7. del Arne Rodahl, Forskellige kabinettyper og ... - System Audio

7. del Arne Rodahl, Forskellige kabinettyper og ... - System Audio 7. del Arne Rodahl, Forskellige kabinettyper og ... - System Audio

system.audio.com
from system.audio.com More from this publisher
15.07.2013 Views

3. Del - kabinetkonstruktioner Beregninger af trykkammersystemet Når det drejer sig om selve konstruktionsarbejdet er trykkammersystemet det mest enkle og giver en rimelig sikkerhed for et godt resultat. Det eneste der skal beregnes er kabinettets effektive rumfang i liter. Husk at medtage rumfanget af enheder, filtre afstivninger m.m. i beregningerne. Dæmpevat skal medtages i computerberegningerne. I beregningsprogrammet LAB 3 indsættes kabinettets Q-værdi, der vises som et simuleret frekvensforløb. Se planche nr. 16, Dias nr. 70 Signalement af højttalerenheder velegnet til trykkammersystemer Visuelle kendetegn: Lille magnet og blødt membranophæng. Lav resonansfrekvens (fs), idet den indespærrede luft i kabinettet vil medvirke til at gøre systemets resonansfrekvens høj, hvis ikke kabinettet gøres urealistisk stort og herved sætter grænser for gengivelse af lave frekvenser. Høj eftergivelighed (Vas), af samme grund som lav resonansfrekvens. Lang slaglængde udtrykt som Vd (Volume displacement) med det formål at kunne flytte tilstrækkelig luft uden for stor forvrængning. Enhedens Qt bør befinde sig over ca. 0,4 afhængig af hvilken afstemning der ønskes (forholdet mellem udstrækning af frekvensområdet nedadtil og impulsgengivelsen). Basenhedernes EBP til trykkammersystem: 50 – 99. Se 2. Del - Valg af enheder, Dias nr. 58 og 59

3. Del - kabinetkonstruktioner Teoretiske eksperimenter på computeren med LAB 3 programmet Trykkammersystem: Beregninger og simuleringer. Med trykammersystemet kan der eksempelvis foretages eksperimenter med kabinetrumfang, dæmpevat samt baffelmål. Systemet er mindre kritisk med hensyn til afvigelser fra det ”optimale”, hvilket betyder at eksperimenter sandsynligvis ender med en lykkelig udgang. Brugervejledning LAB 3 planche nr.16 , Dias nr. 70 Klik på ”Box Design” i programmets værktøjslinie. Klik på ”Simulator Settings”. Klik på ”New Box Design” Blå felter: Betingede valg og forudsætninger for beregninger og simuleringer. Simuleringsområde: Vælg ”SPL” Flere simuleringsområder: ”Acoustic & Phase” ”XMax Limited SPL” ”Impulse Response” ”Cone Excursion & Group Delay” ”Cone Velocity” ”Group Delay” ”Step Response” ”Cone & Excursion” ”Impedance” ”Electrical Phase” ”Impedance & Phase SPL & Impedance” ”SPL & Excursion” Kabinetsystem: Klik ”Closed”. Valg af system baseret på enhedens Thiele / Small parametre. Brug eventuel EBP-nøglen. Se 2. Del , Dias nr. 58 og 59, ”Valg af enheder”. Obs! Nogle enheder har Thiele / Small parametre, der gør dem anvendelige til både trykkammer og basrefleks. Enhedens Thiele / Small parametre Qts, Vas og Fs er betingede ved udførsel af alle beregninger og simuleringer. Enheder uden oplysning af de tre parametre kan udmåles med LAB 3 programmet. Se afsnittet 6. Del – Dias nr. 130, målinger (Thiele/Small parametre). Thiele / Small parametrene indsættes i ”Quick T/S” eller hentes fra biblioteket ”Select lib”, der tillige kan udbygges yderligere med ønskede enheder.

3. Del - kabinetkonstruktioner<br />

Teoretiske eksperimenter på computeren med LAB 3 pr<strong>og</strong>rammet<br />

Trykkammersystem: Beregninger <strong>og</strong> simuleringer.<br />

Med trykammersystemet kan der eksempelvis foretages eksperimenter med kabinetrumfang, dæmpevat samt baffelmål.<br />

<strong>System</strong>et er mindre kritisk med hensyn til afvigelser fra det ”optimale”, hvilket betyder at eksperimenter sandsynligvis ender med en lykkelig udgang.<br />

Brugervejledning LAB 3 planche nr.16 , Dias nr. 70<br />

Klik på ”Box Design” i pr<strong>og</strong>rammets værktøjslinie.<br />

Klik på ”Simulator Settings”.<br />

Klik på ”New Box Design”<br />

Blå felter: Betingede valg <strong>og</strong> forudsætninger for beregninger <strong>og</strong> simuleringer.<br />

Simuleringsområde: Vælg ”SPL”<br />

Flere simuleringsområder:<br />

”Acoustic & Phase” ”XMax Limited SPL”<br />

”Impulse Response” ”Cone Excursion & Group Delay”<br />

”Cone Velocity” ”Group Delay”<br />

”Step Response” ”Cone & Excursion”<br />

”Impedance” ”Electrical Phase”<br />

”Impedance & Phase SPL & Impedance” ”SPL & Excursion”<br />

Kabinetsystem: Klik ”Closed”. Valg af system baseret på enhedens Thiele / Small parametre.<br />

Brug eventuel EBP-nøglen. Se 2. Del , Dias nr. 58 <strong>og</strong> 59, ”Valg af enheder”.<br />

Obs! N<strong>og</strong>le enheder har Thiele / Small parametre, der gør dem anven<strong>del</strong>ige til både trykkammer <strong>og</strong> basrefleks.<br />

Enhedens Thiele / Small parametre Qts, Vas <strong>og</strong> Fs er betingede ved udførsel af alle beregninger <strong>og</strong> simuleringer.<br />

Enheder uden oplysning af de tre parametre kan udmåles med LAB 3 pr<strong>og</strong>rammet. Se afsnittet 6. Del – Dias nr. 130, målinger (Thiele/Small parametre).<br />

Thiele / Small parametrene indsættes i ”Quick T/S” eller hentes fra biblioteket ”Select lib”, der tillige kan udbygges yderligere med ønskede enheder.

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!