Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

difração de raios X foram simulados usando-se teoria dinâmica de difração baseada nasequações de Takagi-Taupin (BARTELS et al., 1986).FIGURA 4.9 – Vista frontal da câmara interna do difratômetro de raios X de altaresolução Philips X’Pert MRD.A Figura 4.9 mostra a câmara interna do equipamento de raios X de alta resoluçãoPhilips X’Pert MRD. No centro, destaca-se o goniômetro de alta resolução paramovimentos controlados oticamente, e independentes em ω e 2Θ, com resolução de0,0001 o . O porta-amostra, acoplado ao goniômetro, permite a realização de diversosmovimentos com precisão compatível com a alta resolução, esquematizados em detalhena Figura 4.7. O equipamento possui, além dos já citados, uma série de módulos ópticospré-alinhados para o feixe incidente e o difratado, em aplicações de foco ponto e focolinha. Estes vários módulos óticos permitem configurar o difratômetro de acordo com aaplicação desejada.4.4 Medidas de corrente por tensãoEfeitos de tunelamento ressonante são verificados a partir da aplicação de uma tensãovariável nas extremidades de uma estrutura modulada. A tensão induzirá um fluxo deelétrons que irá tunelar conforme as características dos materiais e a energia aplicadaaos elétrons. O estudo destes efeitos em materiais que ainda não foram investigadosdemanda um sistema flexível de medição, capaz de explorar de diferentes formas aspropriedades já conhecidas e as novas que porventura se manifestem. Portanto, aobservação de tais efeitos necessita primeiramente de um sistema de medição de76