Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe
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T - TemperaturaV - Tensão, voltagem ou diferença de potencialVp - Voltagem de picoVv - Voltagem de valeW - EspessuraWrx - Espessura determinada a partir de medidas de difração de raios X de alta resoluçãoWtx - Espessura determinada a partir da taxa de crescimentox, y - Concentração de determinado elementox, y, z - Vetores unitários num sistema de eixos ordenadosx Eu- Concentração de európioα - Fração das moléculas que efetivamente contribuem para o fluxo molecularβ linear - Coeficiente de expansão linearδ - Taxa de crescimento∆k - Separação entre franjas em número de ondaε ∝ - Constante dielétricaε s 300Kε s 4K- Constante dielétrica a 300K- Constante dielétrica a 4Kε⊥ - Deformação perpendicular ao plano [111]ε|| - Deformação paralela ao plano [111]ξ - Espessura críticaγ - Medida de distânciaλ - Comprimento de onda
μ- Mobilidadeω - Medida de ângulo no difratômetro de raios X de alta resoluçãoπ -Número PIχ - Momento magnéticoχ Β - Momento magnético de Bohrθ - Medida de ânguloΘ - Medida de ângulo no difratômetro de raios X de alta resoluçãoΓ - Taxa de crescimentoΓ ef - Taxa de efusãoΓ θ - Taxa de efusão angularρ - Resistividade
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