a análise de placas laminadas compostas inteligentes
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8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 164 nado com sequência de empilhamento [+30/ + 30/0]s, aplicou-se um potencial elétrico de 188, 8 V, conforme Detwiler, Shen e Venkayya (1995), e os resultados são mostrados nas Figuras 16 e 17. T2 0,006 0,004 0,002 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Saravanos et al. (1997) Detwiler et al. (1995) experimento -0,002 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 14: Deflexão normalizada T2 para laminado [0/ + 45/ − 45]s. T3 0,005 0,004 0,003 0,002 0,001 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Saravanos et al. (1997) Detwiler et al. (1995) experimento -0,001 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 15: Deflexão normalizada T3 para laminado [0/ + 45/ − 45]s. x/C x/C
8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 165 T2 0,006 0,005 0,004 0,003 0,002 0,001 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Detwiler et al. (1995) experimento -0,001 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 16: Deflexão normalizada T2 para laminado [+30/ + 30/0]s. T3 0,025 0,020 0,015 0,010 0,005 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Detwiler et al. (1995) experimento -0,005 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 17: Deflexão normalizada T3 para laminado [+30/ + 30/0]s. 8.2.2 Placa laminada composta com sensores e atuadores x/C x/C Ainda, considerando a mesma placa do experimento de Crawley e Lazarus (1991), Detwiler, Shen e Venkayya (1995) apresentaram uma outra situação para análise de sua implementação baseada na modelagem executada com elementos sólidos formulados por Ha, Keilers e Chang (1992). Aqueles autores consideraram a mesma placa como
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8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 165<br />
T2<br />
0,006<br />
0,005<br />
0,004<br />
0,003<br />
0,002<br />
0,001<br />
0,000<br />
partição da unida<strong>de</strong><br />
enriq. primeiro grau<br />
enriq. segundo grau<br />
Detwiler et al. (1995)<br />
experimento<br />
-0,001<br />
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1<br />
Figura 16: Deflexão normalizada T2 para laminado [+30/ + 30/0]s.<br />
T3<br />
0,025<br />
0,020<br />
0,015<br />
0,010<br />
0,005<br />
0,000<br />
partição da unida<strong>de</strong><br />
enriq. primeiro grau<br />
enriq. segundo grau<br />
Detwiler et al. (1995)<br />
experimento<br />
-0,005<br />
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1<br />
Figura 17: Deflexão normalizada T3 para laminado [+30/ + 30/0]s.<br />
8.2.2 Placa laminada composta com sensores e atuadores<br />
x/C<br />
x/C<br />
Ainda, consi<strong>de</strong>rando a mesma placa do experimento <strong>de</strong> Crawley e Lazarus (1991),<br />
Detwiler, Shen e Venkayya (1995) apresentaram uma outra situação para <strong>análise</strong> <strong>de</strong><br />
sua implementação baseada na mo<strong>de</strong>lagem executada com elementos sólidos formulados<br />
por Ha, Keilers e Chang (1992). Aqueles autores consi<strong>de</strong>raram a mesma placa como
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