10.07.2015 Views

Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

− V42R1= →(4.16)I1→3Desta forma o coeficiente Hall é <strong>de</strong>terminado por:8+ −⎛10 W ⎞⎛R1− R1⎞R H= ⎜ ⎟⎜⎟(4.17)⎝ B ⎠⎝2 ⎠on<strong>de</strong>,B é a intensida<strong>de</strong> do campo magnético em Gauss e W a espessura da amostra em cm.A mobilida<strong>de</strong> Hall é <strong>de</strong>terminada pela relação:µHRH= (4.18)ρPortanto, a partir <strong>de</strong> medidas <strong>de</strong> efeito Hall extrai-se os valores da concentração <strong>de</strong>portadores, resistivida<strong>de</strong> e mobilida<strong>de</strong> das amostras. Normalmente, tanto para aresistivida<strong>de</strong> quanto para o coeficiente Hall, é feita uma média entre as medidas nosdiversos contatos para a corrente fluindo nos dois sentidos.4.2.3 Sistema <strong>de</strong> medição <strong>de</strong> resistivida<strong>de</strong> e efeito HallO sistema <strong>de</strong> medição <strong>de</strong> resistivida<strong>de</strong> e efeito Hall utilizado, Figura 4.5, é formado porum sistema Keithley totalmente conectado com um microcomputador pela interfaceIEEE-488. Ele é constituído <strong>de</strong> uma fonte programável <strong>de</strong> corrente 228A, uma placa <strong>de</strong>efeito Hall 7065, inserida no sistema <strong>de</strong> chaveamento 7001, um multímetro digitalDMM 199/1992 e um picoamperímetro 485. A carta <strong>de</strong> efeito Hall mo<strong>de</strong>lo 7065 contémamplificadores DC sensíveis e todo o chaveamento necessário para se fazer medições <strong>de</strong>resistivida<strong>de</strong> e efeito Hall em amostras <strong>de</strong> alta ou baixa resistivida<strong>de</strong>.71

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!