Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

500 20 40 60 80 10050(Wrx-Wtx)/Wtx (%)40302010BarreiraPbEuTe4030201000-100 20 40 60 80 100Wtx (nm)-10FIGURA 5.9 – Diferença percentual entre a espessura determinada por difração de raios X,Wrx, e o valor nominal estimado pela taxa de crescimento, Wtx, em função dovalor nominal para as barreiras de PbEuTe.Pela Tabela 5.4, pode-se observar que as espessuras das camadas individuais obtidas por raiosX, Wrx, diferem dos valores nominais obtidos pela taxa de crescimento, Wtx. Esta diferença éproporcionalmente maior quanto menor a espessura da camada. A Figura 5.9 mostra adiferença percentual, (Wrx – Wtx) / Wtx, em função da espessura nominal para todas asbarreiras de Pb 1 -x Eu x Te. Note que para barreiras menores que 10 nm os valores obtidos porraios X, considerados reais, foram de até 40% maior que os valores nominais. Quando osobturadores das células de efusão são abertos, o fluxo do material sublimado é inicialmentemaior, devido às moléculas estarem represadas na célula, tendendo para um valor normal desublimação após certo tempo de abertura. Como os valores nominais, Wtx, foramdeterminados a partir das taxas de crescimento, obtidas para filmes espessos, é razoáveladmitir que a diferença observada para barreiras finas seja devido a este comportamento da107