You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />
Positiemeting<br />
- slijtage op werktuigen<br />
- fouten in opstellingen<br />
Nadeel van een absoluut systeem blijft echter de kostprijs.<br />
Oorspronkelijk was de elektronica nog weinig betrouwbaar; een storing of een spanningsuitval<br />
veroorzaakte het verlies van de positiewaarde waardoor veel waarde gehecht werd aan absolute<br />
digitale meetsystemen. Samengestelde, meersporige codeschijven of -linialen gaven een absoluut<br />
getal, dat niet verloren ging na een spanningsuitval. Met de toegenomen betrouwbaarheid van de<br />
elektronica zijn deze veel duurdere absolute meetsystemen in onbruik geraakt.<br />
In de loop van de korte geschiedenis van numerieke besturingssystemen zijn zeer uiteenlopende -<br />
soms uitgesproken exotische - meetsystemen ontwikkeld en toegepast. Nu de NC-technologie<br />
een zekere graad van volwassenheid heeft bereikt, convergeert de toepassing van meetsystemen<br />
in NC-machines in de richting van een tweetal systemen:<br />
(cyclisch) absoluut-analoge inductieve systemen, gebaseerd op resolvers en inductosyns.<br />
digitaal-incrementeel optische systemen.<br />
14.2 Eisen aan positiemeetsystemen<br />
Naast de belangrijke specificaties wat betreft nauwkeurigheid en resolutie moeten aan<br />
positiemeetsystemen voor NC-productiemachines de volgende eisen worden gesteld:<br />
- functioneren onder 'meetonvriendelijke' omstandigheden: het meetsysteem moet bestand<br />
zijn tegen spanen, koelvloeistof en trillingen. De elektronica van het meetsysteem moet<br />
bestand zijn tegen de vaak sterke elektromagnetische stoorvelden, die in de fabriek kunnen<br />
optreden. Beruchte stoorbronnen zijn spanningspieken in thyristorsturingen en grote<br />
aanloopstromen in hoofdspilaandrijvingen. Vaak vergeten storingsbronnen zijn bovendien<br />
relais en elektromagnetisch bediende kleppen;<br />
- grote verhouding resolutie/meetbereik. Een resolutie van 1 µm over een meetbereik van 1<br />
meter is voor de meeste NC-machines een normale eis. Hieruit volgt een verhouding<br />
resolutie/meetbereik van 1: 10 6 .<br />
Bij metingen in het algemeen geldt dit als een extreme eis.<br />
- nauwkeurigheid. De onnauwkeurigheid is het verschil tussen de werkelijke positie en de<br />
aangegeven positie. (De resolutie of het oplossend vermogen is de kleinste verplaatsing die<br />
door het positiemeetsysteem kan worden aangegeven). In de praktijk is de resolutie van een<br />
positiemeetsysteem kleiner dan de onnauwkeurigheid.<br />
- de meetsnelheid moet groter zijn dan de maximale sledesnelheid van de machine. Op deze<br />
stationaire snelheid zijn soms trillingen gesuperponeerd, die leiden tot snelheidspieken die<br />
zo'n 20% boven de maximale sledesnelheid kunnen liggen.<br />
- real-time meten. Er mag in het meetsysteem geen grote tijdvertraging bestaan tussen de<br />
positiemeting en het uitgeven van de positiewaarde. In de praktijk is een verwerkingstijd<br />
van enige milliseconden toelaatbaar.<br />
__________ - III.4 -<br />
Johan Baeten