Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

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FIGURA 4.5 – Sistema de medição de resistividade e efeito Hall dependente com atemperatura.O campo magnético para as medidas Hall é fornecido pelo eletroímã Walker ScientificHV4W e sua fonte de potência HS525 25 A-50V DC, possibilitando a aplicação de umcampo magnético de 7200 Gauss e corrente de 20 A.Fonte Eletroímã±BBBControlador deTemperaturaIEEE 488Multímetro DigitalDMM 199/1992Picoamperímetro485Placa deEfeito Hall7065Sistema deChaveamentoFonte Programávelde Corrente 228ABombadeVácuoFIGURA 4.6 – Diagrama do sistema de medição de resistividade e efeito Hall.No caso de se realizar medições somente à temperatura ambiente e a 77 K, a amostra émontada em um porta-substrato especial e é inserido em um reservatório que permite ainserção de Nitrogênio líquido. Para medições dependentes com a temperatura, aamostra é montada no criostato Displex Air Products, modelo CSA-202, de circuito72
fechado de He, equipado com controlador PID com sintonia automática e interfaceIEEE-488 Lakeshore 303 Autotune, que permite realizar medições entre 10 e 450 K. Odiagrama dos sistema de medições de efeito Hall e resistividade é mostrado na Figura4.6.O programa desenvolvido no LAS/INPE em linguagem objeto Visual Basic controlaautomaticamente todas as medidas, além de fornecer as propriedades elétricas, ou seja,resistividade, concentração de portadores e mobilidade Hall em função da temperatura4.3 Difração de raios X de alta resoluçãoA difração de raios X é uma técnica de caracterização não destrutiva amplamenteutilizada na caracterização de amostras poli ou monocristalinas. A radiação de raios Xtem comprimentos de onda compatíveis com o parâmetro de rede de materiaiscristalinos. Desta forma, um feixe de raios X colimado ao incidir em um materialcristalino será difratado pelo arranjo periódico de átomos. A diferença de caminho óticoentre os feixes difratados resultará em interferências destrutivas e construtivas conformeo ângulo de incidência do feixe, o comprimento de onda da radiação e a distânciainterplanar do material irradiado. A Lei de Bragg estabelece de forma simples a relaçãoentre estas variáveis, descrevendo o comportamento dos feixes difratados por um cristal.A lei de Bragg supõe a reflexão especular por variados planos do cristal de partes daradiação incidente e sem perdas de energia na interação, e é dada por:2 d ⋅ senΘ= n iλ(4.19)onde,d é a distância interplanar no cristal, Θ é o ângulo entre o vetor de onda incidente e osplanos cristalinos da amostra, n i é um número inteiro, indicando haver interferênciaconstrutiva sempre que a diferença entre feixes difratados por diferentes planos foremmúltiplos de λ, que é o comprimento de onda da radiação incidente. A distânciainterplanar d relaciona-se com o parâmetro de rede a de um cristal cúbico através daEquação 3.9.73
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