metrologia_revisÃo_2º_bimestre
•Relógios Comparadores Metrologia Industrial – James de Moraes •Relógios Comparadores Metrologia Industrial – James de Moraes
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•Relógios Comparadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Relógios Comparadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Relógios Comparadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Relógios Comparadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Relógios Apalpadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Relógios Apalpadores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Traçadores de Altura<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Traçadores de Altura<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Traçadores de Altura<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Definição de Sistema de Medição<br />
Conjunto de instrumentos,dispositivos, padrões, operações,<br />
métodos, software, pessoal, ambiente e premissas usado<br />
para quantificar uma unidade de medida ou estabelecer<br />
avaliação para a característica sendo medida<br />
É o processo completo usado para se obter<br />
medições<br />
Peça<br />
Pessoa<br />
Procedimento<br />
Ambiente<br />
Instrumento<br />
Padrão<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•O Processo de Medição é parte do<br />
Processo de Tomada de Decisão<br />
Entrada<br />
Processo de<br />
fabricação a ser<br />
gerenciado<br />
Processo de Medição<br />
Medição<br />
Valor<br />
Análise<br />
Critério para eficácia do<br />
processo de medição:<br />
Decisões corretas<br />
a partir das medições com<br />
qualidade, ou seja,com<br />
baixa variação e boa<br />
estabilidade.<br />
Saída<br />
Decisão<br />
sobre o<br />
produto ou<br />
processo<br />
(aceitar/<br />
rejeitar)<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Componentes do Sistema = Causas de Variação<br />
procedimento<br />
peça a ser medida<br />
pessoa<br />
MEDIÇÃO<br />
padrão<br />
instrumento<br />
ambiente<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Perguntas que devem ser respondidas ao<br />
avaliarmos um Sistema de Medição<br />
O sistema tem discriminação e sensibilidades adequadas ?<br />
O sistema é estável ao longo do tempo ?<br />
Suas propriedades estatísticas são consistentes e aceitáveis<br />
para o controle do produto e/ou o controle do processo<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Como respostas as perguntas do slide anterior …<br />
Os mais usados na indústria automotiva são os estudos de:<br />
Tendência (“bias” ou desvio)<br />
Repetibilidade<br />
Reprodutibilidade<br />
Estabilidade<br />
Linearidade<br />
Considerar também antes<br />
Discriminação (sensibilidade a variações)<br />
Variação própria da peça<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Discriminação<br />
Após a realização de vários estudos de<br />
discriminação conclui-se que a resolução desejável<br />
deveria ser, no mínimo, 1/10 da variação do<br />
processo (6σ) e não 1/10 da tolerância do<br />
processo.<br />
A resolução mínima aceitável é de 1/5 da variação<br />
do processo.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Tendência<br />
Diferença entre a média observada de medições e um valor<br />
de referência<br />
Valor de referência:<br />
<br />
<br />
Valor consensado como padrão. Pode ser determinado por uma<br />
média de medições feitas (n ≥10) com equipamento de maior nível<br />
(p.ex.: 3D/MMC)<br />
Se houver valores de referência cobrindo início, meio e fim da<br />
variação do processo, analise os dados usando um estudo de<br />
linearidade<br />
tendência<br />
valor<br />
de referência<br />
medições<br />
valores<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
valor<br />
médio observado
•Estabilidade<br />
É a variação total das medições obtidas :<br />
mesmo padrão ou peças<br />
mesma característica<br />
ao longo de um período de tempo<br />
Permite-nos predizer o desempenho do sistema de medição<br />
no futuro<br />
instante 1<br />
instante 2<br />
valores<br />
estabilidade<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Linearidade<br />
É a diferença das tendências ao longo da faixa de operação<br />
do equipamento<br />
Pode-se raciocinar como uma mudança da tendência com<br />
respeito ao tamanho<br />
valor<br />
de referência<br />
tendência<br />
menor<br />
valor<br />
de referência<br />
tendência<br />
maior<br />
parte inicial<br />
da faixa<br />
parte final<br />
da faixa<br />
valor<br />
médio<br />
observado<br />
valor<br />
médio<br />
observado<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•R&R (Repetibilidade e Reprodutibilidade)<br />
Repetibilidade<br />
Variação das medições obtidas com<br />
mesmo equipamento de medição<br />
várias vezes<br />
valores<br />
por um mesmo avaliador<br />
repetibilidade<br />
na mesma característica<br />
na mesma peça<br />
Verifica se a variabilidade do sistema de medição é consistente<br />
Fontes de erro : 1) próprio equipamento, 2) variação da posição da<br />
peça no equipamento<br />
As duas fontes são representadas pelas amplitudes das medições<br />
Por isso pode ser demonstrada pela carta das amplitudes (R)<br />
várias medições<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•R&R (Repetibilidade e Reprodutibilidade)<br />
<br />
Reprodutibilidade<br />
Variação da média das medições obtidas com<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
<br />
mesmo equipamento de medição<br />
várias vezes<br />
por diferentes avaliadores<br />
na mesma característica<br />
na mesma peça<br />
Verifica se a variabilidade entre operadores é consistente<br />
Fonte de erro :<br />
desvio adicionado pelo avaliador<br />
Se um desvio (além daquele do equipamento) existe, a média das<br />
leituras entre operadores vai diferir<br />
Demonstrada pela carta das médias (⎩)<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
• Terminologia<br />
São usados dois sistemas básicos de medida: o da linha média M e<br />
o da envolvente E.<br />
O sistema da linha média é o mais utilizado.<br />
Alguns países adotam ambos os sistemas.<br />
No Brasil - pelas Normas ABNT NBR 6405/1988 e NBR<br />
8404/1984 -, é adotado o sistema M.<br />
No sistema da linha média, ou sistema M, todas as grandezas da<br />
medição da rugosidade são definidas a partir do seguinte conceito<br />
de linha média.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
• Terminologia<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
• Ra – Rugosidade Média<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
• Indicação da rugosidade Ra pelos números de classe<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
• Simbologia, equivalência e processos de usinagem<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
• Ry – Rugosidade Máxima<br />
Está definido como o maior valor das rugosidades parciais (Zi)<br />
que se apresenta no percurso de medição (lm). Por exemplo: na<br />
figura a seguir, o maior valor parcial é o Z3, que está localizado<br />
no 3º cut off, e que corresponde à rugosidade Ry.<br />
Rugosidade Ry definida como a rugosidade parcial (neste caso Z3)<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
• Rt – Rugosidade Total<br />
Corresponde à distância vertical entre o pico mais alto e o vale<br />
mais profundo no comprimento de avaliação (lm),<br />
independentemente dos valores de rugosidade parcial (Zi). Na fig.<br />
abaixo, pode-se observar que o pico mais alto está no retângulo<br />
Z1, e que o vale mais fundo encontra-se no retângulo Z3.<br />
Ambos configuram a profundidade total da rugosidade Rt.<br />
Rugosidade Rt. Distância entre o pico mais alto e o vale mais profundo<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
• Rz - Rugosidade média<br />
Corresponde à média aritmética dos cinco valores de rugosidade<br />
parcial. Rugosidade parcial (Z i) é a soma dos valores absolutos das<br />
ordenadas dos pontos de maior afastamento, acima e abaixo da linha<br />
média, existentes no comprimento de amostragem (cut off). Na<br />
representação gráfica do perfil, esse valor corresponde à altura entre<br />
os pontos máximo e mínimo do perfil, no comprimento de<br />
amostragem (le). Ver figura a seguir.<br />
RZ= Z1+Z2+Z3+Z4+Z5<br />
5<br />
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• Indicação de desenho<br />
•Simbologia: Norma ABNT – NBR 8404/1984<br />
1<br />
2 3<br />
Exigencia de Textura Superficial<br />
Exigencia de remoção de<br />
material<br />
Remoção do Material não<br />
permitida<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
• Indicação de desenho<br />
•Simbologia: Norma ABNT – NBR 8404/1984<br />
Cada uma das indicações do estado de superfície é disposta em relação ao símbolo.<br />
e<br />
a<br />
d<br />
b<br />
c(f)<br />
3,2<br />
2<br />
fresar<br />
2,5<br />
a = valor da rugosidade Ra, em µm, ou classe de rugosidade N1 até N12<br />
b = método de fabricação, tratamento ou revestimento<br />
c = comprimento de amostra, em milímetro (cut off)<br />
d = direção de estrias<br />
e = sobremetal para usinagem, em milímetro<br />
f = outros parâmetros de rugosidade (entre parênteses)<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Com o passar dos anos o projetor deixou de ter a tela na forma<br />
retangular e passou a ter forma circular com gravações<br />
periféricas a cada grau e um Vernier estacionário, e escalas nas<br />
mesas X e Y possibilitando maior versatilidade e autonomia de<br />
medição, a partir de então, deixou de ser exclusivamente um<br />
equipamento de simples comparação e passou aser um<br />
instrumento de medição.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Projetores de perfil<br />
Com o projetor de perfil é possível fazermos 3 tipos de projeções:<br />
Projeção diascópica onde o objetivo é projetar os contornos para<br />
medi-los.<br />
Projeção episcópica onde o objetivo é projetar a superfície e<br />
efetuar as medições de gravações nas peças.<br />
E a projeção onde juntamos os dois processos.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Com maior acessibilidade as escalas eletroópticas e aos painéis<br />
digitais como sistemas de leitura , os projetores de perfil<br />
passaram a ser comandados numericamente, ou seja, através de<br />
um sistema ideal de coordenadas cartesianas, era possível medir<br />
as peças com um simples deslocamento da mesa.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Projetores de perfil<br />
Mais recentemente, com o advento<br />
popularizado da informática e<br />
dedicação extra na confecção de<br />
computadores dedicados, foi possível<br />
integrar um processador geométrico<br />
ao projetor de perfil, que através de<br />
funções específicas calcula<br />
automaticamente o valor da<br />
característica em medição, através da<br />
uma simples coleta sistêmica dos<br />
pontos designados pelo operador.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Associado a esta revolução, foi possível<br />
integrar neste processador geométrico um<br />
sistema de coleta de dados automático<br />
dos pontos que devem ser medidos.<br />
Este sistema se baseia em um sensor de<br />
fibra óptica instalado na tela do projetor,<br />
que detecta na imagem projetada a borda<br />
quando da transição entre um ponto claro<br />
e um escuro , registra os valores de cada<br />
um dos eixos e finaliza a medição da<br />
característica selecionada no processador<br />
geométrico.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Projetores de perfil<br />
Este detector de bordas vem sendo<br />
considerado pelos usuários como o<br />
estado da arte na medição em projetores<br />
de perfil, pois reduz consideravelmente o<br />
erro humano no posicionamento da peça<br />
em relação a um ponto fixo na tela além<br />
de melhorar significativamente a<br />
repetitividade e a exatidão na medição.<br />
Como consequência da tecnologia da<br />
informática, também é possível fazer<br />
engenharia reversa de peças com perfis<br />
Complexos.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Ao final de todo o processo de medição<br />
obtém-se um pré desenho que pode ser<br />
exportado sob a extensão de um arquivo<br />
.DXF e posteriormente pode ser tratado<br />
num software comercial de CAD, e, ter a<br />
sua imagem analisada.<br />
Outra ferramenta tecnológica eficaz para<br />
uso do projetor de perfil no processo<br />
produtivo é a integração total dos<br />
resultados obtidos durante a medição em<br />
um software para Controle Estatístico do<br />
Processo (CEP)<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Projetores de perfil<br />
Devido a grande complexidade de<br />
se confeccionar lentes com grande<br />
capacidade de ampliação, a The<br />
L.S. Starrett Co. desenvolveu e<br />
patenteou um sistema com câmera<br />
de video (CCD) (figura 11) capaz<br />
de ampliar até 240 vezes o tamanho<br />
real da peça.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Os projetores de perfil são classificados segundo suas formas<br />
construtivas, tipo de iluminação, tipos de projeção, capacidade<br />
de medição e devem ser escolhidos segundo a necessidade da<br />
medição a ser feita.<br />
Recomenda-se que os projetores horizontais sejam destinados a<br />
medição de peças que precisam ser presas em morsas ou entre<br />
pontas.<br />
Já o modelo vertical é indicado nos casos de medição de peças<br />
delgadas, que possam ser colocadas sobre uma placa de vidro,<br />
peças que possam sofrer deformações indesejáveis ou que sejam<br />
de materiais moles (plástico) ou ainda placas para componentes<br />
eletrônicos.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Projetores de perfil<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Projetores de perfil<br />
Os últimos 10anos foram a mola propulsora na tecnologia da<br />
medição óptica, de um simples equipamento comparativo<br />
passou a ser a solução completa para as medições onde não se<br />
podem ter contatos mecânicos entre peça/instrumento e no<br />
dimensionamento de peças com tamanho extremamente<br />
reduzidos.<br />
Além destas necessidades e em função do avanço da tecnologia<br />
dos materiais e dos processos de fabricação associado aos<br />
inúmeros produtos ligados a informática denota-se a tendência<br />
no uso cada vez mais freqüente da tecnologia de medição sem<br />
contato.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Uma Máquina de Medir a Três Coordenadas, independentemente de<br />
qual seja sua estrutura mecânica, é a representação física de um<br />
sistema de coordenadas cartesiano.<br />
A máquina define a geometria de uma peça através de pontos<br />
coordenados (Xi, Yi,Zi), dispersos discretamente sobre a sua<br />
superfície.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes
•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Sistemas de Medição<br />
As MMC’s (Máquinas de Medir por Coordenadas) contam com<br />
sistemas mediante os quais é efetuada a aquisição das<br />
coordenadas, normalmente cartesianas, dos pontos a medir.<br />
Na atualidade, as MMC’s contam com dois tipos de sistemas de<br />
medição, os sistemas de medição por contato e os sistemas de<br />
medição de não contato.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
O sistema de contato,<br />
vulgarmente conhecido como<br />
sistema de apalpação, tem como<br />
finalidade fazer a aquisição de<br />
um determinado ponto medido<br />
através do contato com a<br />
superfície a medir, apresentando<br />
as coordenadas nos eixos X, Y e<br />
Z, relativamente a um sistema de<br />
coordenadas definido.<br />
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•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Vantagens do Sistema de medição por Contato<br />
Entre as principais vantagens dos sistemas de medição por<br />
contacto destacam-se:<br />
• Incertezas de medição baixas (caso da máquina UPMC Ultra<br />
que tem uma incerteza de 0,3+L/1000 Pm, com L em mm);<br />
• Muito boa versatilidade<br />
Desvantagens do Sistema de medição por Contato<br />
Entre essas desvantagens destacam-se:<br />
• A deformação que pode provocar na peça a medir no<br />
momento do contacto;<br />
• A impossibilidade de efetuar medições em superfícies<br />
reduzidas e de difícil acesso.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Os sistemas de medição por não contato,<br />
tem como principal objetivo, a aquisição<br />
de coordenadas de um ponto localizado<br />
numa superfície da qual se pretende<br />
obter medições.<br />
Muitas peças são de geometria muito<br />
complexa, onde muitas vezes é obter<br />
medições através do contato, sendo<br />
assim foi desenvolvido novos<br />
equipamentos para as máquinas de forma<br />
a substituir, em medições muito<br />
especificas, os habituais apalpadores de<br />
contacto.<br />
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•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Vantagens do Sistema de Medição por Não Contato<br />
O método de medição sem contato, têm-se mostrado como uma<br />
solução atrativa na medição geométrica de peças e apresenta<br />
como principais vantagens:<br />
• Total ausência de contato com a superfície a medir;<br />
• Não provoca deformação das peças ao medir;<br />
• Boa riqueza de detalhes, o que permite efetuar medições de<br />
cotas com dimensões muito reduzidas onde o contato é muitas<br />
vezes impossível;<br />
• Permite digitalizar de modelos;<br />
• Permite efetuar o que vulgarmente é conhecido como<br />
engenharia reversa.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
•Equipamentos de medição por coordenadas<br />
Desvantagens do Sistema de Medição por Não Contato<br />
Apesar da versatilidade destes sistemas, ainda existem algumas<br />
desvantagens entre as principais destacam-se:<br />
• Incertezas de medição ainda altas, quando comparadas com os<br />
sistemas de medição por contacto;<br />
• Possibilidade de existir distorções provocadas pela lente.<br />
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•Comparativo dos resultados de medições<br />
feitas nos dois sistemas de medição.<br />
A comparação entre sistemas de medição não pretende ser de<br />
forma alguma depreciativa para o sistema de medição por<br />
leitura óptica, mas tem como objetivo levar o metrologista a<br />
equacionar qual o sistema de medição que mais se adequa às<br />
medições que pretende efetuar.<br />
No entanto, conclui-se que, face a estudos desenvolvidos<br />
cujos valores apresentam com mais preciso os dados obtidos a<br />
partir de medição por contacto, nos levam a indicar que<br />
sempre que seja possível a medição ser feita por contato, esta<br />
deve ser a opção que deve prevalecer.<br />
Metrologia Industrial – James de Moraes<br />
BOA PROVA!<br />
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