Efeito da preparação nos sítios de cromo....pdf

_______________________________________Caracterização dos Precursores Secos e Calcinados
Tabela IV-3 – Cobertura máxima de catalisadores Cr(VI) em sílica
calcinados a diferentes temperaturas [28]
Composto Saturação de Cr(VI) (Cr/nm 2 )
698 K 923 K 1143 K
CrO3 2,3 1,1 0,55
(NH4)2CrO4 1,8 1,0 0,54
(NH4)2Cr2O7 1,9 1,1 0,59
Cr(NO3)3 1,8 0,8 0,53
Cr(OAc)3 1,9 1,1 0,55
Métodos de análise espectroscópica têm sido largamente empregados na
caracterização de catalisadores Cr/SiO2. Além das análises de infravermelho, Raman e
DRS já citadas, a técnica de espectroscopia fotoeletrônica de raios-X (XPS) [43, 45, 46]
também é muito utilizada. A possibilidade de pré-tratamentos "in-situ" tem auxiliado na
caracterização da espécie de cromo ativa na polimerização, Cr 2+ , que será abordado no
item seguinte.
A análise de XPS apresenta dificuldade na interpretação dos espectros em
virtude da redução do Cr 6+ induzida pela radiação. Os pesquisadores procuram
minimizar este efeito realizando a análise em tempo curto, o que insere erro na
interpretação do resultado, já que catalisadores para polimerização possuem baixos
teores de cromo (em torno de 1%), exigindo maior número de varreduras, e por
conseguinte, de tempo de análise. Alguns autores [45] têm empregado catalisadores
com teor de cromo muito elevado, em torno de 9% Cr, na tentativa de minimizar o
tempo de análise e maximizar o sinal obtido. Em estudos mais recentes [25, 47], tem-se
verificado maior enfoque na eliminação de contribuições do oxigênio 1s do suporte na
banda do Cr 2p e na separação das espécies Cr 6+ e Cr 3+ .
Um método para determinar as frações de cromo na amostra original foi
proposto por este laboratório [48] através da decomposição do espectro de XPS em Cr 6+
e Cr 3+ , com varreduras em tempos regulares. O resultado, obtido por extrapolação para
tempo nulo, permite caracterizar as espécies na superfície de amostras de Cr/SiO2. Neste
trabalho foram utilizados catalisadores Cr/SiO2 preparados a partir de Cr(NO3)3.9H 2O
com teores de 1 e 3% Cr. Os espectros de XPS foram obtidos a partir de quatro
conjuntos de 50 varreduras. A metodologia foi baseada na decomposição dos espectros
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