Roteiro Experimento 1 Microscopia e Analise microestrutural v3

1 ‐ Introdução 

EN‐2806 – Tópicos experimentais em Materiais 

Versão 1: Profs. Márcia T. Escote e Humberto N. Yoshimura 

Versão 2: Prof. e Alexandre J. De C. Lanfredi 

Versão 3: Prof. Daniel Z. de Florio 

ROTEIRO ‐ Experimento 1 – Microscopia e Análise Microestrutural 

Microscópio óptico e microscópio eletrônico 

O microscópio óptico é uma ferramenta poderosa para examinar, avaliar e quantificar 

a microestrutura de materiais. A sua resolução é da ordem de 250 nm e com uma 

profundidade de campo similar. No entanto, o instrumento tem a vantagem de ser 

relativamente barato na sua forma mais simples e é de fácil operação. Ele foi originalmente 

desenvolvido para operar nos modos transmissão e reflexão e até hoje o microscópio óptico 

continua a ser uma das técnicas mais úteis e fáceis de ser aplicada no estudo de 

microestruturas de uma ampla quantidade de materiais 1 . 

Neste contexto, a habilidade para resolver detalhes na imagem visual é um requisito 

básico para análises microestruturais. Entretanto, a utilização do microscópio óptico é limitada 

pelos seguintes fatores: 

‐ Comprimento de onda no espectro eletromagnético (região visível: 0,4 a 0,7 μm); 

‐ Intensidade mínima necessária para discernir a imagem; 

‐ Separação espacial mínima que pode ser resolvida a olho nu. 

Isto ocorre porque o olho humano é sensível a diferenças de brilho e intensidades 

variando do preto para o branco e todas as nuances de cinza. No entanto, para o olho humano 

a maior sensibilidade está na região do verde (λ ~ 0,56 μm) e o tempo de integração do olho é 

de aproximadamente 0,1 s. Você deve se lembrar das aulas de Óptica Básica como a imagem é 

formada no olho humano. 

Em um sistema óptico simples a resolução do olho é definida aplicando o critério de 

Rayleigh (equação 1). Rayleigh assumiu que duas fontes pontuais podem se distinguidas 

quando a intensidade do pico de um coincide com o 1° mínimo do outro 1 . 

δ = 1,2λ/nsenα (1) 

Onde δ é o raio aparente da lente (às vezes representado como d ou diâmetro de abertura – 

relacionado com o limite mínimo entre os dois pontos a serem observados); λ é a radiação 

incidente, n é o índice de refração do meio entre a lente e a amostra, e α é o semi‐ângulo 

subentendido pelo objeto na lente (veja Figura 1). A quantidade “nsenα” define o valor





numérico para a abertura das lentes (conhecido como NA e em muitos casos tem influência da 

objetiva e do condensador). 

Amostra 

Figura 1 – Esquema da formação de imagem pela lente objetiva. 

Além da resolução, é importante observar que a imagem deve ter contraste suficiente 

para distinguir o background e poder detalhar as diferentes características da microestrutura 

da amostra. Devido a estas limitações do microscópio óptico, vários tipos de microscópios 

foram desenvolvidos utilizando diferentes fontes para iluminar a amostra e também para 

detectar o sinal da amostra. Podemos citar: microscópio a laser, microscópio acústico, 

microscópio de infravermelho, microscópio de raios X, microscópio eletrônico, entre outros. 

Isto foi feito na tentativa de melhorar a resolução do microscópio, pois variando o 

comprimento de onda da radiação incidente é possível melhorar a resolução do microscópio 

(veja Tabela 1). 

Lente Objetiva 

Tabela 1 – Comprimentos de ondas de diferentes radiações eletromagnéticas. 

Radiação Comprimento de onda (nm) 

Acústica > 1000 

Infravermelha 700‐860 

Luz visível (azul a vermelho) 400‐700 

Ultravioleta 25‐400 

Raios‐X 0,01‐15 

Elétrons 0,005 

Plano imagem 

Entre os diferentes tipos de microscópio, temos o microscópio eletrônico (varredura e 

transmissão) e o por sonda (AFM e STM) como os mais recentemente desenvolvidos. É 

importante observar também que diferentemente do microscópio óptico, a formação da 

imagem em todos estes microscópios é indireta e depende da detecção do sinal da interação 

entre a radiação e a amostra. No caso dos microscópios eletrônicos a imagem é gerada 

utilizando um esquema óptico semelhante ao do microscópio óptico. No entanto as lentes não





são mais de vidro, mas sim bobinas magnéticas que defletem o feixe de elétrons de modo a 

focar o feixe incidente na superfície da amostra. A imagem é formada a partir dos sinais dos 

elétrons retroespalhados, elétrons secundários e/ou da densidade de elétrons absorvidos na 

amostra. Na tabela 2 são apresentados os aumentos, a respectiva resolução e a profundidade 

de campo alcançada utilizando um microscópio eletrônico em comparação com um 

microscópio óptico. 

Tabela 2 – Profundidade de campo e resolução do microscópio eletrônico comparado com um microscópio óptico convencional. 

Aumento Resolução Profundidade de campo 

Micr. Eletrôn. Micr. Óptico 

20 5 µm 1 mm 5 µm 

100 1 µm 200 µm 2 µm 

200 500 nm 100 µm 0,7 µm 

1000 100 nm 20 µm ‐ 

5000 20 nm 4 µm ‐ 

10000 10 nm 2 µm ‐ 

Como neste experimento apenas o microscópio óptico será utilizado, a seguir são 

apresentados os principais componentes do microscópio óptico. 

Princípios básicos de funcionamento microscópio óptico 

Os microscópios ópticos (MO) atuais são constituídos por duas partes – uma parte 

mecânica e uma parte óptica. Cada parte engloba uma série de componentes constituintes do 

microscópio (Figura 2). A parte mecânica serve para dar estabilidade e suportar a parte óptica. 

Esta parte é constituída por 2 :





Figura 2 – Exemplo de microscópio óptico de (a) transmissão e (b) Reflexão (Carls Zeiss). 

Pé ou Base – suporta o microscópio, assegurando a sua estabilidade. 

Braço ou Coluna – peça fixa à base, na qual estão fixadas todas as outras partes constituintes 

do microscópio. 

Lentes e oculares – cilindro que suporta os sistemas de lentes, localizando‐se na extremidade 

superior da ocular e na inferior ao revólver com objetivas. 

Platina (estágio mecânico) – peça circular, quadrada ou retangular, paralela à base, onde se 

coloca a amostra a ser analisada, possui no centro um orifício circular ou alongado que 

possibilita a passagem dos raios luminosos concentrados pelo condensador. 

Controles do ajuste do foco: 

Macrométrico – engrenagem que suporta o tubo e permite o seu deslocamento em relação à 

platina. É indispensável para fazer o foco da imagem. 

Micrométrico – imprime ao tubo ou à platina movimentos de amplitude muito reduzida, 

completando a focagem. Permite explorar a profundidade de campo do microscópio. 

Revólver – disco adaptado à zona inferior do tubo, que suporta duas a quatro objetivas de 

diferentes ampliações: por rotação é possível trocar de objetiva. 

A parte óptica é constituída por: 

(a) 

Tubo lentes 

Espelho 

Objetiva 

Amostra 

Diafragmas 

Sistema de Oculares e Sistema de Objetivas – o conjunto de lentes que permite a ampliação 

da imagem da amostra. A ampliação dada ao microscópio é igual ao produto da ampliação da 

objetiva pela ampliação da ocular. 

(b)





Fonte Luminosa – existem vários tipos de fontes luminosas, podendo ser uma lâmpada 

(iluminação artificial), ou um espelho que reflita a luz solar (iluminação natural). 

Condensador – distribui regularmente, no campo visual do microscópio, a luz refletida pelo 

espelho. 

Diafragma – regula a intensidade luminosa no campo visual do microscópio. 

Devido ao fato destes componentes serem de alta precisão e porque o microscópio é um 

instrumento caro, são necessários cuidados especiais durante o seu transporte, utilização e 

manutenção. 

Profundidade de Campo do MO 

Quando se utiliza o microscópio, é possível observar detalhes com três dimensões, ou 

seja, com largura, comprimento e profundidade. Por exemplo, numa preparação com dois 

cabelos cruzados de modo que não se encontrem num plano comum: um encontra‐se num 

plano mais abaixo que o outro. Esta diferença de planos é visualizada a olho nu, mas quando 

observada no microscópio pode ser verificada a diferença de planos. 

Quando se observa nitidamente certo plano aqueles, que se encontrarem acima ou abaixo do 

plano focado, ficam desfocados, numa distância maior do que a de profundidade de campo, ou 

seja, é possível visualizar, mas de modo pouco nítido. Isto significa que o campo do 

microscópio tem, também, certa profundidade, não sendo possível focar simultaneamente 

dois planos diferentes. Como se sabe, a profundidade de campo do microscópio é muito 

pequena, o que implica que os planos da amostra a serem examinadas no microscópio 

também devem ter uma diferença de altura pequena. 

A operação de focagem é tanto mais delicada quanto menor for a distância focal do sistema, 

ou seja, quanto maior for a ampliação, mais delicada será a focagem e menos nítido ficará o 

plano que não estiver focado. Devido a isto, é importante que, durante a observação, o 

parafuso micrométrico seja constantemente regulado de modo a ser possível visualizar 

nitidamente os detalhes de diferentes planos, visualizando todos os campos existentes, um de 

cada vez. 

Relação entre a área observada e a ampliação utilizada 

A medida do campo do microscópio pode ser feita com a ajuda do parafuso 

micrométrico ou da ocular. A área da superfície observada através do microscópio é sempre 

relativamente restrita e depende da ampliação utilizada. A área do material observado varia na





razão inversa da ampliação que se utiliza. Para ampliações maiores, a área observada é apenas 

de uma fração de milímetro. A redução progressiva da área observada é, no entanto, 

acompanhada de um aumento de detalhes. As maiores ampliações permitem a observação de 

áreas restritas, mas revelam pormenores não detectados com pequenas ampliações. Também 

amostras de dimensões superiores às da área do campo não podem ser completamente 

visualizadas. Pode‐se então concluir que se deve iniciar a observação utilizando pequenas 

ampliações, que permitam captar uma imagem global da amostra. A preparação para 

observação deve percorrer vários sentidos a fim de se localizar a zona de maior interesse. 

Dessa zona selecionam‐se os elementos de maior importância, centrando‐os, e só depois se 

deve passar a objetivas de maiores ampliações. Estas permitirão observar detalhadamente os 

pormenores desejados na amostra. 

Contraste no microscópio óptico e representação da imagem 

A análise da microestrutura em MO geralmente é realizada em uma superfície polida, 

que pode ser obtida com um polimento mecânico, químico e/ou eletrolítico. O contraste no 

MO pode ocorrer “naturalmente” pela diferença entre a interação óptica dos diferentes micro‐ 

constituintes (Figura 3). 

(a) 

Figura 3 – Micrografia óptica (luz refletida) de uma seção polida (sem ataque) de um ferro fundido nodular, onde o 

contraste das partículas esféricas (nódulos) ocorre pela absorção de luz da fase grafita. A mesma micrografia é 

apresentada em três aumentos: (a) 400 x (=10 mm/25 µm), (b) 280 x (=10 mm/36 µm) e (c) 200 x (=10 mm/50 µm). 

Muitas vezes, entretanto, uma superfície polida apresenta‐se com brilho especular 

homogêneo (sem contraste), o que faz necessário revelar os microconstituintes por meio de 

um “ataque”, que pode ser químico, térmico, por anodização, entre outras técnicas (Figuras 4 

e 5). 

(b) 

(c) 

25 µm 36 µm 

50 µm





Uma imagem de uma micrografia sempre deve estar com o aumento indicado. A 

melhor representação é por meio de uma barra de aumento com a indicação do valor real que 

ela representa (Figuras 3 a 5). Por exemplo, uma barra de 10 mm (10.000 µm) com indicação 

de 10 µm, mostra que é um aumento de 1.000 vezes. Esta representação é melhor do que a 

indicação direta do aumento (p. e.: escrever 1.000 x na legenda), pois se a imagem for 

ampliada ou reduzida, o comprimento da barra variará na mesma proporção. 

200 µm 

Figura 4 – (a) Esquema de grãos polidos e atacados quando observados em MO. (b) Esquema da seção 

destes grãos mostrando como a luz interage com as superfícies dos grãos com diferentes rugosidades decorrentes 

da diferença de ataque causada pela variação da orientação cristalográfica, por exemplo. (c) Fotomicrografia de 

uma seção polida e atacada de um latão policristalino com aumento de 60 x (=12 mm/200 µm).





Figura 5 – (a) Esquema da seção de um contorno de grão mostrando como a luz reflete no sulco (ranhura) 

na superfície causada pelo ataque do contorno de grão. (b) Fotomicrografia de uma seção polida e atacada de uma 

amostra policristalina de uma liga Fe‐Cr com aumento de 100 x (=10 mm/100 µm). 

NOTA: Quando for necessário variar o tamanho de uma imagem de uma micrografia, 

mantenha a mesma proporção na altura e na largura da imagem. JAMAIS varie 

desproporcionalmente a imagem, pois isto resultará em adulteração da microestrutura(Figura 

6). 

(a) (b) 

84 µm 

(c) 

70 µm 

70 µm 

100 µm 

Figura 6 – Exemplo de ampliação incorreta da imagem. (a) Imagem de micrografia óptica “correta” de uma 

seção polida e atacada de uma liga Cu‐Be, mostrando grãos equiaxiais. (b) mesma imagem mostrada em (a) 

“INCORRETA” com “ampliação apenas lateral”, mostrando grãos alongados “artificialmente”. (c) fotomicrografia 

“correta” da mesma imagem de (a) com cerca de 20% de aumento (na largura e na altura). (d) fotomicrografia 

(d)





“correta” da mesma liga de (a) após redução de 11% na espessura por laminação a frio, onde os grãos estão 

alongados na direção de laminação. 

Determinação da fração volumétrica de segunda‐fase 

A análise microestrutural quantitativa (ou genericamente estereologia) relaciona 

medidas realizadas em um plano com as características tridimensionais no volume do material. 

No caso da determinação da quantidade de uma segunda‐fase em um material multifásico 

isotrópico (mesmas características em todas as direções), a fração de pontos (de uma grade‐ 

teste) ou a fração de área desta fase determinada no plano de análise equivale à sua fração no 

volume. 

Para a determinação da fração de pontos, utiliza‐se uma grade (ou retículo) com 

número total de nós (cruzamentos), NT, conhecido, que é sobreposta sobre a imagem de uma 

micrografia. Em seguida, conta‐se a quantidade de nós que caem dentro da fase analisada 

(Figura 7). No caso do nó “cair” na interface entre duas fases, considera‐se ½ nó na contagem. 

A fração em volume (ou volumétrica), VV, da fase analisada é igual à fração em pontos, PP, que 

é calculada por: 

NP 

V V = Pp 

= (2) 

N 

onde, NP é a soma do número de nós que estão dentro ou na borda da fase quantificada. 

(a) 60 µm 

(b) 80 µm 

Figura 7 – Fotomicrografias de ferro fundido nodular com grades‐teste sobrepostas, onde os círculos em 

cor azul indicam nós dentro do nódulo de grafita (contagem de 1 nó) e os círculos em cor laranja indicam nós na 

T





interface entre o nódulo e a matriz (contagem de 1/2 nó): em (a) a grade é de 3 x 3 (N T = 9) e em (b) a grade é de 

6x8 (NT = 48). Conforme Equação 1, a fração volumétrica de nódulos de grafita em (a) é de 11,1% em volume 

[V V=P P=(2*½)/9] e em (b) é de 13,5% em volume [V V=P P=(1*½+6*1)/48]. 

Nota: A grade‐teste usada deve ter linhas eqüidistantes e finas, e devem‐se contar apenas os 

nós, ignorando o restante das linhas. 

Para a determinação da fração em área, em geral, utiliza‐se um programa de análise de 

imagens que determina a quantidade de pixels da área de uma dada fase em relação à 

quantidade total de pixels da área de análise. A vantagem deste tipo de análise é que se pode 

obter, além da fração volumétrica da fase, o tamanho médio e a distribuição de tamanhos. Um 

programa de uso livre é o ImageJ (http://rsbweb.nih.gov/ij/) que é bastante amigável e, por meio dos 

diversos tutoriais disponíveis em: http://rsbweb.nih.gov/ij/docs/examples/index.html, é possível realizar 

analises da fração de área e distribuição de tamanho de grão. 

Nota: Para determinação da fração volumétrica por meio da fração em pontos e fração em 

área, não é necessário conhecer o aumento da imagem, mas para determinação do tamanho 

da segunda‐fase é necessário saber o aumento. 

Determinação do tamanho de grão 

O contorno de grão é um defeito cristalino no qual há um desajuste atômico 

decorrente do encontro dos grãos cristalinos adjacentes com diferentes orientações 

cristalográficas (Figura 8).





Figura 8 – Seqüência de solidificação esquemática de um composto puro, onde os núcleos formados (a) 

crescem no líquido (b) e ao final da solidificação forma‐se um material policristalino com inúmeros grãos cristalinos 

com diferentes orientações cristalográficas (c), sendo que a região de desajuste entre dois grãos adjacentes define o 

contorno de grão (d). Note que cada quadrado em (a) a (c) corresponde a uma célula unitária e a região de 

desajuste entre dois grãos adjacentes (largura do contorno de grão) está exagerada em (c). 

Em decorrência da medição do tamanho de grão ser realizado na seção plana, é 

necessário indicar o método pelo qual ele é determinado. Lembre‐se que um plano do volume 

em um material com grãos isotrópicos “corta” os grãos em diferentes seções, não 

necessariamente pela maior largura (ou diâmetro). 

Um dos principais métodos empregados para determinação do tamanho de grão é o 

método do intercepto linear (Figura 9), onde se determina o livre caminho médio para se 

encontrar um contorno de grão. Neste método, uma linha teste (ou círculo teste) de 

comprimento conhecido, LT, é sobreposta sobre a micrografia e o número de interceptos que 

cruzam os contornos de grão, NL, é contado. O tamanho de grão definido como comprimento 

de intercepto médio, l, é calculado por: 

LT 

l = (3) 

N 

L

(a) 





Figura 9 – Fotomicrografia de (a) alumina translúcida e (b) de uma liga monofásica. Em (a), os valores de 

número de interceptos que cruzam os contornos de grão, NL, para as linhas‐teste 1, 2, 3, 4 e 5 são, respectivamente, 

7, 8, 10, 7 e 10. Como o aumento é de 333 x (=10 mm/30 µm), o comprimento da linha teste, LT, é de 180 µm 

(=60 mm/333). Assim, os valores de comprimento de intercepto linear médio, l (Eq. 2), para as linhas‐teste 1, 2, 3, 4 

e 5 são, respectivamente, 25,7, 22,5, 18,0, 25,7 e 18,0 µm, o que resulta em um valor médio ± desvio‐padrão de 

22,0 ± 3,9 µm. Em (b) o valor de LT (perímetro da circunferência) é de 2,5 mm e N L, é 18, o que resulta em l = 139 

µm. 

Outro método para determinação do tamanho de grão é o método planimétrico. Neste 

caso, determina‐se a área média da seção do grão no plano e calcula‐se o diâmetro médio 

equivalente, supondo seção redonda. Para isto, conta‐se o número de grãos, NG, contidos em 

uma área‐teste conhecida, AT e calcula‐se a área média da seção do grão, A , por: 

LT 1 

LT 2 

LT 3 

LT 4 

LT 5 

30 µm (b) 150 µm 

e o diâmetro médio da seção do grão, d , por: 

A T 

A = (4) 

N 

G 

4A 

d = 

(5) 

π 

No caso dos grãos que não estão inteiramente inseridos na área‐teste, isto é, que são 

cortados pelas bordas que definem a área‐teste, considera‐se cada grão “cortado” como sendo 

½ grão, independente se ele ocupa uma pequena ou grande área. Para haver precisão na 

contagem, devem‐se marcar os grãos contados para não contar um grão mais de uma vez ou 

deixar de contar algum grão. De preferência, conte inicialmente os grãos das bordas, que 

valem ½ grão, e depois conte os grãos internos (Figura 10).





Figura 10 – Fotomicrografias idênticas de alumina translúcida (iguais as da Fig. 9a) mostrando, no lado esquerdo, os 

grãos marcados para contagem do número de grãos, NG, pelo método planimétrico (os círculos vermelhos indicam 

os grãos das bordas, 33 no total, e as demais cores indicam os grãos internos, 60 no total; note que a cada 10 grãos 

internos foi trocada a cor para facilitar a contagem). Sendo a área‐teste de 36.200 µm2 (200 µm de largura e 181 

µm de altura), a área média da seção do grão é de 473 µm 2 30 µm 

[=36.200 µm2/(33*½ + 60)] e o diâmetro médio da 

seção do grão é de 24,5 µm. 

Nota: Um dos principais problemas da determinação do tamanho de grão está 

relacionado com a qualidade da revelação dos contornos de grão, pois o ataque pode não 

revelar todos os contornos. Uma dica é que o contorno de grão sempre começa e acaba em 

outro contorno. Note que na micrografia da Figura 11a há vários contornos de grão não 

atacados ou levemente atacados. Já na Figura 12b, as setas sugerem haver um contorno de 

grão ligando os dois contornos de grão com forma “bicuda”. Uma observação minuciosa indica 

haver um contorno, mas, cuidado, pois partículas de segunda‐fase também podem ter efeito 

similar. 

(a) 

Figura 11 – Fotomicrografias de seções polidas e atacadas de ligas Fe‐Si mostrando contornos de grão mal 

revelados pelo ataque. 

(b) 

100 µm 100 µm

2. Objetivos do Experimento: 





1. Conhecimento do principio de funcionamento e limitações do microscópio óptico; 

2. Análise de microestruturas: determinação de tamanho médio de grão e quantificação 

de fases adicionais e de poros. 

3 ‐ Roteiro experimental 

O experimento desta aula compreende duas etapas principais: (a) Manipulação do 

microscópio óptico; e (b) Observação de diferentes microestruturas. Cada uma das etapas é 

descrita em detalhes a seguir: 

(a) Manipulação do microscópio óptico 

1. Reconhecimento de todas as partes que compõem o microscópio óptico. Cuidado ao 

manipular as lentes objetivas: para trabalhar com diferentes aumentos a troca de lentes deve 

ser feita na base onde as mesmas estão fixadas e não na própria lente; 

2. Montagem das amostras: 

‐Inicialmente, a superfície da amostra é limpa com álcool e seca no secador; 

‐ A amostra é fixada sobre a base de baquelite ou sobre a lâmina de vidro com massa 

de modelar. Para que a superfície da amostra fique paralela ao suporte, pode ser 

usada uma prensa manual; 

‐ Coloque a amostra na platina do microscópio óptico. 

3. Sempre inicie a observação com a lente objetiva de menor aumento, posicione o foco de luz 

sobre a amostra e inicie o processo de aproximação/foco da amostra utilizando o ajuste 

macrométrico e, em seguida, o micrométrico. Cuidado para não tocar a superfície da amostra 

com a lente ocular, pois isto pode danificar seriamente ou inutilizar a lente. 

(b) Observação de diferentes micrografias 

1) Análise da amostra de tubo de alumina translúcida: 

Nesta parte do experimento, você utilizará o microscópio ótico e a lupa (ou 

estéreomicroscópio) para observar tubo e pastilha de alumina translúcida. Para isso, monte as 

amostras de alumina em duas laminas de vidro e focalize nos dois instrumentos. Faça o 

mesmo procedimento para diferentes aumentos. Registre no microscópio óptico com 

aquisição de imagens algumas imagens que permitam você entender as diferenças entre a 

Lupa e o MO.





Note: É usual obter fotomicrografias de pelo menos dois aumentos: um de baixo aumento 

mostrando as características gerais da micrografia (por ex., homogeneidade/heterogeneidade 

da microestrutura); e um de grande aumento mostrando detalhes da microestrutura. Se for 

necessário, obtenha mais fotomicrografias no mesmo aumento ou em diferentes aumentos. 

Não se esqueçam de anotar os aumentos utilizados em cada imagem (de preferência no nome 

do arquivo). A finalidade desta análise é descrever qualitativamente as microestruturas das 

amostras. 

2) Para quantificação da microestrutura (há uma amostra para determinação da fração de 

poros e outra para tamanho de grão) obtenha pelo menos 3 fotomicrografias de cada amostra. 

Depois determine o tamanho de grão pelos métodos de intercepto linear e planimétrico; no 

caso da amostra com porosidade residual de sinterização, determine a fração volumétrica dos 

poros pelo método da grade. 

3) Dada duas micrografias da superfície de um varistor de óxido de estanho, utilize os métodos 

de intercepto linear e planimétrico para determinar o tamanho de grão. Compare os dois 

métodos. Comente no relatório: 

‐ Qual a diferença entre utilizar a lupa estéreo e o microscópio óptico? 

‐ O que se pode concluir sobre a análise de amostras não planas no microscópio óptico? 

4 – Referências Bibliográficas 

1. Physical Methods for Materials Characterisation, Second Edition (Series in Material 

Science and Engineering), Peter E.J. Flewitt , R.K. Wild , Taylor & Francis; 2nd edition 

(December 15, 2001)ISBN‐10: 0750308087, ISBN‐13: 978‐0750308083. 

2. http://www.zeiss.com

Roteiro Experimento 1 Microscopia e Analise microestrutural v3

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