taramalı elektron mikroskobu
taramalı elektron mikroskobu
taramalı elektron mikroskobu
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
TARİHSEL GELİİM<br />
<br />
Max Knoll, 1935’te Berlinde ilk Taramalı Elektron Mikroskopu imal ettiğinde daha<br />
yüksek çözünürlüğe sahip olan Geçirimli Elektron Mikroskopunun-Transmission<br />
Electron Microscopy- gölgesinde kalmış olduğunu fark eder ve patent almaya gerek<br />
duymaz!!!<br />
<br />
Yıllar sonra Siemens und Halke Berlin’de çalışan Von Borris ve Ruska-Yüksek<br />
çözünürlüklü TEM’in mucitleri- Manfred von Ardenne adlı bir mucitin kendi özel<br />
laboratuarında geliştirilmesi için verilen SEM projesinin iptali için başvururlar. Şirket<br />
kendi parasını çöpe atma pahasına mucitleri kırmaz ve proje iptal edilir. Bu iki mucid<br />
SEM’in hiçbir zaman TEM e rakip olamayacağı için iptalini istedikleri söylenir ancak<br />
muhtemeldir ki SEM in TEM e rakip olabileceği akıllarından geçmiş olabilir.<br />
<br />
Ancak şuda varki TEM de uygulanan real time mikroskopi tekniğinin o zamanki SEM<br />
makinalarında uygulanması oldukca zordu. Ancak <strong>elektron</strong>iğin gelişmesi ile buda<br />
aşılmış olmasına rağmen yinede SEM bir alternatif olarak düşünülmemiştir. Field<br />
Emission Gun-Alan Etkili Elektron Tabancalar icat edildiğinde bu görüş değişmiş ve<br />
SEM in potansiyeli fark edilmiş.<br />
Bahar 2009
Change language