7. del Arne Rodahl, Forskellige kabinettyper og ... - System Audio

3. Del - kabinetkonstruktioner
Teoretiske eksperimenter med basreflekssystem på computeren med LAB 3
programmet.
Basreflekssystem : Beregninger og simuleringer
Med basreflekssystemet kan der eksempelvis foretages eksperimenter med kabinettets rumfang, portafstemning, dæmpevat samt baffelmål.
Systemet er følsomt overfor fejlberegninger, men her computeren kommer til hjælp, når korrektioner skal foretages.
Man skal være opmærksom på, at ændringer af rumfanget samtidig medfører ændringer af portafstemningen. Ændres kabinetrumfanget beregner
programmet automatisk den optimale portafstemning ved en ændring af portens længde.
Brugervejledning LAB 3 Planche nr. 22, Dias nr. 79
Klik på ”Box Design” i programmets værktøjslinie.
Klik på ”Simulator Settings”.
Klik på ”New Box Design”
Blå felter: Betingede valg og forudsætninger.
Simuleringsomåder: ”SPL” - ”Port SPL” - ”Cone + Port SPL”
Kabinetsystem ”Vented”.
Andre simuleringsmuligheder:
”Acoustic Phase” ”Group Delay”
”Cone Excursion & Group Delay” ”SPL & Phase”
”Cone Velocity” ”Impedance”
”Vent Velocity” ”Electric Phase”
”Cone & Vent Velocity” ”Impedance & Phase”
”Xmax Limited SPL” ”SPL & Impedance”
”Impulse Response” ”SPL & Excursion”
”Step response” ”Cone SPL”
”Cone Excursion”
Enhedens Thiele / Small parametre Qts, Vas og Fs er betingede ved udførsel af alle beregninger og simuleringer.
Brug evt. EBP-nøglen. Se Del 2, Dias nr. 58 og 59, ”Valg af højttalerenheder”.
Obs! Nogle enheder kan anvendes til både trykkammer og basrefleks.
Enheder uden angivelse af de tre parametre kan udmåles med LAB 3. Se 6. Del, Dias nr. 130, målinger, ”Thiele/Small parametre”.
Thiele / Small parametrene indsættes i ”Quick T/S” eller hentes fra biblioteket ”Select lib.”,der tillige kan suppleres med flere enheder.