Dynamic Voltage Scaling Dissertação para obtenção do Grau de ...

3. Sensor Global
3.2.1 Modo de Envelhecimento
A entrada do sensor em Modo de Envelhecimento ocorre quando o sinal aging é forçado a ‘1’
pelo bloco Temporizador. Durante este modo os sinais edge e clkgen permanecem inalterados no
valor lógico ‘0’. Na Figura 3.3 pode ver-se que esta configuração provoca o bloqueio de V dd através
de P2 ao mesmo tempo que força gnd na saída por meio de N2. Deste modo, o sinal test_data
propagado a todos os transístores P1 e N1 é ‘0’, o que força os transístores P1 a envelhecer (fase de
stress).
Figura 3.3 – Estado dos transístores das portas NOR no Modo de Envelhecimento
Isto permite concluir que a degradação temporal por envelhecimento observada na cadeia de
atraso será apenas da responsabilidade dos transístores P1, uma vez que os transístores P2 estão
em modo de recuperação quase todo o tempo. Por este motivo, e para o correcto funcionamento do
sensor, é importante que a ordem de ligação das entradas das portas NOR seja respeitada, uma vez
que durante a fase de stress o fenómeno de envelhecimento só acontece nos transístores que estão
situados junto à tensão de alimentação.
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