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次世代実装静電容量温度特性評価システム

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次世代実装分野向け<br />

静電容量温度特性評価システム<br />

型式:AMQ 型式: AMQシリーズ シリーズ<br />

対象デバイス<br />

コンデンサ(capacitor)は、静電容量により電荷(電気エネルギー)<br />

を蓄えたり、放出したりする受動素子である。静電容量の単位はF<br />

(ファラド)が使われる。一般的に使われるコンデンサは数pF~数万<br />

μF程度である。両端の端子に印加できる電圧(耐圧)は、6.3V~<br />

10kV程度までさまざまである。<br />

部品内蔵基板は、電子機器では数多くのコンデンサ、抵抗、イン<br />

ダクタンス、IC等の電子部品が使われている。従来、これらの電子部<br />

品は、基板表面にのみ実装されるのが通常であったが、電子機器の<br />

高密度化、または基板内での配線長を減少させ性能向上することも<br />

図り、電子部品を基板内部へ埋め込み作成した基板を部品内蔵基<br />

板という。<br />

特長<br />

■国際標準の計測器による高精度な測定<br />

コンデンサの特性を評価するには不可欠なアジレントテクノロジー社製LCRメータを計測エンジンとして採用<br />

■最大64チャンネルまでの自動測定<br />

環境試験器と連動させて、温度・湿度の環境下において、多チャンネル連続測定を可能<br />

■3つの試験モードから選択<br />

関連ページ → コンデンサ http://www.espec.co.jp/products/market/it/condensor.html<br />

静電容量温度特性評価システムは、環境試験装置<br />

の温度ステップ制御を行うと同時に、LCRメータを用い静電<br />

容量、静電正接、インダクタンスなどのパラメータを多チャン<br />

ネル測定できる信頼性評価システムとして提案させて頂い<br />

ています。<br />

本システムはLCRメータを搭載した多チャンネル評価装置と<br />

して主に表面実装及びディクリートタイプのコンデンサ評価<br />

用にご利用頂いていました。<br />

近年の電子材料開発の躍進により静電容量、インピーダン<br />

スを評価すべき分野は多様化しています。その中でも、部<br />

品内蔵基板へ搭載されたコンデンサの信頼性は、コンデン<br />

サメーカだけの問題ではなく、基板メーカー、セットメーカー<br />

など様々な場面で品質を確認する必要が出てきています。<br />

受動部品<br />

(C/R/L)<br />

能動部品<br />

(LSI)<br />

既存の受動部品<br />

薄い受動部品<br />

印刷やスパッタ<br />

による膜素子<br />

最大20ステップまで温度条件を設定可能、各温度でのパラメータ測定を実施<br />

温度・湿度環境下において、周波数を変化させながら各周波数でのパラメータ測定を実施<br />

温度・湿度環境下で、特性の時間的変化を自動で測定・収録実施<br />

WLR CSP<br />

ベア・チップ<br />

部品内蔵方式の種類<br />

適応例


システムブロック<br />

仕様<br />

測定項目 静電容量、静電正接(tanδ)、インピダンス<br />

試験項目<br />

チャンネル構成<br />

計測制御<br />

計測ケーブル<br />

電源設備<br />

・温度特性評価試験(温度に対する変化)<br />

・周波数特性評価試験(周波数に対する変化)<br />

・湿度特性評価試験(湿度一定で湿度に対する変化)<br />

・定値運転試験(試験時間に対する変化)<br />

・温度湿度特性評価試験(温湿度に対する変化)<br />

標準8チャンネル、8チャンネル単位の増設で最大64チャンネル<br />

測定方法<br />

測定範囲<br />

測定器<br />

測定レンジ<br />

DCバイアス<br />

測定間隔<br />

温度ステップ数<br />

周波数ステップ数<br />

補正<br />

テフロン製同軸ケーブル 4m<br />

交流4端子対測定<br />

±0~±40V<br />

20ステップ<br />

20ステップ<br />

電源AC100V±10% 1φ 50/60Hz 15A<br />

・測定周波数:20Hz~1MHz<br />

・静電正接(tanδ):0.0001~10.0000<br />

・静電容量:インピダンス測定範囲に依存<br />

・インピダンス:10mΩ~100MΩ<br />

LCRメータ(HP4980A OPT001、006付き)<br />

AUTO、10Ω、100Ω、300Ω、1kΩ、3kΩ、10kΩ、30kΩ100kΩ<br />

最小1分~1500分(定値運転時)<br />

ショート補正、オープン補正可能<br />

エージング バーンイン 評価装置 スクリーニング 温度特性 ストレス印加 環境試験 エレクトロマイグレーション評価 マイグレーション評価 電流印加 定電流 ボイド<br />

ヒーロック 断線評価 ウィスカ 絶縁破壊 絶縁評価 クラック はんだクラック 微小抵抗 交流測定<br />

関連ページ → コンデンサ http://www.espec.co.jp/products/market/it/condensor.html<br />

http://www.espec.co.jp/<br />

本 社<br />

530-8550 大阪市北区天神橋3-5-6<br />

Tel:06-6358-4750 Fax:06-6358-5176<br />

首都圏オフィス<br />

105-0004 東京都港区新橋5-14-10<br />

新橋スクエアビル6F<br />

Tel:03-6402-3597 Fax:03-6402-3593<br />

お問い合わせ・ご要望などは弊社カスタマーセンター<br />

http://www.espec.co.jp/inquiry/inquiry.html<br />

●製品の改良・改善のため、仕様および外観、その他を予告なく変更することがあります。あらかじめご<br />

了承ください。<br />

●Windows ® は、米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における商標または登録商標です。<br />

その他、本カタログに記載されている会社名および商品名は各社の商標または登録商標です。<br />

記載内容は2009年3月現在のものです。


その他製品URL一覧<br />

本 社<br />

530-8550 大阪市北区天神橋3-5-6<br />

Tel:06-6358-4750 Fax:06-6358-5176<br />

首都圏オフィス<br />

105-0004 東京都港区新橋5-14-10<br />

新橋スクエアビル6F<br />

Tel:03-6402-3597 Fax:03-6402-3593<br />

・液晶/PDP http://www.espec.co.jp/products/market/da/pdp.html<br />

・プリント基板 http://www.espec.co.jp/products/market/da/print.html<br />

・二次電池 http://www.espec.co.jp/products/market/da/secondbattery.html<br />

・デジタルカメラ http://www.espec.co.jp/products/market/da/digicame.html<br />

・DVD/HDD/ストレージ http://www.espec.co.jp/products/market/da/dvd.html<br />

・半導体 http://www.espec.co.jp/products/market/da/semicon.html<br />

・LED http://www.espec.co.jp/products/market/da/daled.html<br />

・プリンター/コピー機 http://www.espec.co.jp/products/market/da/ppc.html<br />

・光モジュール・光デバイス http://www.espec.co.jp/products/market/it/light.html<br />

・半導体 http://www.espec.co.jp/products/market/it/semicon.html<br />

・コンデンサ http://www.espec.co.jp/products/market/it/condensor.html<br />

・二次電池 http://www.espec.co.jp/products/market/it/secondbattery.html<br />

・携帯電話 http://www.espec.co.jp/products/market/it/mobile.html<br />

・プリント基板 http://www.espec.co.jp/products/market/it/print.html<br />

・パソコン http://www.espec.co.jp/products/market/it/pc.html<br />

・車載センサ http://www.espec.co.jp/products/market/auto/sensor.html<br />

・LED http://www.espec.co.jp/products/market/auto/autoled.html<br />

・二次電池 http://www.espec.co.jp/products/market/auto/secondbattery.html<br />

・CCD http://www.espec.co.jp/products/market/auto/ccd.html<br />

・パワーデバイス http://www.espec.co.jp/products/market/auto/power.html<br />

・カーナビ http://www.espec.co.jp/products/market/auto/carnavi.html<br />

・ECU http://www.espec.co.jp/products/market/auto/ecu.html<br />

・半導体 http://www.espec.co.jp/products/market/auto/semicon.html<br />

・プリント基板 http://www.espec.co.jp/products/market/auto/print.html<br />

・燃料電池 http://www.espec.co.jp/products/market/new/fuelbattery.html<br />

・太陽電池 http://www.espec.co.jp/products/market/new/solorbattery.html<br />

・パワーデバイス http://www.espec.co.jp/products/market/new/power.html<br />

・二次電池 http://www.espec.co.jp/products/market/new/secondbattery.html<br />

SOC SIP パワーMOS FET リニアIC レギュレータ コンバータ IPM マイコン メモリ CMOS BIPOLAR IGBT ASIC CCD イメージセンサー DRAM SRAM FLASH フォトカプラ 液晶<br />

ドライバ EPROM EEPROM FERAM MRAM 電源IC システムLSI SLSI CF カラーフィルタ 液晶 液晶パネル 有機EL EL テレビ アニール ガラス FPD パネル LCDパネル LCD E<br />

V HV コンデンサ プリント基板 フィルム基板 アレイ基板 アモルファス シリコン 低温 高音 ポリシリコン HTPS LTPS 液晶モジュール PDP TFT LED 10G 8G 8.5G 6G 5G 4.5G 4G<br />

2G 焼成 乾燥 封止 熱処理 クリーン 低酸素 真空 SOP SSOP TSSOP QFP LGA TO TSOP SIP DIP BGA CSP<br />

http://www.espec.co.jp/<br />

お問い合わせ・ご要望などは弊社カスタマーセンター<br />

http://www.espec.co.jp/inquiry/inquiry.html<br />

●製品の改良・改善のため、仕様および外観、その他を予告なく変更することがあります。あらかじ<br />

めご了承ください。<br />

●Windows ® は、米国Microsoft Corporationの米国およびその他の国における商標または登録商標<br />

です。その他、本カタログに記載されている会社名および商品名は各社の商標または登録商標です。<br />

記載内容は2009年3月現在のものです。

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