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Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

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A Figura 5.13 apresenta as medidas <strong>de</strong> <strong>de</strong>nsida<strong>de</strong> <strong>de</strong> corrente em função da voltagem,realizadas nas amostras BD4049P e G, BD4050P e G e BD4051P e G. Nestas medições,aplicou-se voltagem variando entre -1,0 V a 1,0 V. O passo <strong>de</strong> aquisição dos dados foi <strong>de</strong>0,1V, com intervalo <strong>de</strong> 1s entre cada tomada. Cada ponto adquirido correspon<strong>de</strong> à média <strong>de</strong>três leituras. As características encontradas nas curvas da Figura 5.13 representam <strong>de</strong> formageral as <strong>de</strong>mais amostras, ou seja, o comportamento ôhmico das medidas. Este fato indica queos graus <strong>de</strong> dopagem <strong>de</strong> <strong>PbTe</strong> com Bi, aplicados na fabricação das estruturas <strong>de</strong> BD, foramsatisfatórios.Efeitos <strong>de</strong> tunelamento ressonante não foram observados em nenhuma das medidas realizadas.A primeira e segunda <strong>de</strong>rivadas das curvas <strong>de</strong> IxV mostraram características que variavamaleatoriamente entre si, <strong>de</strong>scartando a possibilida<strong>de</strong> <strong>de</strong> ocorrência <strong>de</strong> efeitos <strong>de</strong> tunelamentoainda que sutis.A principal hipótese levantada para a não verificação do efeito <strong>de</strong> tunelamento ressonante foi aexistência <strong>de</strong> uma corrente <strong>de</strong> fuga pelas bordas da estrutura mesa. Uma forma <strong>de</strong> verificar aexistência <strong>de</strong> corrente <strong>de</strong> fuga é <strong>de</strong>terminar a resistência por unida<strong>de</strong> <strong>de</strong> área em dispositivoscom diferentes tamanhos <strong>de</strong> topo da estrutura mesa. Para isso, curvas IxV foram comparadas apartir <strong>de</strong> medições em oito diferentes dispositivos da amostra BD4019, sendo quatro <strong>de</strong> áreapequena e quatro <strong>de</strong> área gran<strong>de</strong>. A partir do ajuste linear às curvas IxV, extraiu-se o valor dasresistências por unida<strong>de</strong> <strong>de</strong> área R□, para cada dispositivo. Encontram-se relatados na Tabela5.5 os valores <strong>de</strong> R□, o valor médio e o <strong>de</strong>svio padrão dos quatro dispositivos P e G, sendoque cada um <strong>de</strong>les é numerado <strong>de</strong> 1 a 4.114

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