Estruturas de barreira dupla de PbTe/PbEuTe ... - mtc-m17:80 - Inpe

5.2.1 Caracterização estrutural por difração de raios XCom o objetivo de determinar os parâmetros estruturais das barreiras duplas de PbTe/PbEuTe,medições de difração de raios X foram realizadas, utilizando-se o difratômetro de altaresolução Philips X’Pert MRD na configuração triplo-eixo. O cristal analisador de corte,utilizado na frente do detector, nessa configuração, ilustrada na Figura 4.8 e descrita emdetalhe na seção 4.3, aumenta a resolução do difratômetro, permitindo resolver as franjas deinterferência relativas à difração dos raios X em estruturas de multicamadas epitaxiais.Varreduras ω/2Θ em torno do pico de difração de Bragg (222) foram medidas para a maioriadas amostras. A Figura 5.8 mostra, como exemplo, os espectros (222) medidos naconfiguração triplo-eixo para três amostras de BD de PbTe/PbEuTe com diferentes espessurasde barreira. Pode-se identificar claramente nestes espectros o pico mais intenso, referente àcamada buffer de PbTe, o pico do substrato de BaF 2 usado como referência para a escala Θ eas franjas de interferência correspondentes à estrutura de barreira dupla. A intensidade dospadrões de difração devido às estruturas de BD, se mostrou de 2 a 4 ordens de grandeza menordo que a do pico da camada buffer de PbTe. Por esta razão, foi utilizado durante a varreduraum tempo longo de integração de 5 segundos para cada passo angular de 0,001 o . A altadefinição do padrão de difração, observado em torno do pico de Bragg de PbTe, devido àsmulticamadas, indica que interfaces bem abruptas foram conseguidas nas amostras de BDcrescidas por MBE. Observa-se ainda que o pico mais intenso de ordem zero do padrão dedifração das barreiras duplas é deslocado para ângulos menores em relação ao pico do PbTe ese tornam mais intensos na medida em que a espessura das barreiras aumenta.103