Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen
Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen
Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Bij een lage kwaliteit van de <strong>biometrisch</strong>e data kan men bij een 1:n zoekactie devolgende prestaties verwachten al naar gelang de <strong>in</strong>stell<strong>in</strong>g van de drempelwaarden.- Drempelwaarde hoog: een lage match-rate, omdat er te we<strong>in</strong>ig betrouwbareovereenkomsten zijn met opgeslagen data. Dit levert een hoge FRR op.- Drempelwaarde laag: een hoge, maar onbetrouwbare match-rate, omdat erveel data zijn die enige overeenkomst vertonen. Dit levert een hogereFAR/FMR op en een lagere TAR. Om dat te compenseren zullen de<strong>biometrisch</strong>e data dus handmatig moeten worden gecontroleerd, hetgeen hetsysteem langzaam en kostbaar maakt.In andere woorden: een lage kwaliteit van de <strong>biometrisch</strong>e data maakt het systeemonbetrouwbaar en daarom m<strong>in</strong>der efficiënt. Afhankelijk van de eisen is een lagerekwaliteit al of niet acceptabel. De volgende paragraaf gaat daar veder op <strong>in</strong>.1.8 Invloed van kwaliteit op de nauwkeurigheid van de matcher<strong>Het</strong> is bekend dat <strong>biometrisch</strong>e plaatjes van een slechte kwaliteit moeilijk zijn om tematchen. Bij grootschalige toepass<strong>in</strong>gen is dit een factor die <strong>in</strong> de praktijk moeilijk iste beheersen. De effecten van kwaliteit zijn duidelijk en dramatisch, zoals blijkt uithet figuur hieronder, onderdeel van de resultaten van de NIST Vendor F<strong>in</strong>gerpr<strong>in</strong>tTechnology Evaluation (FpVTE) uit 2003. <strong>Het</strong> National Institute for Standards andTechnology (www.nist.gov) is <strong>in</strong> Amerika gevestigd en is s<strong>in</strong>ds jaren het meesttoonaangevend test<strong>in</strong>stituut <strong>in</strong> de wereld met betrekk<strong>in</strong>g tot biometrie.Figuur 3: Grafiek uit Wilson et al. 200328