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difração de raios X foram simulados usando-se teoria dinâmica de difração baseada nasequações de Takagi-Taupin (BARTELS et al., 1986).FIGURA 4.9 – Vista frontal da câmara interna do difratômetro de raios X de altaresolução Philips X’Pert MRD.A Figura 4.9 mostra a câmara interna do equipamento de raios X de alta resoluçãoPhilips X’Pert MRD. No centro, destaca-se o goniômetro de alta resolução paramovimentos controlados oticamente, e independentes em ω e 2Θ, com resolução de0,0001 o . O porta-amostra, acoplado ao goniômetro, permite a realização de diversosmovimentos com precisão compatível com a alta resolução, esquematizados em detalhena Figura 4.7. O equipamento possui, além dos já citados, uma série de módulos ópticospré-alinhados para o feixe incidente e o difratado, em aplicações de foco ponto e focolinha. Estes vários módulos óticos permitem configurar o difratômetro de acordo com aaplicação desejada.4.4 Medidas de corrente por tensãoEfeitos de tunelamento ressonante são verificados a partir da aplicação de uma tensãovariável nas extremidades de uma estrutura modulada. A tensão induzirá um fluxo deelétrons que irá tunelar conforme as características dos materiais e a energia aplicadaaos elétrons. O estudo destes efeitos em materiais que ainda não foram investigadosdemanda um sistema flexível de medição, capaz de explorar de diferentes formas aspropriedades já conhecidas e as novas que porventura se manifestem. Portanto, aobservação de tais efeitos necessita primeiramente de um sistema de medição de76
corrente por tensão, IxV, coerente e com características como: faixa de operaçãoextensa, passo na coleta de dados variável, tempo de amostragem regulável, menorinfluência possível sobre os resultados e possibilidade de operação em diferentestemperaturas.Fonte de PotênciaIEEE 488AmperímetroKeithley 2010VoltímetroKeithley 199AVFIGURA 4.10 – Diagrama e circuito equivalente para o sistema de medidas IxV.O sistema de medidas usado neste trabalho para obtenção da curva IxV é constituído deuma fonte de potência Keithley 228A, um multímetro Keithley DMM 199, utilizadocomo voltímetro, um multímetro Keithley 2010, utilizado como amperímetro,conectados via cabo IEEE-488 à placa IEEE-488, instalada no microcomputador decontrole, conforme mostra o diagrama da Figura 4.10. O amperímetro associado mede acorrente que flui pelo sistema. É utilizado um conector Detoronics de 10 pinoscompatível tanto com os porta-amostras, para medidas a 300 e 77 K, como com ocriostato de circuito fechado de He, para medidas dependente da temperatura entre 10 e350 K. Para medições com amostras imersas em Nitrogênio líquido o conectorAmphenol de 9 pinos é utilizado. Os equipamentos são controlados remotamente, via77
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