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Dynamic Voltage Scaling Dissertação para obtenção do Grau de ...

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1. Introdução<br />

Apesar <strong>de</strong> não disponível comercialmente, existe ainda o sistema Razor da ARM ® [3] que<br />

permite ajustar a tensão <strong>de</strong> alimentação com base na quantida<strong>de</strong> <strong>de</strong> falhas ocorridas durante a<br />

execução <strong>de</strong> tarefas. A correcta operação <strong>do</strong> circuito é assegurada por um mecanismo <strong>de</strong><br />

autocorrecção <strong>de</strong> erros basea<strong>do</strong> num mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> amostragem dupla (uma com relógio rápi<strong>do</strong> e outra<br />

com relógio lento). Esta solução permite reduções elevadas no consumo, mas necessita que to<strong>do</strong>s<br />

os caminhos críticos sejam refeitos <strong>de</strong> mo<strong>do</strong> a integrar os dispositivos <strong>de</strong> <strong>de</strong>tecção e resolução <strong>de</strong><br />

falhas. No entanto, como esta abordagem interfere no normal fluxo <strong>de</strong> projecto, a sua a<strong>do</strong>pção por<br />

parte da indústria torna-se difícil.<br />

Depois <strong>de</strong>sta análise é possível concluir que se po<strong>de</strong>m obter gran<strong>de</strong>s ganhos <strong>de</strong> energia caso<br />

sejam reduzidas as margens <strong>de</strong> tensão atribuídas <strong>para</strong> compensar incertezas <strong>de</strong>vi<strong>do</strong> ao processo <strong>de</strong><br />

fabrico, temperatura <strong>de</strong> operação e envelhecimento.<br />

1.2 Principais Contribuições<br />

O sensor aqui apresenta<strong>do</strong> surge na sequência <strong>de</strong> estu<strong>do</strong>s sobre o impacto <strong>do</strong> envelhecimento<br />

nos transístores que mostram um aumento <strong>do</strong> tempo <strong>de</strong> propagação <strong>do</strong>s sinais digitais com o<br />

<strong>de</strong>correr <strong>do</strong> tempo. O fenómeno <strong>de</strong> envelhecimento afecta principalmente os transístores tipo P e o<br />

seu impacto nos circuitos digitais foi analisa<strong>do</strong> em [4].<br />

Com o objectivo <strong>de</strong> prever antecipadamente possíveis falhas nos circuitos digitais causadas por<br />

variações no processo <strong>de</strong> fabrico, temperatura e envelhecimento (PVTA), foi <strong>de</strong>senvolvi<strong>do</strong> um sensor<br />

local [5] que verifica junto <strong>do</strong>s principais caminhos críticos a eminência <strong>de</strong> uma falha ocorrer.<br />

Mais tar<strong>de</strong> foi <strong>de</strong>senvolvi<strong>do</strong> um segun<strong>do</strong> sensor [6] <strong>para</strong> avalizar o <strong>de</strong>sempenho global <strong>do</strong><br />

circuito em complemento com o sensor local.<br />

A principal contribuição <strong>de</strong>ste trabalho consiste no <strong>de</strong>senvolvimento <strong>de</strong> um <strong>de</strong>monstra<strong>do</strong>r em<br />

FPGA que coloca em prática uma parte <strong>do</strong> princípio proposto em [6]. Recorren<strong>do</strong> a um circuito com<br />

autoteste, é validada a solução proposta e são quantifica<strong>do</strong>s os ganhos obti<strong>do</strong>s no consumo<br />

energético quan<strong>do</strong> a tensão <strong>de</strong> alimentação é optimizada <strong>de</strong> forma permanente.<br />

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