a análise de placas laminadas compostas inteligentes

a análise de placas laminadas compostas inteligentes a análise de placas laminadas compostas inteligentes

repositorio.ufsc.br
from repositorio.ufsc.br More from this publisher
27.05.2013 Views

8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 164 nado com sequência de empilhamento [+30/ + 30/0]s, aplicou-se um potencial elétrico de 188, 8 V, conforme Detwiler, Shen e Venkayya (1995), e os resultados são mostrados nas Figuras 16 e 17. T2 0,006 0,004 0,002 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Saravanos et al. (1997) Detwiler et al. (1995) experimento -0,002 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 14: Deflexão normalizada T2 para laminado [0/ + 45/ − 45]s. T3 0,005 0,004 0,003 0,002 0,001 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Saravanos et al. (1997) Detwiler et al. (1995) experimento -0,001 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 15: Deflexão normalizada T3 para laminado [0/ + 45/ − 45]s. x/C x/C

8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 165 T2 0,006 0,005 0,004 0,003 0,002 0,001 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Detwiler et al. (1995) experimento -0,001 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 16: Deflexão normalizada T2 para laminado [+30/ + 30/0]s. T3 0,025 0,020 0,015 0,010 0,005 0,000 partição da unidade enriq. primeiro grau enriq. segundo grau Detwiler et al. (1995) experimento -0,005 0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 Figura 17: Deflexão normalizada T3 para laminado [+30/ + 30/0]s. 8.2.2 Placa laminada composta com sensores e atuadores x/C x/C Ainda, considerando a mesma placa do experimento de Crawley e Lazarus (1991), Detwiler, Shen e Venkayya (1995) apresentaram uma outra situação para análise de sua implementação baseada na modelagem executada com elementos sólidos formulados por Ha, Keilers e Chang (1992). Aqueles autores consideraram a mesma placa como

8.2 Placa com pastilhas piezelétricas discretas 164<br />

nado com sequência <strong>de</strong> empilhamento [+30/ + 30/0]s, aplicou-se um potencial elétrico <strong>de</strong><br />

188, 8 V, conforme Detwiler, Shen e Venkayya (1995), e os resultados são mostrados<br />

nas Figuras 16 e 17.<br />

T2<br />

0,006<br />

0,004<br />

0,002<br />

0,000<br />

partição da unida<strong>de</strong><br />

enriq. primeiro grau<br />

enriq. segundo grau<br />

Saravanos et al. (1997)<br />

Detwiler et al. (1995)<br />

experimento<br />

-0,002<br />

0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1<br />

Figura 14: Deflexão normalizada T2 para laminado [0/ + 45/ − 45]s.<br />

T3<br />

0,005<br />

0,004<br />

0,003<br />

0,002<br />

0,001<br />

0,000<br />

partição da unida<strong>de</strong><br />

enriq. primeiro grau<br />

enriq. segundo grau<br />

Saravanos et al. (1997)<br />

Detwiler et al. (1995)<br />

experimento<br />

-0,001<br />

0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1<br />

Figura 15: Deflexão normalizada T3 para laminado [0/ + 45/ − 45]s.<br />

x/C<br />

x/C

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!