Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

CAPÍTULO 4TÉCNICAS DE CARACTERIZAÇÃOO LAS/INPE conta com uma série de equipamentos, possibilitando a caracterização deamostras quanto as suas propriedades estruturais, elétricas e óticas. Primeiramente seráapresentada a espectroscopia infravermelha por transformada de Fourier (FTIR, Fouriertransform infrared spectroscopy). Este tópico apresenta os princípios de medição deespessura de filmes finos e a determinação do gap de materiais IV-VI. Alguns exemplossão apresentados, assim como as características do equipamento utilizado. O segundotópico aborda o efeito Hall, seus princípios básicos, o método de Van der Pauw e osistema de medição. A caracterização por medidas de efeito Hall forneceu informaçõessobre as propriedades elétricas dos filmes, orientando os parâmetros de crescimento eníveis mais apropriados de dopagem. Em seguida, é apresentada a difração de raios Xde alta resolução. São discutidas as características da alta resolução, o difratômetro esuas respectivas configurações. O último tópico deste capítulo aborda as medidas decorrente por tensão.4.1 Espectroscopia infravermelha por transformada de FourierA espectroscopia infravermelha por transformada de Fourier é tradicionalmente usadapara a caracterização ótica em compostos IV-VI, que possuem o gap de energia estreito.Os espectros de transmissão e/ou reflexão são normalmente utilizados para adeterminação da espessura em camadas epitaxiais simples destes materiais. O valor daespessura das camadas é um parâmetro utilizado durante o cálculo das medidas deresistividade e efeito Hall e na determinação da taxa de crescimento do filme. Osespectros de transmissão foram medidos para a determinação da espessura. Como aamostra tem que ser processada após a determinação da sua espessura, a técnica deespectroscopia de Fourier se mostrou vantajosa por ser uma técnica de medida nãodestrutiva.63