ADC混合信號量測/應用手冊/ - Leaptronix
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ADC 混 合 信 號 量 測<br />
第 二 章 測 試 架 構 與 量 測 方 式<br />
2-1 硬 體 測 試 架 構<br />
用 Microchip 公 司 的 PIC18F452 微 控 制 器 與 VR1 可 變 電 阻 ; 設 計 一 個 類<br />
比 / 數 位 轉 換 電 路 , 本 範 例 中 的 微 控 制 器 會 將 電 壓 轉 換 後 的 數 碼 資 料<br />
, 顯 示 於 D1~D8 LED 顯 示 器 。 在 此 , 我 們 要 分 析 的 是 類 比 輸 入 電 壓 與<br />
轉 換 後 顯 示 於 LED 顯 示 器 的 數 碼 資 料 。<br />
圖 一 是 簡 化 的 測 試 線 路 圖 , 有 1 條 連 接 PIC18F452、VR1 可 變 電 阻 與 DSO<br />
的 信 號 線 ,8 條 連 接 MCU 與 LED 顯 示 器 的 信 號 線 , 還 有 8 條 數 位 信 號 線<br />
接 到 邏 輯 分 析 儀 LA-2050, 觸 發 信 號 線 Trigger Out 分 別 連 接 到 DSO 的<br />
Ch.2 與 External Trigger Input; 當 LA-2050 觸 發 時 , 藉 由 Trigger<br />
Out 發 送 外 部 觸 發 信 號 觸 發 DSO。<br />
圖 一<br />
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