной<br />

ионизацией разрядного промежутка.<br />

Рис. 1<br />

144<br />

Исследования режимов работы<br />

плазменного IEC-диода выполнены на<br />

водородной плазме. Для создания<br />

предварительной ионизации применен<br />

вспомогательный слаботочный разряд<br />

постоянного тока, который зажигался<br />

при напряжении между электродами<br />

~ 1 кВ в области давлений 10 −2 ÷3 Тор.<br />

Для ускорения ионов внутри полого<br />

катода к электродам дополнительно<br />

прикладывались импульсы высокого<br />

напряжения с амплитудой до 100 кВ<br />

при длительности ~ 2 мкс.


При выборе средств диагностики, кроме электрических измерений,<br />

основное внимание сосредоточено на бесконтактных оптических методах<br />

исследования. Приводятся результаты, полученные при различных режимах<br />

возбуждения и остаточных давлениях водорода в вакуумной камере: токи,<br />

измеренные в системе; пространственная структура интегрального свечения<br />

разрядного промежутка и спектры в видимом диапазоне. В качестве примера на<br />

рис.2 представлены осциллограммы, иллюстрирующие увеличение разрядного<br />

тока и подавление высокочастотных осцилляций при наличии предионизации.<br />

0,9∙10 −1 торр, без предионизации<br />

а) ток разряда (верхний луч; 5В/дел)<br />

и напряжение ГИН (нижний луч;<br />

1В/дел); развертка 0,4 мкс/дел<br />

145<br />

0,9∙10 −1 торр, с предионизацией<br />

б) ток разряда (верхний луч; 5В/дел)<br />

и напряжение ГИН (нижний луч;<br />

0,5В/дел); развертка 0,4 мкс/дел<br />

Рис.2<br />

Обсуждаются фотографии электронных лучей, формирующихся в<br />

центральной области разрядного промежутка. Данный режим должен<br />

обеспечить существенное увеличение тока ускоренных ионов и повышение<br />

эффективности d-d реакции в дейтериевой плазме. Для систем с инерционно-<br />

электростатическим удержанием дейтронов это приведет к соответствующему<br />

увеличению потока генерируемых нейтронов.<br />

Литература:<br />

1. Кузнецов А.Ю., Цыбин А.С., Шиканов А.Е. Модель формирования<br />

дейтонных потоков и генерации нейтронов в плазменном аксиальном<br />

диоде с инерциальным удержанием ионов// Известия ВУЗов. Физика. –<br />

2010. – Т.53 - №4. – С.50-56.


ДИАГНОСТИКА ПЛАЗМЫ В КОАКСИАЛЬНОМ УСКОРИТЕЛЕ И<br />

ОБРАБОТКА МАТЕРИАЛОВ ИМПУЛЬСНЫМ ПОТОКОМ<br />

А.М.Жукешов, А.У.Амренова, А.Т.Габдуллина, Т.Е.Нурланбаев<br />

НИИ Экспериментальной и теоретической физики Казахского Национального<br />

университета им.аль – Фараби<br />

Коаксиальный ускоритель <strong>плазмы</strong> КПУ-30 состоит из разрядной камеры,<br />

внутри которой расположены коаксиальные электроды, блока конденсаторов,<br />

вакуумного разрядника, системы заземления и защиты. Электродная система<br />

изготовлена из медных цилиндров с фланцами, разделенными изолятором из<br />

оргстекла. Диаметр внешнего электрода 90 мм, внутреннего - 26 мм, длина<br />

внешнего и внутреннего электродов соответственно 450 мм и 400 мм.<br />

Накопительная система общей емкостью 69 мкФ состоит из 23 импульсных<br />

конденсаторов ИК-50-3.<br />

Диагностика <strong>плазмы</strong> на установке КПУ-30 проведена при сплошном<br />

наполнении рабочим газом (воздух). Для измерения тока в различных частях<br />

установки использовались пояса Роговского, напряжение на электродах<br />

измеряли резистивно-емкостным делителем, плотность энергии термопарными<br />

калориметрами. Измерения разрядного тока и напряжения проводили при<br />

различных начальных давлениях (0,05 - 5) Торр. Типичная осциллограммы тока<br />

и напряжения на центральном электроде (изначально анод) приведены на<br />

рисунке 1а.<br />

146<br />

v, сm/usec<br />

7<br />

6<br />

5<br />

4<br />

3<br />

2<br />

1<br />

0<br />

0.05<br />

torr<br />

0.1<br />

torr<br />

Рисунок 1. Осциллограммы тока и напряжения (слева) и зависимость скорости<br />

потока от напряжения при различных давлениях (справа)<br />

0 5 10 15 20 25 30<br />

U, кV


В соответствии с рисунком, в начале разряда напряжение возрастает и<br />

становится больше прикладываемого, в этот момент на кривой тока<br />

наблюдается ряд осцилляций. Наличие быстро затухающих осцилляций в<br />

начале развертки можно объяснить отражением сигнала от концов кабеля, что<br />

характерно для таких измерений. Таким образом, в начальный момент<br />

наблюдается аномально высокое сопротивление <strong>плазмы</strong>.<br />

Вольтамперные характеристики разряда, полученные в диапазоне токов<br />

150-450 кА, остаются практически линейными, а значение тока слабо зависит от<br />

давления. Были приведены измерения скорости потока за срезом электродов в<br />

зависимости от напряжения при различном давлении (рисунок 1 б). Скорость<br />

потока за срезом электродов зависит степенным образом от напряжения, однако<br />

не зависит от давления. Эти факты свидетельствует о достаточно высокой<br />

степени ионизации <strong>плазмы</strong>. Далее изучена динамика токовых слоев и<br />

магнитного поля в КПУ-30. Осциллограммы от магнитных зондов, без<br />

использования интегратора, представлены на рисунке 2.<br />

0,05 Торр 1 Торр<br />

Рисунок 2. Осциллограммы производной магнитного поля<br />

При понижении давления зонд регистрирует высокочастотные колебания<br />

производной магнитного поля, что характеризирует наличие сильных<br />

осцилляций в плазме. Установлено, что колебания представляют собой<br />

широкополосный сигнал в диапазоне 2-10 МГц. Толщина токового слоя, по<br />

которому проходит разрядный ток, составила 4-5 см, независимо от давления.<br />

Средняя скорость потока составила 1,8 и 4,5 см/мкс при давлениях 1 и 0,05 Торр<br />

соответственно. Однако зависимость скорости потока от пройденного<br />

расстояния выглядит неординарно: если при высоком давлении скорость почти<br />

неизменна, то при низком давлении она падает с рассстоянием. Максимальная<br />

147


начальная скорость достигается в разные промежутки времени от начала<br />

разряда.<br />

Эксперименты с магнитными зондами показали, что в режиме<br />

«сплошного наполнения» картина распределения плотности <strong>плазмы</strong> в коаксиале<br />

изменяется при достижении критического значения плотности газа порядка 10 16<br />

см -3 , что соответствует 0,1 Торр, переходя из компактного характера в<br />

диффузный. Выше граничной плотности в канале ускорителя формируется<br />

плазменный поток с преимущественно аксиально-радиальным направлением<br />

линий тока, движущийся с постоянной скоростью около 3 см/мкс. В то же<br />

время, ниже этой плотности формируется поток с диффузным распределением<br />

тока, скорость которого в несколько раз выше.<br />

Таким образом, процессы в плазменном ускорителе соответствуют МГД<br />

модели лишь при начальных давлениях выше 0,5 Торр. При понижении<br />

давления меняется распределение тока в канале ускорителя, наблюдаются<br />

значительные осцилляции тока и напряжения, токи выноса и фокусировка,<br />

материал электродов появляется в плазме. Эти факты свидетельствуют о том,<br />

что динамика формирования <strong>плазмы</strong> в этом случае определяется в основном<br />

коллективными кинетическими процессами, в первую очередь<br />

приэлектродными явлениями и распределением электрического поля в<br />

окрестности электродов. Полученные данные, а также анализ работы других<br />

аналогичных устройств дают основания считать, что в этом случае плазму<br />

следует рассматривать как систему, склонную к самоорганизации и<br />

структурированию, благодаря ее внутренним свойствам. Динамические<br />

структуры, например двойные электрические слои, могут быть причиной<br />

возникновения колебаний разрядного тока и напряжения. В этом случае,<br />

механизм их ускорения определяется внутренним электрическим полем в<br />

плазме.<br />

Подробно исследовано воздействие плазменного потока на поверхность<br />

конструкционных сплавов на основе железа, с целью улучшения их физико-<br />

механических свойств. Показано, что после воздействия потоков <strong>плазмы</strong><br />

модифицируется структурно-фазовое состояние приповерхностного слоя этих<br />

материалов. Исходная структура углеродистой стали из Feα с ОЦК- решеткой<br />

преобразуется в двухфазный раствор феррит-аустенит. При воздействии на<br />

поверхность образцов углеродистой стали нескольких импульсов <strong>плазмы</strong> при<br />

148


Р=0,1 Торр. наблюдается дальнейшее увеличение интенсивности формирования<br />

γ-Fe и образование третьей фазы - мартенсита. Обработка n =30 импульсами<br />

приводит к образованию нитрида железа – Fe24N10. Методом атомно-силовой и<br />

электронной микроскопии были получены профиль поверхности образцов после<br />

плазменного воздействия (рисунок 3). На этих рисунках можно наблюдать<br />

столбчатое строение зерен, характерное при формировании мартенситной фазы.<br />

При этом, оценка размеров кристаллитов по АСМ и ЭРМ дает значения 20-30<br />

нанометров, что совпадает с оценками методом Шерерра.<br />

АСМ РЭМ<br />

Рисунок 3. Формирование наноразмерных кристаллитов в стали после<br />

воздействия потоков <strong>плазмы</strong><br />

В соответствии с приведенными экспериментами, условия импульсного<br />

плазменного воздействия, в частности вариация параметрами Q, Р и n,<br />

оказывает существенное влияние на структуру поверхности материалов. Это<br />

позволяет сделать вывод о том, что характер термических процессов при<br />

плазменной обработке инициирует фазовые преобразования, связанные со<br />

структурными перестройками. К примеру, при высоких давлениях (Р=0,1, 0,5<br />

Торр) действие ИПП на поверхность приводит к фазовому переходу ГЦК→ОЦК<br />

(реечно-двойниковая структура кристаллитов). В результате взаимодействия<br />

ионов плазмообразующего газа с атомами материала образуются как известные<br />

соединения, так и новые фазы, появление которых не предсказывается<br />

равновесными диаграммами состояния.<br />

Таким образом, исследование работы коаксиалов следует продолжать,<br />

так как по своим энергетическим возможностям это уникальные устройства для<br />

обработки поверхностного слоя материалов, а способность <strong>плазмы</strong> обтекать<br />

мишень является их существенным преимуществом.<br />

149


МЕХАНИЗМЫ ОБРАЗОВАНИЯ ВЫСОКОЭНЕРГЕТИЧНОГО<br />

РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ПЛАЗМЕ<br />

СИЛЬНОТОЧНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО РАЗРЯДА.<br />

А.С. Савѐлов, Г.Х. Салахутдинов<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Исследование спектров рентгеновского излучения <strong>плазмы</strong> в широком<br />

энергетическом диапазоне от 1 до 500 кэВ дает богатый материал для<br />

дальнейшего развития представлений о физических процессах, протекающих в<br />

плазменном объекте. В настоящее время существует несколько моделей<br />

физических процессов, протекающих в плазме сильноточного разряда. [1 – 3].<br />

Однако все существующие модели и экспериментальные работы оставили<br />

открытым важный вопрос: каково место кинетических эффектов и<br />

ускорительных процессов в физической картине образования <strong>плазмы</strong>,<br />

практически слабо исследованы механизмы генерации жесткого РИ. Для<br />

исследования данных вопросов был создать комплекс диагностической<br />

аппаратуры состоящий из многоканальных сцинтилляционных спектрометров<br />

импульсного рентгеновского излучения, спектрометров импульсного<br />

рентгеновского излучения на основе термолюминесцентных детекторов и<br />

ядерных эмульсий, спектрометра нейтронов, магнитного спектрометра<br />

электронов, камер-обскур и ряда стандартных приборов, таких, как пояс<br />

Роговского, пин-диода, вакуумного фотодиода, позволяющий в полном объеме<br />

провести исследования импульсного рентгеновского и корпускулярного<br />

излучения <strong>плазмы</strong> в процессе одного сильноточного разряда в различных<br />

режимах[4,5]. Эксперименты проводились на установках «плазменный фокус» и<br />

«низкоиндуктивная вакуумная искра». В установках низкоиндуктивная<br />

вакуумная искра с инициацией разряда от вспомогательных разрядных устройств<br />

эрозийного типа, рабочей средой разряда служили продукты эрозии материала<br />

электродов. Сила тока в разряде в экспериментах изменялась в пределах I � 30 –<br />

250 кА, период разряда T = 5 – 8,5 мкс. Установка «плазменный фокус» имела<br />

разрядную камеру с эллиптическими электродами мейзеровского типа и<br />

рассчитана на работу с разрядным током до 360 кА. Энергозапас конденсаторной<br />

батареи порядка 4 кДж[4,5].<br />

150


В ходе экспериментов на установке «низкоиндуктивная вакуумная<br />

искра» были получены интегральные по времени спектры РИ однократных<br />

сильноточных разрядов в режиме микропинчевания (рис.1), позволяющие<br />

связать наблюдаемые спектральные характеристики с физическими процессами,<br />

происходящими в плазме разряда. Исследования проводились в диапазоне<br />

энергий рентгеновских квантов 1,5÷500 кэВ. Различные участки спектра<br />

отвечают различным стадиям микропинчевого разряда (h� � � 1,5�15 кэВ –<br />

стадия формирования микропинча; h� � 15�85 кэВ – стадия развала<br />

микропинча; излучение с h� � 85 кэВ связано с развитием ускорительных<br />

процессов). Часть спектра в диапазоне энергий до 85 кэВ отличается высокой<br />

повторяемостью от импульса к импульсу и хорошо согласуется с моделью<br />

радиационного сжатия; в диапазоне h� � 85 кэВ спектр меняется случайным<br />

образом от разряда к разряду.<br />

Рис.1. Типичные спектры излучения Рис.2. Спектры быстрых электронов<br />

<strong>плазмы</strong> с электродами из железа, из <strong>плазмы</strong> железа при различных<br />

полученные при токе разряда 150 кА. значениях тока разряда:<br />

151<br />

1 – < 50кА; 2 – 150 кА<br />

Эксперименты по непосредственной регистрации электронов магнитным<br />

спектрометром (рис.2) с одновременным измерением спектра РИ (рис.1)<br />

показали, что высокоэнергетичная часть этих спектров (> 100 кэВ) коррелирует<br />

между собой. Наличие высокоэнергетичных электронов в спектре соответствует<br />

наличию высокоэнергетичного РИ (h� > 100 кэВ) в рентгеновском спектре, что<br />

указывает на наличие ускорительных процессов, приводящих к возникновению<br />

данного излучения. Как и рентгеновские спектры, спектры электронов имеют<br />

хорошую повторяемость в области энергий до 80 кэВ, далее спектр меняется<br />

случайным образом от разряда к разряду аналогично рентгеновскому спектру.


Непостоянство спектра определяется вероятностным характером протекания<br />

ускорительных процессов.<br />

Основным механизмом, приводящим к рождению высокоэнергетичных<br />

рентгеновских квантов h� > 85 кэВ, является возникновение электрических<br />

полей высокого напряжения (значительно больше чем на разрядных<br />

электродах). Данные электрические поля образуются в результате аномального<br />

роста омического сопротивления Rом плазменного столба, возникающего на<br />

стадии развала микропинча (в результате нарушения баланса энергопотери). По<br />

приведенным в работе [1] оценкам Rом достигает значения порядка 1 – 10 Ом.<br />

Из оценки, проведенной на основании измерения спектра рентгеновского<br />

излучения, данную величину можно оценить от 2 – 3 Ом.<br />

Полученные результаты не противоречат экспериментальным расчетам<br />

[3,6] и хорошо согласуются с теоретическими представлениями в процессах в<br />

плазме микропинчевого разряда.<br />

полученные в различных сериях измерений для камеры, заполнений аргоном Ar;<br />

дейтерием D (при различном выходе нейтронного излучения n1 = 10 6 , n2 = 10 7 )<br />

Приведены результаты исследования спектра импульсного РИ <strong>плазмы</strong> в<br />

диапазоне энергий квантов 1,5 кэВ � h� � 500 кэВ. Характер спектров РИ<br />

<strong>плазмы</strong>, получаемой на установке «Плазменный фокус», имеет большое<br />

сходство со спектром РИ <strong>плазмы</strong>, получаемой на установке типа<br />

низкоиндуктивной вакуумной искры, работающей в режиме микропинчевого<br />

разряда [4,5].<br />

Плазма, образованная в разрядной камере, заполненной Ar, обладает<br />

достаточно устойчивой картиной спектра РИ в отличие от <strong>плазмы</strong>,<br />

образованной в дейтерии. Вид спектра РИ в случае с дейтерием зависит от<br />

выхода нейтронного излучения. Чем выше абсолютный выход нейтронного<br />

излучения, тем интенсивней спектральная составляющая жесткого РИ с<br />

энергией h� � 100 кэВ.<br />

Рис.3. Типичные спектры излучения <strong>плазмы</strong> ПФ в диапазоне<br />

1,5 кэВ < h� < 500 кэВ<br />

152


Результаты одновременного измерения спектров РИ и выхода нейтронов<br />

на установках «плазменный фокус» позволили установить влияние<br />

ускорительных процессов на образование в плазме жесткого рентгеновского и<br />

нейтронного излучений и их взаимосвязь.<br />

Данный результат свидетельствует об ускорительной природе<br />

возникновения жесткого рентгеновского излучения вследствие быстрого роста<br />

аномального сопротивления <strong>плазмы</strong> за счет микротурбулентности. Пинч<br />

превращается в плазменный диод, на котором и происходят ускорительные<br />

процессы электронов и ионов. Ускоренный поток электронов вблизи анода<br />

испытывает аномальное поглощение, порождает мощный эффект нагревания<br />

<strong>плазмы</strong> до 2 – 3 кэВ и дает вспышку нейтронного излучения. Чем выше выход<br />

жесткого рентгеновского излучения, тем выше выход нейтронного излучения в<br />

ходе плазмофокусного разряда.<br />

Литература.<br />

1. Долгов А.Н., Вихрев В.В. // Физика <strong>плазмы</strong>. 2005. Т. 31. № 3 С. 290.<br />

2. Вихрев В.В., Иванов В.В., Кошелев К.Н. Формирование и развитие<br />

микропинчевой области в вакуумной искре // Физика <strong>плазмы</strong>. 1982. Т. 8.<br />

Вып. 6. С. 1211 – 1219.<br />

3. Веретенников В.А., Исаков А.И., Крохин О.Н., Семенов О.Г., Сидельников<br />

Ю.В. Временные характеристики рентгеновского излучения вакуумной искры.<br />

Препринт ФИАН № 59. 1983.<br />

4. Долгов А.Н., Савелов А.С., Салахутдинов Г.Х. Применение<br />

спектрометрического комплекса аппаратуры для рентгеновской диагностики<br />

<strong>плазмы</strong> импульсных установок // Прикладная физика. 2008. № 5. С. 103 – 107.<br />

5. М.В. Колтунов, Б.Д. Лемешко, А.С. Савелов, Г.Х. Салахутдинов, Д.И. Юрков,<br />

П.П. Сидоров // Прикладная физика. 2010. № 4 . С. 52– 56.<br />

6. Анциферов П.С., Вихрев В.В., Иванов В.В., Кошелев К.Н. Температура<br />

плазменных точек в вакуумно-искровых разрядах // Физика <strong>плазмы</strong>. 1990. Т. 16.<br />

Вып. 8. С. 1018 – 1023.<br />

153


СОВРЕМЕННЫЙ АТОМНО-ЭМИССИОННЫЙ<br />

СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ<br />

(КРАТКИЙ ОБЗОР К 150-ЛЕТИЮ МЕТОДА)<br />

С.Б. Заякина 1 , Г.Н. Аношин 1,2<br />

1 Институт геологии и минералогии им. акад. В.С.Соболева СО РАН,<br />

630090 Новосибирск, пр.Коптюга 3,<br />

2 Новосибирский государственный университет<br />

В 2009 году исполнилось 150 лет со дня открытия немецкими учеными<br />

Густавом Робертом Кирхгофом (12.III.1824-17.Х.1887) и Робертом Вильгельмом<br />

Бунзеном (31.III.1811-16.VIII.1899) оптического спектрального анализа, роль<br />

которого в различных областях науки и техники трудно переоценить.<br />

Г. Кирхгоф в своих работах на уровне знаний своего века рассмотрел<br />

основные теоретические вопросы оптического спектрального анализа. В<br />

практической же разработке нового метода большую роль сыграл Р. Бунзен,<br />

который был химиком экспериментатором высокого класса. По выражению<br />

Ю.А. Золотова и В.И. Вершинина [1, с. 128] «это был первый пример тесного<br />

сотрудничества физика и химика». В 1860 г. апрельском номере «Annalen der<br />

Physik und Chemie» была опубликована статья Г. Кирхгофа и Р. Бунзена<br />

«Химический анализ по спектру», которая фактически знаменовала рождение<br />

нового, принципиально отличного метода химического анализа. В основе<br />

нового метода лежало изучение спектров излучения пламени. Этот метод<br />

оказался очень чувствительным и специфичным, что позволило этим ученым<br />

сразу же открыть новые химические элементы – рубидий и цезий (1861, Р.<br />

Бунзен, Г. Кирхгоф), относящихся к группе щелочных металлов. Фактически<br />

это открытие являлось созданием новой и особой главы химии и физики –<br />

обнаружение новых химических элементов спектроскопическим методом.<br />

Следующими элементами, в открытии которых важную роль сыграл<br />

спектроскопический метод, были таллий (1861, В. Крукс,), индий (1863, Ф.<br />

Рейх, Т. Рихтер), галлий (1875, П. Лекок де Буабодран); а также благородные<br />

154


газы: гелий (1868, Дж. Н. Локьер, Ж. Жансен), аргон (1894, Д. Рэлей, У. Рамзай),<br />

неон, криптон и ксенон (1898, У. Рамзай, М. Траверс).<br />

Количественный спектральный анализ начал развиваться только в ХХ в.<br />

Одним из первых крупных ученых, практически применивших метод<br />

спектрального анализа, был наш выдающийся соотечественник академик В.И.<br />

Вернадский, который в 1909 г. привез в Россию первый спектрограф и<br />

применил этот метод для качественного обнаружения лития, рубидия, цезия,<br />

галлия в алюмосиликатах и других геологических объектах. По выражению<br />

В.И. Вернадского [2], открытие спектрального анализа явилось для геохимии и<br />

для естественных наук своеобразной вехой в развитии, поскольку спектральный<br />

анализ «доказал химическое единство Вселенной» и который «ясно и<br />

определенно подтвердил нахождение химических элементов в рассеянии,<br />

равномерном проникновении ими всей земной материи».<br />

Роль атомно-эмиссионного спектрального анализа в различных областях<br />

науки и техники, в том числе в химии, физике, науках о Земле трудно<br />

переоценить, поскольку на протяжении всех прошедших лет до настоящего<br />

времени, непрерывно развиваясь, находится в числе самых ведущих<br />

аналитических методов в аналитической химии. По богатству и надежности<br />

одновременно получаемой информации спектральный анализ не имеет себе<br />

равных. Особенно эффективно применение этого метода в геологии и<br />

геохимических исследованиях, так как подвергающийся исследованию<br />

материал отличается большим разнообразием и о составе анализируемых проб<br />

часто не имеется никаких предварительных данных.<br />

Надо отметить, что атомно-эмиссионный спектральный анализ долгие годы<br />

в различных его модификациях был ведущим аналитическим методом лабораторий<br />

Геологической службы СССР. По некоторым данным аналитическими службами<br />

МинГЕО СССР ежегодно анализировались десятки миллионов проб на многие<br />

элементы. Фактор многоэлементности является одним из ведущих при анализе<br />

геолого-геохимических проб. Отметим, что данные пробы во многом отражают<br />

состояние различных объектов окружающей среды изучаемых регионов.<br />

С развитием геохимических исследований основная задача геоаналитиков<br />

и экологов сводится к разработке методик спектрального анализа,<br />

обеспечивающих высокую производительность, требуемую точность при<br />

155


одновременном определении большого числа элементов в пробах переменного<br />

состава с пределами обнаружения на уровне кларковых концентраций.<br />

Современные спектральные приборы, применяющие индуктивно-<br />

связанную плазму (ICP): в атомно-эмиссионном спектральном анализе (ICP-<br />

AES) и масс-спектрометрии (ICP-MS), используют растворы, имеющие<br />

определенные ограничения по концентрации. Для целей геохимии и<br />

исследований, связанных с различными проблемами окружающей среды,<br />

значительный интерес вызывают установки, позволяющие проводить<br />

элементный анализ непосредственно в твердой фазе. В практике спектрального<br />

анализа твердых проб используется традиционная дуга постоянного или<br />

переменного тока, а также получили распространение дуговые плазмотроны[3],<br />

в плазменный факел которых вдувается измельченная проба.<br />

Развитие приборной базы атомно-эмиссионного спектрального анализа,<br />

применение новых источников возбуждения спектров, внедрение<br />

компьютеризации всего процесса анализа и обработки результатов позволяют<br />

быстро и надежно решать большинство задач[4], поставленных перед<br />

геохимиками и экологами.<br />

Литература:<br />

1. Золотов Ю. А., Вершинин В.И. История и методология аналитической<br />

химии. ─ М.: Изд. центр «Академия»,2007. ─ 464с.<br />

2. Вернадский В.И. Материалы для спектроскопии земной коры. //Избранные<br />

сочинения. Т. II.─М.: Изд-во АН СССР, 1954.─ С.486 – 505.<br />

3. Жуков М.Ф., Тимошевский А.Н.. Ващенко С.П. и др. Плазмотроны.<br />

Исследования. Проблемы. ─Новосибирск: изд-во СО РАН, 1995. ─203 с.<br />

4. Заякина C. Б.,. Аношин Г.Н, Митькин В.Н., Миронов А.Г. Возможности<br />

новой универсальной установки для атомно-эмиссионного анализа<br />

дисперсных природных и технологических проб //Заводская лаборатория.<br />

Диагностика материалов. ─2007. ─Т.71 ─ Специальный выпуск ─ С.73-79<br />

156


АНАЛИЗ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ СКОРОСТИ<br />

РОСТА ПЛЕНОК a � Si : H В СИЛАНОВЫХ ПЛАЗМЕННЫХ<br />

СМЕСЯХ ПОНИЖЕННОГО ДАВЛЕНИЯ<br />

С.П. Тимошенков 1 , Е.П. Прокопьев 2 , Н.М.Зарянкин 1 , А.С. Тимошенков 1 ,<br />

И.М.Бритков 1 , О.М Бритков 1 ;С.С. Евстафьев 1 , А.И. Виноградов 1<br />

1. Московский Государственный Институт Электронной техники (технический<br />

университет) (МИЭТ)<br />

2. ФГУП ГНЦ Институт теоретической и Экспериментальной Физики им.<br />

А.И.Алиханова (ИТЭФ)<br />

В работе [1] в рамках гидродинамической модели течения газовой смеси<br />

вблизи критической точки в диодной ячейке реактора [2] предложены<br />

одномерные модели роста аморфных пленок a � Si : H на различных подложках<br />

в условиях высокочастотного (ВЧ) тлеющего разряда в силановых плазменных<br />

смесях пониженного давления, например, SiH 4 � H2<br />

и SiH 4 � He.<br />

Принималось, что рост пленок обусловлен массопереносом SiH 2 и SiH 3<br />

радикалов к растущей поверхности. Ниже на качественном уровне дается<br />

анализ этих математических моделей процессов.<br />

Модель конфигурации течения газовой смеси вблизи критической точки<br />

Согласно работе [1], скорость роста V p в этом случае определяется<br />

выражением<br />

V<br />

p<br />

8 PP0T<br />

� 4,<br />

55�10<br />

760RT<br />

S<br />

2<br />

0<br />

0<br />

DRP<br />

1<br />

P 2<br />

5 � QinTinh<br />

�<br />

8 �<br />

�<br />

31,<br />

5ST<br />

�<br />

�<br />

� � S �<br />

157<br />

1<br />

/ 2<br />

C � ne<br />

���v<br />

�<br />

xc<br />

Qin<br />

TS<br />

CP0<br />

�1<br />

60S<br />

T h<br />

В формуле (10) параметр модели C � 5,<br />

2�10<br />

. В этом случае<br />

зависимости p V от X n даются следующими выражениями.<br />

1) Зависимость скорости роста p V от содержания силана x c в газовой смеси<br />

при остальных «закрепленных» параметрах имеет вид<br />

xc<br />

V ( x ) � A x � 2,<br />

14x<br />

(2)<br />

p<br />

c<br />

M<br />

c<br />

c<br />

in<br />

�3<br />

2) Зависимость V p от вложенной в силановую плазму мощности W ВЧ<br />

тлеющего разряда имеет вид<br />

W<br />

�2<br />

V ( W)<br />

� A W � 0,<br />

54�10<br />

W<br />

(3)<br />

p<br />

3) Зависимость V p от P есть в этом случае<br />

M<br />

P<br />

V ( P)<br />

� A P � 0,<br />

214 � P<br />

(4)<br />

p<br />

M<br />

4) Зависимость p V от температуры поверхности подложки T S дается<br />

формулой<br />

1/<br />

2<br />

T TS<br />

T<br />

S<br />

�2<br />

S<br />

Vp<br />

( TS<br />

) � AM<br />

� 3,<br />

7�10<br />

(5)<br />

�3<br />

1�<br />

a T 1�<br />

5,<br />

65�10<br />

T<br />

TS<br />

S<br />

S<br />

(1)


5) Зависимость V p от температуры газовой смеси на входе в диодную<br />

V<br />

ячейку T in имеет вид<br />

T<br />

T<br />

� (6)<br />

T<br />

3/<br />

2<br />

p ( Tin)<br />

Tin<br />

AM<br />

in<br />

1�<br />

aT<br />

T in in<br />

�5<br />

in<br />

� 5,<br />

65 �10<br />

�3<br />

1�<br />

1,<br />

17 �10<br />

6) Зависимость p V от объемной скорости потока газовой смеси Q in дается<br />

выражением<br />

Q<br />

Q<br />

V � (7)<br />

Q<br />

1/<br />

2<br />

1/<br />

2<br />

p ( Qin<br />

)<br />

Qin<br />

in AM<br />

1�<br />

aT<br />

T in in<br />

in<br />

� 0,<br />

118<br />

�2<br />

1�<br />

5,<br />

7�10<br />

7) Зависимость V p от расстояния между электродами h есть<br />

V<br />

1/<br />

2<br />

1/<br />

2<br />

h h<br />

h<br />

h)<br />

� AM<br />

� 0,<br />

3<br />

(8)<br />

1�<br />

a h 1�<br />

6,<br />

75 �10<br />

h<br />

p ( �2<br />

h<br />

8) Зависимость V p от общей поверхности отверстий в катоде S имеет вид<br />

1/<br />

2<br />

1/<br />

2<br />

S S<br />

S<br />

Vp<br />

( S)<br />

� AM<br />

�1,<br />

11<br />

(9)<br />

�2<br />

1�<br />

aS<br />

S 1�<br />

0,<br />

95�10<br />

S<br />

4. Сравнение расчетных данных с экспериментом. Заключение<br />

Сравнение графических зависимостей p V от X n вида (2)-(9) с<br />

экспериментальными зависимостями p V от X n [1] показало, что эти<br />

зависимости как количественным, так и качественным образом,<br />

удовлетворительно согласуются между собой. Это позволяет сделать<br />

заключение о реальном характере предлагаемых моделей пограничного слоя<br />

Неймана-Зауэра течения газовой смеси вблизи критической точки. В связи с<br />

этим в дальнейшем следовало бы провести более подробные<br />

экспериментальные исследования зависимостей p V от X n именно вида (2)-(9).<br />

Однако наибольший интерес представляет выяснение влияния того или<br />

иного параметра процесса на скорость роста и требования стабилизации<br />

технологических параметров, позволяющие оптимизировать процесс роста<br />

пленок � � Si : H . Действительно, при изготовлении солнечных элементов на<br />

основе пленок � � Si : H предъявляются довольно жесткие требования к их<br />

однородности. Для этого необходимо стабилизировать технологические<br />

параметры и основные характеристики диодной ячейки реактора в процессе<br />

эксплуатации. В этой связи представляет большой интерес изучение<br />

чувствительностей скорости роста V p к изменению тех или иных<br />

технологических параметров процесса и характеристик реактора, определяемых<br />

выражениями [3]<br />

�Vp<br />

� Vp � �X<br />

X<br />

n,<br />

�X<br />

n � �X<br />

n<br />

(10)<br />

n �X<br />

n<br />

Здесь X n - символ технологического или конструкционного параметра<br />

реактора, а � V / ) 100 % - чувствительность.<br />

( P VP<br />

158<br />

in<br />

in


Отметим, что зависимости p V от X n даются приведенными выше<br />

выражениями (2)-(9). В табл.1 приведены рассчитанные по этим формулам<br />

чувствительности скорости роста пленок � � Si : H для стандартных условий<br />

процесса, приведенных выше.<br />

Таблица 1<br />

Чувствительности скорости роста V p пленок Si : H � � к изменению на 10<br />

% параметров процесса и характеристик диодной ячейки реактора<br />

Параметр Символ n X<br />

Чувствительность<br />

�Vp<br />

�100<br />

%<br />

V<br />

Давление в реакторе Р +10<br />

Мощность ВЧ разряда W +10<br />

Содержание силана xc +10<br />

Температура на входе Твх +10<br />

Температура<br />

поверхности<br />

T s<br />

+0,3<br />

Объемная скорость<br />

потока<br />

Qвх<br />

-5<br />

Расстояние между<br />

h +5<br />

электродами<br />

Площадь отверстий в<br />

катоде<br />

S +5<br />

Таким образом, данные табл.1 для заданного реактора и уточненной по<br />

экспериментальным результатам модели (конструкционные параметры реактора<br />

и параметры модели фиксированы) главными факторами, влияющими на<br />

скорость роста V p , являются параметры: давление в реакторе P , мощность ВЧ<br />

разряда W , концентрация силана c x , температура на входе T in .<br />

Покажем далее, каким образом на основании данных табл.1 возможно<br />

сформулировать условие поддержания оптимальных значений V p в реальных<br />

условиях ведения процесса. Как известно [3], если , ,..., ) x x x f z � есть<br />

159<br />

p<br />

( 1 2 n<br />

некоторая нелинейная функция случайных некоррелированных величин<br />

1 , x2<br />

xn<br />

, слабо меняющаяся во всей области изменений ( 1, 2,...,<br />

n)<br />

x x<br />

x ,...,<br />

дисперсию<br />

2<br />

S можно аппроксимировать выражением<br />

2<br />

2<br />

2<br />

x , то<br />

2 2 � �f<br />

� 2 2 � �f<br />

� 2 2 � �f<br />

� 2 2<br />

v f f � �<br />

� vx<br />

x1<br />

v 2 ...<br />

1<br />

x x<br />

v<br />

2<br />

x x n n<br />

x<br />

�<br />

� � �<br />

� � �<br />

1 x<br />

�<br />

�<br />

�<br />

�<br />

2<br />

x �<br />

�<br />

(11)<br />

��<br />

� ��<br />

� ��<br />

n �<br />

Это выражение получают, разлагая функцию ( 1, 2,...,<br />

n ) x x x f z � в ряд<br />

Тейлора, ограничиваясь членами первого порядка и суммируя по закону<br />

сложения дисперсий. Очевидно, что случаю равной точности<br />

� v � ... v � v ) поддержания всех параметров процесса соответствует<br />

( v 1 2<br />

n 0 x<br />

x x<br />

выражение


2<br />

� � �<br />

� �f<br />

� 2<br />

v � �<br />

�<br />

f f v0<br />

xn<br />

(12)<br />

n ��x<br />

n �<br />

Приняв достаточно высокую для практических целей вероятность<br />

получения товарной партии структур (р = 0,95) и ориентируясь на нормальное<br />

распределение случайных отклонений всех учтенных величин, запишем для<br />

допустимого разброса по толщине 5 % условие стабилизации процесса<br />

2<br />

� � �<br />

0,<br />

05V<br />

p �1,<br />

96v0<br />

��V<br />

p �<br />

�<br />

�<br />

n � �xn<br />

�<br />

2<br />

xn<br />

, (13)<br />

а лучше<br />

� � �<br />

v0<br />

�<br />

1,<br />

96v0<br />

0,<br />

05V<br />

p<br />

(14)<br />

2<br />

��V<br />

p � 2<br />

�<br />

� xn<br />

n � �xn<br />

�<br />

Из формулы (14) формулируются требования к системе стабилизации<br />

каждого из технологических параметров � p<br />

� � v , % (15)<br />

p<br />

Vp<br />

Воспользовашись выражениями (2) – (9) и (14), получаем условие<br />

стабилизации параметров процесса наращивания пленок a � Si : H<br />

� p � vV<br />

�1,<br />

1,<br />

% (16)<br />

p<br />

На основании данных табл.1 определили по методу, изложенному выше,<br />

условие стабилизации технологических параметров при допустимом разбросе<br />

пленок a � Si : H по толщине в 5 % : � V �1,<br />

1 5. Следовательно, для выпуска<br />

солнечных элементов и полевых транзисторов с допустимым разбросом пленок<br />

a � Si : H по толщине в 5 % необходимо поддерживать технологические<br />

параметры: давление в реакторе P , мощность ВЧ разряда W , концентрация<br />

силана c x , температура на входе in T . и температуру поверхности T s с<br />

точностью не менее 1,1 %.<br />

Представляет интерес сравнить теоретические и экспериментальные<br />

значения разброса скорости роста (а следовательно и толщин p gr t V d � , где t gr -<br />

время наращивания) пленок a � Si : H по поверхности подложек, определяемых<br />

функционалами<br />

Vp<br />

(max) �V<br />

p (min) d(max)<br />

� d(min)<br />

� V �<br />

, � d �<br />

(17)<br />

V (max) �V<br />

(min) d(max)<br />

� d(min)<br />

p<br />

p<br />

Здесь в качестве величин V p (max) , d (max) - берутся значения на входе в<br />

реактор, а значения V p (min) , d (min) - на выходе из него. Наши оценки показали<br />

[3], что величины � d удовлетворяют условию � d � 5 %.<br />

Литература<br />

1. Petrov S.V., Prokop'ev E.P., Sokolov E.M. Analysis of amorphous silicon<br />

deposition conditions in plasma silane mixtures at low pressure. Nuovo Cimento.<br />

D. 1997. Vol.19. №6. P.817-826.<br />

2. Neumann G. and Zshauer K.-H., // J. Crystal Growth. 1988. Vol.92. P.397.<br />

3. Лившиц Н.А., Пугачев В.Н. Вероятностный анализ систем<br />

автоматического управления. М.: Советское радио, 1963.<br />

160


ДИАГНОСТИКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОТЕРЬ АЛЬФА<br />

ЧАСТИЦ В ИТЕРЕ<br />

1. Организация ИТЕР<br />

Е.А. Вещев 1 , Л. Берталот 1 , С. Путвинский 1<br />

Для осуществления термоядерной реакции в установке ИТЕР<br />

планируется использовать дейтерий и тритий. В результате их синтеза в плазме,<br />

удерживаемой магнитным полем, образуется 14-ти МэВный нейтрон и<br />

3.5МэВная альфа-частица (гелий). Нейтроны разлетаются из <strong>плазмы</strong> и<br />

нагревают Бланкет, окружающий плазму, с которого впоследствии снимается<br />

тепло и трансформируется в электроэнергию. Заряженые высокоэнергетичные<br />

альфа частицы, удерживаемые магнитным полем, остаются в плазме, где<br />

должны стать основным источником еѐ нагрева. Ларморовский радиус альфа<br />

частицы, рожденной в результате термоядерной реакции, достигает 5-10 см<br />

вблизи стенок реактора. Столкновение альфа частиц со стенкой реактора<br />

приведет к потерям энергии из <strong>плазмы</strong>. В добавок к этому, потери альфа частиц,<br />

сконцентрированные в отдельных точках на стенке реактора, могут привести к<br />

еѐ эррозии. Более того, столкновение высокоэнергетических частиц со стенкой<br />

реактора ведет к проникновению примесей, выбитых из стенки, в плазму, что<br />

является крайне неблагоприятным для неѐ.<br />

Диагностика, позволяющая измерять потери альфа частиц в абсолютных<br />

еденицах, с разрешением по времени, энергии и углам необходима для<br />

понимания механизмов их потерь и оптимизации параметров <strong>плазмы</strong>. На<br />

современных термоядерных установках для таких измерений используются<br />

сцинтилляторы [1-4] и Фарадеевские чашки [5-7] или их симбиоз[8]. Однако<br />

применение этих устройств на ИТЕРе столкнется со значительными<br />

сложностями в виде существенных тепловых потоков возле первой стенки - до<br />

0.5МВт/м 2 за счет излучения в перпендикулярном направлении, от 2-3 МВт/м 2<br />

за счет ионов/электронов в параллельном направлении при стационарном<br />

режиме и до 40МВт/м 2 во время зажигания плазменного разряда или после<br />

срыва [9-10]; нагрев нейтронам будет до 4 МВт/м 3 для нержавеющей стали и 18<br />

МВт/м 3 для вольфрама, что значительно выше уровня нейтронного нагрева<br />

близкого к нулю на современных термоядерных установках. Вдобавок ко всему,<br />

на ИТЕРе запланировано около 30-ти тысяч разрядов при длительности каждого<br />

из них на 2 порядка выше чем во многих современных установках. В результате,<br />

множество эффектов, связанных с изменениями физических свойств материалов<br />

под воздействием нейтронов и больших потоков частиц и излучения должны<br />

быть приняты во внимание при дизайне всех диагностик и диагностики потерь<br />

альфа частиц в особенности.<br />

Одним из перспективных решений для измерения потерь альфа-частиц из<br />

<strong>плазмы</strong> с одновременным разрешением по углам, энергиям, времени и<br />

абсолютным величинам является двигающийся в возвратно-поступательном<br />

режиме зонд с детектором внутри. Использование такой методики позволяет<br />

скрыть головку зонда с детектором от крайне высоких тепловых нагрузок во<br />

время начала разряда (до 40МВт/м 2 ), уменьшить сумарный поток нейтронов на<br />

161


детектор и продлить срок действия диагностики. В результате исследований<br />

выбрано оптимальное положение детектора в камере ИТЕРа, расчитаны<br />

диапазоны измеряемых энергий и углов, оценено влияние тепловых нагрузок на<br />

зонд и подобрано оптимальное время для измерений (не более 500мс). Для<br />

предотвращения детектора от перегрева предлагается сделать стенки зонда из<br />

хорошо отполированных многослойных теплоизолированных фольг. Дизайн<br />

зонда предполагает использование двойной подвижной системы (рельс внутри<br />

рельса) - это предусмотрено на случай срыва, когда зонд может быть<br />

деформирован и застрять в камере токамака. Для этого наружный рельс,<br />

остававшийся неподвижным в течение всех предыдущих измерений и движений<br />

подвижного внутреннего рельса, сможет втянуть всю систему обратно на<br />

несколько сантиметров в диагностический порт.<br />

Литература:<br />

1. S.J. Zweben, R.L. Boivin, M. Diesso, S. Hayes, H.W. Hendel, H. Park, J.D.<br />

Strachan, ―Loss of Alpha-like MeV Fusion Products from TFTR‖, Nuclear Fusion,<br />

Vol.30, No.8 (1990) 1551-1574<br />

2. M. Isobe, D. S. Darrow, T. Kondo, M. Sasao, K. Toi, and M. Osakabe, H. Shimizu,<br />

Y. Yoshimura, C. Takahashi, S. Murakami, S. Okamura, and K. Matsuoka, ‖Escaping<br />

fast ion diagnostics in compact helical system heliotron/torsatron‖, Review of<br />

Scientific Instruments, Vol.70, No.1 (1999) 827-830<br />

3. S. Baeumel, A. Werner, R. Semler, S. Mukherjee, D. S. Darrow and R. Ellis, F. E.<br />

Cecil, L. Pedrick, H. Altmann, V. Kiptily, J. Gafert, and JET-EFDA Contributors,<br />

―Scintillator probe for lost alpha measurements in JET‖, Review of Scientific<br />

Instruments, Vol.75, No.10 (2004) 3563-3565<br />

4. R. K. Fisher, D.C. Pace, M. García-Muñoz, W. W. Heidbrink, C. M. Muscatello,<br />

M. A. Van Zeeland, and Y. B. Zhu, ―Scintillator-based diagnostic for fast ion loss<br />

measurements on DIII-D‖, Review of Scientific Instruments, Vol.81, (1999) 10D307<br />

5. F. E. Cecil, B. Roy, S. Kern, A. Nowak, and Y. Takimoto, O. N. Jarvis, P. van<br />

Belle, G. J. Sadler, M. Hone, and M. Loughlin, D. Darrow, S. S. Medley, and L.<br />

Roquemore, C. Barbour, ―Development and operation of a thin foil Faraday collector<br />

as a lost ion diagnostic for high yield d-t tokamak fusion plasmas‖, Review of<br />

Scientific Instruments, Vol.70, No.1 (1999) 1149-1153<br />

6. D. S. Darrow, S. Bäumel, F. E. Cecil, V. Kiptily, R. Ellis, L. Pedricka, A. Werner<br />

―Design and construction of a fast ion loss Faraday cup array diagnostic for Joint<br />

European Torus‖, Review of Scientific Instruments, Vol.75, No.10 (2004) 3566-3568<br />

7. Doug Darrow, Stefan Baeumel, Ed Cecila, Bob Ellis, Keith Fullard, Ken Hill, Alan<br />

Horton, Vasily Kiptily, Les Pedrick, Matthias Reich, Andreas Werner, JET-EFDA<br />

Contributors, ―Initial results from the lost alpha diagnostics on Joint European Torus‖,<br />

Review of Scientific Instruments, Vol.77, (2006) 10E701<br />

8. M. Garcia-Munoz, N. Hicks, R. van Voornveld, I. G. J. Classen, R. Bilato, V.<br />

Bobkov, M. Bruedgam, H.-U. Fahrbach, V. Igochine, S. Jaemsae, M. Maraschek, K.<br />

Sassenberg, and ASDEX Upgrade Team, ―Convective and Diffusive Energetic<br />

Particle Losses Induced by Shear Alfvén Waves in the ASDEX Upgrade Tokamak‖,<br />

Phys. Rev. Lett. 104, 185002 (2010).<br />

9. R.A.Pitts, FST PWI Section https://user.iter.org/?uid=35H3EN<br />

10. R. Mitteau, https://user.iter.org/?uid=34TQ77<br />

162


СПЕКТРАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ ПРОЦЕССА ТРАВЛЕНИЯ<br />

GaAs В ПЛАЗМЕ HCl<br />

А. В. Дунаев, С. А. Пивоваренок, С.П. Капинос, А. М. Ефремов,<br />

В. И. Светцов<br />

Ивановский Государственный Химико-Технологический Университет<br />

Хлорсодержащие газы широко используются в технологии микро- и<br />

наноэлектроники при плазменном травлении (ПТ) полупроводников (моно- и<br />

поликристаллический Si, GaAs, InP) и металлов (Al, Cu) [1]. В настоящее время<br />

большое внимание специалистов в области ПТ уделяется галогенводородам, в<br />

том числе - HCl. Достоинствами HCl являются отсутствие полимеризационных<br />

явлений, низкие (по сравнению с плазмой Сl2) степени диссоциации,<br />

обеспечивающие преимущество в анизотропии и селективности процесса, а<br />

также лучшие равномерность и чистота обработки поверхности, достигаемые за<br />

счет химических реакций атомов водорода. Очевидно, что успешная<br />

технологическая реализация ПТ с использованием HCl в качестве<br />

плазмообразующего газа невозможна без разработки простого и надежного<br />

метода контроля таких процессов, позволяющего получать информацию о<br />

скорости целевого процесса в режиме реального времени. В настоящее время,<br />

одним из самых распространенных методов исследования как массового состава<br />

активных частиц <strong>плазмы</strong>, так и гетерогенных плазменных процессов является<br />

эмиссионный спектральный анализ. Исследование возможностей этого метода<br />

применительно к ПТ GaAs в HCl и явилось целью настоящей работы.<br />

Эксперименты проводились в стеклянном цилиндрическом реакторе<br />

проточного типа (радиус = 1.8 см, длина зоны разряда = 40 см) при<br />

возбуждении тлеющего разряда постоянного тока (давление газа = 20–100 Па,<br />

ток разряда = 10–60 мА, скорость потока газа = 2–8 см 3 /сек при н. у.).<br />

Образцы GaAs (фрагменты полированных пластинки размером � 1 см 2 )<br />

располагались в зоне положительного столба разряда на уровне стенки<br />

реактора. Хлористый водород получали химическим методом [2]. Скорость<br />

163


травления измерялась гравиметрически, по изменению массы образца после<br />

обработки в плазме. Запись спектров излучения <strong>плазмы</strong> осуществлялась с<br />

помощью оптоволоконного спектрометра AvaSpec-2048-2 с фотоэлектрической<br />

системой регистрацией сигнала и накоплением данных на ЭВМ. Рабочий<br />

диапазон длин волн составлял 300–1000 нм. При расшифровке спектров<br />

использовались справочники [3, 4].<br />

Эксперименты показали, что в спектре излучения <strong>плазмы</strong> HCl<br />

присутствуют две группы линий атомарного хлора (менее интенсивные в сине-<br />

зеленой части спектра 430–460 нм, обусловленные возбуждением состояния ,<br />

и более интенсивные в красной области 700–900 нм, связанные с излучательной<br />

дезактивацией состояния ), а также характерные линии атомов водорода H�,<br />

H� и H� серии Бальмера с длинами волн 656.4 нм, 486.2 нм и 434.1 нм,<br />

соответственно. Наиболее интенсивными, стабильно проявляющимися и<br />

свободными от перекрывания с соседними максимумами являются линии Cl<br />

452.6 нм ( , = 11.94 эВ), Cl 725.4 нм ( , = 10.6<br />

эВ ), Cl 837.6 нм ( , = 10.4 эВ) и H 656.4 нм ( ,<br />

= 12.09 эВ). Высокие значения пороговых энергий позволяют рассматривать<br />

возбуждение атомов электронным ударом как основной механизм заселения<br />

верхних состояний, пренебрегая механизмом диссоциативного возбуждения [5].<br />

Кроме этого, низкие времена жизни соответствующих возбужденных состояний<br />

позволяют рассматривать излучательную дезактивацию как основной механизм<br />

данного процесса. В присутствии образцов GaAs в реакторе спектр излучения<br />

<strong>плазмы</strong> заметно изменяется за счет появления максимумов излучения продуктов<br />

взаимодействия (рис. 1) – системы полос GaCl (325.5, 330.4, 334.7, 341.8, 352.7<br />

нм с = 3.70 эВ) и резонансных линий Ga (403.3 и 417.3 нм с ~ 3.07 эВ).<br />

Известно, что интенсивность излучения частиц является функцией не<br />

только их концентрации, но определяется условиями возбуждения. Поэтому<br />

получение прямой пропорциональности между интенсивностью излучения и<br />

концентрацией соответствующих частиц является маловероятным, однако в<br />

ряде случаев прямые измерения интенсивностей излучения могут быть полезны.<br />

Одним из таких вариантов является спектральный контроль плазменного<br />

травления материалов по излучению продуктов травления, имеющих<br />

потенциалы возбуждения ниже средней энергии электронов в плазме. В этом<br />

164


случае коэффициент скорости возбуждения будет слабо зависеть от параметров<br />

разряда и при варьировании последних не в очень широком диапазоне можно<br />

ожидать однозначной зависимости между концентрацией продуктов травления<br />

в газовой фазе (т.е. скоростью травления для стационарного процесса) и<br />

интенсивностью излучения.<br />

Интенсивность, отн. ед.<br />

25<br />

20<br />

15<br />

10<br />

5<br />

GaCl 352.7<br />

Ga 403.3<br />

Ga 417.3<br />

Cl (5p)<br />

0<br />

350 375 400 425 450 650 700 750 800 850 900<br />

165<br />

�, нм<br />

H � 656.3<br />

Cl (4p)<br />

Рис.1 Общий вид спектра излучения <strong>плазмы</strong> HCl при травлении GaAs � = 100<br />

Па,�р = 20 мА.<br />

В исследованном диапазоне условий процесс травления GaAs в плазме<br />

HCl протекает стационарно, в кинетической области и имеет первый<br />

кинетический порядок по концентрации атомов хлора (основных активных<br />

частиц) в газовой фазе. Это подтверждается линейным характером<br />

гравиметрических кинетических кривых, а также наличием прямой взаимосвязи<br />

между изменением концентрации атомов хлора и скорости травления при<br />

варьировании внешних параметров разряда [6]. Эксперименты показали также<br />

наличие однозначной линейной корреляции между изменением скорости<br />

травления и интенсивностью излучения полосы GaCl 352.7 нм (рис. 2). Таким<br />

образом, концентрация GaCl в газовой фазе прямо пропорциональна скорости<br />

травления и «отслеживает» изменение последней. Это позволяет использовать<br />

излучение полосы GaCl 352.7 нм для контроля кинетики травления GaAs, а<br />

также для определения моментов начала и окончания процесса травления в<br />

режиме реального времени.


Рис. 2. Зависимость интенсивности излучения полосы GaCl от скорости<br />

травления арсенида галлия в плазме HCl (�р = 20 мА)<br />

Литература:<br />

1. Wolf S., Tauber R.N. Silicon Processing for the VLSI Era. V. 1. Process<br />

Technology. N. Y.: Lattice Press. 2000. 890 p.<br />

2. Ю.В. Корякин, И.И. Ангелов. Чистые химические вещества. – М.: Химия,<br />

1974. 408 с.<br />

3. Pearse R.W.B., Gaydon A.G. The identification of molecular spectra. Fourth<br />

edition. New York.: John Wiley & Sons, inc. 1976. 407p.<br />

4. Стриганов А.Р., Свентицкий Н.С. Таблицы спектральных линий<br />

нейтральных и ионизированных атомов. М.: Атомиздат. 1966. 899 с.<br />

5. Ефремов А.М., Куприяновская А.П., Светцов В. И. Спектр излучения<br />

тлеющего разряда в хлоре// Журнал прикладной спектроскопии. 1993. T.59.<br />

№3–4. С.221–225.<br />

6. Дунаев А.В., Пивоваренок С.А., Семенова О.А., Ефремов А.М., Светцов<br />

В.И. Кинетика и механизмы плазмохимического травления GaAs в хлоре и<br />

хлороводороде // Сборник трудов IV всероссийской конференции<br />

«Актуальные проблемы химии высоких энергий» Москва РХТУ им. Д.И.<br />

Менделеева 2-4 ноября 2009.<br />

166


ЛАЗЕРНАЯ ПУФА-ТЕРАПИЯ. ОБРАЗОВАНИЕ СШИВОК<br />

ДНК ПОД ДЕЙСТВИЕМ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО<br />

ИЗЛУЧЕНИЯ АЗОТНОГО ЛАЗЕРА В ПРИСУТСТВИИ 8-МОП<br />

Д.А. Жестиливский, С.А. Румянцев, С.А. Соломатин, Н.М.Сухов, З.И.Мошнина,<br />

Е.Д. Вовченко, А.С. Савелов, М.В. Мошнин<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Для лечения псориаза и других кожных заболеваний широко применяется<br />

метод ПУФА-терапии – сочетанное воздействие на кожу ультрафиолетового<br />

света с длинами волн 320 ÷ 400 нм (УФА) и препаратов из группы<br />

псораленов (П). Эти вещества растительного происхождения интересны тем,<br />

что способны встраиваться (по термодинамическим причинам) в<br />

двуспиральную ДНК биологических структур, например клеток кожи. После<br />

поглощения кванта УФА излучения линейная молекула псоралена ковалентной<br />

связью соединяется с одной из нитей ДНК, затем, после поглощения второго<br />

кванта УФА, образуется так называемая «сшивка» молекул ДНК. Поперечные<br />

«сшивки» в двуспиральной ДНК клеток кожи препятствуют процессу<br />

ускоренного (патологического) деления этих клеток. На этом эффекте основано<br />

лечение псориаза методом ПУФА-терапии.<br />

Источниками УФА излучения в настоящее время являются ртутно-<br />

кварцевые и люминесцентные лампы. Они, наряду с несомненными<br />

достоинствами, обладают рядом существенных недостатков: пары ртути могут<br />

представлять серьезную проблему при утилизации отработавших ресурс ламп, а<br />

также в случае повреждения в действующих аппаратах; лампы имеют<br />

ограниченную мощность при необходимости интенсивного локального<br />

воздействия; линейчатый спектр ртутных ламп имеет интенсивные полосы<br />

испускания по всему диапазону ультрафиолетового света.<br />

В данной работе показана возможность разработки более простой и<br />

относительно недорогой медицинской аппаратуры на основе азотного лазера с<br />

длиной волны 337 нм и обсуждаются преимущества применения излучения в<br />

167


этом спектральном диапазоне. Исследовали образование «сшивок» ДНК по<br />

изменению гиперхромного эффекта в образцах проб с 8-метоксипсораленом<br />

(8-МОП), которые облучали азотным лазером.<br />

Гиперхромный эффект наблюдается в буферных растворах<br />

двуспиральной ДНК при измерении оптической плотности на длине волны<br />

260 нм. Раствор ДНК без каких-либо воздействий представляет собой две<br />

тесно переплетенные «цепи» полинуклеотидов – последовательно соединенных<br />

пиримидиновых и пуриновых оснований. Пик поглощения оснований<br />

располагается в области 260 нм и при тесном переплетении нитей часть<br />

оснований-нуклеотидов экранирует поглощение других аналогичных молекул.<br />

Воздействия, разрушающие водородные связи, приводят к<br />

«расплетению» двуспиральной ДНК, при этом ранее экранированные молекулы<br />

нуклеотидов начинают поглощать УФ излучение и оптическая плотность в<br />

области с максимумом 260 нм возрастает. Если нити ДНК «сшиты» молекулами<br />

псоралена, поглощение не возрастает. Таким образом, по наличию прироста<br />

поглощения при 260 нм можно судить об образовании «сшивок» в молекуле<br />

двуспиральнолй ДНК, а измеряя величину прироста поглощения (260 нм),<br />

можно сделать заключение о количестве «сшивок» на единицу молекулярной<br />

массы ДНК.<br />

Основу всех образцов, которые использовались в экспериментах, составил<br />

0.1% раствор ДНК лосося (Sigma, Германия), приготовленный в 2 ммоль NaCl.<br />

В рабочий образец к первоначальному раствору добавили 8-МОП (Sigma,<br />

Германия) до концентрации Моль. В контрольный образец вместо 8-<br />

МОП добавлен этанол в аналогичной конечной концентрации. Получившиеся<br />

растворы разделили на 4 пробы: две пробы с ДНК и 8-МОП и две пробы с<br />

ДНК и этанолом. Одну пробу 8-МОП + ДНК и одну пробу 8-МОП + этанол<br />

облучали одинаковыми дозами УФА излучения азотного лазера при<br />

непрерывном перемешивании на магнитной мешалке. Две другие пробы<br />

перемешивали на мешалке в течение аналогичного интервала времени без<br />

облучения.<br />

Схема эксперимента по облучению проб представлена на рис.1.<br />

Применялся азотный лазер ЛГИ-501 с энергией в импульсе 30 мкДж и частотой<br />

168


следования импульсов 50 Гц. Время облучения − 30минут, что соответствует<br />

дозе облучения ~ 50 мДж/см 2 .<br />

Рис.1. Схема установки для облучения растворов ДНК в присутствии<br />

8-МОП и этанола<br />

Для определения величины гиперхромного эффекта все исследуемые<br />

образцы нагревали (кипячение при температуре 100°C в течение 10 минут), а<br />

потом резко охлаждали до температуры 0°C. Эта процедура необходима для<br />

разрушения водородных связей в двуспиральной ДНК и получения<br />

гиперхромного эффекта. Затем с помощью спектрофотометра были измерены<br />

соответствующие коэффициенты D1 и D2. Результаты некоторых измерений<br />

представлены в таблице 1.<br />

Таблица 1<br />

Изменение гиперхромного эффекта в пробах раствора ДНК при облучении<br />

азотным лазером на длине волны 337 нм в присутствии 8-МОП<br />

Проба<br />

ДНК + этанол,<br />

без облучения<br />

ДНК + 8-МОП,<br />

с облучением<br />

D1<br />

(без нагрева)<br />

169<br />

D2<br />

(нагрев +<br />

охлаждение)<br />

Гиперхромный<br />

эффект, G<br />

0,475 0,535 12,5%<br />

0,514 0,532 3,5%


Величину гиперхромного эффекта вычисляли по формуле<br />

G = (D2 − D1) / D1. Как видно из таблицы, величина G для раствора ДНК,<br />

облученного в присутствии 8-МОП, уменьшается по сравнению с контрольным<br />

образцом из-за образования «сшивок» нитей двуспиральной ДНК.<br />

В заключение сформулируем преимущества ПУФА-терапии с<br />

использованием азотного лазера:<br />

1) Область λ = 337 нм лежит вне спектра поглощения молекул ДНК,<br />

следовательно, воздействие света будет оказываться исключительно на<br />

псоралены, без фотоповреждения ДНК и белков клеток кожи. Это<br />

отличает предложенную методику от других методов фототерапии<br />

псориаза с использованием полного спектра УФ-света и эксимерного<br />

лазера, поскольку исключает угрозу возникновения рака кожи и ее<br />

преждевременное старение.<br />

2) В связи с высокой интенсивностью лазерного излучения и возможности<br />

точечной фокусировки луча, возможно эффективное лечение локальных<br />

очагов болезни в труднодоступных местах.<br />

170


ПРИМЕНЕНИЕ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ИМПУЛЬСНОЙ<br />

МЕТОДИКИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ГЕТЕРОГЕННОЙ<br />

РЕКОМБИНАЦИИ АТОМОВ В ПЛАЗМЕ ХЛОРА НА<br />

ТВЕРДЫХ ПОВЕРХНОСТЯХ<br />

Д.В. Ситанов, М.Ю. Ивентичев, В.И. Светцов<br />

Ивановский государственный химико-технологический университет<br />

В настоящее время в технологии микро- и наноэлектроники процессы<br />

масочного (размерного) плазмохимического травления стали неотъемлемой<br />

частью технологического процесса. При этом для оптимизации и точного<br />

прогнозирования результатов плазмохимической обработки необходимо знать<br />

константы скоростей процессов, протекающих как в объеме плазмохимического<br />

реактора, так и на поверхности обрабатываемого материала, в том числе и на<br />

стенке реактора. В данной работе обсуждаются возможности релаксационной<br />

импульсной методики для изучения гетерогенной рекомбинации атомов хлора<br />

на стенке плазмохимического реактора, а также на образцах алюминия и<br />

нержавеющей стали, помещаемых в зону положительного столба тлеющего<br />

разряда пониженного давления, возбуждаемого в хлоре. Выбор объектов<br />

исследования был обусловлен тем, что эти металлы при температурах ниже<br />

500K химически не взаимодействуют ни с атомарным, ни с молекулярным<br />

хлором. Эксперименты проводились в плазмохимическом реакторе при<br />

давлении 100 Па, токе разряда 11 мА и расходе хлора 0.1 см 3 /с. Образцы в виде<br />

тонкой пленки помещались на внутреннюю стенку цилиндрического реактора<br />

диаметром 32 мм. Температура газа в зоне положительного столба <strong>плазмы</strong> и<br />

температура образцов измерялись полупроводниковыми датчиками,<br />

помещенными в тонкие стеклянные капилляры. Каждый датчик индивидуально<br />

калибровался в широком диапазоне температур.<br />

Впервые релаксационная импульсная методика была применена для<br />

изучения гибели радикалов в плазме галогеноволородов [1]. В нашей<br />

лаборатории данная методика была адаптирована для изучения гетерогенной<br />

рекомбинации атомов хлора в Cl2. Суть релаксационной методики заключается<br />

171


I изл<br />

I р,<br />

мА<br />

N,<br />

отн.<br />

ед.<br />

I<br />

t п1 t п2<br />

t п3<br />

t п4<br />

I 0<br />

(а)<br />

(б)<br />

Рис. 1. Временные зависимости<br />

интенсивности излучения разряда Iизл (а),<br />

импульсов тока Iр (б), концентрации атомов<br />

N (в); t − время, tп1, tп2, tп3, tп4 – времена пауз<br />

между импульсами тока.<br />

I,<br />

240<br />

отн.<br />

ед. 210<br />

180<br />

150<br />

120<br />

90<br />

60<br />

30<br />

0<br />

(в)<br />

0 20 40 60 80 100 120 140 160<br />

t, мс<br />

172<br />

в импульсном питании разряда с<br />

целью получения данных о<br />

кинетике интересующего<br />

процесса. При этом скорость<br />

процесса гибели атомов хлора на<br />

поверхностях, ограничивающих<br />

зону <strong>плазмы</strong>, может быть<br />

определена двумя способами. В<br />

первом случае кинетическая<br />

зависимость гибели атомов хлора<br />

восстанавливается по данным<br />

отдельных экспериментов, в<br />

которых длительность паузы<br />

между импульсами тока плавно<br />

изменялась в сторону ее<br />

увеличения. Если длительность<br />

паузы такова, что за ее время не<br />

все атомы хлора успевают<br />

прорекомбинировать с<br />

образованием Cl2, то на переднем<br />

фронте очередного импульса тока<br />

Рис. 2. Экспериментальные данные по<br />

излучению атомарного хлора в присутствии<br />

получается скачок концентрации<br />

атомов хлора, соответствующий<br />

алюминиевой фольги (площадь Al=29,5см<br />

участку кинетической<br />

зависимости гибели атомов хлора на данный момент времени. Эксперименты с<br />

2 ,<br />

пауза 9 мс).<br />

другими длительностями паузы позволяют получить следующие точки<br />

кинетической зависимости гибели атомов хлора. На рис. 1 приведен пример,<br />

иллюстрирующий поточечное построения кинетической зависимости гибели<br />

атомов хлора на стенке плазмохимического реактора. Концентрация атомов<br />

хлора на переднем фронте импульса тока определялась с использованием<br />

метода эмиссионной оптической спектроскопии по интенсивности излучения<br />

атомарного хлора с длиной волны 452.62 нм (переход 5p 2 p 0 3/2�4s 2 p3/2). На рис. 2<br />

в качестве примера приведена рабочая осциллограмма интенсивности


I,<br />

отн.<br />

ед.<br />

-0,30<br />

-0,35<br />

-0,40<br />

-0,45<br />

-0,50<br />

а)<br />

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5<br />

I,<br />

отн.<br />

ед. б)<br />

-1,65<br />

-1,70<br />

-1,75<br />

-1,80<br />

-1,85<br />

-1,90<br />

I p<br />

173<br />

излучения атомарного хлора в<br />

пределах одного периода при<br />

изучении гетерогенной<br />

рекомбинации атомов хлора<br />

на алюминии.<br />

С другой стороны,<br />

временную зависимость<br />

концентрации атомов хлора в<br />

паузе между импульсами тока<br />

можно получить по<br />

соответствующей<br />

зависимости изменения<br />

концентрации молекул хлора,<br />

так как для паузы можно<br />

записать: Cl 1/ 2Cl2<br />

стенка<br />

� .<br />

Данные о временном ходе<br />

концентрации Cl2 позволяет<br />

получить метод<br />

абсорбционной<br />

Рис. 3. Экспериментальные зависимости: а)<br />

спектроскопии, суть которого<br />

интенсивности собственного излучения <strong>плазмы</strong><br />

хлора от времени; б) интенсивности излучения<br />

лампы, прошедшего через разрядную трубку, от<br />

с методической точки зрения<br />

заключается в измерении<br />

времени.<br />

интенсивности проходящего через разрядную трубку излучения от источника<br />

ультрафиолетового излучения (дейтериевая лампа ДДС-30) с разрядом<br />

(непосредственно на заднем фронте импульса тока) и без разряда (во время<br />

паузы). Основанный на данном подходе эксперимент заключался в получении<br />

двух зависимостей: интенсивности излучения разряда в импульсном режиме<br />

при выключенной ультрафиолетовой лампе (рис. 3а) и интенсивности<br />

излучения, прошедшего через разряд, горящий в импульсном режиме, при<br />

включенной ультрафиолетовой лампе (рис. 3б). Первая зависимость необходима<br />

для определения собственного излучения разряда. На рис. 3а это левая ветвь<br />

зависимости. Правая ветвь рис. 3а – это фактический аппаратный ноль системы<br />

t, с<br />

0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5<br />

t, с<br />

I p


при регистрации излучения. Разность этих значений дает абсолютное значение<br />

интенсивности излучения разряда Ip.<br />

Зависимость рис. 3б также представлена двумя ветвями. Левая ветвь на<br />

этом графике соответствует сумме интенсивностей прошедшего через разряд<br />

излучения ультрафиолетовой лампы и собственного излучения разряда в<br />

момент импульса тока. Измеренное значение интенсивности собственного<br />

излучения разряда, полученное из данных рис. 3а, позволяет определить<br />

значение интенсивности прошедшего через реактор излучения на начальный<br />

момент паузы. Правая ветвь зависимости рис. 3б отражает ход концентрации Cl2<br />

во время паузы между импульсами тока. Обработка данной зависимости<br />

позволяет получить данные о константе гетерогенной рекомбинации<br />

(вероятности рекомбинации) атомов хлора на материалах, ограничивающих<br />

зону <strong>плазмы</strong>. Таким способом были получены константы скорости гетерогенной<br />

рекомбинации (вероятности рекомбинации) атомов хлора на чистом<br />

молибденовом стекле и на образцах из нержавеющей стали.<br />

При обработке экспериментальных данных не учитывалась объемная<br />

рекомбинация атомов Cl � Cl �Cl2<br />

� 2Cl2<br />

и унос частиц из реактора за счет<br />

потока газа. Предполагалось, что атомы хлора гибнут только гетерогенно по<br />

первому кинетическому порядку на твердых материалах [2]. Значения констант<br />

гетерогенной рекомбинации kr (вероятностей рекомбинации γ) атомов хлора на<br />

заявленных образцах исследования приведены в таблице.<br />

kr, с -1<br />

174<br />

Таблица.<br />

Стекло С-49 Алюминий Нерж. сталь<br />

9.6 182 320<br />

γ×10 3 0.6 9.3 20<br />

Литература:<br />

1. Волынец В.Н., Словецкий Д.И., Строчков А.Я., Трофимов В.Н. Исследование<br />

механизмов гибели радикалов в плазме тлеющего разряда в тетрафторметане //<br />

Журн. прикладной спектроскопии, 1991, т.53, №6, с. 1004 - 1010.<br />

2. Светцов В.И., Ефремов А.М. Вероятности гибели атомов и концентрации<br />

активных частиц в плазме хлора // Изв. ВУЗов, Химия и хим. технология, 2004,<br />

т. 47, вып. 2, с. 104 - 107.


ИНТЕГРАЛЫ СТОЛКНОВЕНИЙ В ЛИНЕАРИЗОВАННЫХ<br />

ПО ПОЛЮ КИНЕТИЧЕСКИХ УРАВНЕНИЯХ: РЕГУЛЯРНЫЙ<br />

МЕТОД ИХ НАХОЖДЕНИЯ ИЛИ «ВТОРИЧНАЯ<br />

ЛИНЕАРИЗАЦИЯ» НУЛЕВОГО ПРИБЛИЖЕНИЯ<br />

В.Ф. Туганов 1,2<br />

1. Институт космических исследований РАН, Москва, Россия<br />

2. ГНЦ РФ Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований,<br />

Троицк<br />

1. Первый метод, давно уже став общепринятым, восходит, скорее всего,<br />

к работе [1] (см. (8) в [1]). И, будучи повсеместно используемым, в том числе и<br />

в задаче линейного отклика (см. любую из книг, например, по физической<br />

кинетике [2], физике <strong>плазмы</strong> [3] или статистической физике [4]), не имеет под<br />

собой абсолютно никакого основания. Считается, и не более того, что с<br />

включением слабого электрического поля, достаточно дополнить уравнения<br />

Власова интегралами столкновений Ландау [1] (Балеску-Ленарда [2-3]),<br />

полученными в нулевом приближении по полю (в его отсутствие). А затем<br />

линеаризовать по полю полученный «конструкт» - обобщенные кинетические<br />

уравнения Власова-Ландау, как его называют в [5]. Но у этого метода<br />

существенный недостаток – заведомо отсутствует (см. в [2-7]) эффект Крамерса-<br />

Гинзбурга [8, 9]: эффективные, задающие мнимую часть диэлектрической<br />

проницаемости частоты столкновений не зависят от частоты поля. Поэтому и<br />

появились ограничения на частоту � и волновое число q [2], которые для<br />

электронной <strong>плазмы</strong> (qvT


интеграл столкновений фоккер-планковского типа в линеаризованном<br />

кинетическом уравнении (63.1) (здесь и диффузионный член, и слагаемое с<br />

первой производной по скорости) – не совсем адекватен проблеме отклика. Из<br />

(63.1) следует, что начальные условия для линейных по полю E(t) добавок к<br />

флуктуациям распределений отличны от нуля (отсюда и конвективный член). А<br />

это явно противоречит принципу причинности: до включения поля никаких<br />

откликов на него не должно быть. Что и показывает другой метод…<br />

Регулярный метод нахождения и линеаризации интегралов столкновений<br />

[10, 11], исходя из флуктуационной их природы, изначально учитывает наличие<br />

внешнего электрического поля E(t,r), оказываясь, по сути, обобщением<br />

имеющегося в [2] метода на случай <strong>плазмы</strong> с электрическим полем. Линеаризуя<br />

по нему соответствующие уравнения для функций распределения и<br />

самосогласованных полей (для средних их значений и флуктуаций), здесь<br />

адекватно учитываются начальные условия. Они разные: ненулевые для<br />

равновесных флуктуаций однородной <strong>плазмы</strong> и, наоборот, нулевые для<br />

добавок к ним (до включения поля никаких добавок, и регулярных, и<br />

флуктуационных - нет). Неудивительно, что интегралы столкновений для<br />

равновесных распределений и для обусловленных полем добавок к ним<br />

существенно различаются, причем не только зависимостью последних от<br />

частоты и волнового вектора поля [10, 11]. Естествен вопрос: оправдан ли<br />

исторически сложившийся метод «вторичной» линеаризации интегралов<br />

столкновений, например, Ландау-Балеску-Ленарда? Ведь это не что иное, как<br />

попытка получить первое приближение по полю из... нулевого (а куда<br />

логичнее и то, и другое получать из более сложной, чем они, сущности).<br />

2. Интегралы столкновений в пространственно-однородной системе<br />

заряженных частиц определяются соответствующими корреляторами<br />

флуктуаций функций их распределения �fn(t,r,p) и самосогласованного поля<br />

�e(t,r) [2]<br />

Ist(fn) = - en �/�p (1)<br />

Здесь t, r и p - время, координата и импульс частицы сорта n, а en – еѐ заряд;<br />

символ означает усреднение по физически бесконечно малым объемам.<br />

Поле �e(t,r)=-���(t,r) определено потенциалом ��, связь которого с �fn задана<br />

уравнением Пуассона [2]<br />

176


��� = - 4��en�dp�fn (2)<br />

Известны и свойства этих интегралов Ландау-Балеску-Ленарда [1-3, 5-7], и их<br />

форма [2]. Достаточно лишь задать для такой системы не только средние<br />

значения распределений частиц fn(p) и самосогласованного поля e(t,r), но еще и<br />

их флуктуации. В однородной плазме без внешнего электрического поля все это<br />

достаточно хорошо известно: и средние функции распределения fn(p) частиц, и<br />

флуктуации как самих этих функций δfn(t,r,p), так и самосогласованного поля<br />

δe(t,r) (среднее самосогласованное поле e(t,r) равно нулю).<br />

С включением внешнего, поля E(t,r) у этих функций и флуктуаций<br />

появятся обусловленные полем добавки (возмущения): к функциям<br />

распределения - Fn(t,r,p), к их флуктуациям - �Fn(t,r,p) и к флуктуациям<br />

самосогласованного поля - �E(t,r). А так как система теперь не однородна,<br />

появится и самосогласованный потенциал �(t,r), связанный с функциями<br />

Fn(t,r,p) (так же как и �E= -��� с �Fn) уравнением, аналогичным (2).<br />

3. Интеграл столкновений для Fn(t,r,p) получается очевидной<br />

симметризацией (1) [10-11]<br />

Ist(Fn) = - en�/�p[ + ] (3)<br />

Будучи произведением флуктуаций как самосогласованного поля, так и<br />

функций распределения (см. (1)), (3) должно быть линейным по полю - состоять<br />

из линейных и нулевых по полю сомножителей. Причем, интегралы (1) и (3)<br />

различаются не только тем, что в (3) два слагаемых, и в целом его фурье-<br />

компонента – функция волновых характеристик поля. Ведь линейные по полю<br />

добавки (�Fn(t,r,p), �E(t,r)), в отличие от �fn(t,r,p) в (1), будучи определены<br />

произведениями флуктуаций нулевого приближения с зависящими от t и r<br />

функциями (Fn(t,r,p), E(t,r)), приводят в (3) к соответствующей свертке фурье-<br />

компонент и временному запаздыванию. Чего нет в (1), поскольку здесь вместо<br />

Fn(t,r,p) – стационарная и однородная функция fn(p)) [10]. Но главное, интегралы<br />

(1) и (3) различны по форме: в (1) она, как известно [1-7], - фоккер-планковская,<br />

а в (3) – диффузионная (нет слагаемого с первой производной по импульсу p)<br />

[10]. Обусловлено это нулевыми начальными условиями для линейных по полю<br />

флуктуаций (�Fn(0,r,p)=0), которые и определяют конвективный (с первой<br />

производной по импульсу) член [10, 11]. И это легко увидеть, исследовав<br />

177


аналогию решения для линейных по полю флуктуаций �Fn(t,r,p) с решением для<br />

флуктуаций нулевого приближения �fn(t,r,p) (см. (51.11) в [2]).<br />

К столкновительному сдвигу<br />

�t0/t0 = �� k1/(k2-k1) (1 - 2k1/k2)/2 (4)<br />

времени появления плазменного эха t0=�k2/(k2-k1)>� ведет, как известно, лишь<br />

фоккер-планковская форма интеграла столкновений: диффузионный член<br />

вызывает только столкновительное снижение амплитуды эха [3] (� - время<br />

появления второго импульса относительно первого, частота столкновений<br />

�k1). Изменяя частоту � можно легко<br />

диагностировать, адекватен ли физической реальности первый<br />

(общепринятый) метод линеаризации - метод «вторичной линеаризации»<br />

известных интегралов столкновений нулевого приближения.<br />

Литература<br />

1. Landau L.D. // Phyz. Zs. Sovjet. 1936. v.10. p. 154 (Ландау Л.Д. // ЖЭТФ.<br />

1937. т. 7. с. 203)<br />

2. Лифшиц Е.М., Питаевский В.П. Физическая кинетика. - М.: Наука, 1979,<br />

2009<br />

3. Ишимару С. Основные принципы физики <strong>плазмы</strong>. - М.: Атомиздат, 1975<br />

4. Исихара А. Статистическая физика. - М.: Мир, 1973<br />

5. Александров А.Ф, Рухадзе А.А. // Физика <strong>плазмы</strong>. 1997. т. 23, с. 474<br />

6. Силин В.П. Введение в кинетическую теорию <strong>плазмы</strong>. - М.: Наука, 1971<br />

7. Эккер Г. Теория полностью ионизованной <strong>плазмы</strong>. - М.: Мир, 1974<br />

8. Kramers H.A. // Phil. Mag. 1923. V. 46, p. 836<br />

9. Гинзбург В.Л. Распространение электромагнитных волн в плазме - М.<br />

Гостехиздат, 1960<br />

10. Туганов В.Ф. Препринт ГНЦ РФ ТРИНИТИ № 0096-А. Троицк: ГНЦ РФ<br />

ТРИНИТИ, 2002<br />

11. Туганов В.Ф. Плазменное эхо и <strong>диагностика</strong> методов линеаризации<br />

интегралов столкновений в кинетических уравнениях. Международная<br />

конференция МСС-09 «Трансформация волн, когерентные структуры и<br />

турбулентность», 2009, 23-25 ноября, Москва, ИКИ РАН. Сб. трудов, С. 147-<br />

152. - М.: ЛЕНАНД, 2009. – 512 с.<br />

178


ИНТЕГРАЛ СТОЛКНОВЕНИЙ ЛОРЕНЦЕВОЙ ПЛАЗМЫ И<br />

ЭФФЕКТ КРАМЕРСА-ГИНЗБУРГА.<br />

В.Ф. Туганов 1,2<br />

1. Институт космических исследований РАН, Москва, Россия<br />

2. ГНЦ РФ Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований,<br />

Троицк<br />

1. Лоренцева модель <strong>плазмы</strong> и соответствующий интеграл<br />

столкновений [1], будучи достаточно простыми, оказываются весьма<br />

плодотворным инструментом для задач диагностики <strong>плазмы</strong>, и в исследовании<br />

целого ряда процессов, например, таких как электропроводность (см. [1]). И то,<br />

и другое, кстати, напрямую связаны с проблемой отклика <strong>плазмы</strong> на слабое<br />

возмущение, появляющееся с включением электрического поля. Но при<br />

исследовании электропроводности такой подход сталкивается, вообще говоря, с<br />

проблемой принципиального характера, физическая причина которой<br />

обусловлена известным эффектом Крамерса-Гинзбурга - зависимостью<br />

эффективной частоты столкновений от частоты электрического поля �, начиная<br />

с ���p, где �p - ленгмюровская частота [2, 3]. Работа 1923 г. Крамерса [2] о<br />

тормозном излучении в классической области и 1949 г. Гинзбурга,<br />

предложившего квантовый подход (см. [1, 3]), были затем воспроизведены еще<br />

и методами кинетической теории (см. работу Силина 1960 г. в [4] и Даусона,<br />

Обермана 1962 г. в [5], где необоснованно нет ссылок на автора [4]). К<br />

сожалению, полученные в [4, 5] результаты, справедливы лишь для<br />

однородного поля E(t,r)=E(t). А из формулы (63.1) в [5] так и не выведен<br />

соответствующий интеграл столкновений лоренцевой <strong>плазмы</strong>, пригодный для<br />

высоких частот (���p, �p - ленгмюровская частота). И на сегодняшний день,<br />

если говорить не о модельном описании, а о каком-то его обосновании –<br />

доступном и отвечающем первым принципам, приходится довольствоваться<br />

тем, что есть, к примеру, в [1]. Лоренцев интеграл столкновений<br />

Jst(F) = - �(v) F(t,r,p) (1)<br />

для линейной по полю E(t,r) добавки F(t,r,p) к фоновому (равновесному)<br />

распределению электронов f(p) получен здесь исходя из общепринятого метода<br />

линеаризации интегралов столкновений Ландау-Балеску-Ленарда, вычисленных<br />

в отсутствии поля (t, r и p - время, радиус-вектор и импульс электрона, v - его<br />

скорость, а �(v) - частота электрон-ионных столкновений). Пренебрегая<br />

конвективным членом (с первой производной по p), решение ищут затем в виде<br />

179


F(t,r,p) = g(p) pE(t,r), (2)<br />

откуда и получают (1) с известной частотой столкновений �(v) (см. (44.3) в [1]).<br />

Но интеграл (1) и эта частота (3), будучи рассмотрены без учета поля, заведомо<br />

не отвечают эффекту Крамерса-Гинзбурга. Потому в теории и появились<br />

ограничения на частоту поля � и волновое число q (см. (41.14) в [1]). И для<br />

электронной <strong>плазмы</strong> (qvT


ее кулоновский логарифм [6] (qmax - известное из кинетической теории волновое<br />

число разное в классической и квантовой области [1])<br />

L(v, �,q) = Ln (qmaxv/�p)/[(v/vT) 2 + (� - qv) 2 /� 2 p ] 1/2 (4)<br />

зависит уже не только от скорости электронов v, как в [1], но и от волнового<br />

числа q и частоты поля �, причем, галилеевски инвариантным образом и в<br />

полном соответствии с эффектом Крамерса-Гинзбурга [2, 3]: на � и q нет всех<br />

тех ограничений (qvT


КВАНТОВО-ДИНАМИЧЕСКАЯ ОСОБЕННОСТЬ УПРУГОГО<br />

РАССЕЯНИЯ ЭЛЕКТРОНА НА АТОМЕ: ОБЪЯСНЕНИЕ<br />

ПРИЧИНЫ ЭФФЕКТА РАМЗАУЭРА И СИЛЬНОГО РОСТА<br />

ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ ИНЕРТНЫХ ГАЗОВ ПРИ ИХ<br />

ВЫСОКОЙ ПЛОТНОСТИ<br />

И.А. Бориев<br />

Филиал Института энергетических проблем химической физики РАН<br />

Одним из эффективных методов диагностики <strong>плазмы</strong>, представляющей<br />

собой ионизованное состояние вещества, является измерение и контроль ее<br />

электропроводности. Величина электропроводности <strong>плазмы</strong> во многих случаях<br />

определяется свойствами упругого рассеяния присутствующих электронов,<br />

обладающих более высокой (в сравнении с ионами) подвижностью.<br />

В докладе изложена ранее не учитываемая квантово-динамическая<br />

особенность упругого рассеяния электрона на атоме, не обладающем сродством<br />

к электрону, которая обусловлена свойствами потенциала взаимодействия<br />

электрона с таким атомом. Показано, что ее учет позволяет установить причину<br />

эффекта Рамзауэра для сечения рассеяния электронов на атомах тяжелых<br />

инертных газов (Ar, Kr, Xe). Этот давно известный (с 1924 года) эффект состоит<br />

в сильном (до 10 2 раз) уменьшении сечения однократного рассеяния на этих<br />

атомах для электронов с энергией в интервале 0,5-0,9 эВ. Также показано, что<br />

рассеяние электронов на таком потенциале позволяет объяснить резкое и<br />

сильное (до 10 4 раз) увеличение электропроводности плотных инертных газов,<br />

наблюдаемое при их переходе в конденсированное состояние, а также при их<br />

статическом или динамическом (в ударных волнах) сжатии.<br />

Особенности упругого рассеяния электрона на атоме, не обладающем<br />

сродством к электрону<br />

Обычно рассматриваемый потенциал взаимодействия электрона с<br />

атомом, который не обладает сродством к электрону, достаточным для<br />

образования связанных состояний электрона, имеет два существенных признака<br />

182


[1] (рис.1). Во-первых, это невысокий потенциальный барьер радиусом R и, во-<br />

вторых, это небольшая потенциальная яма радиусом rо


теоретической механики функции действие S, каковой и является постоянная<br />

Планка по своей физической сути (размерности). Как следует ожидать [3],<br />

распад слабосвязанного состояния электрона вперед, что требуется для эффекта<br />

Рамзауэра, должен происходить при такой энергии электрона, когда при<br />

пролете половины орбиты радиуса rо значение функции действие S для<br />

электрона составит величину h. При значении rо≈4Ǻ, которое следует из данных<br />

по зависимости величины эффекта Рамзауэра и электропроводности Xe от его<br />

плотности [4], такой распад должен происходить при энергии рассеиваемого<br />

электрона ~0,9 эВ [3]. Это значение энергии хорошо согласуется с данными по<br />

эффекту Рамзауэра для Xe [4], а полученная оценка rо≈4Ǻ показывает, что rо<br />

действительно существенно больше величины RА6·10 21 см -3 (рис.2), когда r


Рис.2 – Зависимость величины μen от n для жидкого Xe [4]. ∆ – случай<br />

тепловых электронов; o – случай слабо разогретых электронов, для которых<br />

наблюдается максимум μe из-за проявления эффекта Рамзауэра.<br />

В заключение следует отметить, что рассмотренные особенности<br />

рассеяния электрона на атоме позволяют объяснить некоторые важные явления<br />

электропроводности в среде атомов инертных газов, которые могут быть<br />

полезны при анализе свойств <strong>плазмы</strong> этих газов.<br />

Литература:<br />

1. Друкарев Г.Ф. Столкновения электронов с атомами и молекулами. М: Наука,<br />

1978, 256с.<br />

2. Stepanek J. Electron and positron atomic elastic scattering cross sections //<br />

Radiation Phys. and Chem., 2003, V.66, Iss.2, P.99-116.<br />

3. Бориев И.А. Квантово-динамическая особенность рассеяния электрона на<br />

атоме: объяснение причины эффекта Рамзауэра и явления металлизации<br />

инертных газов под внешним давлением // Тезисы докладов XXXVII<br />

Международной (Звенигородской) конференции по физике <strong>плазмы</strong> и УТС, г.<br />

Звенигород, 8-12 февраля 2010 г., С.280.<br />

4. Huang S.S.-S, Freeman G.R. Electron mobilities in gaseous, critical, and liquid xenon:<br />

Density, electric field, and temperature effects: Quasilocalization // J. Chem. Phys., 1978,<br />

V.68, P.1355-1368.<br />

185


РАЗРАБОТКА СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИХ МЕТОДОВ<br />

ДИАГНОСТИКИ ЭМИССИИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ С<br />

ПОВЕРХНОСТИ, ЕЕ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ПОД<br />

ВОЗДЕЙСТВИЕМ ПОТОКОВ ИОНОВ И ПЛАЗМЫ<br />

Д.В. Иванов, В.А. Курнаев, Н.В. Мамедов, Д.Н. Синельников, Т.А. Стаина<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

В лабораторных установках для исследования взаимодействия <strong>плазмы</strong><br />

ТЯР с поверхностью анализ поверхности после плазменного воздействия<br />

осуществляется «post mortem» путем перемещения образца в специальную<br />

сверхвысоковакуумную аналитическую камеру, оснащенную аналитическим<br />

оборудованием типа Оже-спектроскопии, РФЭС (XPS), ВИМС (SIMS) и т.д.<br />

Реализация каждой из методик требует применения дорогостоящего<br />

оборудования, цена которого составляет сотни тысяч или миллионы долларов.<br />

Именно так производится анализ поверхности после плазменного воздействия<br />

на широко известной установке PISCES [1] в США или на сооружаемой в<br />

настоящее время крупнейшей европейской установке MAGNUM [2].<br />

Противоречие между сверхвысоковакуумными условиями, когда в<br />

процессе анализа на поверхности не происходит сорбции атомов остаточного<br />

газа и других примесей и наличием относительно высокого давления рабочих<br />

газов, сопровождающих нейтрализацию интенсивных ионных или плазменных<br />

потоков при их взаимодействии с мишенью можно преодолеть, используя<br />

спектроскопию ионного рассеяния с применением ионов инертных газов<br />

средних и тяжелых масс.<br />

С помощью установки Большой масс-монохроматор МИФИ [3] можно<br />

осуществить спектроскопию рассеяния рассеяния ионов средней энергии как<br />

легких, так и тяжелых [4], которые позволяют реализовать компонентный<br />

анализ поверхности, структурный ее анализ, а также неразрушающий контроль<br />

толщины пленок при различии атомных номеров атомов пленки и материала<br />

подложки [4,5]. Причем в последнем случае даже использование легких ионов<br />

относительно низких килоэлектронвольтных энергий позволяет осуществить<br />

контроль толщины пленок из легких элементов, например бора и углерода –<br />

типичных примесей на стенках термоядерных установок, возникающих после<br />

186


боронизации стенок на поверхности из тяжелых элементов (Mo, W), с<br />

разрешением в доли ангстрема [6].<br />

Так как камера взаимодействия установки оснащена<br />

высокопроизводительным турбомолекулярным вакуумным насосом<br />

(ТМН 1500), который может обеспечить достаточно низкое давление газа при<br />

его непосредственном напуске в эту камеру или при использовании<br />

дополнительного ионного или плазменного источников, то анализ поверхности<br />

с помощью ионных пучков можно проводить при плазменном или ионном<br />

воздействии (или сразу же после него).<br />

Так, газовый эквивалент ионного потока на мишень моноатомного газа в<br />

1 мА при комнатной температуре эквивалентен 1,7 �10 -4 л�торр, что при<br />

скорости откачки в 1000 л/с обеспечивает давление ~ 2�10 -7 торр. Даже при<br />

газовой эффективности возможного плазменного источника в 10% подобная<br />

скорость откачки позволяет получить приемлемое для различных детекторов<br />

типа вторично-эмиссионных умножителей давление ниже чем 10 -5 торр. - Схема<br />

использования масс-монохроматора для анализа поверхности в присутствии<br />

дополнительного плазменного или ионного источника показана на рис 1. 2<br />

Рис.1.Схема камеры взаимодействия установки «Большой масс монохроматор»: 1- основной<br />

ионный пучок, 2 – плазменная пушка, 3- камера взаимодействия, 4 – плазменный пучок, 5 -<br />

турбомолекулярный насос ТМН 1500, 6 - мишень, 7- электростатический энергоанализатор, 8-<br />

турбомолекулярные насосы Pfeiffer TMU 071 , 9,10 – форвакуумные насосы Varian SH-100, 11 –<br />

вакуумный ввод, 12 – ВЭУ-1.<br />

187


4<br />

1<br />

3<br />

Рис.2. Эскизный проект реализации анализа поверхности при плазменном воздействии на<br />

установке БММ: 1 –малогабаритный плазменный генератор, 2 – диагностический пучок ионов,<br />

3 – отраженный пучок ионов , 4 - камера взаимодействия, 5 – мишень, 6 – подвижный<br />

вакуумный ввод, 7 –шлюзовая камера для замены образцов, 8 – пневматический шибер<br />

В качестве источника <strong>плазмы</strong> предполагается использовать ранее<br />

разработанный встраиваемый модуль с плазменно-пучковым разрядом [8]. Этот<br />

малогабаритный плазменный генератор имеет совместимый с камерой<br />

взаимодействия БММ внешний диаметр (100мм) и может позиционироваться на<br />

разном расстоянии от мишени. Разряд плазменном генераторе осуществляется в<br />

продольном магнитном поле, для создания которого используется находящийся<br />

внутри корпуса водоохлаждаемый соленоид. Особенностью такого генератора<br />

является возможность работы при низком (~ 10 -4 торр) давлении рабочего газа.<br />

Поэтому при выходном отверстии площадью в 1 см 2 поток рабочего газа -<br />

дейтерия (без учета эффекта плазменного затвора) 3�10 -3 л�торр, при котором<br />

давление нейтрального газа в камере взаимодействия не превысит (3-5)�10 -6 торр.<br />

Анализ поверхности мишени с помощью ионного пучка после воздействия<br />

на нее плазмой такого генератора возможен немедленно после выключения<br />

магнитного поля, т.е. в секундном интервале времени. Синхронизация питания<br />

генератора с компьютерным управлением ионным пучком позволят<br />

осуществить это в автоматическом программируемом режиме.<br />

2<br />

5<br />

В качестве анализатора энергетических спектров при реализации методики<br />

спектроскопии ионного рассеяния и ионов отдачи разработан четверть-<br />

сферический дефлектор выносного типа (рис.3) с радиусом центральной<br />

траектории 25 см, для угла полураствора пучка �2 0 его разрешение по энергии<br />

188<br />

8<br />

6<br />

7


менее 0,4%. Кроме того, для спектроскопии ионного рассеяния и ионов отдачи<br />

предполагается использование автономного магнитного спектрометра с<br />

радиусом центральной траектории 20 см, который позволяет проводить анализ<br />

ионов, удовлетворяющих условию EM < 3�10 5 эВ�(а.е.м).<br />

Рис. 3. Четверьсферический дефлектора в сборе: 1 – сверхвысоковакуумная камера, 2 –<br />

система подвеса, 3 – электрический ввод CF16, 4 – переходные фланцы Ду25-CF16, 5 –<br />

переходные фланцы Ду135 – Ду50.<br />

Доклад подготовлен при проведении научно-исследовательской работы в<br />

рамках реализации ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры<br />

инновационной России» на 2009 – 2013 годы.<br />

Литература:<br />

1. D.M.Goeble,G.Campbell,R.W.Conn Plasma surface interaction experimental<br />

facility (PISCES) for material and edge physics studies, J Mucl.Mater.121 (1984), 277<br />

2. J.Rapp //Design criteria and status of MAGNUM –PSI //Proc.International<br />

workshop on requirements for next generation PMI stands in fusion research, Oak<br />

Ridge, USA, August 31-September 2,(2010)<br />

3. Курнаев В.А., Мамедов Н.В. Модернизированная установка для<br />

исследования взаимодействия с поверхностью ионов с энергия до 40кэв.<br />

«Краткие сообщения по физике» №4 ( 2010) с.45<br />

4. Курнаев В. А., Машкова Е. С. Молчанов В. А. Отражение легких ионов от<br />

поверхности твердого тела. М.: Энергоатомиздат, 1985. 192c.<br />

5. H. Brongersma, et al, Nucl. Instr. and Meth. B 11-18 (2002) 190.<br />

6. Курнаев В.А., Трифонов Н.Н., М.Н.Дроздов, Салашенко Н.Н., Письма в<br />

ЖТФ, т.25 вып.11 (1999)<br />

7. Вайтонис В.В, Визгалов И.В., Курнаев В.А., Малогабаритный плазменный<br />

генератор, ПТЭ 1999. с 714.<br />

189


СОДЕРЖАНИЕ<br />

И.Большакова, И.Васильевский, Л.Виерербл, Р.Голяка,<br />

И.Дюран, В. Ерашок, Р. Коноплѐва, Я. Кость, С.Куликов,<br />

В.Курнаев, К. Лерой, Е. Макидо, В. Чеканов, Ф. Шурыгин<br />

МАГНИТНАЯ ДИАГНОСТИКА ТОКАМАКОВ НОВОГО<br />

ПОКОЛЕНИЯ: ПРОБЛЕМЫ И РЕШЕНИЯ. 4<br />

М.Матвеева, A.Литновский, L.Marot, B.Eren, V.Philipps,<br />

A.Pospieszczyk, H. Stoschus, Д.Матвеев, U.Samm<br />

ЭРОЗИОННЫЕ ИСПЫТАНИЯ МАТЕРИАЛОВ ДЛЯ<br />

ДИАГНОСТИЧЕСКИХ ЗЕРКАЛ РЕАКТОРА ITER 9<br />

Е.П.Горбунов, А.А.Петров, В.Г.Петров, Д.С.Сергеев,<br />

Ю.В.Скосырев.<br />

ПРИМЕНЕНИЕ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО РЕФРАКТОМЕТРА 150<br />

ГГц ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СРЕДНЕЙ ПЛОТНОСТИ ПЛАЗМЫ НА<br />

ТОКАМАКЕ-10 14<br />

А.А.Белокуров, Л.Г.Аскинази<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ В<br />

ТОКАМАКЕ ТУМАН-3М С ПОМОЩЬЮ HIBP МЕТОДОМ<br />

ДВУХТОЧЕЧНОГО ЗОНДИРОВАНИЯ 18<br />

M. Zlobinski, V. Philipps, A. Huber, B. Schweer, the TEXTOR<br />

Team et al. Laser Induced<br />

DESORPTION AS TRITIUM RETENTION DIAGNOSTIC METHOD.<br />

STATUS & PLANS FOR EXPERIMENT AND THEORY 22<br />

С.Е.Кривицкий, К.Ю.Вуколов, Т.Р.Мухаммедзянов,<br />

А.Ю.Таранченко<br />

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ ПЕРЕОСАЖДЕНИЯ<br />

УГЛЕРОДНЫХ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ЗАГРЯЗНЕНИЙ НА<br />

ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ ДИАГНОСТИК ТОКАМАКА ИТЭР 28<br />

Г.С.Воронов, М.С.Бережецкий<br />

ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЬ СОДЕРЖАНИЯ ИЗОТОПОВ<br />

ВОДОРОДА И ДЕЙТЕРИЯ В ПЛАЗМЕ СТЕЛЛАРАТОРА Л-2М 32<br />

А.М.Бишаев, А.И.Бугрова, И.С.Гордеев, А.И.Денисюк,<br />

М.В.Козинцева, А.С.Липатов, А.С.Сигов, И.А.Тарелкин,<br />

В.А.Терехов<br />

ПОЯС РОГОВСКОГО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМАГНИТНОГО ТОКА<br />

В МУЛЬТИПОЛЬНОЙ МАГНИТНОЙ ЛОВУШКЕ–ГАЛАТЕЕ<br />

ТРИМИКС -3М 36<br />

И.И.Орловский, К.Ю.Вуколов, С.Н.Тугаринов, Д.К.Вуколов<br />

СОВРЕМЕННЫЙ СТАТУС РАБОТ ПО ПРОБЛЕМЕ ПЕРВОГО<br />

ЗЕРКАЛА ДЛЯ ДИАГНОСТИК H-ALPHA И CXRS 42<br />

А.М.Астафьев<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ РАЗРЯДА С ЭЛЕКТРОЛИТНЫМ ЭЛЕКТРОДОМ<br />

ПРИ ТОКЕ ПОРЯДКА ДЕСЯТКОВ АМПЕР (ГАТЧИНСКИЙ РАЗРЯД) 43<br />

190


Ю.Ю.Луценко, В.А.Власов, Е.П.Зеленецкая<br />

ВЛИЯНИЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ПЛАЗМЫ<br />

ВЫСОКОЧАСТОТНОГО ЕМКОСТНОГО РАЗРЯДА НА ЕГО<br />

ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ 48<br />

Ю.В.Ковтун, А.И.Скибенко, Е.И.Скибенко, Ю.В.Ларин,<br />

В.Б.Юферов<br />

ДВУХЧАСТОТНАЯ СВЧ-ФЛУКТУАЦИОННАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ<br />

МНОГОКОМПОНЕНТНОЙ ГАЗОМЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛАЗМЫ 52<br />

И.Ш.Абдуллин, М.Ф.Шаехов, А.А.Хубатхузин, Р.Ф.Шарафеев<br />

ВЛИЯНИЕ ДОПОЛНИТЕЛЬНОГО ПОТЕНЦИАЛА НА<br />

ТЕМПЕРАТУРУ ОБРАЗЦА В ПОТОКЕ ВЫСОКОЧАСТОТНОЙ<br />

ПЛАЗМЫ ПОНИЖЕННОГО ДАВЛЕНИЯ 56<br />

И.Ш.Абдуллин, А.Н.Быканов, И.Г.Гафаров, О.Е.Ибрагимов<br />

СПЕКТРАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ<br />

ИНДУКЦИОННЫХ РАЗРЯДОВ 60<br />

Е.А.Елистратов, А.П.Кузнецов, С.П.Масленников,<br />

А.А.Протасов<br />

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ИМПУЛЬСНОГО<br />

НАНОСЕКУНДНОГО РАЗРЯДА В ВОЗДУХЕ АТМОСФЕРНОГО<br />

ДАВЛЕНИЯ 64<br />

Д.В.Мозгрин, Т.В.Степанова, В.И.Тройнов, Г.В.Ходаченко,<br />

А.В.Шумов, И.А.Щелканов<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗЛУЧАТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК<br />

СИЛЬНОТОЧНОГО ИМПУЛЬСНОГО МАГНЕТРОННОГО РАЗРЯДА 68<br />

Л.А.Луценко, А.В.Ильницкая, А.М.Егорова, И.В.Березняк<br />

СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЕННОГО<br />

АЭРОЗОЛЯ 72<br />

А.В.Бульба<br />

ТОМОГРФИЧЕСКИЙ ПОДХОД В ЗАДАЧЕ 3D РЕКОНСТРУКЦИИ<br />

ПЛАЗМЕННО-ПЫЛЕВЫХ СТРУКТУР 76<br />

В.А.Власов, В.Ф.Мышкин, Д.Л.Гамов, И.А.Ушаков,<br />

А.В.Еремин, В.А.Борисов<br />

ЛАЗЕРНАЯ ДИАГНОСТИКА ДИСПЕРСНОГО УГЛЕРОДА 80<br />

А.А.Пискунов, С.Ф.Подрядчиков, А.Д.Хахаев<br />

МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ПОВЕДЕНИЯ<br />

МАКРОЧАСТИЦ В УПОРЯДОЧЕННЫХ СТРУКТУРАХ<br />

КОМПЛЕКСНОЙ ПЛАЗМЫ 83<br />

O.F.Petrov, V.E.Fortov<br />

DUSTY PLASMA LIQUID AS A STRONGLY COUPLED COULOMB<br />

SYSTEM: DIAGNOSTICS AND RESULTS 87<br />

М.Ю.Пустыльник, Л.Ху, А.В.Ивлев, Х.М.Томас, Г.Е.Морфилл,<br />

Л.М.Василяк, В.Е.Фортов<br />

ВОЗМУЩЕНИЕ ЕМКОСТНОГО ВЧ-РАЗРЯДА<br />

ВЫСОКОВОЛЬТНЫМ НАНОСЕКУНДНЫМ ИМПУЛЬСОМ 89<br />

191


С.Л.Шалимов<br />

ДИАГНОСТИКА ИОНОСФЕРНОЙ ПЛАЗМЫ НАД СПРАЙТАМИ НА<br />

СДВ-ТРАССАХ 93<br />

Е.Е.Тимофеев, С.Л.Шалимов ,М.К.Валлинкоски, Й.Кангас<br />

О ПРИРОДЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ АНОМАЛИИ ПЛАЗМЫ ДИНАМО<br />

СЛОЯ АВРОРАЛЬНОЙ ИОНОСФЕРЫ 97<br />

Е.Е.Тимофеев, С.Л.Шалимов ,О.Г.Чхетиани<br />

,М.К.Валлинкоски, Й.Кангас<br />

ТЕПЛОВЫЕ СТРУКТУРЫ ПЛАЗМЫ ПОЛЯРНОЙ ИОНОСФЕРЫ<br />

КАК ПРОЯВЛЕНИЕ НЕУСТОЙЧИВОСТИ ЭКМАНОВСКОГО ТИПА 101<br />

Ю.Д.Котов, А.В.Кочемасов, А.С.Гляненко, В.Н.Юров,<br />

А.И.Архангельский<br />

СПУТНИКОВЫЙ ЭКСПЕРИМЕНТ «ФОКА» ПО РЕГИСТРАЦИИ<br />

МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО И ЭКСТРЕМАЛЬНОГО<br />

УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ СОЛНЕЧНОЙ ПЛАЗМЫ 105<br />

В.К.Гончаров, К.В.Козадаев, Д.В.Щегрикович<br />

ИЗМЕРЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК<br />

ЛАЗЕРНОИНДУЦИРОВАННЫХ ПЛАЗМЕННЫХ ФАКЕЛОВ<br />

МЕТАЛЛОВ С ВЫСОКИМ ВРЕМЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ 107<br />

А.Н.Митрофанов, А.Я.Фаенов, А.В.Виноградов, Т.А.Пикуз<br />

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ, СПЕКТРАЛЬНЫХ И<br />

КОГЕРЕНТНЫХ СВОЙСТВ ПУЧКА МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО<br />

ИЗЛУЧЕНИЯ ЛАЗЕРА НА СВОБОДНЫХ ЭЛЕКТРОНАХ ЗА ОДНО<br />

ИЗМЕРЕНИЕ ДИФФРАКЦИОННОЙ КАРТИНЫ 111<br />

В.А.Бураков, М.В.Осипов, В.Н.Пузырев, А.Н.Стародуб,<br />

О.Ф.Якушев<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕКТРОВ<br />

МНОГОЗАРЯДНЫХ ИОНОВ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ 116<br />

Э.И.Додулад, А.П.Кузнецов, С.А.Саранцев<br />

ПРЕДВАРИТЕЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ УСЛОВИЙ<br />

ИНИЦИИРОВАНИЯ НА ДИНАМИКУ ПЛАЗМЫ СИЛЬНОТОЧНОЙ<br />

ВАКУУМНОЙ ИСКРЫ НА УСТАНОВКЕ «ПИОН» 120<br />

О.А.Бялковский, Р.О.Гаврилин, А.А.Голубев, К.Л.Губский,<br />

А.П.Кузнецов, В.И.Туртиков, А.В.Худомясов, А.Д. Фертман<br />

ДВУХВОЛНОВЫЙ КВАДРАТУРНЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ<br />

ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЕННОЙ МИШЕНИ В ЭКСПЕРИМЕНТАХ<br />

ПО ТОРМОЖЕНИЮ ТЯЖЕЛЫХ ИОНОВ В ИОНИЗОВАННОМ<br />

ВЕЩЕСТВЕ 123<br />

А.П.Кузнецов, А.С.Савѐлов, О.А.Бялковский, С.А.Саранцев,<br />

И.Ф.Раевский<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ ЭРОЗИОННОГО КАПИЛЛЯРНОГО РАЗРЯДА В<br />

ВОЗДУХЕ АМОСФЕРНОГО ДАВЛЕНИЯ МЕТОДАМИ ТЕНЕВОГО<br />

ФОТОГРА-ФИРОВАНИЯ 127<br />

192


И.Ю.Скобелев, А.Я.Фаенов, Т.А.Пикуз<br />

СПЕКТРЫ МНОГОЗАРЯДНЫХ ПОЛЫХ ИОНОВ В<br />

РЕНТГЕНОВСКОМ ИЗЛУЧЕНИИ СВЕРХПЛОТНОЙ ЛАЗЕРНОЙ<br />

ПЛАЗМЫ 131<br />

Ю.Л.Бакшаев, С.А.Данько, Е.Е.Соколов, К.В.Чукбар<br />

ИМПУЛЬСНЫЙ БОЛОМЕТР В ИЗМЕРЕНИЯХ МЯГКОГО<br />

РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В СИЛЬНОТОЧНОМ Х-ПИНЧЕ. 135<br />

Д.Л.Кирко, А.С.Савелов, Э.И.Додулад<br />

ИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРАЛЬНОГО СОСТАВА ИЗЛУЧЕНИЯ НИЗКОИН-<br />

ДУКТИВНОЙ ВАКУУМНОЙ ИСКРЫ 139<br />

О.А.Башутин, Е.Д.Вовченко, Э.И.Додулад, С.А.Саранцев<br />

МЕТОДИКА РЕГИСТРАЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ОБСКУРОГРАММ<br />

МИКРОПИНЧЕВОГО РАЗРЯДА С ПОМОЩЬЮ ПЗС КАМЕРЫ 141<br />

Е.Д.Вовченко, К.И.Козловский, А.В.Самарин, А.С.Цыбин,<br />

А.Е.Шиканов<br />

ИССЛЕДОВАНИЕ ПЛАЗМЕННОЙ РАЗРЯДНОЙ СИСТЕМЫ С<br />

ПОЛЫМ КАТОДОМ И ИНЕРЦИОННО-ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИМ<br />

УДЕРЖАНИЕМ ИОНОВ 144<br />

А.М.Жукешов, А.У.Амренова, А.Т.Габдуллина,<br />

Т.Е.Нурланбаев<br />

ДИАГНОСТИКА ПЛАЗМЫ В КОАКСИАЛЬНОМ УСКОРИТЕЛЕ И<br />

ОБРАБОТКА МАТЕРИАЛОВ ИМПУЛЬСНЫМ ПОТОКОМ 146<br />

А.С.Савелов, Г.Х.Салахутдинов<br />

МЕХАНИЗМЫ ОБРАЗОВАНИЯ ВЫСОКОЭНЕРГЕТИЧНОГО<br />

РЕНТГЕ-НОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ПЛАЗМЕ СИЛЬНОТОЧНОГО<br />

ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО РАЗРЯДА 150<br />

С.Б.Заякина, Г.Н.Аношин<br />

СОВРЕМЕННЫЙ АТОМНО-ЭМИССИОННЫЙ СПЕКТРАЛЬНЫЙ<br />

АНАЛИЗ (КРАТКИЙ ОБЗОР К 150-ЛЕТИЮ МЕТОДА) 154<br />

С.П.Тимошенков, Е.П.Прокопьев, Н.М.Зарянкин,<br />

А.С.Тимошенков, И.М.Бритков, О.М.Бритков; С.С.Евстафьев,<br />

А.И.Виноградов<br />

АНАЛИЗ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ МОДЕЛЕЙ СКОРОСТИ РОСТА<br />

ПЛЕНОК a � Si : H В СИЛАНОВЫХ ПЛАЗМЕННЫХ СМЕСЯХ<br />

ПОНИЖЕННОГО ДАВЛЕНИЯ 157<br />

Е.А.Вещев, Л.Берталот, С.Путвинский<br />

ДИАГНОСТИКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОТЕРЬ АЛЬФА ЧАСТИЦ В<br />

ИТЕРЕ 161<br />

А.В.Дунаев, С.А.Пивоваренок, С.П.Капинос, А.М.Ефремов,<br />

В.И.Светцов<br />

СПЕКТРАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ ПРОЦЕССА ТРАВЛЕНИЯ GaAs В<br />

ПЛАЗМЕ HCl 163<br />

193


Д.А.Жестилевский, С.А.Румянцев, С.А.Соломатин, Н.М.Сухов,<br />

З.И.Мошнина, Е.Д.Вовченко, А.С.Савѐлов, М.В. Мошнин<br />

ЛАЗЕРНАЯ ПУФА-ТЕРАПИЯ. ОБРАЗОВАНИЕ СШИВОК ДНК ПОД<br />

ДЕЙСТВИЕМ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ АЗОТНОГО<br />

ЛАЗЕРА В ПРИСУТСТВИИ 8-МОП c 167<br />

Д.В.Ситанов, М.Ю.Ивентичев, В.И.Светцов<br />

ПРИМЕНЕНИЕ РЕЛАКСАЦИОННОЙ ИМПУЛЬСНОЙ МЕТОДИКИ<br />

ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ГЕТЕРОГЕННОЙ РЕКОМБИНАЦИИ АТОМОВ В<br />

ПЛАЗМЕ ХЛОРА НА ТВЕРДЫХ ПОВЕРХНОСТЯХ 171<br />

В.Ф.Туганов<br />

ИНТЕГРАЛЫ СТОЛКНОВЕНИЙ В ЛИНЕАРИЗОВАННЫХ ПО<br />

ПОЛЮ КИНЕТИЧЕСКИХ УРАВНЕНИЯХ: РЕГУЛЯРНЫЙ МЕТОД<br />

ИХ НАХОЖДЕНИЯ ИЛИ «ВТОРИЧНАЯ ЛИНЕАРИЗАЦИЯ»<br />

НУЛЕВОГО ПРИБЛИЖЕНИЯ 175<br />

В.Ф.Туганов<br />

ИНТЕГРАЛ СТОЛКНОВЕНИЙ ЛОРЕНЦЕВОЙ ПЛАЗМЫ И ЭФФЕКТ<br />

КРАМЕРСА-ГИНЗБУРГА 179<br />

И.А.Бориев<br />

КВАНТОВО-ДИНАМИЧЕСКАЯ ОСОБЕННОСТЬ УПРУГОГО<br />

РАССЕЯНИЯ ЭЛЕКТРОНА НА АТОМЕ: ОБЪЯСНЕНИЕ ПРИЧИНЫ<br />

ЭФФЕКТА РАМЗАУЭРА И СИЛЬНОГО РОСТА<br />

ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ ИНЕРТНЫХ ГАЗОВ ПРИ ИХ ВЫСОКОЙ<br />

ПЛОТНОСТИ 182<br />

Д.В. Иванов, В.А. Курнаев, Н.В. Мамедов, Д.Н. Синельников,<br />

Т.А.Стаина<br />

РАЗРАБОТКА СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИХ МЕТОДОВ<br />

ДИАГНОСТИКИ ЭМИССИИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ С<br />

ПОВЕРХНОСТИ, ЕЕ СОСТАВА И СТРУКТУРЫ ПОД<br />

ВОЗДЕЙСТВИЕМ ПОТОКОВ ИОНОВ И ПЛАЗМЫ 186<br />

СОДЕРЖАНИЕ 190<br />

194


МАТЕРИАЛЫ<br />

VII РОССИЙСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ<br />

Современные средства диагностики<br />

<strong>плазмы</strong> и их применение для контроля<br />

веществ и окружающей среды<br />

Москва, НИЯУ МИФИ,<br />

30 ноября-2 декабря 2010 г.<br />

Редакционная коллегия:<br />

В. А. Курнаев<br />

А. С. Савѐлов<br />

Э.И. Додулад<br />

ISBN 978-5-7262-1379-8<br />

Подписано в печать 26.11.2010 Формат 60х84 1/16<br />

Уч.изд.л. 12,2 Печ.л. 12,2 Тираж 150 экз.<br />

Изд. № 005-3 Заказ 233<br />

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»<br />

Типография НИЯУ МИФИ. 115409, Москва, Каширское ш., 31<br />

195

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!