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Universidade Estadual de Campinas Instituto de Qu´ımica ...

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Figura 3.9: a) Sobreposição do layout <strong>de</strong> máscaras necessárias para a fabricação <strong>de</strong> um<br />

transistor e suas regras <strong>de</strong> projeto. b) Esquema geral do circuito elétrico dos ISFETs<br />

fabricados. Neste, D representa o dreno, F a fonte, P as portas e B o contato <strong>de</strong> corpo, o<br />

qual durante as medidas é curto circuitado com a fonte.<br />

3.2 Fabricação dos ISFETs<br />

Os processos <strong>de</strong>scritos até agora foram para a fabricação <strong>de</strong> transistores com porta <strong>de</strong><br />

dimensões<strong>de</strong>10x50µm e50x50µm. Os transistores com porta com dimensão <strong>de</strong> 2 x<br />

50 µm, estão sendo ainda produzidos em um processo a parte e não serão <strong>de</strong>scritos aqui.<br />

3.2.1 A escolha da orientação cristalográfica do substrato<br />

A motivação para a escolha das lâminas <strong>de</strong> Si com orientação cristalográfica foi<br />

baseada na energia <strong>de</strong> superfície <strong>de</strong>sta, bem como <strong>de</strong> suas consequências para o processo <strong>de</strong><br />

fabricação. Assim, sabendo que a energia <strong>de</strong> superfície do cristal <strong>de</strong> Si segue a seguinte or-<br />

<strong>de</strong>m <strong>de</strong>crescente: (111)>(110)>(100), verifica-se que uma vantagem da orientação <br />

em relação as <strong>de</strong>mais, é o fato <strong>de</strong>sta apresentar maior reativida<strong>de</strong> na superfície, o que<br />

durante a oxidação do substrato, é capaz <strong>de</strong> formar uma maior quantida<strong>de</strong> <strong>de</strong> óxido em<br />

um tempo <strong>de</strong> oxidação relativamente curto.<br />

100

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