Roteiro Experimento 1 Microscopia e Analise microestrutural v3

EN‐2806 – Tópicos experimentais em Materiais
Versão 1: Profs. Márcia T. Escote e Humberto N. Yoshimura
Versão 2: Prof. e Alexandre J. De C. Lanfredi
Versão 3: Prof. Daniel Z. de Florio
razão inversa da ampliação que se utiliza. Para ampliações maiores, a área observada é apenas
de uma fração de milímetro. A redução progressiva da área observada é, no entanto,
acompanhada de um aumento de detalhes. As maiores ampliações permitem a observação de
áreas restritas, mas revelam pormenores não detectados com pequenas ampliações. Também
amostras de dimensões superiores às da área do campo não podem ser completamente
visualizadas. Pode‐se então concluir que se deve iniciar a observação utilizando pequenas
ampliações, que permitam captar uma imagem global da amostra. A preparação para
observação deve percorrer vários sentidos a fim de se localizar a zona de maior interesse.
Dessa zona selecionam‐se os elementos de maior importância, centrando‐os, e só depois se
deve passar a objetivas de maiores ampliações. Estas permitirão observar detalhadamente os
pormenores desejados na amostra.
Contraste no microscópio óptico e representação da imagem
A análise da microestrutura em MO geralmente é realizada em uma superfície polida,
que pode ser obtida com um polimento mecânico, químico e/ou eletrolítico. O contraste no
MO pode ocorrer “naturalmente” pela diferença entre a interação óptica dos diferentes micro‐
constituintes (Figura 3).
(a)
Figura 3 – Micrografia óptica (luz refletida) de uma seção polida (sem ataque) de um ferro fundido nodular, onde o
contraste das partículas esféricas (nódulos) ocorre pela absorção de luz da fase grafita. A mesma micrografia é
apresentada em três aumentos: (a) 400 x (=10 mm/25 µm), (b) 280 x (=10 mm/36 µm) e (c) 200 x (=10 mm/50 µm).
Muitas vezes, entretanto, uma superfície polida apresenta‐se com brilho especular
homogêneo (sem contraste), o que faz necessário revelar os microconstituintes por meio de
um “ataque”, que pode ser químico, térmico, por anodização, entre outras técnicas (Figuras 4
e 5).
(b)
(c)
25 µm 36 µm
50 µm