Meetsystemen
Meetsystemen: Meetprincipes Opto-elektrische sensoren 10.9 Triangulatie met PSD Via optische projectie en triangulatie is een afstandsmeting met een PSD mogelijk. Figuur 2.85 geeft de opstelling schematisch weer. a Bron Lens y f (focale lengte) PSD Figuur 2.85: Triangulatie met PSD. α x Object (diffuus oppervlak) y / f 2 PSD Bereik 1,5 1 0,5 0 -0,5 Meetbereik α = 10° α = 30° α = 45° Absolute grenzen 45° tg( α) 30° 10° -1 -cotg( α) -1,5 -2 Figuur 2.86: Verband tussen te meten afstand en positie van de lichtstip op de PSD, bij wijze van voorbeeld zijn mogelijk PSD en meetbereik aangegeven. De relatie tussen de afstand x en de positie y van de lichtvlek op de PSD is niet-lineair, en afhankelijk van een aantal geometrische parameters: x = a y.tgα+f f.tgα−y 0 20 40 60 80 x / a 100 Door de keuze van α, a en f kan voor een bepaalde toepassing een compromis worden gevonden tussen bereik en niet-lineariteit. Alhoewel niet-lineariteit op zich geen probleem hoeft te zijn, beperkt ze het bereik tengevolge van onnauwkeurigheid in de verwerkingselektronica. Uit figuur 2.86 is af te leiden dat een fout ∆y in de positie op de PSD, een grotere invloed heeft op de meetonnauwkeurigheid ∆x naarmate de differentiële gevoeligheid kleiner is. De afstandsmeetsystemen op basis van een PSD in de handel hebben een bereik van enkele cm tot enige m. De onnauwkeurigheid hangt sterk af van de lineariteit van de PSD, maar ook van de kwaliteit van de verwerkingselektronica. Het gebruik van gemoduleerd licht is vrijwel altijd noodzakelijk, om invloeden van omgevingslicht uit te sluiten. __________ - II.70 - Johan Baeten
Meetsystemen: Meetprincipes Opto-elektrische sensoren 10.10 Lasersensoren Interferometer Figuur 2.87 toont het principe van Michelson voor interferometrie: het licht van een laserlichtbron wordt door de halfdoorlaatbare spiegel deels afgebogen en gericht op een vaste spiegel (de referentietak, L 1 ), deels doorgelaten en op een beweegbare spiegel geworpen (de meettak, L 2 ). Het teruggekaatste licht in de referentie- en meettak wordt via de halfdoorlaatbare spiegel samengebracht in een detector. Indien de beweegbare spiegel wordt verplaatst, verandert de lengte van het lichtpad in L 2 . Hierdoor zullen de lichtbundels L 1 en L 2 elkaar afwisselend versterken (in fase) en verzwakken (uit fase). De afstand tussen twee interferentieperioden is gelijk aan de golflengte van het gebruikte licht, λ, en komt overeen met een verplaatsing van de beweegbare spiegel van λ/2. De golflengte van het gebruikte licht vormt hier dus de meetstandaard. Dit principe werkt alleen goed indien licht met één golflengte wordt gebruikt. Als lichtbron wordt daarom een laser genomen, die monochroom en coherent licht produceert. De golflengte van het licht van een Helium-Neon laser is λ = 0,63 µm. Deze meetstandaard van 0,63/2 ≈ 0,3 µm vormt de basis voor een positiemeetsysteem met een theoretisch zeer hoge resolutie en nauwkeurigheid. De voortplantingssnelheid van het laserlicht in lucht is echter afhankelijk van de temperatuur, druk en vochtigheid van de lucht. Indien hiervoor wordt gecompenseerd kan een laserinterferometer in een fabrieksomgeving een nauwkeurigheid van 0,5 tot 1,0 µm per meter meetlengte halen, bij een resolutie van 0,1 µm. Er is slechts één fabrikant van laserinterferometers (Hewlett-Packard) en het meetsysteem is zo duur, dat het behalve in nauwkeurige meetmachines alleen wordt toegepast voor kalibratie en keuring van NC-machines. Vaste spiegel Laserlichtbron Referentietak L1 Beweegbare spiegel Laserbundel Meettak L2 Halfdoorlaatbare spiegel Detector L1 L2 in fase in tegenfase L1 L2 Figuur 2.87: Laserinterferometrie: het Michelson-principe. __________ - II.71 - Johan Baeten
- Page 51 and 52: Meetsystemen: Meetprincipes Resisti
- Page 53 and 54: Meetsystemen: Meetprincipes Capacit
- Page 55 and 56: Meetsystemen: Meetprincipes Capacit
- Page 57 and 58: Meetsystemen: Meetprincipes Capacit
- Page 59 and 60: Meetsystemen: Meetprincipes Capacit
- Page 61 and 62: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 63 and 64: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 65 and 66: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 67 and 68: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 69 and 70: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 71 and 72: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 73 and 74: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 75 and 76: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 77 and 78: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 79 and 80: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 81 and 82: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 83 and 84: Meetsystemen: Meetprincipes Inducti
- Page 85 and 86: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 87 and 88: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 89 and 90: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 91 and 92: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 93 and 94: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 95 and 96: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 97 and 98: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 99 and 100: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 101: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 105 and 106: Meetsystemen: Meetprincipes Opto-el
- Page 107 and 108: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 109 and 110: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 111 and 112: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 113 and 114: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 115 and 116: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 117 and 118: Meetsystemen: Meetprincipes Piëzo-
- Page 119 and 120: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 121 and 122: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 123 and 124: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 125 and 126: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 127 and 128: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 129 and 130: Meetsystemen: Meetprincipes Ultraso
- Page 131 and 132: Meetsystemen: Meetprincipes Chemisc
- Page 133 and 134: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 135 and 136: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 137 and 138: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 139 and 140: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 141 and 142: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 143 and 144: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 145 and 146: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 147 and 148: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 149 and 150: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
- Page 151 and 152: Meetsystemen: Meetgrootheden Positi
<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />
Opto-elektrische sensoren<br />
10.10 Lasersensoren<br />
Interferometer<br />
Figuur 2.87 toont het principe van Michelson voor interferometrie: het licht van een<br />
laserlichtbron wordt door de halfdoorlaatbare spiegel deels afgebogen en gericht op een vaste<br />
spiegel (de referentietak, L 1<br />
), deels doorgelaten en op een beweegbare spiegel geworpen (de<br />
meettak, L 2<br />
). Het teruggekaatste licht in de referentie- en meettak wordt via de halfdoorlaatbare<br />
spiegel samengebracht in een detector. Indien de beweegbare spiegel wordt verplaatst, verandert<br />
de lengte van het lichtpad in L 2<br />
. Hierdoor zullen de lichtbundels L 1<br />
en L 2<br />
elkaar afwisselend<br />
versterken (in fase) en verzwakken (uit fase). De afstand tussen twee interferentieperioden is<br />
gelijk aan de golflengte van het gebruikte licht, λ, en komt overeen met een verplaatsing van de<br />
beweegbare spiegel van λ/2.<br />
De golflengte van het gebruikte licht vormt hier dus de meetstandaard. Dit principe werkt alleen<br />
goed indien licht met één golflengte wordt gebruikt. Als lichtbron wordt daarom een laser<br />
genomen, die monochroom en coherent licht produceert. De golflengte van het licht van een<br />
Helium-Neon laser is λ = 0,63 µm. Deze meetstandaard van 0,63/2 ≈ 0,3 µm vormt de basis voor<br />
een positiemeetsysteem met een theoretisch zeer hoge resolutie en nauwkeurigheid.<br />
De voortplantingssnelheid van het laserlicht in lucht is echter afhankelijk van de temperatuur,<br />
druk en vochtigheid van de lucht. Indien hiervoor wordt gecompenseerd kan een<br />
laserinterferometer in een fabrieksomgeving een nauwkeurigheid van 0,5 tot 1,0 µm per meter<br />
meetlengte halen, bij een resolutie van 0,1 µm. Er is slechts één fabrikant van<br />
laserinterferometers (Hewlett-Packard) en het meetsysteem is zo duur, dat het behalve in<br />
nauwkeurige meetmachines alleen wordt toegepast voor kalibratie en keuring van NC-machines.<br />
Vaste spiegel<br />
Laserlichtbron<br />
Referentietak L1<br />
Beweegbare spiegel<br />
Laserbundel<br />
Meettak L2<br />
Halfdoorlaatbare spiegel<br />
Detector<br />
L1<br />
L2<br />
in fase<br />
in tegenfase<br />
L1<br />
L2<br />
Figuur 2.87: Laserinterferometrie: het Michelson-principe.<br />
__________ - II.71 -<br />
Johan Baeten