12.07.2015 Views

Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen

Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen

Het biometrisch paspoort in Nederland - Oapen

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Bij een lage kwaliteit van de <strong>biometrisch</strong>e data kan men bij een 1:n zoekactie devolgende prestaties verwachten al naar gelang de <strong>in</strong>stell<strong>in</strong>g van de drempelwaarden.- Drempelwaarde hoog: een lage match-rate, omdat er te we<strong>in</strong>ig betrouwbareovereenkomsten zijn met opgeslagen data. Dit levert een hoge FRR op.- Drempelwaarde laag: een hoge, maar onbetrouwbare match-rate, omdat erveel data zijn die enige overeenkomst vertonen. Dit levert een hogereFAR/FMR op en een lagere TAR. Om dat te compenseren zullen de<strong>biometrisch</strong>e data dus handmatig moeten worden gecontroleerd, hetgeen hetsysteem langzaam en kostbaar maakt.In andere woorden: een lage kwaliteit van de <strong>biometrisch</strong>e data maakt het systeemonbetrouwbaar en daarom m<strong>in</strong>der efficiënt. Afhankelijk van de eisen is een lagerekwaliteit al of niet acceptabel. De volgende paragraaf gaat daar veder op <strong>in</strong>.1.8 Invloed van kwaliteit op de nauwkeurigheid van de matcher<strong>Het</strong> is bekend dat <strong>biometrisch</strong>e plaatjes van een slechte kwaliteit moeilijk zijn om tematchen. Bij grootschalige toepass<strong>in</strong>gen is dit een factor die <strong>in</strong> de praktijk moeilijk iste beheersen. De effecten van kwaliteit zijn duidelijk en dramatisch, zoals blijkt uithet figuur hieronder, onderdeel van de resultaten van de NIST Vendor F<strong>in</strong>gerpr<strong>in</strong>tTechnology Evaluation (FpVTE) uit 2003. <strong>Het</strong> National Institute for Standards andTechnology (www.nist.gov) is <strong>in</strong> Amerika gevestigd en is s<strong>in</strong>ds jaren het meesttoonaangevend test<strong>in</strong>stituut <strong>in</strong> de wereld met betrekk<strong>in</strong>g tot biometrie.Figuur 3: Grafiek uit Wilson et al. 200328

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!