11.06.2015 Views

Meetsystemen

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Dr ir J. Baeten<br />

<strong>Meetsystemen</strong><br />

3 e Industrieel Ingenieur Elektronica<br />

3 e Industrieel Ingenieur Elektromechanica<br />

2002


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

DEEL I : Algemene principes<br />

1 Algemene opbouw van een meetsysteem I.1<br />

2 Karakteristieken van meetsysteemelementen I.3<br />

3 Ladingseffecten in meetsystemen<br />

3.1 Ladingseffecten in Thévenin-equivalent ..........................................................<br />

I.7<br />

3.2 Ladingseffecten in Norton-equivalent .............................................................<br />

I.9<br />

3.3 Veralgemeende ladingseffecten ..................................................................<br />

I.10<br />

4 Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

4.1 Invloed van het stoorsignaal op de meetkring ....................................................<br />

I.13<br />

4.2 Stoorbronnen ....................................................................................<br />

I.15<br />

4.3 Koppelmechanismen ............................................................................<br />

I.15<br />

4.4 Aarding .........................................................................................<br />

I.17<br />

4.5 Methoden om stoorspanningen uit het meetsysteem te houden ...................................<br />

I.18<br />

Fysische scheiding ..............................................................................<br />

I.18<br />

Elektromagnetische afscherming - 'Twisted pairs' ...............................................<br />

I.18<br />

(Elektrostatische) afscherming ..................................................................<br />

I.18<br />

Gebalanceerde verbindingen ....................................................................<br />

I.21<br />

CMRR bij verschilversterkers ...................................................................<br />

I.22<br />

Filtertechnieken .................................................................................<br />

I.23<br />

Modulatie .......................................................................................<br />

I.23<br />

Uitmiddelen .....................................................................................<br />

I.23<br />

__________ - i -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

DEEL II : Sensoren<br />

5 Inleiding sensoren II.1<br />

6 Binaire sensoren II.3<br />

6.1. Mechanische naderingsschakelaar ...............................................................<br />

II.4<br />

6.2. Inductieve naderingsschakelaars ................................................................<br />

II.5<br />

6.3. Overige naderingsschakelaars ...................................................................<br />

II.6<br />

7 Resistieve sensoren<br />

7.1. Inleiding ........................................................................................<br />

II.7<br />

7.2. Potentiometrische sensoren .....................................................................<br />

II.7<br />

7.3. Sinus-cosinus potentiometer ....................................................................<br />

II.9<br />

7.4. Magnetische potentiometer ....................................................................<br />

II.11<br />

7.5. Rekstrookjes ...................................................................................<br />

II.13<br />

7.6. Weerstandsverandering - meetbruggen .........................................................<br />

II.15<br />

7.7. Gebruik van rekstrookje als elastische krachtsensor ............................................<br />

II.17<br />

8 Capacitieve opnemers<br />

8.1. Inleidende principes ...........................................................................<br />

II.20<br />

8.2. Capacitieve verplaatsingssensoren .............................................................<br />

II.21<br />

8.3. Cyclisch absolute fasegevoelige capacitieve verplaatsingsopnemer .............................<br />

II.22<br />

8.4. Capacitieve versnellingsopnemer ..............................................................<br />

II.23<br />

8.5. Voorbeelden ...................................................................................<br />

II.24<br />

8.6. Interfacing ....................................................................................<br />

II.25<br />

9 Inductieve sensoren<br />

9.1. Inleiding .......................................................................................<br />

II.29<br />

9.2. Hall-effectsensoren ............................................................................<br />

II.30<br />

9.3. Variabele reluctantie positie-opnemer ..........................................................<br />

II.32<br />

9.4. Elektromagnetische snelheidssensor (tachogenerator) ..........................................<br />

II.34<br />

9.5. Wervelstroom verplaatsingsopnemer ...........................................................<br />

II.36<br />

9.6. De lineair variabele differentiaal-transformator (LVDT) .......................................<br />

II.37<br />

9.7. Roterend Veranderlijke Differentiaal-Transformator: RVDT ...................................<br />

II.42<br />

9.8. Resolvers en Synchro's .........................................................................<br />

II.43<br />

9.9. Inductosyn .....................................................................................<br />

II.50<br />

9.10. Samenvatting eigenschappen .................................................................<br />

II.51<br />

__________ - ii -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

10 Opto-elektrische sensoren<br />

10.1. Inleiding ......................................................................................<br />

II.52<br />

10.2. Lichtbronnen .................................................................................<br />

II.52<br />

10.3. Lichtontvangers ..............................................................................<br />

II.56<br />

10.4. Transmissiemedium: optische vezels ..........................................................<br />

II.59<br />

10.5. Intensiteitsmeting ............................................................................<br />

II.61<br />

10.6. Incrementele optische encoder ...............................................................<br />

II.62<br />

10.7. Absolute optische meetsystemen ..............................................................<br />

II.66<br />

10.8. PSD (Eng.: Position Sensitive Detector) ......................................................<br />

II.68<br />

10.9. Triangulatie met PSD .........................................................................<br />

II.70<br />

10.10. Lasersensoren ...............................................................................<br />

II.71<br />

10.11. Looptijdsensoren ............................................................................<br />

II.73<br />

10.12. Samenvattende tabel ........................................................................<br />

II.73<br />

11 Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.1 Inleiding ......................................................................................<br />

II.74<br />

11.2 Het piëzo-elektrisch effect ....................................................................<br />

II.75<br />

11.3 Piëzo-elektrische versnellingsopnemers .......................................................<br />

II.79<br />

11.4 Bevestiging van accelerometers ...............................................................<br />

II.81<br />

11.5 Interfacing bij het spanningsequivalent ........................................................<br />

II.82<br />

11.6 Voorbeelden ..................................................................................<br />

II.84<br />

11.7 Kabel met dubbele afscherming bij spanningsmeting ..........................................<br />

II.85<br />

12 Ultrasone sensoren<br />

12.1 Inleiding ......................................................................................<br />

II.86<br />

12.2 Akoestische transducenten ....................................................................<br />

II.87<br />

Elektrostatische transducent ...................................................................<br />

II.88<br />

Piëzo-elektrische transducenten ................................................................<br />

II.89<br />

12.3 Het akoestische medium. ......................................................................<br />

II.92<br />

12.4 Meetmethoden ................................................................................<br />

II.94<br />

12.5 Ultrasone Doppler-debietmeter ................................................................<br />

II.96<br />

13 Chemische sensoren<br />

niet besproken ......................................................................................<br />

II.99<br />

__________ - iii -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

Deel III: Meetgrootheden<br />

14 Positiemeting<br />

14.1. Indeling van het positiemeetsysteem ...........................................................<br />

III.1<br />

14.2. Eisen aan positiemeetsystemen ................................................................<br />

III.4<br />

14.3. Positie-opnemers met meerdere snelheden .....................................................<br />

III.5<br />

14.4. Numerieke verwerking bij incrementele meetsystemen .........................................<br />

III.8<br />

14.5. Digitale verwerking van (absolute) analoge positiemeetsignalen: Numerieke fasemeting . .... III.12<br />

14.6. Synchro-en-resolver-naar-digitaal-omzetters .................................................<br />

III.14<br />

14.7. Toepassingsvoorbeelden .....................................................................<br />

III.18<br />

14.8. Systemen met meerdere snelheden bij digitale meting ........................................<br />

III.20<br />

14.9. Cyclus absoluut naar incrementeel ..........................................................<br />

III.21<br />

15 Drukmeting<br />

15.1 Definities en begrippen .......................................................................<br />

III.23<br />

15.2 Eenheden ....................................................................................<br />

III.24<br />

15.3 Druksensoren: een overzicht .................................................................<br />

III.25<br />

15.4 Halfgeleider of piëzoresistieve druksensoren .................................................<br />

III.26<br />

15.5 Capacitieve drukopnemer ....................................................................<br />

III.27<br />

16 Temperatuurmeting<br />

16.1 Kwikthermometer, Alcoholthermometer ......................................................<br />

III.29<br />

16.2 Bimetaalthermometer ........................................................................<br />

III.29<br />

16.3 Vloeistofdruk- en dampdrukthermometers ...................................................<br />

III.30<br />

16.4 Weerstandstemperatuurmeting (met metaalweerstanden) .....................................<br />

III.31<br />

16.5 Temperatuurmeting met behulp van een halfgeleider .........................................<br />

III.34<br />

Si-massaweerstand ............................................................................<br />

III.34<br />

Thermistors ...................................................................................<br />

III.34<br />

Junctiehalfgeleiders ...........................................................................<br />

III.36<br />

Temperatuurgevoelige stroombron (IC) .......................................................<br />

III.37<br />

16.6 Stralingstemperatuurmeting (of pyrometrie) ..................................................<br />

III.37<br />

16.7 Thermokoppels ..............................................................................<br />

III.38<br />

Het Seebeck-effect .............................................................................<br />

III.38<br />

Voornaamste thermo-elektrische wetten ......................................................<br />

III.39<br />

Thermokoppels ...............................................................................<br />

III.39<br />

Meten van de thermokoppelspanning ..........................................................<br />

III.40<br />

16.8 Vergelijkend overzicht .......................................................................<br />

III.42<br />

__________ - iv -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

17 Niveaumeting<br />

17.1 Geleidbaarheidniveauschakelaar voor vaste stoffen ...........................................<br />

III.43<br />

17.2 Tril- en stemvorkniveauschakelaar voor vloeistoffen en vaste stoffen. ........................<br />

III.44<br />

17.3 Capacitieve niveauschakelaar of -meter voor vloeistoffen en vaste stoffen ....................<br />

III.45<br />

17.4 Ultrasone niveaumeter in vloeistoffen en vaste stoffen ........................................<br />

III.45<br />

17.5 Hydrostatische niveaumeter voor vloeistoffen ................................................<br />

III.46<br />

17.6 Microgolf- of radar-niveaumeting in vloeistoffen. ............................................<br />

III.47<br />

17.7 Microgolf- of radar-niveaumeting en -schakeling in vaste stoffen. ............................<br />

III.48<br />

17.8 Gammastraalniveauschakelaar en -meting ....................................................<br />

III.49<br />

17.9 Overige niveaumeettechnieken - overzichtstabellen ...........................................<br />

III.50<br />

18 Debietmeting<br />

18.1 Definities .....................................................................................<br />

III.53<br />

Laminaire en turbulente stroming ..............................................................<br />

III.54<br />

18.2 Verschildrukmetingen .........................................................................<br />

III.55<br />

Wet van Bernouilli .............................................................................<br />

III.55<br />

Meetflens of diafragma .........................................................................<br />

III.56<br />

Stuwbuis .......................................................................................<br />

III.58<br />

Venturi-buis ....................................................................................<br />

III.58<br />

Dall-buis .......................................................................................<br />

III.59<br />

18.3 Snelheidsprobes voor gas- en vloeistof debietmetingen ........................................<br />

III.60<br />

Pitot-buis ......................................................................................<br />

III.60<br />

Annubar .......................................................................................<br />

III.60<br />

Anemometer ....................................................................................<br />

III.61<br />

18.4 Rotameters ....................................................................................<br />

III.62<br />

De rotameter in ‘by-pass’ ......................................................................<br />

III.63<br />

Inductieve vlotterdebietmeting .................................................................<br />

III.64<br />

18.5 Turbinetellers ................................................................................<br />

III.65<br />

Specifieke verschillen tussen gas- en vloeistofmeters ..........................................<br />

III.67<br />

18.6 Vortex- of natuurlijke hydrodynamische oscillerende debietmeters ...........................<br />

III.67<br />

Stoorelementen ................................................................................<br />

III.68<br />

Opnemers .....................................................................................<br />

III.69<br />

Eigenschappen van vortexdebietmeter .........................................................<br />

III.69<br />

18.7 Debietmeter met gedwongen oscillatie: 'Swirlmeter' ..........................................<br />

III.70<br />

18.8 Massadebietmeters ...........................................................................<br />

III.71<br />

Coriolis-massadebietmeter ....................................................................<br />

III.71<br />

18.9 Elektromagnetische debietmeters (E.M.F.- Opnemers) ........................................<br />

III.74<br />

E.M.F. met geschakeld gelijkstroomveld .......................................................<br />

III.77<br />

18.10 Ultrasone debietmeter .......................................................................<br />

III.77<br />

18.11 Kruiscorrelatie debietmeter .................................................................<br />

III.77<br />

18.12 Overzichtstabel .............................................................................<br />

III.78<br />

__________ - v -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Inhoudstafel<br />

Deel IV: Gegevensverwerking en -voorstelling<br />

19 Interfacing<br />

19.1 Inleiding ...........................................................................................<br />

IV.1<br />

19.2 De meetbrug .......................................................................................<br />

IV.2<br />

19.3 Demodulatie .......................................................................................<br />

IV.4<br />

Amplitudedemodulatie ..............................................................................<br />

IV.4<br />

Frequentiedemodulatie ..............................................................................<br />

IV.5<br />

Fasedemodulatie ....................................................................................<br />

IV.5<br />

19.4 De versterker .......................................................................................<br />

IV.6<br />

De operationele versterker of opamp ................................................................<br />

IV.6<br />

De instrumentatieversterker .........................................................................<br />

IV.8<br />

De isolatieversterker ................................................................................<br />

IV.9<br />

19.5 Analoog-Digitaal- en Digitaal-Analoogomzetters ................................................<br />

IV.10<br />

19.6 Voorbeelden van elektronische interfacingscomponenten .........................................<br />

IV.10<br />

20 De oscilloscoop<br />

20.1 De kathodestraalbuis (CRT) ......................................................................<br />

IV.11<br />

20.2 De analoge oscilloscoop ..........................................................................<br />

IV.12<br />

XY-werking .......................................................................................<br />

IV.12<br />

YT-werking ........................................................................................<br />

IV.13<br />

De "HOLD-OFF" instelling. ......................................................................<br />

IV.14<br />

De twee- of meerkanaalsoscilloscoop .............................................................<br />

IV.15<br />

20.3 De analoge geheugenoscilloscoop ................................................................<br />

IV.17<br />

20.4 De 'Samplingoscilloscoop' ........................................................................<br />

IV.18<br />

20.5 Digitale geheugenoscilloscoop ...................................................................<br />

IV.19<br />

21 De multimeter<br />

-- in aanmaak --<br />

Appendix A: Eenheden<br />

Appendix B: Formularium<br />

__________ - vi -<br />

Johan Baeten


Deel I<br />

Algemene principes<br />

1 Algemene opbouw van een meetsysteem<br />

Het meetsysteem bestaat uit één of meerdere hoofddelen, elk door een blok voorgesteld in<br />

figuur 1.1. Deze onderdelen zijn de opnemer-omvormer of sensor, de signaalconditionering, de<br />

signaalverwerking en de gegevenspresentatie.<br />

Ingang:<br />

Fysische Grootheid<br />

Opneem<br />

Element<br />

Signaal<br />

Conditionering<br />

Signaal<br />

Verwerking<br />

Gegevens<br />

Presentatie<br />

Te meten Grootheid<br />

( T, F ... )<br />

Gemeten Grootheid<br />

Figuur 1.1: Onderdelen van een meetsysteem.<br />

De opnemer-omvormer of kortweg de opnemer of sensor, vormt de te meten fysische grootheid<br />

(temperatuur, druk, ...) om in een andere meestal elektrische grootheid, de gemeten grootheid,<br />

die gemakkelijk verwerkt kan worden. Voorbeelden hiervan zijn thermokoppels, rekstrookjes,<br />

temperatuurgevoelige weerstanden, enz.<br />

Opnemers kunnen op verschillende manieren worden ingedeeld al naar gelang:<br />

de aard van de omgevormde fysische grootheid (zoals druk, debiet, kracht, temperatuur,<br />

verplaatsing, snelheid, versnelling, licht, enz.);<br />

het opneemprincipe (resistief, inductief, opto-elektrisch, piëzo-elektrisch, enz.) of meer<br />

gespecifieerd naar het soort opneemelement (resp. rekstrookjes, LVDT, fotodiode,<br />

piëzo-kristal, enz.);<br />

de informatiestructuur: binair, één- of tweedimensioneel;<br />

de initiële energie al of niet door de opnemer zelf wordt geleverd. In het eerste geval<br />

spreken we van actieve opnemers, in het tweede geval van passieve opnemers. Bij een<br />

passieve opnemer (zoals bijvoorbeeld een rekstrookje) is er een externe bron nodig.<br />

Actieve opnemers zijn bijvoorbeeld: thermokoppels, piëzo-elektrische sensoren, foto-voltaïsche<br />

cellen. Meestal kunnen deze opnemers maar een beperkt vermogen leveren zodat een versterking<br />

noodzakelijk is.<br />

__________ - I.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Algemene opbouw van een meetsysteem<br />

Passieve opnemers zijn bijvoorbeeld, rekstrookjes, fotodiodes, lineair veranderlijke<br />

differentiaaltransformatoren (LVDT) enz., zij vereisen een externe bron. Bij deze opnemers is er<br />

de fysische ingang, de elektrische uitgang en de elektrische voeding of bekrachtiging.<br />

De signaalconditionering zet het signaal van de opnemer-omvormer om in een vorm die meer<br />

geschikt is voor verdere processing. Een voorbeeld hiervan is een Wheatstone-brug met<br />

versterker, die het signaal van de opnemer uiteindelijk tot een waarde brengt van enkele volts.<br />

Bijvoorbeeld het hoger genoemd rekstrookje of de temperatuurgevoelige weerstand vormt hierbij<br />

een van de takken van de Wheatstone-brug.<br />

De signaalverwerking vormt op zijn beurt het uitgangssignaal van de signaalconditionering om<br />

in een vorm die meer geschikt is voor processturing of voor visualisatie. Een voorbeeld hiervan<br />

is een analoog-digitaalomzetter die de analoge spanning omzet in een digitale waarde.<br />

Het gegevenspresentatie-element laat toe de gemeten waarde weer te geven in een duidelijke<br />

vorm, zoals een getal of een curve.<br />

Signaalconditionering en signaalverwerking zijn signaalaanpassingen die soms beide onder de<br />

noemer van signaalconditionering vermeld worden. De manier waarop de signaalconditionering<br />

gebeurt, is afhankelijk enerzijds van de elektrische karakteristieken van de opnemer en<br />

anderzijds van de bestemming van het signaal. Zo kan versterking, niveau-aanpassing,<br />

linearisatie, impedantie-aanpassing, galvanische scheiding of een andere aanpassing nodig zijn.<br />

De aanpassing kan vlak bij of ver van de opnemer (al dan niet gedeeltelijk) plaatsvinden. Het feit<br />

of men gebruik kan maken van reeds bestaande apparatuur kan hierbij een rol spelen.<br />

Opnemer/omvormer<br />

Signaalconditionering<br />

T<br />

Ingang<br />

Pt100 Temperatuur<br />

gevoelige weerstand<br />

R<br />

mV<br />

Wheatstone-brug Versterker<br />

V<br />

Gegevenspresentatie<br />

Signaalverwerking<br />

Cijfer Weergave<br />

Byte<br />

Computer A/D omzetter<br />

Uitgang<br />

Figuur 1.2: Voorbeeld van een meetsysteem.<br />

Veel voorkomende vormen van aanpassing zijn:<br />

1. Het versterken van het signaal tot een gestandaardiseerd spanningsgebied gebruikt bij<br />

'data-acquisitie' namelijk van 0 tot 10V<br />

2. het omvormen van het signaal tot een gestandaardiseerd stroomgebied gebruikt bij o.a.<br />

procescontrole nl. 4 mA tot 20 mA (stroombron), hetgeen geschikt is voor transmissie<br />

over lange afstand met getwiste draden.<br />

3. het omvormen van het analoge signaal tot een digitaal signaal, TTL niveau met bepaalde<br />

woordlengte (bijvoorbeeld 8, 10, 12 of 16 bit ...)<br />

4. de parallel/seriële-omzetting of omgekeerd in geval van digitale signalen.<br />

__________ - I.2 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Karakteristieken van meetsysteemelementen<br />

2 Karakteristieken van meetsysteemelementen<br />

Meetsensoren geven een signaal af waarvan de grootte een analoge of binair gecodeerde maat is<br />

voor de te meten grootheid. De beperkingen van een dergelijke sensor worden gekwantificeerd<br />

met de specificaties. Van elke sensor dient op zijn minst gespecifieerd te zijn:<br />

werkgebied (voedingsspanning, temperatuurgebied, belasting e.d.);<br />

meetbereik: minimale en maximale te meten waarde;<br />

gevoeligheid: verandering van het uitgangssignaal y bij een eenheidsverandering van het<br />

ingangssignaal x: ∆y/∆x of dy/dx;<br />

resolutie: kleinst detecteerbare verandering in de te meten waarde;<br />

nulpuntsfout (nulpunt, drift);<br />

onnauwkeurigheid: absolute of relatieve fout op de gemeten waarde;<br />

niet-lineariteit: maximale afwijking ten opzichte van een gespecificeerde rechte lijn in de<br />

overdrachtskarakteristiek;<br />

hysteresis: geheugenfunctie, de gemeten grootheid is mede afhankelijk van de evolutie van<br />

de te meten grootheid;<br />

(eventuele) stoorgevoeligheid of kruisgevoeligheid (bijvoorbeeld de temperatuurcoëfficiënt<br />

van het nulpunt of de gevoeligheid, of de voedingsspanningscoëfficiënt van het<br />

nulpunt)<br />

Het meetbereik of ingangsbereik geeft de minimum en de maximum waarde van de<br />

ingangsgrootheid, die meetbaar is voor de betreffende sensor. Analoog hiermee geven minimale<br />

en maximale waarde van de uitgang het uitgangsbereik aan. Bijvoorbeeld: een thermokoppel kan een<br />

ingangsbereik hebben van 200 °C tot 500 °C en een uitgangsbereik van 4 mV tot 16 mV.<br />

y_max<br />

Uitgang<br />

Ideaal<br />

N(x)<br />

N(x)<br />

y_min<br />

Werkelijk<br />

Ingang<br />

a) x_min<br />

x_max b)<br />

x_min<br />

x_max<br />

Figuur 1.3: a) Ideale en werkelijke (statische) in/uit karakteristiek. b) Bepaling van niet-lineariteit.<br />

Gevoeligheid en bereik kunnen ook weergegeven worden in een statische ingangsuitgangskarakteristiek<br />

(of overdrachtskarakteristiek) zoals figuur 1.3.<br />

Bijvoorbeeld: de gevoeligheid van een bepaald thermokoppel is 10 µV/°C bij 100 °C.<br />

N<br />

N = max [N(x)]<br />

= Niet-lineariteit<br />

In figuur 1.3 geeft de rechte lijn het ideale verband tussen de te meten en de gemeten grootheid<br />

voor de ideale sensor weer. De werkelijke karakteristiek wijkt echter af van dit ideale verband.<br />

De niet-lineariteit is per definitie de maximale afwijking over het meetbereik. Deze wordt als<br />

absolute waarde weergegeven of procentueel uitgedrukt ten opzichte van de volledige<br />

schaaluitslag (Eng: Full-Scale Deflection of FSD).<br />

__________ - I.3 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Karakteristieken van meetsysteemelementen<br />

y_max<br />

Uitgang<br />

H(x) = y(x) - y(x)<br />

x x<br />

H(x)<br />

op<br />

H<br />

af<br />

Ingang<br />

y_min<br />

x_min x_max x_min<br />

x_max<br />

a) b)<br />

Bijvoorbeeld:<br />

H = 25 % FSD<br />

Figuur 1.4: Bepaling van de hysteresis H(x).<br />

Niet te verwarren met de eerder vermelde niet-lineariteit is hysteresis. Wanneer de uitgang<br />

verschillende waarden kan aannemen voor eenzelfde waarde van de ingang afhankelijk van het<br />

feit of de ingang voordien steeg of daalde, spreekt men van hysteresis. De hysteresis is het<br />

verschil tussen twee uitgangswaarden behorende bij dezelfde ingang.<br />

De maximum hysteresis kan ook hier uitgedrukt worden als een percentage van de maximum<br />

schaaluitslag (FSD). Figuur 1.4 geeft een voorbeeld van een ingangs-uitgangskarakteristiek met<br />

hysteresis.<br />

Maximum hysteresis = H of =<br />

H<br />

y_max−y_ min 100%<br />

Voor systemen met een digitale uitgang - maar niet enkel en alleen bij zulke systemen - is ook de<br />

resolutie van belang. Het is de kleinste verandering van de ingang x die nog in een verandering<br />

van de uitgang y resulteert, of ook, de grootste verandering die de ingang x kan aannemen,<br />

zonder een verandering van de uitgang te veroorzaken. De resolutie van de opnemer<br />

overeenkomstig de karakteristiek uit figuur 1.5 is ∆x.<br />

Het is eveneens mogelijk dat een zelfde ingang x niet steeds overeenstemt met dezelfde waarde<br />

voor de uitgang y, zonder dat hysteresis hiervoor verantwoordelijk is. Dit heeft te maken met<br />

'random' effecten in het element en in zijn omgeving en wordt weergegeven door de<br />

repeteerbaarheid. Dit is per definitie de maat waarin een element dezelfde uitgang y aanneemt<br />

bij dezelfde ingang x.<br />

y_max<br />

Uitgang<br />

R<br />

y_min<br />

a)<br />

x_min<br />

∆ x Ingang x<br />

x_max<br />

b)<br />

Figuur 1.5: a) Bepaling van de resolutie ∆x. b) Voorbeeld: doorsnede potentiometer.<br />

Ten gevolge van omgevingsinvloeden zal in het algemeen de uitgang y niet alleen afhangen van<br />

de ingang x maar eveneens van ingangen als omgevingstemperatuur, omgevingsdruk, relatieve<br />

__________ - I.4 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Karakteristieken van meetsysteemelementen<br />

vochtigheid, voedingsspanning enz. We onderscheiden hierbij twee mogelijke stoorinvloeden.<br />

De kruisgevoeligheid geeft een maat voor de wijziging van de lineaire gevoeligheid van het<br />

element, zoals weergegeven in figuur 1.6.a (Eng: Modifying effect). De stoorgevoeligheid is een<br />

maat voor de verandering van de nulpuntsinstelling (Eng: Interfering effect). Zie figuur 1.6.b.<br />

Ook slijtage en veroudering kunnen een gelijkaardige invloed hebben op de karakteristiek van<br />

het opneemelement, maar wel langzaam en systematisch doorheen de tijd. Een typisch voorbeeld<br />

van slijtage is de verandering van de stijfheid van een veer met de tijd.<br />

Uit<br />

Uit<br />

In<br />

a) b)<br />

In<br />

Figuur 1.6: a) Wijziging van de gevoeligheid. b) Wijziging van de nulpuntsinstelling (Eng: Bias)<br />

Niet-lineariteit, hysteresis en resolutie-effecten zijn in vele moderne meetsystemen zo klein dat<br />

het moeilijk of nutteloos is elk afzonderlijk effect te specifiëren. De fabrikant definieert in zulke<br />

gevallen de performantie van het meetelement in termen van een foutband. De foutband geeft de<br />

grenzen aan waartussen de uitgang zal liggen bij een gegeven ingang. Figuur 1.7 geeft aan dat bij<br />

elke ingang x de uitgang y binnen een band van ±h ligt t.o.v. de ideale ('rechte-lijn') waarde<br />

y_ideaal. In dit geval is een exacte of systematische precisering voor de performantie vervangen<br />

door een waarschijnlijkheidsfunctie p(y). In het algemeen wordt de waarschijnlijkheidsfunctie<br />

p(y) zodanig gedefinieerd dat de integraal (gelijk aan de oppervlakte onder de curve tussen y 1<br />

en<br />

y 2<br />

) de kans P y1,y2<br />

weergeeft dat y ligt tussen y 1<br />

en y 2<br />

.<br />

Uitgang<br />

p(y)<br />

y_max<br />

y_ideaal<br />

h<br />

h<br />

1<br />

2h<br />

2h<br />

Ingang<br />

y_min<br />

y_ideaal<br />

a) x_min<br />

x_max b)<br />

Figuur 1.7: a) Foutband. b) Rechthoekige waarschijnlijkheidsfunctie.<br />

Uitgang<br />

y<br />

In het geval van figuur 1.7 is de waarschijnlijkheidsfunctie rechthoekig:<br />

⎧ = 1 y_ideaal − h ≤ y ≤ y_ideaal + h<br />

⎪ 2h<br />

p(y) ⎨<br />

⎪<br />

⎩ = 0 y > y_ideaal + h of y < y_ideaal − h<br />

Merk op dat de oppervlakte van de rechthoek gelijk is aan één: dit is de kans dat de uitgang y<br />

binnen de grenzen y_ideaal - h en y_ideaal + h valt.<br />

__________ - I.5 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Karakteristieken van meetsysteemelementen<br />

p y ( )<br />

Kans dat de meetwaarde y<br />

valt tussen y en y<br />

1 2<br />

y 1<br />

y 2<br />

Uitgang<br />

Figuur 1.8: Waarschijnlijkheidsfunctie (-dichtheidsfunctie).<br />

De lijst van eigenschappen van een opneemelement kan verder uitgebreid worden met een aantal<br />

typische elektrische parameters zoals spannings- en stroomniveau, impedantie, offset en drift.<br />

Tot nog toe zijn bovendien enkel de statische karakteristieken van de sensor aan bod gekomen.<br />

Bij een meetsysteem kan de uitgang de ingang meestal niet onmiddellijk volgen. Er is steeds een<br />

zekere vertraging, overeenkomstig de dynamische eigenschappen van de sensor. Een sensor is<br />

meestal (al dan niet benaderend) van eerste of tweede orde. In dit verband spelen begrippen als<br />

tijdconstante, afsnijfrequentie, bandbreedte, resonantiefrequentie, faseverschuiving, enz. een rol.<br />

We verwijzen hiervoor naar de cursus Systeemtheorie / Regeltechniek.<br />

__________ - I.6 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

3 Ladingseffecten in meetsystemen<br />

Ladingseffecten treden ten eerste op wanneer een gegeven element uit het systeem de<br />

karakteristiek van een vorig element beïnvloedt of wijzigt. Op haar beurt kunnen de<br />

eigenschappen van dit element gewijzigd worden door een volgend element. Een tweede, meer<br />

fundamenteel, ladingseffect ontstaat bij de introductie van het meetelement in het proces of<br />

systeem, waardoor de te meten grootheid wijzigt.<br />

Dit hoofdstuk bespreekt beide vormen van ladingseffecten. Eerst komen elektrische schema's aan<br />

bod. Daarna wordt het principe uitgebreid naar algemene ladingseffecten.<br />

3.1 Ladingseffecten in Thévenin-equivalent<br />

Het theorema van Thévenin geeft aan dat elk netwerk bestaande uit lineaire impedanties en<br />

spanningsbronnen vervangen kan worden door een equivalente schakeling bestaande uit een<br />

spanningsbron E th<br />

en een serie-impedantie Z th<br />

zoals aangegeven in figuur 1.9. De bron E th<br />

is<br />

gelijk aan de open-klemmen spanning van het netwerk. De impedantie Z th<br />

is gelijk aan de totale<br />

impedantie van het netwerk met alle spanningsbronnen gelijk aan nul.<br />

i<br />

i<br />

Lineair Netwerk<br />

Z L<br />

E th<br />

Z L V L<br />

Zth<br />

Figuur 1.9: Thévenin-equivalent.<br />

Aansluiten van een belastingweerstand Z L<br />

over de uitgangsklemmen van het netwerk resulteert in<br />

een stroom i door Z L<br />

:<br />

i =<br />

E th<br />

Z th + Z L<br />

De spanning V L<br />

over de belastingweerstand is:<br />

Z L<br />

V L = iZ L = E th<br />

Z th + Z L<br />

Naarmate Z L<br />

>> Z th<br />

, zal V L<br />

naar E th<br />

evolueren. Om een maximale spanningsoverdracht te<br />

realiseren van netwerk naar belasting, moet de lastimpedantie veel groter zijn dan de<br />

Thévenin-impedantie. Om een maximale vermogensoverdracht te realiseren moet de<br />

lastimpedantie gelijk zijn aan de Thévenin-impedantie.<br />

Nemen we als voorbeeld een thermokoppeltemperatuurmeting. De Thévenin-waarden voor het<br />

thermokoppel, bij verwaarlozing van de niet-lineariteit en de referentiejunctie, zijn:<br />

E th<br />

= 40T µV en Z th<br />

= 20 Ω met T is de junctietemperatuur.<br />

__________ - I.7 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

De thermokoppelspanning dient versterkt te worden. De versterker vormt de belasting voor het<br />

thermokoppel en functioneert als spanningsbron voor een indicator. Figuur 1.10 geeft de<br />

algemene schakeling voor een versterker weer als vierpoort (2 maal 2 klemmen).<br />

i N<br />

V L<br />

V L<br />

Z in<br />

V in<br />

AV in<br />

Zuit<br />

Figuur 1.10: Equivalent schema voor een versterker.<br />

Typische waarden voor een versterker zijn: ingangsimpedantie Z in<br />

= R in<br />

= 2.10 6 Ω, open-lus<br />

versterking A = 1000, uitgangsimpedantie Z uit<br />

= R uit<br />

= 75Ω. De indicator is voor te stellen als een<br />

zuiver resistieve belasting van 10 4 Ω. De schaal van de indicator is zodanig dat een wijziging van<br />

V L<br />

met 1 V met een wijziging in uitlezing van 25 °C overeenstemt. De gemeten temperatuur T M<br />

is dus 25.V L<br />

. Figuur 1.11 geeft het volledige equivalente schema weer.<br />

T<br />

Werk.<br />

Temp<br />

40 T<br />

1000<br />

V<br />

µV 2 in<br />

V in<br />

10<br />

M<br />

20 Ω<br />

Ω k<br />

75 Ω<br />

Ω<br />

Thermokoppel Versterker Indicator<br />

T M<br />

Gemeten<br />

Temperatuur<br />

Figuur 1.11: Thévenin-equivalent voor temperatuurmeetkring.<br />

Er gelden volgende verbanden:<br />

Dit geeft:<br />

V in = 40.10 −6 2.10 6<br />

, en<br />

2.10 6 + 20 T V L = 1000V<br />

10 4<br />

in T<br />

75 + 10 4 M = 25V L<br />

T M = ⎛ 2.10 6 ⎞<br />

⎝ 2.10 6 + 20 ⎠ ⎛ 10 4 ⎞<br />

T = 0, 9925T<br />

⎝ 75 + 10 4 ⎠<br />

Hierbij is de factor Z L<br />

/Z Th<br />

+Z L<br />

ingevoegd bij elke interconnectie van twee elementen om het<br />

ladingseffect in rekening te brengen. De ladingsfout is 0,0075T (onafhankelijk van eventuele<br />

andere fouten). Door de juiste keuze van de opeenvolgende impedanties is de ladingsfout in dit<br />

voorbeeld klein. Indien deze voorzorgen niet genomen worden, kan de ladingsfout echter zeer<br />

groot worden.<br />

Paragraaf 7.2 geeft nog een voorbeeld van ladingseffecten bij een potentiometer. In paragraaf 9.6<br />

komen ook AC-ladingseffecten voor wanneer een LVDT met een zuiver Ohmse weerstand belast<br />

wordt. De spanningsgevoeligheid van de LVDT is sterk afhankelijk van de belastingimpedantie.<br />

__________ - I.8 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

3.2 Ladingseffecten in Norton-equivalent<br />

Het theorema van Norton stelt dat elk netwerk bestaande uit lineaire impedanties en<br />

spanningsbronnen, voorgesteld kan worden door een equivalente schakeling bestaande uit een<br />

stroombron i N<br />

in parallel met een impedantie Z N<br />

, zoals weergegeven in figuur 1.12. Z N<br />

is de<br />

impedantie tussen de uitgangsklemmen wanneer alle spanningsbronnen herleid worden tot nul en<br />

vervangen worden door hun inwendige weerstand. i N<br />

is de stroom die vloeit bij kortgesloten<br />

uitgangsklemmen.<br />

i<br />

i<br />

Lineair Netwerk<br />

Z L<br />

i N<br />

ZN<br />

Z L<br />

V L<br />

Figuur 1.12: Norton-equivalent<br />

Toevoegen van een belastingweerstand Z L<br />

tussen de uitgangsklemmen van het netwerk, is<br />

equivalent aan het plaatsen van een belastingweerstand Z L<br />

over de Norton-schakeling. De<br />

spanning V L<br />

over de belasting is gelijk aan i N<br />

Z met Z de parallelle impedantie van Z L<br />

en Z N<br />

:<br />

Z<br />

V L = i N Z L<br />

N<br />

Z N + Z L<br />

(Ladingseffect bij Norton-equivalent)<br />

Indien Z L<br />


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

De verhouding V o<br />

/V L<br />

= R o<br />

/(R o<br />

+R k<br />

), levert dan als opnemerspanning V o<br />

:<br />

R N<br />

V o = i N R o<br />

R N + R k + R o<br />

Met de gegeven waarden uit figuur 1.13, geeft dit V o<br />

= 0,9995i N<br />

R o<br />

. De opgenomen spanning wijkt<br />

dus slechts 0,05% af van de gewenste spanning.<br />

Een tweede voorbeeld van de belasting bij een spanningsbron is gegeven in paragraaf 11.2, die<br />

piëzo-elektrische sensoren behandelt. Hier treden er belangrijke ladingseffecten op, o.a. ten<br />

gevolge van de kabelcapaciteit.<br />

3.3 Veralgemeende ladingseffecten<br />

De vorige paragrafen tonen hoe elektrische ladingseffecten beschreven kunnen worden door<br />

gebruik te maken van twee variabelen: spanning en stroom. Spanning is een voorbeeld van een<br />

staande variabele, gemeten tussen twee klemmen. Stroom is een voorbeeld van een lopende<br />

variabele. Andere mogelijke paren van staande en lopende variabelen zijn:<br />

snelheid - kracht,<br />

hoeksnelheid - moment,<br />

verschildruk - volumedebiet of<br />

temperatuurverschil - warmtestroom.<br />

Voor elk paar geldt dat het product van beide variabelen het vermogen in Watt voorstelt<br />

(opgeslagen of gedissipeerd in het beschouwde element) met uitzondering van de thermische<br />

variabelen waar het product de dimensie heeft van Watt.°C.<br />

Naar analogie van elektrische systemen bestaan er dus ook mechanische, pneumatische,<br />

hydraulische of thermische impedanties. Voor een volledige beschrijving wordt verwezen naar<br />

appendix B van de cursus Basis-Regeltechniek. We beperken ons hier tot het geven van twee<br />

voorbeelden, een mechanisch en een thermisch.<br />

F<br />

mp<br />

Mechanisch systeem<br />

λp<br />

F s<br />

m<br />

s<br />

k<br />

p<br />

λs<br />

k s<br />

Krachtsensor<br />

Opnemer<br />

R p<br />

R o<br />

Vo<br />

V s<br />

Figuur 1.14: Belasting van een mechanisch systeem door een krachtsensor.<br />

Figuur 1.14 toont een mechanisch systeem voorgesteld door een massa, een veer en een demper.<br />

De kracht F uitgeoefend op het systeem wordt gemeten door een krachtsensor, bestaande uit een<br />

__________ - I.10 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

elastisch vervormbaar element verbonden met een potentiometer. Het elastisch element kan<br />

eveneens voorgesteld worden door een massa-veer-demper systeem. In de evenwichtstoestand<br />

waar zowel snelheid als versnelling nul zijn, gelden volgende vergelijkingen voor<br />

krachtevenwicht:<br />

systeem: F = k p x + F s<br />

sensor: F s = k s x<br />

De relatie tussen gemeten kracht F s<br />

en werkelijke kracht F is:<br />

F s =<br />

k s<br />

F =<br />

1<br />

F<br />

k s + k p 1 + k p /k s<br />

(ladingseffect voor mechanisch systeem in evenwicht).<br />

Hieruit blijkt dat de sensorstijfheid ks veel groter moet zijn dan de processtijfheid kp om de<br />

ladingsfout in evenwicht tot een minimum te beperken. Ook voor de dynamische ladingsfouten<br />

kunnen gelijkaardige eigenschappen afgeleid worden.<br />

Figuur 1.15 toont een warm lichaam, het thermisch systeem, waarvan een thermokoppelsensor<br />

de temperatuur meet. Bij onevenwicht gelden volgende vergelijkingen voor de<br />

warmteoverdracht:<br />

proces:<br />

sensor:<br />

m p c p<br />

dT p<br />

dt<br />

m s c s<br />

dT s<br />

dt<br />

= W p − W s en W p = A p<br />

(T F − T p )<br />

λ p<br />

= W s en W s = A s<br />

λ (T p − T s )<br />

met m de massa, c de specifieke warmtecoëfficiënt, λ de thermische weerstand per oppervlakte<br />

eenheid en A de oppervlakte (en met verwaarlozing van stralingswarmte).<br />

Omgeving<br />

T F °C<br />

T °C p<br />

W p<br />

W s<br />

T s<br />

E Th<br />

T > T >T F p s<br />

Warm lichaam<br />

Themokoppelsensor<br />

Figuur 1.15: Belasting van een thermisch proces door een thermokoppel.<br />

m p<br />

c p<br />

en m s<br />

c s<br />

zijn thermische capaciteiten, λ s<br />

/A s<br />

en λ p<br />

/A p<br />

zijn thermische weerstanden. Het<br />

equivalent schema voor proces en thermokoppel is weergegeven in figuur 1.16. De relatie tussen<br />

omgevingstemperatuur T F<br />

en procestemperatuur T p<br />

hangt af van de impedantiedeler [ λ p<br />

/A p<br />

,<br />

m p<br />

c p<br />

]. De relatie tussen procestemperatuur T p<br />

en sensortemperatuur T s<br />

hangt af van de<br />

__________ - I.11 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Ladingseffecten in meetsystemen<br />

impedantiedeler [ λ s<br />

/A s<br />

, m s<br />

c s<br />

]. Het thermokoppel kan op haar beurt voorgesteld worden door een<br />

tweepoort met een thermische ingangspoort en een elektrische uitgangspoort.<br />

W p<br />

W s<br />

λ p<br />

λ s<br />

A<br />

T p<br />

A s<br />

F T<br />

m p c p<br />

p<br />

m c s s<br />

T s<br />

40 T<br />

µV<br />

20 Ω<br />

naar<br />

versterker<br />

en opnemer<br />

Proces<br />

Thermische<br />

poort<br />

Thermokoppel<br />

Elektrische<br />

poort<br />

Figuur 1.16: Equivalent schema voor een thermisch systeem met thermokoppel als vierpool of tweepoort.<br />

Als besluit herhalen we dat de voorstelling van meetsysteemelementen door netwerken van<br />

tweepoorten de studie van ladingseffecten en -fouten tussen proceselementen en van proces naar<br />

opnemer mogelijk maakt.<br />

__________ - I.12 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

4 Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

Verbindingslijnen vormen een belangrijke bron voor ruis(opname) in meetsystemen. Wanneer de<br />

'communicatielijnen' verkeerd uitgevoerd zijn, kunnen elektrische stoorsignalen van motoren,<br />

van een elektrische storm of van nabij gelegen elektronische uitrusting opgevangen worden. Dit<br />

stoorsignaal is dan niet meer van het meet- of controlesignaal te onderscheiden.<br />

Afscherming en een juiste aarding van de meetkring moet het opvangen van stoorsignalen zoveel<br />

mogelijk onderdrukken. De volgende paragrafen bespreken eerst de invloed van het stoorsignaal<br />

in Norton- en Thévenin-equivalente meetkringen. Vervolgens komen de stoorbronnen aan bod,<br />

waarbij bijzondere aandacht gaat naar een juiste aarding van de meetkring. De laatste paragraaf<br />

bespreekt de mogelijke technieken om storingen te onderdrukken of te vermijden.<br />

4.1 Invloed van het stoorsignaal op de meetkring<br />

Paragrafen 3.1 en 3.2 geven aan hoe een meetsysteem voorgesteld kan worden door haar Nortonof<br />

Thévenin-equivalent. In een industriële omgeving echter staan bron en opnemer vaak enkele<br />

100 m uit elkaar en kunnen ruis- of stoorsignalen aanwezig zijn, waardoor bijkomende meetfouten<br />

ontstaan.<br />

Figuur 1.17 toont een spanningstransmissiesysteem welk onderworpen is aan een verschilmode<br />

stoorspanning (Eng.: Serie Mode interference). De stoorspanning V SM<br />

staat in serie met de<br />

meetsignaalspanning E Th<br />

. De stroom i doorheen de belasting van de opnemer is<br />

i =<br />

E Th + V SM<br />

Z th + R k + Z L<br />

en de overeenstemmende spanning over de belasting is<br />

V L = Z L i =<br />

Z L<br />

Z th + R k + Z L<br />

(E Th + V SM )<br />

Normaal nemen we Z L<br />

>> Z Th<br />

+ R k<br />

, zodat V L<br />

≈ E Th<br />

+ V SM<br />

.<br />

Dit betekent dat in een spanningsmeetsysteem de meetfout gelijk is aan het volledig<br />

(verschilmode) stoorsignaal.<br />

V SM R /2<br />

Z k Th<br />

Z L V L ≈ E Th+V<br />

SM<br />

E Th<br />

i<br />

Bron<br />

R k<br />

/2<br />

Opnemer<br />

Figuur 1.17: Verschilmode stoorspanning in spanningsmeetkring.<br />

__________ - I.13 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

De verhouding van meet- tot stoorsignaal of ruis S/N in dB (Eng.: Signal to Noise ratio) is:<br />

E Th<br />

S<br />

N = 20 log ⎛ ⎞<br />

⎝ V SM ⎠<br />

waarbij E Th<br />

en V SM<br />

de RMS waarden zijn van de spanningen.<br />

Als bijvoorbeeld E Th<br />

= 1 volt en V SM<br />

= 0,1 volt, dan is S/N = +20 dB.<br />

Figuur 1.18 toont een stroomtransmissiesysteem welk onderworpen is aan de verschilmode<br />

spanning V SM<br />

. De (Norton-) stroom i N<br />

verdeelt zich over de twee takken, bestaande uit de stroombronimpedantie<br />

Z N<br />

en de belasting Z L<br />

. De stroom i doorheen de opnemer ten gevolge van de bron<br />

is:<br />

Z<br />

i = i N<br />

N<br />

Z N + R k + Z L<br />

Daarenboven vloeit er een stoorstroom doorheen de opnemer:<br />

i SM =<br />

V SM<br />

Z N + R k + Z L<br />

De totale spanning over de opnemerimpedantie is nu:<br />

V L = iZ L + i SM Z L = i N Z L<br />

+ V SM<br />

Z N + R k + Z L Z N + R k + Z L<br />

Z N<br />

Normaal nemen we R k<br />

+ Z L<br />


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

meetkring worden verhoogd met V CM<br />

relatief t.o.v. de gemeenschappelijke aardpotentiaal. De<br />

spanningsval over de opnemerimpedantie blijft dan ongewijzigd. De sommode spanning heeft<br />

bijgevolg geen invloed op de meting. Er bestaat echter de mogelijkheid dat de sommode<br />

spanning wordt omgezet in een verschilmode spanning, bijvoorbeeld door meerdere (verkeerde)<br />

aardingspunten (zie later).<br />

Bron<br />

Opnemer<br />

i<br />

E +V<br />

A<br />

V Th CM<br />

R /2<br />

Z k Th<br />

Z L V L ≈ E Th<br />

E Th<br />

V CM<br />

R k<br />

/2<br />

B<br />

V<br />

A ≈ V<br />

B ≈<br />

CM<br />

Figuur 1.19: Sommode spanning in spanningsmeetkring.<br />

4.2 Stoorbronnen<br />

Mogelijke stoorbronnen zijn:<br />

Thermische ruis<br />

AC- (DC-) vermogenkringen<br />

Vermogenschakelingen en TL-verlichting<br />

Radiozenders, lasapparatuur ...<br />

Thermische ruis is witte ruis (uniform over alle frequenties) welke in amplitude proportioneel is<br />

met de absolute temperatuur van bijvoorbeeld de geleider. Ze ontstaat door de willekeurige<br />

beweging van de ladingdragers. Nabijgelegen AC-vermogenkringen (240V, 50 Hz), zoals<br />

distributielijnen en zware elektrische machines, veroorzaken wisselstoorsignalen (Eng.: pick-up<br />

of hum). DC-vermogenkringen daarentegen veroorzaken zelden stoorsignalen omdat deze niet<br />

capacitief of elektromagnetisch met de meetkring gekoppeld kunnen worden. Geduchte<br />

stoorbronnen zijn hoog vermogen thyristor-brug-schakelingen. Radiozenders en lasapparatuur<br />

veroorzaken stoorsignalen in het MHz bereik.<br />

4.3 Koppelmechanismen<br />

Figuur 1.20 toont de inductieve of elektromagnetische koppeling tussen het meetsysteem en de<br />

nabijgelegen vermogenkring. Indien beide kringen voldoende dicht bij elkaar liggen bestaat er<br />

een aanzienlijke wederzijdse inductantie M. Dit houdt in dat een wisselstroom i in de vermogenkring<br />

een verschilmode stoorspanning in de meetkring induceert:<br />

V SM = M di<br />

dt<br />

__________ - I.15 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

De wederzijdse inductantie M hangt af van de geometrie van de twee kringen, maar is verdeeld<br />

over de volledige lengte van de meetkring, in tegenstelling tot de enkelvoudige symbolische<br />

spoelen uit figuur 1.20. Merk op dat inductieve koppeling ook voorkomt als de meetkring<br />

volledig van de aarde geïsoleerd is.<br />

i<br />

V AC<br />

Vermogenkring<br />

Verbruiker<br />

V SM<br />

Wisselend magneetveld<br />

B<br />

=<br />

Z Th<br />

Z L<br />

Z Th<br />

E Th<br />

Meetkring<br />

Z L<br />

E Th<br />

Meetkring<br />

Figuur 1.20: Elektromagnetische koppeling van stoorsignaal.<br />

Een ander belangrijk koppelmechanisme is elektrostatische of capacitieve koppeling, weergegeven<br />

in figuur 1.21. De figuur toont een meetkring in de nabijheid van een 240 V lijn (RMS<br />

relatief t.o.v. aarde). De vermogenkabel, het aardvlak en de signaallijnen zijn allemaal geleiders.<br />

Zij vormen onderling capaciteiten. Deze capaciteiten zijn verdeeld over de volledige lengte van<br />

het meetsysteem, maar worden in de figuur door enkelvoudige equivalente capaciteiten<br />

voorgesteld. C 1<br />

en C 2<br />

zijn de capaciteiten tussen vermogenkabel en signaallijnen, en C 3<br />

en C 4<br />

zijn de capaciteiten tussen signaallijnen en het aardvlak. Alle vier de capaciteiten zijn evenredig<br />

met de lengte van de kabels.<br />

Vermogenkabel<br />

A<br />

i D<br />

1 i 2<br />

240 V<br />

50 Hz<br />

C 1<br />

C 2<br />

B<br />

Z Th<br />

Z L<br />

E Th<br />

Meetkring<br />

C 3<br />

E<br />

C 4<br />

Aardvlak<br />

C<br />

F<br />

0 V<br />

Figuur 1.21: Elektrostatische koppeling.<br />

Indien we de signaalspanning E Th<br />

even buiten beschouwing laten, worden de potentiaalwaarden<br />

in B en E bepaald door de spanningsdelers ABC en DEF:<br />

V B = 240 ⎡ ⎣ ⎢ 1/(jωC 3 ) ⎤<br />

⎥ = 240 ⎡ 1/(jωC 1 ) + 1/(jωC 3 ) ⎦ ⎣ ⎢ C 1 ⎤<br />

⎥<br />

C 1 + C 3 ⎦<br />

__________ - I.16 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

V E = 240 ⎡ ⎣ ⎢ 1/(jωC 4 ) ⎤<br />

⎥ = 240 ⎡ 1/(jωC 2 ) + 1/(jωC 4 ) ⎦ ⎣ ⎢ C 2 ⎤<br />

⎥<br />

C 2 + C 4 ⎦<br />

De sommode stoorspanning V CM<br />

= V E<br />

en de verschilmode stoorspanning is:<br />

V SM = V B − V E = 240 ⎡ ⎣ ⎢ C 1<br />

C 1 + C 3<br />

−<br />

C 2<br />

⎤<br />

⎥<br />

C 2 + C 4 ⎦<br />

Dit wil zeggen dat er geen verschilmode storing is bij een perfect evenwicht tussen de koppelcapaciteiten:<br />

dit is bij C 1<br />

= C 2<br />

en C 3<br />

= C 4<br />

. In de praktijk zal er echter steeds een zekere onbalans<br />

bestaan ten gevolge van minimale afstandsverschillen tussen signaallijnen en vermogenkabel /<br />

aardvlak.<br />

4.4 Aarding<br />

Tot nu toe hebben we verondersteld dat de aardpotentiaal overal 0 volt bedraagt. Zware<br />

elektrische machines en elektrische stormen brengen echter stromen teweeg die doorheen de<br />

aarde vloeien en waardoor verschillende potentialen ontstaan op verschillende punten van het<br />

aardvlak. Indien de meetkring volledig geïsoleerd is van de aarde, is er geen probleem. In de<br />

praktijk kan er echter een verbinding zijn (bijvoorbeeld via een lekweerstand) met de aarde aan<br />

de bron en aan de kant van de ontvanger. Indien de twee aardingspunten verschillende<br />

potentialen hebben, dan ontstaan er sommode en verschilmode spanningen in de meetkring.<br />

Figuur 1.22 illustreert het probleem van meerdere aardingspunten.<br />

Zender / Omvormer<br />

i Zt<br />

1<br />

1<br />

Zt2<br />

i 2<br />

Aardlus 1<br />

Aardlus 2<br />

Ontvanger<br />

Z L<br />

V E<br />

Figuur 1.22: Aardlussen door dubbele aarding.<br />

Door de dubbele aarding van de meetkring ontstaan twee aardlussen. Ten gevolge van de<br />

spanning V E<br />

vloeien hierin de stromen i 1<br />

en i 2<br />

. Deze stromen zijn niet gelijk en veroorzaken dus<br />

een verschillende potentiaalval over Zt 1<br />

en Zt 2<br />

, hetgeen overeenstemt met een verschilmode<br />

spanning.<br />

Bijvoorbeeld: neem V E<br />

= 1 V, Zt 1<br />

= Zt 2<br />

= 10 Ω, Z L<br />

= 10 6 Ω. De spanningsvallen over Zt 1<br />

en<br />

Zt 2<br />

zijn: V 1<br />

≈ 10 µV en V 2<br />

= 1V. De sommode spanning V CM<br />

= 0 V, de verschilmode<br />

stoorspanning V SM<br />

= 1V - 10µV ≈ 1 V. De volledige aardspanning V E<br />

komt als fout in de<br />

meting. Dit is enkel zo, omdat beide aardingsweerstanden gelijk aan nul verondersteld<br />

worden. Reken zelf eens uit hoe groot de verschilmode spanning is indien beide<br />

aardingsweerstanden gelijk zijn aan 5 Ω. (Oplossing V SM<br />

≈ 0,5V).<br />

__________ - I.17 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

In dit voorbeeld is de bronspanning buiten beschouwing gelaten om enkel het effect van de<br />

aardlus in rekening te brengen.<br />

Indien één van beide aardingspunten verbroken wordt of vervangen wordt door een zeer grote<br />

lekweerstand, wordt de aardspanning V E<br />

een sommode stoorspanning welke slechts een zeer<br />

beperkte invloed heeft op de meting.<br />

4.5 Methoden om stoorspanningen uit het meetsysteem te houden<br />

Fysische scheiding<br />

Vermits wederzijdse inductanties en parasitaire capaciteiten tussen vermogenkring en<br />

meetsysteem omgekeerd evenredig zijn met de afstand tussen beide kringen, moet deze afstand<br />

zo groot mogelijk zijn<br />

Elektromagnetische afscherming - 'Twisted pairs'<br />

De meest eenvoudige manier om elektromagnetische koppeling met een externe stoorbron te<br />

verminderen bestaat in het gebruik van 'twisted pairs' verbindingen, zoals aangegeven in figuur<br />

1.23. De grootte van de stoorspanning opgewekt in twee opeenvolgende 'lussen' is gelijk in<br />

amplitude, daar de oppervlakte van elke 'lus' gelijk is, maar tegengesteld in teken. De<br />

stoorspanningen heffen elkaar dus op. Of ook: daar de as van beide signaallijnen gelijk is zal de<br />

stoorinvloed op beide lijnen ook gelijk zijn. De verschilmode stoorspanning is dan in het ideale<br />

geval gelijk aan nul.<br />

Z<br />

E<br />

Th<br />

Th<br />

A<br />

A<br />

B<br />

A<br />

A<br />

B<br />

x y z B<br />

A<br />

Vxy<br />

Vyz<br />

B B<br />

Z L<br />

Figuur 1.23: Vermindering van elektromagnetische koppeling door 'twisted pairs'.<br />

(Elektrostatische) afscherming (Eng.: Screening)<br />

De beste manier om capacitieve koppeling te vermijden is het meetsysteem te omsluiten met een<br />

geaarde metalen afscherming. De afscherming is rechtstreeks verbonden met de aarde. Er is geen<br />

onmiddellijke verbinding tussen afscherming en meetkring. Eventuele stoorspanningen en<br />

-stromen worden door de afscherming naar de aarde afgeleid.<br />

Het ideale meetsysteem is er dan een dat volledig geïsoleerd is van de afscherming en waarbij de<br />

afscherming slechts in één enkel punt geaard is. De realisatie van zulk een geheel is vaak<br />

onmogelijk omwille van de volgende redenen:<br />

Het meetsysteem kan van die aard zijn dat de sensor (of zender) rechtstreeks met de aarde<br />

verbonden is: bv. een thermokoppel in een smeltbad welk geaard is.<br />

De ontvanger kan rechtstreeks verbonden zijn met de aarde, bv. in een computer gebaseerd<br />

systeem, waar aarding noodzakelijk is om grote statische spanningen te vermijden.<br />

Er kunnen ook onrechtstreekse verbindingen met de aarde zijn via lekweerstanden.<br />

__________ - I.18 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

Merk op dat, ook indien er geen rechtstreeks zuiver resistief pad bestaat, er steeds een parasitaire<br />

capaciteit gedacht kan worden tussen twee geleiders. Dit geeft volgend algemeen schema voor<br />

een eenvoudig afgeschermd meetsysteem (figuur 1.24).<br />

Z Th<br />

R k<br />

/2<br />

Z L<br />

A<br />

E Th<br />

R k<br />

/2<br />

B<br />

Z A<br />

Z B<br />

Afscherming<br />

Zender/Bron<br />

Aarde<br />

Z D<br />

Z E<br />

V E<br />

Z C<br />

Ontvanger<br />

Aarde<br />

Figuur 1.24: Afscherming van een meetsysteem.<br />

Om in bovenstaande figuur laagimpedante gesloten paden te vermijden en toch een aarding van<br />

de afscherming, om stoorstromen af te leiden, te verzekeren, moet de impedantie van hetzij Z D<br />

,<br />

hetzij Z C<br />

, maar niet beide, zeer klein zijn, en moet de impedantie van Z A<br />

of Z B<br />

(eventueel beide)<br />

zeer groot zijn.<br />

Bij elektronische meetapparatuur moeten we deze regels verder verfijnen! De introductie van een<br />

scherm (of schild) rond een operationele versterker heeft immers ook enkele nadelige effecten.<br />

Figuur 1.25.a toont een afgeschermde operationele versterker met de afschermingscapaciteiten<br />

t.o.v. de ingang, de uitgang en de grond, voorgesteld door individuele capaciteiten. Figuur 1.25.b<br />

geeft een equivalent schema.<br />

C 3<br />

i<br />

C 3 C 1<br />

C 1<br />

C 2<br />

C 2 Afscherming<br />

a) b)<br />

Figuur 1.25: a) Versterker met afscherming en b) equivalent schema.<br />

De capaciteiten C 1<br />

en C 2<br />

vormen een belastingimpedantie voor de versterker. De spanning tussen<br />

de twee impedanties in serie, dit is ter hoogte van de afscherming, is V uit<br />

.Z 2<br />

/(Z 1<br />

+Z 2<br />

) (met Z 1<br />

en Z 2<br />

de impedanties van de capaciteiten C 1<br />

en C 2<br />

). Deze spanning wordt teruggekoppeld over<br />

capaciteit C 3<br />

naar de ingang van de versterker. Door deze terugkoppeling zal de versterking bij<br />

hoge frequenties verzwakken, hetgeen een zeer ongewenst neveneffect is van afscherming. Om<br />

__________ - I.19 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

dit neveneffect te onderdrukken moeten we het schild aarden, zoals weergegeven in figuur 1.26,<br />

waardoor het terugkoppelpad 'onderbroken' wordt.<br />

C 3<br />

C 1<br />

i<br />

Figuur 1.26: Juiste aarding van afscherming elimineert ongewenste terugkoppeling.<br />

Weerom moet de afscherming geaard zijn, maar ditmaal niet om externe storingen af te leiden<br />

maar wel om intern geen ongewenste neveneffecten op te wekken. Dit geeft de eerste regel van<br />

Morrison (1977) met betrekking tot aarding en afscherming:<br />

De afscherming van een elektronische schakeling moet verbonden worden met de signaal<br />

nullijn (aarde) van deze schakeling om ongewenste terugkoppelingen, geïntroduceerd door<br />

de afscherming, te verminderen of te elimineren.<br />

Indien de aarde of de nullijn overal dezelfde potentiaal zou bezitten, zou deze eerste regel<br />

volstaan. Dit is echter niet noodzakelijk het geval, zoals we reeds eerder vermeld hebben bij de<br />

bespreking van aardlussen. Algemeen geldt dat een stoorstroom doorheen de referentie- of<br />

nullijn van de schakeling zoveel mogelijk vermeden moet worden. Dit is vooral van belang bij<br />

lange transmissielijnen. Neem als voorbeeld de schakeling uit figuur 1.27.<br />

Scherm A<br />

Scherm B<br />

Scherm A<br />

Scherm B<br />

Zender<br />

Zender<br />

Ontvanger<br />

Ontvanger<br />

Storing<br />

C<br />

a) b)<br />

Storing<br />

C<br />

Figuur 1.27: a) Foutieve en b) juiste aarding van scherm.<br />

Door de parasitaire capaciteit C tussen aarde en scherm B ontstaat er een gesloten lus. In figuur<br />

a) omvat deze gesloten lus de referentie-signaallijn. In figuur b) niet! De stoorstroom zal in de<br />

schakeling van figuur a) een spanningsval veroorzaken in de signaal-nullijn met een meetfout tot<br />

gevolg. In de schakeling van figuur b) loopt de eventuele stoorstroom over het scherm en blijven<br />

de signaallijnspanningen onveranderd. De tweede regel van Morrison zegt daarom:<br />

Het scherm moet met de aarde verbonden worden in het aardingspunt van de (nul-)<br />

referentielijn.<br />

__________ - I.20 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

Alhoewel in figuur 1.27.b) scherm A verbonden is met de aarde, samen met de nullijn, dit is<br />

beide aardingspunten aan de kant van de zender, mogen deze beide verbindingen ook naar de<br />

kant van de ontvanger verschuiven (of dus naar scherm B).<br />

Gebalanceerde verbindingen<br />

Wanneer zender en ontvanger enkele honderden meters van elkaar staan is de opstelling uit<br />

figuur 1.27.b) niet meer aangewezen. Scherm B kan dan een potentiaalverschil vertonen t.o.v. de<br />

lokale aarde, hetgeen gevaarlijk is. Daarom moeten de schermen zowel aan de kant van de<br />

zender als aan de kant van de ontvanger geaard worden. Beide schermen mogen dan echter niet<br />

meer doorverbonden worden door de afscherming rond de transmissiekabel (hetgeen een<br />

klassieke BNC connector steeds doet). Zo zou immers een gesloten aardlus ontstaan over de<br />

afscherming. In deze aardlus zouden de stoorsignalen weliswaar over de afscherming vloeien en<br />

niet door de signaallijnen, maar door de grote afstand kunnen de opgewekte stromen, bv. bij een<br />

elektrische storm, zeer groot worden en schade aanrichten.<br />

Ook voor de transmissielijnen welke over een grote afstand lopen dienen er extra voorzorgsmaatregelen<br />

genomen te worden. De mogelijke manieren om elektrische storingen te vermijden<br />

zijn o.a. het gebruik van optische signaallijnen, van optische ontkoppeling of van gebalanceerde<br />

zenders en ontvangers.<br />

We bespreken in deze cursus enkel de laatste (en goedkoopste) optie. Figuur 1.28 geeft de<br />

opstelling weer.<br />

A - Zender<br />

S<br />

S<br />

B - Ontvanger<br />

+ -<br />

Storing<br />

Figuur 1.28: Juiste verbinding bij gebruik van gebalanceerde zender en ontvanger. De transmissielijnen zijn<br />

'twisted pairs'. De gebalanceerde ontvanger heeft twee gelijke ingangsimpedanties naar de aarde.<br />

Een belangrijk gegeven bij deze opstelling is het feit dat de storingen van buitenuit een even<br />

grote invloed hebben op beide transmissielijnen. Omdat beide belastingimpedanties van de<br />

ontvanger gelijk zijn, zullen de eventuele storingen gelijke stromen en daardoor ook gelijke<br />

spanningsvallen veroorzaken in de twee geleiders. De verschilversterker zal het ruis- of<br />

stoorsignaal onderdrukken. De gebalanceerde zender stuurt het signaal S en het tegengestelde<br />

signaal -S uit. Ook een ongebalanceerde zender is mogelijk, zoals aangegeven in figuur 1.29.<br />

Hier wordt de nul-referentielijn als tweede transmissiesignaal overgezonden. De ontvanger<br />

gebruikt nu ook deze nullijn als referentie en niet de lokale aarde.<br />

__________ - I.21 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

A - Zender<br />

S<br />

B - Ontvanger<br />

+ -<br />

Storing<br />

Figuur 1.29: Juiste verbindingen bij ongebalanceerde zender.<br />

De signaal-ruisverhouding is bij gebruik van een gebalanceerde zender beter dan bij een<br />

ongebalanceerde zender. Dit volgt uit volgende redenering: neem als signaal S(t) en als storing<br />

n(t). Bij de gebalanceerde zender is het ontvangen signaal (S(t) - n(t)) - (-S(t)-n(t)) = 2 S(t). De<br />

signaal-ruisverhouding is 2S(t)/n(t). Bij de ongebalanceerde zender is het ontvangen signaal (S(t)<br />

- n(t)) - ( 0 -n(t)) = S(t). De signaal-ruisverhouding is hier S(t)/n(t) en is half zo groot.<br />

CMRR bij verschilversterkers<br />

In het voorgaande hebben we verondersteld dat een verschilversterker enkel de verschilspanning<br />

overhoudt en de sommode spanning volledig onderdrukt. Dit is enkel zo in het ideale geval. In<br />

de praktijk zal de uitgangsspanning van de verschilversterker ook afhankelijk zijn van de<br />

sommode spanning over de ingangspennen. De mate waarin de sommode spanning werkelijk<br />

onderdrukt wordt, is aangegeven in de 'Common Mode Rejection Ratio' - factor of CMRR. Voor<br />

de verschilversterker uit figuur 1.30 geldt:<br />

V uit =− R F<br />

R 1<br />

E th + ⎛ ⎝ 1 + R F<br />

R 1<br />

⎞<br />

⎠<br />

V CM<br />

CMRR<br />

Als bijvoorbeeld E Th<br />

= 1 mV, R 1<br />

= 1 kΩ, R F<br />

= 1 MΩ, V CM<br />

= 1V en CMRR = 10 5 (=100 dB), dan<br />

is V uit<br />

≈ -1 + 0,01 V. De resulterende verschilmode storing is hier dus 1 %.<br />

V =V + E<br />

R<br />

1 CM Th 1<br />

-<br />

R<br />

F<br />

V =V<br />

2 CM<br />

R<br />

1<br />

R F<br />

+<br />

V uit<br />

0 V<br />

Figuur 1.30: Verschilversterker.<br />

__________ - I.22 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Algemene principes<br />

Stoorsignalen, aarding en afscherming<br />

Filtertechnieken<br />

Op voorwaarde dat het vermogenspectrum van het meetsignaal in een frequentiegebied ligt dat<br />

verschilt van de frequentieinhoud van het stoorsignaal of de ruis, biedt een filter een goede<br />

oplossing om de signaal-ruisverhouding te verbeteren. Zowel analoge als digitale filters zijn<br />

mogelijk.<br />

Modulatie<br />

Indien het opgevangen stoorsignaal in hetzelfde frequentiegebied ligt als het meetsignaal, is<br />

filteren niet meer mogelijk. In zulk een geval kan moduleren van het signaal bij de zender en<br />

demoduleren bij de ontvanger een oplossing bieden. Door de modulatie wordt het nuttig<br />

spectrum verschoven. Figuur 1.31 geeft een schematisch voorbeeld.<br />

Draaggolf<br />

5 kHz<br />

Storing op<br />

50 Hz<br />

Filter / Versterker<br />

Demodulator<br />

Signaal<br />

a)<br />

(0-100 Hz) (0-100 Hz)<br />

Vermenigvuldiger (4900-5100 Hz)<br />

Storing op 50 Hz<br />

Signaal<br />

Modulatie<br />

AM Signaal<br />

Banddoorlaatfilter<br />

b)<br />

b)<br />

0 50 100<br />

4900 5000 5100 Hz<br />

frequentie<br />

Figuur 1.31: Gebruik van modulatie als filteren niet kan.<br />

Uitmiddelen<br />

Uitmiddelen van het meetsignaal kan gebruikt worden om ruis bij een repetitief signaal te<br />

onderdrukken. Figuur 1.32 geeft een voorbeeld.<br />

Willekeurige ruis<br />

Signaal<br />

Uitmiddelen<br />

Signaal<br />

+ ruis<br />

Figuur 1.32: Signaaluitmiddeling<br />

Signaal<br />

Verder bestaan er nog technieken op basis van autocorrelatie, lock-in-technieken, technieken<br />

welke aangepaste ingangssignalen gebruiken, enz. Dit enkel om aan te geven dat de<br />

bovenstaande lijst van mogelijke manieren om ruis en storingen te onderdrukken zeker niet<br />

volledig is.<br />

__________ - I.23 -<br />

Johan Baeten


Deel II<br />

Meetprincipes bij sensoren<br />

5 Inleiding sensoren<br />

Er bestaan talloze sensoren voor vrijwel alle fysische grootheden en parameters, in diverse<br />

uitvoeringsvormen, en werkend volgens uiteenlopende principes. Om een goed overzicht te<br />

krijgen worden sensoren ingedeeld in categorieën. Hierbij bedient men zich van verschillende<br />

criteria, waarvan de voornaamste zijn:<br />

informatiestructuur<br />

fysisch principe<br />

meetgrootheid<br />

Initiële energie: actief/passief<br />

Wat de informatiestructuur betreft, kan de indeling verder gebeuren volgens drie groepen:<br />

binaire sensoren, voor het vaststellen van binaire informatie: het al dan niet overschrijden<br />

van een grenswaarde;<br />

meetsensoren, voor waarnemen van een getalwaarde voor een analoge fysische grootheid;<br />

beeldsensoren, voor het bepalen van structurele informatie, bijvoorbeeld vormherkennen<br />

of identificatie.<br />

Binaire sensoren zijn ook afleidbaar uit meetsensoren door elektronische schakelingen toe te<br />

voegen. Beeldsensoren zijn op te bouwen uit een rij (Eng: array) of matrix van individuele<br />

meetsensoren.<br />

Een veel voorkomende beeldsensor is natuurlijk de camera of de visiesensor, maar ook tactiele<br />

beeldsensoren worden vaak gebruikt.<br />

Sensoren kunnen ook ingedeeld worden op grond van het fysisch meetprincipe van de<br />

signaalomzetting (transductie). Vrijwel alle relevante sensoren vallen binnen een van de<br />

volgende categorieën:<br />

resistief<br />

capacitief - piëzo-elektrisch<br />

inductief - elektromagnetisch<br />

optisch - laser<br />

akoestisch<br />

thermisch<br />

__________ - II.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inleiding sensoren<br />

De lijst dient aangevuld te worden met de chemische sensoren, die in deze cursus echter niet aan<br />

bod komen.<br />

Verder is een opdeling mogelijk naar de fysische meetgrootheden zoals:<br />

geometrische grootheden of plaatsgrootheden: afstand, positie, hoek, afmeting en afgeleide<br />

grootheden zoals snelheid en versnelling;<br />

dynamometrische grootheden of krachtgrootheden: kracht, druk, moment, massa;<br />

stromingsgrootheden: stofstromen (massadebiet, volumetrisch debiet), warmtestromen.<br />

Door het uitgangssignaal van een plaatsopnemer te differentiëren ontstaat een snelheidssignaal;<br />

nogmaals differentiëren geeft een versnellingssignaal. Deze methode heeft het nadeel dat de<br />

signaal-ruisverhouding verslechtert, vooral bij hogere frequenties. Ook kunnen snelle signalen<br />

(blokvormen of pulsvormen) aanleiding geven tot oversturing van de differentiatoren.<br />

Soms wordt gebruik gemaakt van een combinatie (aaneenschakeling) van transductiestappen. Zo<br />

is elke krachtsensor, in combinatie met een impedantie-omzetter (van verplaatsing naar kracht<br />

volgens de wet van Hooke), een verplaatsingssensor. De eigenschappen van deze typen sensoren<br />

worden bepaald door die van de krachtsensor en (vooral) de impedantie-omzetter (veer).<br />

De volgende hoofdstukken behandelen de verschillende typen van sensoren. De opdeling gebeurt<br />

hier hoofdzakelijk naar het meetprincipe. Niettemin beginnen we met binaire sensoren, welke<br />

een opdeling is naar informatiestructuur. Ten gepaste tijden komen ook beeldsensoren aan bod.<br />

In een volgend deel ligt de nadruk dan op de fysische grootheid, om zo de lijst van sensoren die<br />

nog niet aan bod zijn gekomen te vervolledigen en om eveneens een vergelijk te maken tussen<br />

verschillende sensoren bij eenzelfde fysische meetgrootheid.<br />

__________ - II.2 -<br />

Johan Baeten


Deel II<br />

Meetprincipes bij sensoren<br />

5 Inleiding sensoren<br />

Er bestaan talloze sensoren voor vrijwel alle fysische grootheden en parameters, in diverse<br />

uitvoeringsvormen, en werkend volgens uiteenlopende principes. Om een goed overzicht te<br />

krijgen worden sensoren ingedeeld in categorieën. Hierbij bedient men zich van verschillende<br />

criteria, waarvan de voornaamste zijn:<br />

informatiestructuur<br />

fysisch principe<br />

meetgrootheid<br />

Initiële energie: actief/passief<br />

Wat de informatiestructuur betreft, kan de indeling verder gebeuren volgens drie groepen:<br />

binaire sensoren, voor het vaststellen van binaire informatie: het al dan niet overschrijden<br />

van een grenswaarde;<br />

meetsensoren, voor waarnemen van een getalwaarde voor een analoge fysische grootheid;<br />

beeldsensoren, voor het bepalen van structurele informatie, bijvoorbeeld vormherkennen<br />

of identificatie.<br />

Binaire sensoren zijn ook afleidbaar uit meetsensoren door elektronische schakelingen toe te<br />

voegen. Beeldsensoren zijn op te bouwen uit een rij (Eng: array) of matrix van individuele<br />

meetsensoren.<br />

Een veel voorkomende beeldsensor is natuurlijk de camera of de visiesensor, maar ook tactiele<br />

beeldsensoren worden vaak gebruikt.<br />

Sensoren kunnen ook ingedeeld worden op grond van het fysisch meetprincipe van de<br />

signaalomzetting (transductie). Vrijwel alle relevante sensoren vallen binnen een van de<br />

volgende categorieën:<br />

resistief<br />

capacitief - piëzo-elektrisch<br />

inductief - elektromagnetisch<br />

optisch - laser<br />

akoestisch<br />

thermisch<br />

__________ - II.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inleiding sensoren<br />

De lijst dient aangevuld te worden met de chemische sensoren, die in deze cursus echter niet aan<br />

bod komen.<br />

Verder is een opdeling mogelijk naar de fysische meetgrootheden zoals:<br />

geometrische grootheden of plaatsgrootheden: afstand, positie, hoek, afmeting en afgeleide<br />

grootheden zoals snelheid en versnelling;<br />

dynamometrische grootheden of krachtgrootheden: kracht, druk, moment, massa;<br />

stromingsgrootheden: stofstromen (massadebiet, volumetrisch debiet), warmtestromen.<br />

Door het uitgangssignaal van een plaatsopnemer te differentiëren ontstaat een snelheidssignaal;<br />

nogmaals differentiëren geeft een versnellingssignaal. Deze methode heeft het nadeel dat de<br />

signaal-ruisverhouding verslechtert, vooral bij hogere frequenties. Ook kunnen snelle signalen<br />

(blokvormen of pulsvormen) aanleiding geven tot oversturing van de differentiatoren.<br />

Soms wordt gebruik gemaakt van een combinatie (aaneenschakeling) van transductiestappen. Zo<br />

is elke krachtsensor, in combinatie met een impedantie-omzetter (van verplaatsing naar kracht<br />

volgens de wet van Hooke), een verplaatsingssensor. De eigenschappen van deze typen sensoren<br />

worden bepaald door die van de krachtsensor en (vooral) de impedantie-omzetter (veer).<br />

De volgende hoofdstukken behandelen de verschillende typen van sensoren. De opdeling gebeurt<br />

hier hoofdzakelijk naar het meetprincipe. Niettemin beginnen we met binaire sensoren, welke<br />

een opdeling is naar informatiestructuur. Ten gepaste tijden komen ook beeldsensoren aan bod.<br />

In een volgend deel ligt de nadruk dan op de fysische grootheid, om zo de lijst van sensoren die<br />

nog niet aan bod zijn gekomen te vervolledigen en om eveneens een vergelijk te maken tussen<br />

verschillende sensoren bij eenzelfde fysische meetgrootheid.<br />

__________ - II.2 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Binaire sensoren<br />

6 Binaire sensoren<br />

Binaire sensoren geven een hoeveelheid informatie af van 1 bit. Zij detecteren de passage van<br />

een ingestelde waarde van een bepaalde grootheid (maximaal toegestane kracht, uiterste positie,<br />

nadering tot op een zekere afstand en dergelijke).<br />

Binaire sensoren zijn in het algemeen eenvoudig van constructie en goedkoop. Ondanks de<br />

geringe hoeveelheid informatie vervullen zij een belangrijke rol. Op grond van hun<br />

uitgangssignaal kan een proces worden ingezet, beëindigd of gewijzigd. Zij zijn ook van belang<br />

voor het signaleren van ongewenste of gevaarlijke situaties. Voorts vinden zij toepassing voor<br />

het vaststellen en tellen van gebeurtenissen (zoals het passeren van een voorwerp, het aantal<br />

toeren enz.).<br />

y<br />

y<br />

Aktieve gebied<br />

y<br />

Hysterese<br />

1<br />

1<br />

1<br />

0<br />

0<br />

Tolerantiemarge<br />

Onzekerheidsmarge<br />

0<br />

x_min x d x_max x_min x d x_max x_min x d x x_max<br />

1 d 2<br />

Figuur 2.1: Overdrachtskarakteristieken van drempelsensoren.<br />

a) Ideale karakteristiek, b) praktische karakteristiek zonder hysterese, c) idem met hysterese.<br />

De belangrijkste eigenschappen van een binaire sensor zijn de gevoeligheid, de drempelwaarde,<br />

de stabiliteit van de drempelwaarde en de hysterese. De gevoeligheid van de sensor moet groot<br />

zijn rond de drempelwaarde en mag nul zijn daarbuiten. De in de praktijk toegepaste<br />

drempelsensoren bezitten een eindige gevoeligheid, waardoor er een onzekerheidsmarge bestaat<br />

rond de drempelwaarde x d<br />

. Zie figuur 2.1.<br />

x<br />

x<br />

x d<br />

x<br />

d2<br />

x d1<br />

y<br />

1<br />

t<br />

y<br />

1<br />

t<br />

0<br />

0<br />

a) t b)<br />

t<br />

Figuur 2.2: a) Klapperen van het uitgangssignaal t.g.v. ruis, b) geen klapperen omwille van hysterese.<br />

__________ - II.3 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Binaire sensoren<br />

Alhoewel hysterese de onnauwkeurigheid in het omslagpunt vergroot, vervult zij een belangrijke<br />

rol bij signalen die van ruis te lijden hebben. Hysterese kan immers het 'klapperen' van het<br />

sensorsignaal voorkomen, zoals aangegeven in figuur 2.2. In de praktijk moet een compromis<br />

worden gezocht tussen de grootte van het hysterese-interval en de toegelaten ruis.<br />

Een andere parameter van de binaire sensor is de aanspreekenergie (resp. -kracht, -spanning,<br />

-stroom enz.). Dit is de energie die het meetobject moet leveren om de detector te doen reageren.<br />

Een mechanische eindstopschakelaar heeft bijvoorbeeld een grotere aanspreekenergie nodig dan<br />

een optische detector of een rietschakelaar. Het nadeel van een zeer geringe aanspreekenergie is<br />

de grotere kans op het spontaan reageren van de sensor, bijvoorbeeld ten gevolge van<br />

mechanische en akoestische trillingen of strooivelden, enz.<br />

Tenslotte is ook de levensduur van de sensor van belang. Deze wordt opgegeven in termen van<br />

het minimum aantal omschakelingen onder bepaalde omgevingsvoorwaarden.<br />

De volgende paragrafen behandelen een aantal binaire sensoren, die allen worden gebruikt voor<br />

de detectie van een afstand. Dit type sensor valt onder de term naderingssensor, een term die<br />

overigens ook gebruikt wordt voor verplaatsingssensoren met een zeer klein afstandsbereik.<br />

6.1 Mechanische naderingsschakelaar<br />

De mechanische naderingsschakelaar wordt toegepast voor het detecteren van een uiterste stand<br />

of positie. De drempelwaarde wordt bepaald of ingesteld door een positie van de bewegende<br />

aanslag van de sensor. Zie figuur 2.3<br />

Figuur 2.3: Mechanische naderingsschakelaar.<br />

Deze aanslag bedient een elektrisch contact waarmee een elektrische keten (meestal met relais)<br />

wordt gesloten of verbroken. Er bestaan uiteenlopende uitvoeringsvormen, met verschillende<br />

montagemogelijkheden, watervaste of explosieveilige uitvoeringen en dergelijke. Voor<br />

precisiemetingen zijn schakelaars ontwikkeld met in het schakelpunt een onnauwkeurigheid van<br />

minder dan 1µm en een vaste hysterese van dezelfde orde van grootte, gegarandeerd over een<br />

temperatuurgebied van -20 °C tot 75 °C. De montage dient zodanig te gebeuren dat de<br />

schakelaar gevrijwaard blijft van mechanische overbelasting.<br />

__________ - II.4 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Binaire sensoren<br />

6.2 Inductieve naderingsschakelaars<br />

Een veel toegepaste sensor in deze categorie is de rietschakelaar (Eng: Reed switch), een<br />

magnetisch bediende schakelaar bestaande uit twee magnetiseerbare tongen in een hermetisch<br />

gesloten omhulling die met een inert gas gevuld is. Figuur 2.4 geeft een principe schets. Onder<br />

invloed van een magnetisch veld raken de tongen gemagnetiseerd en trekken elkaar aan,<br />

waarmee een elektrische verbinding tot stand komt. Verdwijnt het veld dan veert het contact<br />

open. Een naderingsschakelaar ontstaat door combinatie van de rietschakelaar met een<br />

permanente magneet of stroomvoerende spoel, op variabele afstand van elkaar opgesteld.<br />

N<br />

Z<br />

N Z<br />

a)<br />

∆ x<br />

b) c)<br />

Figuur 2.4: Rietschakelaar: a) Opbouw, b) toepassing als naderingsschakelaar, c) toepassing als<br />

toerenteller (met 2 omschakelingen per omwenteling).<br />

Ook bij de rietschakelaar is sprake van een mechanische beweging waardoor de schakeltijd groot<br />

is ten opzichte van elektronische schakelaars en waardoor de sensor onderhevig is aan slijtage.<br />

De levensduur ligt in de ordegrootte van 10 7 omschakelingen bij een schakelfrequentie van<br />

50 Hz. Een bijkomend nadeel van de rietschakelaar is het zogenaamde denderen, weergegeven in<br />

figuur 2.5.<br />

1<br />

y<br />

0<br />

t aan t uit<br />

x<br />

Aan commando<br />

Uit commando<br />

Figuur 2.5: Schakelgedrag van een rietschakelaar: t aan<br />

bedraagt ± 0,2 ms, t uit<br />

± 0,03 ms.<br />

__________ - II.5 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Binaire sensoren<br />

6.3 Overige naderingsschakelaars<br />

Alle mechanische schakelaars zijn onderhevig aan slijtage. Daarom krijgen zuiver elektronische<br />

schakelaars steeds meer belangstelling. Voorbeelden van elektronische schakelaars zijn o.a.<br />

optisch bediende halfgeleidercomponenten (fotodiode, fototransistor), het Hall-plaatje, een<br />

magnetisch bediende halfgeleiderschakelaar en ultrasoon schakelaars. Deze typen van<br />

schakelaars zijn afgeleid uit (analoge) meetsensoren (welke later aan bod zullen komen). De<br />

meetsensor wordt dan toegepast als binaire sensor, door vergelijking van het uitgangssignaal met<br />

een drempelwaarde. Deze vergelijking gebeurt met een comparator, of om instabiliteit bij het<br />

omslagpunt te vermijden, met een Schmitt-trigger (dit is een comparator met instelbare<br />

hysterese).<br />

De uiteindelijke toepassing bepaalt welke sensor het meest geschikt is. Zo zal men inductieve<br />

naderingsschakelaars gebruiken bij voorwerpen van ferro-elektrische of magnetische aard, en<br />

capacitieve sensoren bij geleidende of diëlektrische materialen. Een laatste belangrijke parameter<br />

is het schakelbereik waarover de sensor werkt (of instelbaar is). Tabel 2.1 geeft een aantal<br />

voorbeelden.<br />

Type Schakelbereik Frequentie/snelheid Temperatuur<br />

Mechanisch 0 (contact) -20 ... 75 °C<br />

Optisch 0 - 35 m 500 Hz / 1 ms -20 ... 55 °C<br />

Inductief<br />

-spoel 0 - 5 cm typisch 1 ms -55 ... 150 °C<br />

-riet 0 - 2 cm 0,1 ms aan<br />

Capacitief 0 - 4 cm typisch 1 ms -25 ... 70 °C<br />

Ultrasoon ± 20 cm - ± 20 m -20 ... 55 °C<br />

Tabel 2.1: Overzicht van een aantal schakelsensoren.<br />

__________ - II.6 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

7 Resistieve sensoren<br />

7.1 Inleiding<br />

Resistieve opnemers maken gebruik van veranderingen in elektrische weerstand ten gevolge van<br />

mechano-resistieve effecten of piëzo-resistieve effecten. De bekendste uitvoeringsvormen zijn<br />

rekstrookjes en potentiometrische opnemers.<br />

Voor een elektrisch geleidend stuk materiaal geldt:<br />

R = ρl<br />

A<br />

met<br />

R de elektrische weerstand<br />

ρ de specifieke weerstand (resistiviteit of de inverse van de geleidbaarheid)<br />

l de lengte en<br />

A het oppervlak van de loodrechte doorsnede.<br />

Variaties in ρ en in l/A vinden toepassing bij rekstrookjes (hoofdzakelijk gebruikt bij krachtsensoren).<br />

Veranderingen in de parameter l vinden doorgaans potentiometrisch plaats, dat wil<br />

zeggen met een glijdende aftakking.<br />

De volgende paragrafen behandelen eerst de potentiometer, als lineaire, rotationele of<br />

sinus-cosinus potentiometer, vervolgens een contactloze magnetische potentiometer om te<br />

eindigen met rekstrookjes.<br />

7.2 Potentiometrische sensoren<br />

Potentiometrische opnemers zijn verkrijgbaar als lineaire of als hoekverplaatsingsopnemer. Ze<br />

worden uitgevoerd met draadwindingen of met een weerstandsfilm. De eerstgenoemde bezitten<br />

als nadeel de eindige resolutie omdat van de ene op de andere winding wordt overgesprongen.<br />

De typen met een film zijn continu en hebben in principe een oneindige resolutie.<br />

Ui<br />

Uo<br />

Ui<br />

Uo<br />

Ui<br />

Helix<br />

Uo<br />

Translatie<br />

Rotatie<br />

Isolerende lat<br />

Figuur 2.6: Voorbeelden van verschillende uitvoeringsvormen van potentiometers.<br />

__________ - II.7 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Van potentiometrische opnemers bestaat een breed scala uitvoeringsvormen, voor verplaatsingen<br />

van enige centimeters tot meer dan een meter, voor hoekverdraaiingen tot veelvouden van 2π<br />

(multiturn of meerslagen potentiometers), met uiteenlopende toleranties, afmetingen en prijzen.<br />

Een groot voordeel van de potentiometrische opnemer is de eenvoudige uitleeselektronica,<br />

alhoewel gelet moet worden op de invloed van bron- en belastingweerstand op de overdracht.<br />

Figuur 2.7 geeft een schematisch overzicht van de meetopstelling.<br />

R b<br />

U o<br />

U i<br />

R > 0 b<br />

U o<br />

U i<br />

R < oneindig<br />

L<br />

U i<br />

1−α<br />

α<br />

R<br />

R L<br />

U<br />

o<br />

N<br />

a)<br />

α<br />

b) 0 1 c) 0 2/3 1<br />

α<br />

Figuur 2.7: Invloed van bron en belastingsweerstand.<br />

De bronweerstand R b<br />

geeft aanleiding tot een schaalfout (Eng: Modifying error):<br />

U o<br />

U i<br />

=<br />

αR<br />

(R + R b ) ≈α⎛ ⎝ 1 − R b ⎞<br />

R ⎠<br />

De belastingweerstand R L<br />

geeft aanleiding tot niet-lineariteit:<br />

U o αR<br />

=<br />

L<br />

U i (R L +αR −α 2 R) = α<br />

⎛<br />

⎝<br />

1 +α R R L<br />

−α 2 R ⎞<br />

R L ⎠<br />

De niet-lineariteit is maximaal bij α ≅ 2/3 (de gelijkheid geldt voor oneindig grote waarden van<br />

R L<br />

). Zij bedraagt ongeveer − 4R . (Verifieer de gegeven verbanden).<br />

27R L<br />

Lineair Rotationeel<br />

Bereik 2 mm ... 8 m 10° ... 60 omw<br />

Weerstand 1 kΩ ... 1MΩ ± 5%<br />

Resolutie<br />

- normaal ± 0,1 % FSD 0,2°... 2°<br />

- ondergrens draad 10 µm<br />

- ondergrens film 0,1 µm<br />

Niet-Lineariteit<br />

0,01 ... 1% FSD<br />

Temp. coëfficiënt 10 -3 K -1<br />

Temp. bereik -20 °C ... 125 °C<br />

v(max) loper 1 m/s 10 omw/s<br />

Levensduur draad<br />

10 6 bewegingen<br />

Levensduur film<br />

10 7 ... 10 8 bewegingen<br />

P(max)<br />

0,1 W ... 50 W<br />

Tabel 2.2: Eigenschappen van potentiometrische sensoren.<br />

__________ - II.8 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Zwakke punten van een potentiometrische opnemer zijn slijtage van het sleepcontact en een<br />

mogelijke onderbreking van het sleepcontact door corrosie of vervuiling. Tabel 2.2 vat nog<br />

enkele eigenschappen samen.<br />

7.3 Sinus-cosinus potentiometer<br />

Deze paragraaf behandelt een analoog meetsysteem gebaseerd op een sinus-cosinus<br />

potentiometer.<br />

De sinus-cosinus potentiometer biedt de eenvoudigste manier om XY-coördinaten van een punt<br />

in elektrische signalen om te zetten, waarbij naast grote precisie ook een lange levensduur van de<br />

omzetters verlangd wordt.<br />

Bij deze opnemer wordt de gemeten grootheid verkregen in de verhouding van twee sinusvormige<br />

spanningen waarvan de ene proportioneel is met de sinus en de andere evenredig is met<br />

de cosinus van de meetgrootheid x.<br />

Opbouw<br />

De sinus-cosinus potentiometer bezit twee, 90° t.o.v. elkaar verschoven, lopers, die over een<br />

sinusvormige veranderlijke weerstand glijden. Zie figuur 2.8.<br />

[V]<br />

y<br />

1 2<br />

0<br />

x 1<br />

x 2<br />

x 3<br />

x 4<br />

2π<br />

x<br />

-y<br />

3 4<br />

a)<br />

1 4 3 5 2<br />

- sin x 0 cos x +<br />

b)<br />

Figuur 2.8: a) Principeschema van een sinus-cosinus potentiometer, b) spanningsverloop op pen 4 bij een<br />

hoekverdraaiing over 360°.<br />

Werking<br />

Om de werking het gemakkelijkst te verklaren gaan we van het volgende uit: wanneer de<br />

hoekaanduiding op nul staat, is de waarde van de spanning op pen 4 uit figuur 2.8 a) gelijk aan<br />

nul volt. Bewegen we de as van de potentiometer in uurwijzerzin, dan zal de spanning op pen 4<br />

sinusvormig veranderen. Als elke hoekverdraaiing overeenstemt met een bepaalde waarde van de<br />

sinusvormige spanning, waarom is er dan nog een cosinusvormige spanning nodig?<br />

Stel er wordt een bepaalde spanning gemeten op pen 4, met welke hoek komt dit overeen?<br />

Volgens figuur 2.8 b) kunnen er zich vier mogelijkheden voordoen. Houden we rekening met het<br />

teken dan worden deze gereduceerd tot 2. Als nu nog rekening gehouden wordt met de richting<br />

van de raaklijn in deze spanningspunten, dan is de hoek correct te bepalen. Vermits de richting<br />

van de raaklijn in een punt gegeven wordt door de afgeleide van de functie in dat punt en vermits<br />

de cosinusfunctie de afgeleide is van de sinusfunctie, is de hoekverdraaiing in ieder<br />

spanningspunt van de sinus te bepalen indien ook de cosinus gegeven is.<br />

__________ - II.9 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Coördinatentransformatie<br />

Zoals blijkt uit figuur 2.9, kan elk punt in een rechthoekig vlak voorgesteld worden door<br />

cartesische XY-coördinaten of door poolcoördinaten (hoek en modulus).<br />

Daar de Y-coördinaat gelijk is aan de modulus r maal de sinus van de hoek α en de X-coördinaat<br />

gelijk is aan r.cosα , is het perfect mogelijk om met een sinus-cosinus potentiometer aan<br />

coördinatentransformatie te doen.<br />

Y<br />

r<br />

α<br />

P<br />

X<br />

Figuur 2.9:Verband tussen cartesische en poolcoördinaten.<br />

Omzetting van een hoekverdraaiing in een lineaire uitgangsgrootheid<br />

Om een duidelijkere aanduiding van de hoekverdraaiing en een betere analoog-digitaal<br />

omzetting te bekomen, is het van belang dat de uitgangsspanning lineair verandert in functie van<br />

de gemeten grootheid .<br />

Y = r.sin α *<br />

X = r.cos α *<br />

X ; Y<br />

(1)<br />

r ; sin α *<br />

sin α<br />

cos α<br />

(2)<br />

X<br />

X<br />

C1<br />

C2<br />

+<br />

-<br />

(3)<br />

α *<br />

Figuur 2.10: Omzetting van een sinusvormig variërende grootheid in een lineaire grootheid.<br />

De coördinatentransformator (1) uit figuur 2.10, geeft een willekeurige hoek α * aan. De waarden<br />

X en Y worden aan de vermenigvuldigers (2) aangeboden, samen met de signalen afkomstig van<br />

de sinus-cosinus potentiometer. De producten dienen als ingangssignalen voor een integrator (3):<br />

α ∗ =α 0 + ∫ (c 1 − c 2 )dt<br />

waarbij α 0<br />

de laatst gemeten hoek voorstelt. Zolang de uitgangshoek α * verschilt van de<br />

ingangshoek α, zal de uitgang van de integrator wijzigen. Wanneer α * = α, is C 1<br />

= C 2<br />

en blijft de<br />

uitgang constant, zolang de as van de potentiometer niet opnieuw bewogen wordt. Als C 1<br />

= C 2<br />

dan geldt:<br />

sin α.X = cos α.Y<br />

sin α.r.cosα ∗ = cos α.r.sinα ∗<br />

α=α ∗<br />

__________ - II.10 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

7.4 Magnetische potentiometer<br />

Inductieve of magnetische opnemers kunnen in velerlei omstandigheden ingezet worden. Ze zijn<br />

vrij goed bestand tegen stof en vuil in tegenstelling tot de optische systemen. De magnetische<br />

potentiometrische opnemer (ook wel veldplaatpotentiometer) is een passief meetelement. Het<br />

grote voordeel van de magnetische potentiometer t.o.v. de klassieke potentiometer is de<br />

afwezigheid van sleepcontacten, waardoor de sensor beter bestand is tegen slijtage (vuil) en<br />

veroudering. (Vandaar ook de naam contactloze potentiometer).<br />

Bij de magnetische potentiometer zijn twee veldplaten (Gauss-elementen) onder elkaar<br />

aangebracht in een permanent magnetisch veld , zoals weergegeven in figuur 2.11.<br />

α<br />

B<br />

N<br />

Z<br />

B<br />

Figuur 2.11: Opbouw van een veldplaatpotentiometer.<br />

De stuurspiraal uit ferro-magnetisch materiaal heeft dezelfde werking als de loper van een<br />

potentiometer. Door verdraaiing van deze spiraal verschuift het magnetisch veld van de ene naar<br />

de andere plaat. De deelweerstanden veranderen daardoor in tegengestelde zin. De totale<br />

weerstand blijft constant. Door een aangepaste keuze van de Gauss-elementen, van de hoek van<br />

de veldlijnen t.o.v. de veldplaten (zie verder) en van de vorm van de stuurspiraal, bekomt men<br />

(bijvoorbeeld) een sinusvormig verloop in de weerstandsverandering.<br />

De veldplaten of Gauss-elementen zijn magnetisch stuurbare weerstanden (legering van<br />

InSb-NiSb). De ladingdragers in het halfgeleider materiaal worden onder inwerking van een<br />

magneetveld, op grond van de Lorentz-kracht, zijdelings afgebogen. Neem de hoek waaronder de<br />

stroomzin na het aanleggen van een magnetisch veld verandert, gelijk aan δ, zoals figuur 2.12<br />

aangeeft, dan geldt:<br />

tgδ=µB<br />

met<br />

B de inductie en<br />

µ elektronenbeweeglijkheid.<br />

Voor InSb met een uitzonderlijk hoge elektronenbeweeglijkheid µ = 7 m²/Vs bedraagt de<br />

hellingshoek ongeveer 80° bij een inductie B = 1 T. Dwars op de stroomrichting bevinden zich in<br />

de InSb kristallegering laag-ohmige kortsluitnaden die een verdeling van de stroombanen<br />

bewerkstelligen. De verlenging van de stroompaden zal als een weerstandstoename<br />

waargenomen worden.<br />

__________ - II.11 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

a)<br />

I<br />

Stroompad<br />

b) 90°−δ<br />

Verlengd stroompad<br />

I<br />

Kortsluitnaad<br />

Kortsluitnaad<br />

Figuur 2.12: De veldplaten a) zonder en b) met magnetisch veld.<br />

De weerstand R B<br />

van de veldplaat wordt bepaald door:<br />

de grondweerstand R B0<br />

, afhankelijk van de doperingsgraad van het veldplaatmateriaal en<br />

de magnetische inductie B.<br />

Figuur 2.13 geeft het verloop van de weerstand bij toenemende inductie B.<br />

R B<br />

R Bo<br />

B<br />

Figuur 2.13: Weerstand R B<br />

in functie van het magnetisch veld.<br />

De weerstandsverandering R 1<br />

is voor een lage inductie B, vanwege het kwadratisch verband zeer<br />

gering. Tevens is de zin (polariteit) van het veld niet te bepalen. Omkeren van de zin van de<br />

veldlijnen heeft bij een zelfde inductie dezelfde weerstandsverandering tot gevolg. Zie figuur<br />

2.14.<br />

B st<br />

= stuurinductie<br />

R1<br />

R Bo<br />

= weerstand bij B=0T<br />

-B<br />

R B<br />

+B<br />

R Bo<br />

R1<br />

= weerstandsverandering t.g.v. een<br />

stuurinductie zonder voormagnetisering<br />

B st<br />

Figuur 2.14: Weerstandsverandering met werkpunt rond R B0<br />

(zonder voormagnetisering).<br />

__________ - II.12 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Om een grotere weerstandsverandering te bekomen en dus een sterker uitgangssignaal te<br />

verwezenlijken, legt men het werkpunt niet op R B0<br />

, maar in een bereik met grotere steilheid. Dit<br />

wordt bekomen door voormagnetisering van de veldplaten. Figuur 2.15 geeft het resultaat weer.<br />

R B<br />

B v<br />

= voormagnetisering<br />

R2<br />

B st<br />

R Bo<br />

R2<br />

= stuurinductie<br />

= weerstand bij B=0T<br />

-B<br />

R Bo<br />

B v<br />

+B<br />

= weerstandsverandering t.g.v. een<br />

stuurinductie met voormagnetisering<br />

B st<br />

Figuur 2.15: Weerstandsverandering bij een werkpunt met grotere steilheid dan bij R B0<br />

(met behulp van een<br />

voormagnetisering).<br />

7.5 Rekstrookjes<br />

Rekstrookjes zijn draad- of filmweerstanden op een dunne, flexibele drager, die op een<br />

willekeurig constructiedeel kunnen worden gelijmd. Het rekstrookje ondergaat dezelfde rek of<br />

stuik als het materiaal waarop het is bevestigd. De weerstandsverandering laat zich eenvoudig<br />

berekenen uit:<br />

R = ρl<br />

A<br />

, waaruit volgt:<br />

dR<br />

R = dρ ρ + dl<br />

l − dA A<br />

Daar het volume V van het materiaal (meestal een metaal of een halfgeleider) bij rek slechts<br />

weinig verandert, is dV/V ≅ 0, dus dl/l ≅ -dA/A, waarmee de relatieve weerstandsverandering<br />

gelijk is aan:<br />

dR<br />

R ≅ dρ ρ + 2dl l<br />

Bij metalen is de specifieke weerstand ρ onafhankelijk van de rek, zodat:<br />

dR<br />

.<br />

R ≅ 2dl = 2ε<br />

l<br />

Dit wil zeggen dat de rekfactor K (Eng: gauge factor) ongeveer gelijk is aan twee. Bijvoorbeeld:<br />

De weerstandsverandering dR t.g.v. een rek ε = 1000 µm/m, met R = 120 Ω en K = 2, is 0,24Ω.<br />

(Verifieer!) Bij halfgeleider rekstrookjes verandert ρ wel onder invloed van de rek. Deze typen<br />

hebben een veel grotere rekfactor (bijvoorbeeld K = 120), maar zijn in het algemeen sterk<br />

temperatuurgevoelig.<br />

__________ - II.13 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

a)<br />

A<br />

l<br />

ε T<br />

ε L<br />

t<br />

ρ<br />

w<br />

Passieve<br />

as<br />

b)<br />

Actieve as<br />

Figuur 2.16: Rekstrookjes: a) definitie afstanden, b) voorbeelden uitvoeringsvormen.<br />

Om het stroomverbruik bij het meten van de weerstandswaarde binnen de perken te houden<br />

wordt naar een hoge waarde van R gestreefd, ondanks de geringe waarde van ρ. Daarom bezitten<br />

rekstrookjes de vorm van een meanderachtige structuur, zoals figuur 2.16.b duidelijk laat zien.<br />

Het rekstrookje is als het ware een lange draad die door opvouwen toch een beperkte totale<br />

afmeting omvat. Ze zijn daarmee gevoelig in vooral één richting.<br />

Laten we het verband tussen rek en weerstandsverandering iets nauwkeuriger bekijken. De<br />

veronderstelling van een constant volume V, in de eerder vermelde formules, is niet helemaal<br />

juist. Om wel de juiste relatieve oppervlakte verandering dA/A te berekenen, dienen we een<br />

onderscheid te maken tussen de longitudinale en de transversale rek (resp. ε L<br />

en ε T<br />

). Volgens de<br />

wet van Poisson is bij een gegeven longitudinale rek ε L<br />

, de transversale rek (of beter stuik):<br />

ε T =−ν.ε L<br />

met ν de coëfficiënt van Poisson (= 0,25 ... 0,4).<br />

Samen met<br />

dA<br />

A = dw w + dt = 2ε<br />

t T<br />

volgt hieruit<br />

dR<br />

R = dρ ρ +(1 + 2ν)ε L<br />

.<br />

De eerder gedefinieerde rekstrookjesfactor K wordt dan:<br />

K = 1 + 2ν+ 1 ε L<br />

dρ<br />

ρ<br />

__________ - II.14 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Voor de meeste metalen is ν ≈ 0,3 en is de term (1/ε L<br />

)(dρ/ρ), die de door de rek veroorzaakte<br />

verandering in de soortelijke weerstand weergeeft (piëzo-resistief effect), van de orde grootte 0,4<br />

zodat de waarde van de totale rekstrookjesfactor K toch rond twee ligt.<br />

Opmerkingen:<br />

Bij het aanbrengen van rekstrookjes dient men uiterst nauwgezet te werk te gaan. Vooreerst<br />

moet het oppervlak, waarop het rekstrookje zal komen, mechanisch en chemisch gezuiverd<br />

worden, door het te schuren en te ontvetten. De juiste lijm voor het betreffende temperatuurgebied<br />

moet aangebracht worden, om vervolgens het rekstrookje te bevestigen door<br />

gelijkmatig te drukken. Let er op dat ook de bekabeling zorgvuldig gebeurt zodat er geen<br />

ongewenste contactweerstanden optreden. Het rekstrookje wordt tenslotte tegen vocht<br />

afgedicht met behulp van siliconenwas of kunstharsen.<br />

Rekstrookjes zijn zeer temperatuurgevoelig. Zo zal de weerstandswaarde van het rekstrookje<br />

temperatuurveranderlijk zijn en zal de temperatuurafhankelijke uitzetting van het materiaal<br />

waarop het rekstrookje bevestigd is, niet noodzakelijk gelijk zijn aan deze van het<br />

rekstrookje, waardoor extra spanningen ontstaan. Verder is er de temperatuurafhankelijke<br />

weerstands- verandering van de verbindingskabels tussen rekstrookje en meetbrug en tenslotte<br />

ontstaan er (temperatuurafhankelijke) thermokoppelspanningen, die meetfouten introduceren<br />

bij het gebruik van een gelijkspanningvoeding in de meetbrug.<br />

7.6 Weerstandsverandering - meetbruggen<br />

Bij rekstrookjes is de weerstandsverandering t.g.v. de rek zeer klein. Het meten van de<br />

weerstandswaarde gebeurt dan ook bij voorkeur met een meetbrug. Het rekstrookje wordt hierbij<br />

in een van de takken van de brug geschakeld. Opdat de stroom doorheen het rekstrookje de<br />

temperatuur van het rekstrookje niet zou beïnvloeden mag de stroom niet te groot zijn (typisch<br />

10 mA).<br />

Er bestaan verschillende meetbruggen. Achtereenvolgens komen de gebalanceerde, de ongebalanceerde<br />

en de actieve brug aan bod.<br />

( R+dR) (1+ α)<br />

E<br />

R1<br />

R+ αR<br />

R<br />

Figuur 2.17: Gebalanceerde meetbrug.<br />

De gebalanceerde brug bestaat uit één actief rekstrookje en uit drie vaste weerstanden R.<br />

Wanneer het actief rekstrookje wordt uitgerokken, kan door regeling van de weerstand R 1<br />

in de<br />

andere tak de brug terug in evenwicht komen. Hieruit volgt de weerstandsverandering dR en ook<br />

de rek ε = dR/(R.K). Dit is de nulmethode, de brug wordt steeds in evenwicht gebracht. De<br />

nauwkeurigheid van deze methode is des te groter naarmate de detector gevoeliger is, de<br />

__________ - II.15 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

voedingsspanning van de brug groter is en de waarden van de weerstanden niet te veel van elkaar<br />

verschillen. (Verifieer!)<br />

Het passief rekstrookje in de meetbrug dient ter compensatie van de temperatuurinvloed. In<br />

sommige gevallen (zie voorbeeld doorbuiging balk in volgende paragraaf) is er naast rek ook<br />

stuik of krimp. De gevoeligheid van de meetbrug kan dan vergroot door de tegenoverliggende<br />

weerstand te vervangen door een rekstrookje dat onderworpen is aan deze stuik.<br />

De ongebalanceerde meetbrug wordt enkel in evenwicht gebracht bij het begin van de meting en<br />

niet meer wanneer er rek optreedt. De meter is in dit geval een gevoelige voltmeter met een hoge<br />

ingangsweerstand.<br />

De uitgangswaarde van de millivoltmeter is (bij benadering) evenredig met de weerstandsverandering<br />

dR en bijgevolg ook met de rek ε. Maar de meting is ook afhankelijk van de<br />

voedingsspanning V s<br />

. Deze laatste moet dus zeer constant zijn, een vereiste die bij de<br />

gebalanceerde brug niet nodig was.<br />

Ook de actieve brug is een ongebalanceerde brug. Ze wordt echter gevormd door een<br />

verschilversterkerschakeling, waarbij het rekstrookje zich in de terugkoppelkring bevindt.<br />

De weerstandsverandering t.g.v. de rek heeft hier geen invloed op de stroom, wat bij de<br />

voorgaande brug wel het geval was.<br />

Vs<br />

R+dR<br />

E<br />

R<br />

Vs<br />

E =<br />

~<br />

4R<br />

dR<br />

+<br />

Vs<br />

-<br />

R<br />

R<br />

E = -<br />

R+dR<br />

Vs<br />

2R<br />

dR<br />

a)<br />

R<br />

R<br />

Detector met zeer<br />

grote inwendige weerstand<br />

b)<br />

R<br />

-<br />

+<br />

E<br />

Figuur 2.18: a) Ongebalanceerde meetbrug, b) actieve brug.<br />

Opmerkingen:<br />

Om temperatuurproblemen te vermijden kan men in voorgaande bruggen ofwel gebruik<br />

maken van een rekstrookje met autocompensatie, ofwel een tweede rekstrookje (dummy) dat<br />

zich op dezelfde temperatuur bevindt in een aangrenzende tak van de brug opnemen. Dit is<br />

dan een halve brug, deze methode is beter dan deze met autocompensatie.<br />

Het tweede rekstrookje kan ook actief worden gebruikt als het een tegengestelde<br />

weerstandsverandering ten gevolge van de belasting ondergaat. De uitgangsspanning is nu<br />

dubbel zo groot.<br />

Ook een volledige brug is mogelijk door vier rekstrookjes te gebruiken. Wanneer de<br />

rekstrookjes op de gepaste plaatsen worden aangebracht, zijn ze alle vier actief. De<br />

uitgangsspanning is nu viermaal zo groot als bij gebruik van één rekstrookje.<br />

De voedingsspanning van de brug kan een gelijkspanning of een wisselspanning zijn. In het<br />

geval van een wisselspanning wordt de meter vooraf gegaan door een fasegevoelige detector.<br />

__________ - II.16 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

7.7 Gebruik van rekstrookje als elastische krachtsensor<br />

Rekstrookjes zijn geschikt voor het meten van krachten, torsies, doorbuiging enz. Daar een<br />

rekstrookje primair reageert op verplaatsing, dient voor krachtgrootheden de elasticiteitsmodulus<br />

E van het betreffende materiaal gekend te zijn. (De rek is vaak zo klein dat deze wordt uitgedrukt<br />

in microrek (Eng: microstrain). Eén µrek komt overeen met een relatieve lengteverandering van<br />

10 -6 .<br />

Met rekstrookjes kan de kracht op vrijwel elke plaats in een mechanisch systeem worden<br />

gemeten. Interessant hierbij zijn de bijzondere constructies, voorzien van rekstrookjes, waarmee<br />

gelijktijdig de drie krachtcomponenten en de drie momentcomponenten worden gemeten. Zie<br />

figuur 2.19. Dit zijn de zogenaamde kracht (-moment) sensoren, die hun toepassing vinden in de<br />

robotica.<br />

Rekstrookjesbrug<br />

Rekstrookjesbrug<br />

y<br />

z<br />

x<br />

Rekstrookjesbrug<br />

'Maltees-kruis'<br />

Figuur 2.19: Mogelijke opbouw van een krachtsensor voor meting van drie krachten en drie momenten.<br />

Bij wijze van voorbeeld volgen drie mogelijke toepassingen: de ingeklemde balk, de pilaar en de<br />

cilindrische as.<br />

De ingeklemde balk (figuur 2.20 a)<br />

De aangelegde kracht F veroorzaakt een buiging van de balk. Het bovenoppervlak ondergaat een<br />

rek +ε, het benedenoppervlak een rek -ε. De grootte van de rek is:<br />

ε=<br />

6(l − x)<br />

wt 2 E F<br />

met E de modulus van Young, w de breedte, t de dikte en l de lengte van de balk<br />

Rekstrookjes 1 en 3 worden uitgetrokken (rek +ε). Hun weerstand stijgt met een waarde dR.<br />

Rekstrookjes 2 en 4 worden ingedrukt (stuik -ε). Hun weerstand daalt. dR wordt gegeven door:<br />

dR = KRε met K de rekstrookjesfactor en R de weerstand van de rekstrookjes in ontspannen toestand<br />

__________ - II.17 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

De weerstanden van de 4 rekstrookjes zijn dan:<br />

R 1<br />

= R 3<br />

= R + dR = R(1 + Kε)<br />

R 2<br />

= R 4<br />

= R - dR = R(1 - Kε)<br />

Plaatst men de vier rekstrookjes in een brug, dan is de uitgangsspanning E brug<br />

gelijk aan:<br />

E brug = V s<br />

⎛<br />

⎝<br />

R 1<br />

R 1 + R 4<br />

−<br />

E brug = V s Kε<br />

R 2 ⎞<br />

=<br />

R 2 + R 3 ⎠<br />

V<br />

⎛ R(1 + Kε)<br />

s<br />

⎝ R(1 + Kε) + R(1 − Kε) − R(1 − Kε) ⎞<br />

R(1 − Kε) + R(1 + Kε) ⎠<br />

Vermits ε evenredig is met de aangelegde kracht F, is ook de uitgangsspanning E brug<br />

evenredig<br />

met de kracht F.<br />

a) Ingeklemde balk b) Pilaar c) Cilindrische as, koppelmeting<br />

Figuur 2.20: Meten van krachten met rekstrookjes.<br />

De pilaar (figuur 2.20 b)<br />

De aangelegde kracht F veroorzaakt een druk gelijk aan -F/A met A de doorsnede van de pilaar.<br />

Dit veroorzaakt een (negatieve) rek (of stuik) in longitudinale richting (de richting van de<br />

kracht):<br />

ε L =− F<br />

AE<br />

en in de dwarse richting (de richting loodrecht op de kracht F):<br />

ε T =−ν.ε L = νF<br />

AE<br />

met ν de Poisson coëfficiënt ( = 0,24 à 0,4 voor de meeste materialen).<br />

De rekstrookjes 1, 2, 3, en 4 hebben de volgende weerstandswaarden:<br />

R 1<br />

= R 3<br />

= R + KRε T<br />

R 2<br />

= R 4<br />

= R + KRε L<br />

__________ - II.18 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Resistieve sensoren<br />

Indien we deze weerstanden weerom in een brug zetten, krijgen we als uitgangsspanning:<br />

⎛<br />

E brug = V s ⎜<br />

⎝<br />

1 + KνF<br />

AE<br />

1 + KνF + 1 − KF<br />

AE AE<br />

−<br />

1 − KF<br />

AE<br />

1 + KνF + 1 − KF<br />

AE AE<br />

veronderstellend dat KF/AE


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

8 Capacitieve opnemers<br />

8.1 Inleidende principes<br />

Capacitieve opnemers bieden als voordeel een mechanisch eenvoudige constructie en een hoge<br />

gevoeligheid. Ze vragen echter ook een complexere elektronica om het bekomen uitgangssignaal<br />

achteraf lineair te maken.<br />

Een eenvoudige condensator bestaat uit twee parallelle metalen platen gescheiden door een<br />

diëlektricum. Zie figuur 2.21. De capaciteit van de condensator wordt gegeven door:<br />

C = ε 0ε r A<br />

waarbij<br />

d<br />

ε 0<br />

de permittiviteit van vacuüm (8,85 pF/m),<br />

ε r<br />

de relatieve permittiviteit (ook diëlektrische constante),<br />

A de oppervlakte van de platen en<br />

d de afstand tussen de platen voorstelt.<br />

ε<br />

A<br />

Metalen plaat<br />

Figuur 2.21: Opbouw van een capaciteit.<br />

d<br />

Diëlektricum<br />

Een capacitieve verplaatsingssensor is zo opgebouwd, dat bij variatie in de onderlinge afstand<br />

tussen twee sensordelen een voorgeschreven verandering in de geometrische factor G optreedt.<br />

Voor de vlakke plaatcondensator uit figuur 2.21 is de factor G = A/d. (Deze formule is slechts<br />

benaderend geldig omdat het elektrisch veld aan de randen niet homogeen is en buiten de ruimte<br />

tussen de platen treedt (strooiveld). Er geldt C = εG.).<br />

Alhoewel in principe ook variatie van ε mogelijk is (bijvoorbeeld door een verplaatsbaar<br />

diëlektricum zoals figuur 2.22 aangeeft), wordt deze parameter doorgaans niet gebruikt voor<br />

verplaatsingsmetingen. De afhankelijkheid van ε wordt wel benut in sensoren voor het meten<br />

van de eigenschappen van korrelige stoffen, zoals de concentratie van een bepaalde stof in een<br />

korrelig mengsel of het vochtgehalte (in bijvoorbeeld suiker of tabak).<br />

Elektrische velden zijn gemakkelijker te manipuleren dan magnetische velden. Door meesturing<br />

van naastliggende geleiders (Eng: guarding) verkrijgt men homogene velden in nauwkeurig<br />

begrensde gebieden. Dit is een van de redenen waarom met capacitieve principes een hogere<br />

nauwkeurigheid behaald kan worden dan (bijvoorbeeld) met inductieve methoden.<br />

l<br />

x<br />

d<br />

x<br />

d<br />

x<br />

ε 1 ε 2<br />

a) Variabele afstand b) Variabele oppervlakte c) Variabel diëlektricum<br />

Figuur 2.22: Verandering van C door verandering a) van d, b) van A of c) van ε.<br />

__________ - II.20 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

8.2 Capacitieve verplaatsingssensoren<br />

Door de verplaatsing x (figuur 2.22.a) wordt de afstand tussen de platen vergroot. De nieuwe<br />

waarde van de capaciteit is:<br />

C = ε 0ε r A<br />

d + x<br />

Het verband tussen C en x is echter niet lineair. x is omgekeerd evenredig met C, hetgeen meestal<br />

niet wenselijk is.<br />

De oppervlakte wijziging ∆A = w.x (figuur 2.22.b) met w de breedte van de plaat geeft:<br />

C = ε 0ε r<br />

(A − wx)<br />

d<br />

Hier is de te meten grootheid x wel evenredig met de gemeten grootheid C.<br />

Volgens figuur 2.22.c kan men tenslotte ook de hoeveelheid diëlektrisch materiaal tussen de<br />

twee platen met een bepaalde relatieve permittiviteit, wijzigen door de verplaatsing x. Om het<br />

verband tussen C en x af te leiden beschouwen we 2 parallelle capaciteiten met oppervlakte A 1<br />

respectievelijk A 2<br />

en relatieve permittiviteit ε 1<br />

respectievelijk ε 2<br />

:<br />

C = ε 0ε 1<br />

d A 1 + ε 0ε 2<br />

d A 2<br />

Met A 1<br />

= wx en A 2<br />

= w(l-x), geeft dit voor de totale capaciteit:<br />

C = ε 0w<br />

d [ε 2l −(ε 2 −ε 1 )x]<br />

d<br />

w<br />

α<br />

x<br />

a) b)<br />

Figuur 2.23: Differentiële capacitieve verplaatsingsopnemers voor a) translatie en b) rotatie.<br />

Figuur 2.23 toont nog enkele basisconfiguraties voor capacitieve opnemers, zowel translationeel<br />

als rotationeel. Beide zijn van het differentiële type: bij een verplaatsing veranderen de twee<br />

capaciteiten gelijktijdig, maar wel tegengesteld:<br />

∆C 1 =−∆C 2 =ε.∆x. w d<br />

In de nulpositie (∆x = 0) heeft een verandering van d of w, bijvoorbeeld t.g.v. speling in de<br />

constructie of t.g.v. een temperatuurverandering, geen invloed op de verschilcapaciteit C 1<br />

- C 2<br />

.<br />

__________ - II.21 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

Een ander belangrijk voordeel van een dergelijke verschil-configuratie is het grotere dynamisch<br />

bereik. In de referentiestand (nulstand) is de verschilcapaciteit juist 0. Zeer kleine variaties<br />

kunnen (elektronisch) versterkt worden zonder gevaar van oversturing. Bij de enkelvoudige<br />

opnemer heeft de capaciteit in de nulpositie reeds een aanzienlijke waarde. Het daaruit<br />

voortkomend uitgangssignaal kan niet veel meer worden versterkt.<br />

Een nadeel van de (tot nog toe) genoemde constructies is de noodzakelijke elektrische<br />

verbinding met het bewegend onderdeel van de opnemer. Een configuratie die dit nadeel niet<br />

heeft is weergegeven in figuur 2.24.<br />

x<br />

x<br />

a) Ui I -Ui<br />

b)<br />

Ui I -Ui<br />

Figuur 2.24: Differentiaalcapaciteiten met stroomuitlezing.<br />

De beweegbare elektrode dient hier slechts als koppelelektrode tussen de (symmetrisch) vaste<br />

platen en de middenelektrode of uitlees-elektrode. Met de koppelelektrode in de middenpositie<br />

worden beide tegengestelde ingangssignalen gelijktijdig capacitief gekoppeld naar de<br />

uitlees-elektrode en is de spanning (of stroom) juist nul. Bij een verplaatsing van de beweegbare<br />

elektrode is die koppeling asymmetrisch. Er ontstaat een uitgangssignaal waarvan de grootte een<br />

maat is voor de verplaatsing en waarvan de polariteit de richting van de verplaatsing aangeeft.<br />

In plaats van een vlakke-plaat constructie kan men ook een cilindrische vorm kiezen, zoals<br />

aangegeven in figuur 2.24.b, met als voordeel een compactere bouwvorm en minder randvelden,<br />

dus een grotere lineariteit. Dit type opnemer staat bekend als de Lineair Variabele Differentiële<br />

Condensator (LVDC) en is kwalitatief de beste van de op de markt verkrijgbare lineaire<br />

capacitieve verplaatsingssensoren. Men kan de opnemer zodanig opbouwen dat een<br />

buitengewoon goede lineariteit wordt bereikt, over een groot meetbereik, met een zeer lage<br />

temperatuurcoëfficiënt. Er bestaat ook een rotationeel type, de RVDC. De hoekgevoeligheid<br />

wordt verkregen door de cilinders te voorzien van driehoekvormige elektroden.<br />

8.3 Cyclisch absolute fasegevoelige capacitieve verplaatsingsopnemer<br />

Een van de problemen bij het ontwerpen van sensoren is het verenigen van een groot meetbereik<br />

met een hoge resolutie en/of grote lineariteit. Het capacitieve principe maakt het mogelijk deze<br />

combinatie te realiseren.<br />

De methode komt erop neer dat een rij van (elementaire) sensoren wordt toegepast. Deze<br />

opbouw kan met capaciteiten op een vrij eenvoudige wijze worden gemaakt. Figuur 2.25 toont<br />

deze opzet voor een lineaire sensor.<br />

De opbouw vertoont gelijkenissen met deze van figuur 2.24. Het voornaamste verschil schuilt in<br />

het feit dat hier niet de amplitude, maar de fase van het signaal op de uitleeselektrode een maat is<br />

voor de verplaatsing. De verschillende vaste elektrodes worden aangestuurd met sinusvormige<br />

spanningen met een onderling faseverschil van π/2 radialen.<br />

__________ - II.22 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

ϕ = 0 π/2 π 3π/2<br />

x<br />

I<br />

Figuur 2.25: Samengestelde capacitieve sensor voor hoge resolutie over een groot meetbereik.<br />

Bevindt de verplaatsbare elektrode zich geheel boven een van de vaste elektrodes, dan heeft de<br />

spanning op die elektrode dezelfde fase. In een tussenpositie ligt de fase tussen beide waarden (in<br />

de figuur resp. 0 en π/2). De fase kan met een resolutie van beter dan 0,1 graad bepaald worden.<br />

Derhalve is ook de plaatsresolutie zeer groot.<br />

Door de structuur periodiek te herhalen is bovendien een groot bereik te realiseren. Zo krijgen<br />

we een cyclus absoluut meetsysteem. Een eenduidige maat voor de positie is te verkrijgen door<br />

met een incrementele teller het aantal gepasseerde secties of cycli bij te houden, waarbij één<br />

sectie bestaat uit vier elektroden.<br />

Met de geschetste methoden zijn verbluffende resoluties te behalen, gepaard gaande met een<br />

groot meetbereik. De methode wordt onder meer toegepast in elektronische schuifmaten met een<br />

bereik van (bijvoorbeeld) 20 cm en een resolutie van 0,01 mm.<br />

In deel III en IV komen deze samengestelde meetsystemen en de verwerking van de signalen die<br />

hier uit voortvloeien nog uitvoerig aanbod.<br />

8.4 Capacitieve versnellingsopnemer<br />

Het capacitieve detectie-principe leent zich ook uitstekend voor toepassingen in<br />

versnellingssensoren. Een dergelijke sensor bestaat uit een 'seismische' massa, die in beweging<br />

komt onder invloed van een versnelling. De verplaatsing van die massa kan met capacitieve<br />

methoden worden bepaald. Vaak worden deze sensoren opgenomen in een terugkoppeling. In<br />

plaats van de verplaatsing te nemen als maat voor de versnelling wordt het verplaatsingssignaal<br />

gebruikt om de seismische massa terug te dwingen naar de nulpositie, met een of andere<br />

actuator. Figuur 2.26 geeft het algemene principe weer.<br />

m<br />

∆Χ<br />

∆ C<br />

A<br />

U<br />

Figuur 2.26: Capacitieve versnellingssensor met terugkoppeling.<br />

__________ - II.23 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

De verplaatsing van de seismische massa geeft aanleiding tot een capaciteitsverandering ∆C .<br />

Deze wordt omgezet in een elektronisch signaal dat vergeleken wordt met een referentiewaarde<br />

(deze kan ook nul zijn) en het verschil wordt versterkt toegevoerd aan een actuator. Bij juiste<br />

dimensionering zal het systeem uiteindelijk een evenwichtstoestand bereiken waarbij de massa<br />

weer in de nulpositie staat, ondanks de uitgeoefende kracht of versnelling. De daarvoor<br />

benodigde stroom (voor de actuator) is nu een maat voor die versnelling.<br />

Omdat de massa steeds in de nulpositie wordt gehouden, worden geen bijzondere eisen gesteld<br />

aan de overdracht van capaciteit naar elektrisch signaal. Slechts een goede nulpuntsnauwkeurigheid<br />

is voldoende. Vanzelfsprekend moet het actuatorsignaal wel een goede maat<br />

zijn voor de uitgeoefende kracht.<br />

Overigens is dit principe van 'kracht terugkoppeling' niet voorbehouden aan capacitieve<br />

sensoren. Het detectiesysteem kan van een willekeurig ander principe uitgaan.<br />

8.5 Voorbeelden<br />

Als eerste voorbeeld geven we hier een capacitieve niveaumeting. Figuur 2.27.a toont twee<br />

metalen cilinders met daartussen een vloeistof tot op de hoogte h.<br />

b<br />

a<br />

r<br />

y<br />

P<br />

t<br />

d<br />

l<br />

b) a<br />

a)<br />

h<br />

Chroom Elektrode<br />

Tantalum Elektrode<br />

Figuur 2.27: a) Capacitieve niveaumeting, b) Capacitieve druksensor, c) Capacitieve vochtsensor.<br />

De totale capaciteit is de som van de capaciteiten gevormd door de lucht en door de vloeistof. De<br />

capaciteit per lengteëenheid van 2 cilinders is:<br />

c)<br />

Diëlektrisch polymeer<br />

Glasplaat<br />

2πε r ε 0<br />

ln b a<br />

met b en a de stralen van de cilinder (b>a).<br />

Bij een relatieve permittiviteit van lucht gelijk aan 1, is de totale capaciteit:<br />

C = 2πε rε 0<br />

ln b a<br />

h + 2πε 0<br />

ln b a<br />

(l − h)= 2πε 0<br />

(l +(ε<br />

ln b r − 1)h)<br />

a<br />

We zien dat de waarde van de capaciteit recht evenredig is met de hoogte h van het water!<br />

__________ - II.24 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

Een tweede voorbeeld is de capacitieve druksensor, waarvan figuur 2.27.b een principe schema<br />

geeft. De voordelen van capacitieve druksensoren zijn de grote gevoeligheid over een groot<br />

meetgebied, de vlakke frequentierespons en de grote bandbreedte. Ze zijn bovendien robuust en<br />

goedkoop. Het grote nadeel is de (reeds eerder vernoemde) niet-lineariteit tussen verplaatsing<br />

t.g.v. de druk en capacitieve waarde van de opnemer.<br />

Zij worden bijvoorbeeld toegepast in de akoestiek bij de condensator-microfoon.<br />

Een derde voorbeeld is de capacitieve vochtigheidssensor, weergegeven in figuur 2.27.c. Bij<br />

fabricage wordt de chroomlaag sterk belast zodat deze in een fijne mozaïek breekt. Hierdoor kan<br />

het polymeer de watermoleculen uit de omgevingslucht absorberen en verandert de capacitieve<br />

waarde. Deze opnemers zijn chemisch bestendig en bezitten een relatief goede gevoeligheid. De<br />

capaciteitswaarde varieert van enkele picoFarad bij droge lucht tot ongeveer 150 pF bij 100 %<br />

relatieve vochtigheid. Nadelig zijn het niet-lineair verband tussen capacitieve waarde en<br />

vochtigheid, de lichte temperatuurgevoeligheid, de traagheid van de sensor en de gevoeligheid<br />

aan veroudering en vervuiling. Het meetbereik ligt tussen 5 % en 85 % relatieve vochtigheid.<br />

8.6 Interfacing<br />

Capaciteitsveranderingen zijn eenvoudig te meten. Er zijn globaal vier methoden te onderscheiden<br />

(figuur 2.28):<br />

impedantiemeting in een brug, bij voorkeur met differentiële capaciteiten<br />

stroomspanningsmeting met de capaciteit in de terugkoppelketen van een opamp<br />

frequentiemeting met C als frequentiebepalend element in een LC-oscillator<br />

tijdmeting door laden en ontladen van C met een constante stroom<br />

U i<br />

C f<br />

of<br />

C x<br />

C f<br />

U o<br />

C 1<br />

C 2<br />

U i<br />

C x<br />

of<br />

C f<br />

Enkelvoudig<br />

U o<br />

b)<br />

C 1<br />

-U<br />

i<br />

U i<br />

C 2<br />

-<br />

+<br />

Differentieel<br />

U o<br />

a)<br />

I 1<br />

U o<br />

U o<br />

Oscillator<br />

L<br />

C x<br />

I 2<br />

C<br />

x<br />

c)<br />

d)<br />

U+ U-<br />

Figuur 2.28: Vier methoden voor het meten van een capaciteit: a) brugmethode met differentiële opnemer,<br />

b) stroom-spanningsmeting met opamp al dan niet differentieel, c) oscillatormethode en d) tijdmethode.<br />

De meest eenvoudige capacitieve opnemers, namelijk deze waarbij de afstand d tussen de platen<br />

varieert, geven een capacitieve waarde die omgekeerd evenredig is met de verandering of<br />

__________ - II.25 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

verplaatsing x. Om een uitgangsspanning te bekomen die lineair afhankelijk is van de<br />

verplaatsing x, kunnen de eerste twee methodes, nl. de impedantiemeting in een brug met<br />

differentiële capaciteiten en de stroom-spanningsmeting met de capaciteit in de terugkoppelketen<br />

van een opamp, gebruikt worden.<br />

Voor de brug gelden volgende vergelijkingen (figuur 2.28.a):<br />

- enkelvoudige sensor:<br />

C 1 = C +∆C<br />

C 2 = C<br />

⎫<br />

⎬ → U o<br />

=<br />

−∆C<br />

⎭ U i 4C + 2∆C ≈−∆C ⎛<br />

4C ⎝ 1 − ∆C ⎞<br />

2C ⎠<br />

- differentiële sensor:<br />

C 1 = C +∆C<br />

C 2 = C −∆C<br />

⎫<br />

⎬ → U o<br />

=− ∆C<br />

⎭ U i 2C<br />

Figuur 2.29 geeft nog een tweede voorbeeld van een differentiële capacitieve plaatsopnemer en<br />

de bijbehorende brugschakeling.<br />

( R )<br />

( R )<br />

Z 2<br />

Z 3<br />

a)<br />

Z 1<br />

(<br />

1<br />

)<br />

E<br />

V s<br />

th<br />

Z 4<br />

( C 2<br />

)<br />

Figuur 2.29: Differentiële capacitieve opnemer: a) brug en b) (mogelijke) opbouw.<br />

d-x<br />

d+x<br />

b)<br />

F 2<br />

M<br />

F 1<br />

C 2<br />

C 1<br />

2d<br />

Figuur 2.29.b toont de bouw van een differentiële capacitieve opnemer. De plaat M beweegt<br />

tussen twee vaste platen F 1<br />

en F 2<br />

. x stelt de verplaatsing voor t.o.v. het centrum (aslijn). De<br />

capaciteit C 1<br />

wordt gevormd door de platen M en F 1<br />

, C 2<br />

door M en F 2<br />

.<br />

C 1 = ε 0ε r A<br />

d + x<br />

en<br />

C 2 = ε 0ε r A<br />

d − x<br />

De relatie tussen C 1<br />

of C 2<br />

en x is niet lineair. Om dit verband lineair te maken, worden de<br />

capaciteiten opgemeten in een brug. Zie figuur 2.29.a. Algemeen geldt:<br />

E th = V<br />

⎛ Z 1 Z<br />

s⎝ − 2 ⎞<br />

Z 1 + Z 4 Z 2 + Z 3 ⎠<br />

hierbij stellen we Z 2<br />

= Z 3<br />

= R, Z 1<br />

= 1/jωC 1<br />

en Z 4<br />

= 1/jωC 2<br />

. Dit geeft dan:<br />

__________ - II.26 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

of<br />

E th = V<br />

⎛ 1/C 1<br />

s − R ⎞<br />

⎝ 1/C 1 + 1/C 2 R + R ⎠ = V ⎛ s⎝ d + x<br />

2d − 1 ⎞<br />

2 ⎠<br />

E th = V s<br />

2d x<br />

Dit geeft een lineair verband tussen de gemeten waarde E th<br />

en de te meten waarde x!<br />

Voor de stroomspanningsmeting uit figuur 2.28.b zijn de overdrachten respectievelijk:<br />

U o<br />

- enkelvoudig: =− C +∆C (met de vaste impedantie C f<br />

over de opamp)<br />

U i<br />

- differentieel: U o<br />

U i<br />

= 2∆C<br />

C f<br />

C f<br />

De differentiële meting maakt een grotere lineariteit en een groter dynamisch bereik mogelijk.<br />

Immers, bij de differentiële sensor is het uitgangssignaal nul bij ∆C = 0, terwijl in het geval van<br />

een enkelvoudige sensor bij ∆C = 0 reeds een aanzienlijk uitgangssignaal aanwezig is.<br />

Indien de capaciteit omgekeerd evenredig verandert met de te meten grootheid, moet de<br />

veranderlijke capaciteit over de operationele versterker geplaatst worden en de vaste capaciteit<br />

ervoor. Zo bekomen we terug een lineair verband tussen te meten en gemeten grootheid.<br />

Verifieer dit!<br />

De oscillatorkring uit figuur 2.28.c levert een frequentie die een maat is voor de<br />

capaciteitsverandering:<br />

f =<br />

1<br />

2π LC x<br />

≈ f 0<br />

⎛<br />

⎝<br />

1 − ∆C ⎞<br />

2C ⎠<br />

Een voordeel van de oscillatormethode is dat het uitgangssignaal gemakkelijk te verwerken is<br />

met een microprocessor: de frequentie kan immers worden gemeten door te tellen. Vanzelfsprekend<br />

mogen de overige frequentiebepalende circuitparameters niet veranderen. Ook moet de<br />

oscillatie gehandhaafd blijven, zelfs bij de maximaal optredende capaciteitsvariatie. Dat kan een<br />

nadeel zijn aangezien de elektronische circuits daardoor snel ingewikkeld en kritisch worden.<br />

Een ander nadeel is wellicht de niet-lineariteit. Maar hiermee weet een processor wel raad.<br />

Tenslotte is het dynamisch bereik niet erg groot: in de referentiepositie is f = f 0<br />

. Veranderingen<br />

dienen dus te worden gemeten ten opzichte van deze soms vrij hoge waarde.<br />

Een uitleesmethode die de voordelen van een geschikt uitgangssignaal combineert met een grote<br />

lineariteit is de tijdmeting, geïllustreerd in figuur 2.28.d. De onbekende capaciteit wordt<br />

afwisselend opgeladen en ontladen met een stroom I 1<br />

respectievelijk I 2<br />

. Bij het opladen stijgt de<br />

spanning over de condensator C x<br />

lineair, totdat het bovenste hystereseniveau van de<br />

Schmitt-trigger is bereikt. De uitgangsspanning U 0<br />

klapt om, waarmee ook de schakelaars<br />

worden omgezet, en de condensator wordt ontladen. Dit proces gaat door tot het onderste<br />

hystereseniveau bereikt is waarna de condensator weer wordt opgeladen. Er ontstaat dan aan de<br />

__________ - II.27 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Capacitieve opnemers<br />

uitgang een driehoekvormige spanning, met een vaste amplitude (bepaald door de uiterste<br />

grenzen van de Schmitt-trigger) en met een frequentie die direct gerelateerd is aan de grootte van<br />

de capaciteit C x<br />

:<br />

f =<br />

I<br />

2C x U s<br />

Hierin is Us de uitgangszwaai van de Schmitt-trigger. Meestal is deze laatste gelijk aan het totale<br />

voedingsspanningsbereik. De frequentie kan eenvoudig bepaald worden met een telcircuit (al dan<br />

niet als onderdeel van een microprocessor).<br />

Tabel 2.3 geeft tenslotte een samenvattend overzicht van enkele typen van capacitieve sensoren<br />

en hun respectievelijke eigenschappen.<br />

Type Meetbereik Hysterese<br />

Reproduceerb.<br />

Resolutie<br />

T.C.<br />

bij nulpunt<br />

T bereik<br />

°C<br />

LVDC 2,5 ... 250 mm 10 -6 ... 80<br />

RVDC 70 deg 1 boog sec 0,1 boogsec ... 150<br />

Nadering 0 ... 20 mm 5% ... 20% 0,1% /K ... 70<br />

Versnelling ± 0,5 ... ± 150 g 10 -5 (FSD) 10 -6 g 10 µg/K ... 115<br />

Tilt ± 80 graden 0,01 graad ... 80<br />

Vochtigheid 5% ... 85% 1% ...2% -10 ... 160<br />

Tabel 2.3: Capacitieve opnemers.<br />

__________ - II.28 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9 Inductieve sensoren<br />

9.1 Inleiding<br />

Inductieve sensoren benutten parameters en grootheden als inductie B, flux Φ, zelfinductantie L,<br />

wederzijdse inductie M of magnetische weerstand R, welke door een bijzondere constructie<br />

afhankelijk zijn gemaakt van een verplaatsing of kracht.<br />

Doordat een veldgrootheid betrokken is bij het inductieproces kan de inductieve sensor in<br />

principe contactloos meten. Om praktische redenen is dit voordeel niet altijd te benutten.<br />

Er bestaan in grote lijnen drie typen inductieve sensoren:<br />

Hall-elementsensoren<br />

magnetische verplaatsingssensoren: de variabele-reluctantie- en wervelstroomsensoren<br />

transformatorische verplaatsingssensoren.<br />

De Hall-elementsensoren geven een spanning uit die evenredig is met de veldsterkte B volgens<br />

het Hall-effect. Het Hall-plaatje is verwant aan het Gauss-element van de veldplaatpotentiometer.<br />

De variabele-reluctantiesensoren en de wervelstroomsensoren werken op een gelijkaardig<br />

principe: de sterkte van een magneetveld opgewekt door een permanente magneet of door een<br />

stroomvoerende spoel is afhankelijk van de afstand (van het te meten voorwerp) tot die bron. In<br />

vele gevallen wordt één en dezelfde spoel gebruikt voor het opwekken van het magneetveld en<br />

voor het meten van de wijziging van dit veld. Dit gebeurt via de wijziging van de zelfinductantie<br />

L van de spoel.<br />

Het verschil tussen de variabele-reluctantiepositieopnemer en de wervelstroomsensor ligt nu in<br />

het gebruikt materiaal van het te detecteren voorwerp. Is het voorwerp ferromagnetisch dan zal<br />

bij nadering van de sensor tot dit voorwerp het magneetveld (de flux) toenemen waardoor de<br />

impedantie L van de sensor vergroot. De variabele reluctantie positie-opnemer uit paragraaf 9.3<br />

is hier een voorbeeld van. Is het voorwerp daarentegen wel elektrisch geleidend maar niet<br />

ferromagnetisch, dan ontstaan er in het voorwerp bij nadering van een (veranderend)<br />

magneetveld wervelstromen die het oorspronkelijk veld tegenwerken. De sensorimpedantie L zal<br />

hier afnemen. Paragraaf 9.5 bespreekt dit principe en geeft enkele overdrachtskarakteristieken<br />

voor verschillende soorten materialen (ook ferromagnetische).<br />

Tenslotte zijn er de transformatorische verplaatsingssensoren zoals de Lineair Variabele<br />

Differentiële Transformator (LVDT) en de inductosyn voor het meten van lineaire<br />

verplaatsingen en de synchro en resolver voor het meten van hoekverdraaiingen. Deze worden in<br />

de groep van de inductieve opnemers het meest toegepast.<br />

__________ - II.29 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9.2 Hall-effectsensoren<br />

Wanneer een stroomgeleidende strip geplaatst wordt in een magnetisch veld dan ontstaat er een<br />

potentiaalverschil over de breedte van de strip. Dit effect staat bekend als het Hall-effect.<br />

Figuur 2.30 geeft een principeschets.<br />

t<br />

w<br />

F<br />

B<br />

q<br />

F<br />

E<br />

v<br />

E H<br />

B<br />

i<br />

Regelaar +<br />

Hall -<br />

Element<br />

Voeding<br />

Liniaire<br />

Uitgang<br />

a)<br />

-<br />

b)<br />

Aarde<br />

Figuur 2.30: a) Het Hall-effect en b) Principeschets elektronische opbouw van Hall-sensor.<br />

De positieve lading q die volgens de aangegeven richting beweegt, ondervindt ten gevolge van<br />

het (uniform) magnetisch veld B (eveneens volgens de aangegeven richting) een opwaartse<br />

kracht F B<br />

. Hierdoor ontstaat er een ophoping van positieve ladingen aan de bovenzijde van de<br />

strip en de onderzijde wordt negatief geladen. Deze ladingen wekken een elektrisch veld E H<br />

op<br />

dat nu een tegengestelde kracht F E<br />

uitoefent op de bewegende ladingdragers. Het evenwicht stelt<br />

zich in wanneer beide krachten in amplitude even groot zijn:<br />

F B = F E of qvB = qE H → E H = vB<br />

met v de driftsnelheid van de ladingdragers.<br />

Het Hall-potentiaalverschil over de breedte w van de strip overeenkomstig het Hall-veld E H<br />

is,<br />

V H = E H w = wvB<br />

en is dus evenredig met het magnetisch veld B (loodrechte component). We kunnen dit verband<br />

herschrijven als:<br />

V H = k.i.B<br />

waarbij<br />

i de stroom voorstelt doorheen het Hall-plaatje en<br />

k een constante is die bepaald wordt door het type halfgeleider materiaal, de omgevingstemperatuur en de op<br />

het Hall-element uitgeoefende mechanische spanning.<br />

Voor metalen is de waarde van V H<br />

typisch enkele µV, voor halfgeleiders kan de spanning V H<br />

in<br />

de orde grootte van enkele mV liggen.<br />

Opmerking: Indien de stroom uit negatieve ladingdragers bestaat, die in de omgekeerde richting<br />

bewegen zal het teken van V H<br />

omkeren. Uit de polariteit van de Hall-spanning kan bijgevolg bij<br />

gekende magnetische veldrichting en stroom bijvoorbeeld het type gedopeerd silicium (n-type of<br />

p-type) bepaald worden, de spanning is in amplitude ook afhankelijk van de graad van dopering.<br />

__________ - II.30 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Omdat het Hall-element slechts een zwakke spanning oplevert (bijvoorbeeld 30 µV bij 1 Gauss)<br />

is het noodzakelijk extra elektronica te gebruiken om het uitgangssignaal praktisch bruikbaar te<br />

maken. Hiertoe is een versterkerstrap en een regelbare voeding vereist, zoals figuur 2.30.b<br />

aangeeft.<br />

Als versterker voldoet een verschilversterker met een laag ruisniveau, een hoge<br />

ingangsimpedantie en een gemiddelde versterkingsfactor. Dergelijke versterkers zijn snel en<br />

efficiënt te combineren met het Hall-element, via standaard bipolaire transistortechnologie.<br />

De verschilversterker is uitgerust met een drempeldetector. Op die wijze wordt bekomen dat de<br />

uitgangsspanning zowel positief als negatief kan zijn bij respectievelijk een positief en negatief<br />

magnetisch veld. In dat geval zou namelijk zowel een positieve als een negatieve<br />

voedingsspanning nodig zijn. De drempelspanning staat over de uitgang zolang er geen<br />

magnetisch veld aanwezig is en wordt aangeduid als de nulspanning. Bij een positief magnetisch<br />

veld stijgt de spanning tot boven de drempelspanning. Uiteraard daalt de spanning tot onder de<br />

drempelspanning bij een negatief magnetisch veld, maar ze blijft wel positief ten opzichte van de<br />

aarde.<br />

Figuur 2.31 toont het verloop van de uitgangsspanning tussen beide verzadigingspunten die<br />

voortvloeien uit de beperkte voedingsspanning van de versterker. De verzadiging treedt dus op in<br />

de versterker en niet in het Hall-element. Dit element kan dan ook niet beschadigd worden door<br />

grote magnetische velden.<br />

Zoals de vergelijking V H<br />

= kiB aangeeft, is de Hall-spanning een functie van de ingangsstroom.<br />

De regelbare voeding uit figuur 2.30.b moet de ingangsstroom constant houden, zodat de<br />

uitgangsspanning slechts een weergave is van de sterkte van het magnetisch veld.<br />

Uitgangsspanning<br />

Verzadiging<br />

[Volt]<br />

Nulspanning<br />

Verzadiging<br />

Ingang - Magnetisch veld [Gauss]<br />

Figuur 2.31: Overdrachtskarakteristiek van Hall-sensor uit figuur 2.30.<br />

Vaak zal men door toevoegen van een Schmitt-trigger overgaan van een lineair uitgangssignaal<br />

naar een digitaal signaal. Sensoren en drempelschakelaars gebaseerd op het Hall-effect kennen<br />

veelzijdige toepassingen, waaronder stroommeting in aandrijvingen ter beveiliging tegen<br />

overbelasting of drukknoppen enz.. Tabel 2.4 geeft tenslotte nog enkele eigenschappen.<br />

Meetbereik Snelheid Levensduur Reproduceerb T Bereik °C<br />

Hall-sensor ook stationair tot 100 kHz 20.10 6 schakelingen zeer goed -40 ... 150<br />

Tabel 2.4: Eigenschappen Hall-sensor.<br />

__________ - II.31 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9.3 Variabele reluctantie positie-opnemer<br />

Bij deze contactloze methode zal een verplaatsing x een verandering in magnetische weerstand<br />

van de magnetische kring bestaande uit ferromagnetisch materiaal teweeg brengen; de<br />

magnetische weerstand van de luchtspleet zal veranderen. Voor magnetische kringen gelden<br />

analoge vergelijkingen als voor elektrische kringen. Zo is de magnetische spanning (m.m.f. Eng:<br />

magnetomotive force) gelijk aan de 'magnetische stroom', zijnde de flux Φ, maal de magnetische<br />

weerstand, zijnde de reluctantie R.<br />

m.m.f = Φ.R<br />

De magnetische kring moet steeds gesloten zijn en de flux in deze kring is dan ook overal gelijk<br />

(indien er slechts één lus is). De magnetische spanning wordt opgewekt door een spoel met n<br />

windingen, waardoor een stroom i vloeit.<br />

m.m.f. = n.i<br />

De totaal (door de spoel) omwonden flux N is dan:<br />

N = nΦ= n2 i<br />

R<br />

De zelfinductantie L van de spoel is gedefinieerd als de totale flux N per eenheid van stroom:<br />

L = N i = n2<br />

R<br />

Voor de totale reluctantie van de magnetisch kring uit figuur 2.32 geldt:<br />

R=R anker + 2R luchtspleet +R kern met R=<br />

µ r<br />

de relatieve permeabiliteit is<br />

µ 0<br />

de permeabiliteit in vacuüm (4.10 -7 H/m)<br />

A de doorsnede van het fluxpad<br />

l de lengte van het fluxpad.<br />

l<br />

µ 0 µ r A<br />

waarbij<br />

L<br />

Lichaam<br />

(permeabiliteit µ ) l<br />

Luchtspleet<br />

R<br />

Anker (permeabiliteit µ ) a<br />

Figuur 2.32: De variabele reluctantie positie opnemer.<br />

d<br />

2r<br />

t<br />

__________ - II.32 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Merk op dat het anker deel uitmaakt van de machine tot dewelke de afstand gemeten wordt.<br />

Vermits de permeabiliteit van lucht ongeveer gelijk is aan 1 en deze van het lichaamsmateriaal<br />

vele duizenden malen groter is, zal de voornaamste reluctantie komen van de luchtspleet. Door<br />

de twee laatste formules te combineren krijgen we:<br />

met<br />

R totaal =<br />

R 0 =<br />

πR<br />

µ 0 µ l πr 2 + 2d<br />

µ 0 πr 2 + 2R<br />

µ 0 µ a 2rt =R 0 + kd<br />

R<br />

µ 0 µ l r + R<br />

2 µ 0 µ a rt<br />

en<br />

k =<br />

2<br />

µ 0 πr 2<br />

Uiteindelijk vinden we het gezocht verband tussen de zelfinductantie L en de afstand d:<br />

L =<br />

n 2<br />

R 0 + kd<br />

Dit is geen lineair maar weerom een omgekeerd evenredig verband. We moeten dan ook<br />

dezelfde technieken gebruiken als bij de capacitieve opnemer om hiervan een lineair verband te<br />

maken. De meest gebruikte techniek is deze van de differentiële reluctantie positie opnemer.<br />

Figuur 2.33 geeft de brugschakeling en de opstelling hiervan weer.<br />

2 a<br />

x<br />

L 1<br />

a - x<br />

a+x<br />

L<br />

a) 2<br />

b)<br />

( R ) ( R )<br />

Z 2<br />

Z 3<br />

Eth<br />

Z 1 Z 4<br />

( L 1 ) ( L 2 )<br />

V s<br />

Figuur 2.33: a) Werkingsprincipe en b) brugschakeling van de inductieve differentiële positie opnemer.<br />

De twee variërende inductanties zijn:<br />

L 1 =<br />

n 2<br />

R 0 + k(a − x)<br />

en<br />

L 2 =<br />

n 2<br />

R 0 + k(a + x)<br />

De uitgang van de brug (E th<br />

) wordt dan:<br />

E th =<br />

V s k<br />

2(R 0 + ka) x<br />

Zo krijgen we dus weer een lineair verband tussen de gemeten grootheid (E th<br />

) en de te meten<br />

grootheid x. De uitlezing is eveneens nul wanneer de verandering x nul is, met de gekende<br />

voordelen.<br />

9.4 Elektromagnetische snelheidssensor (tachogenerator)<br />

__________ - II.33 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

De tachogenerator is een elektromagnetische sensor die een lineaire of angulaire snelheid meet.<br />

Een eerste mogelijke uitvoering van de tacho berust op de wet van Lenz. Indien een elektrische<br />

geleider beweegt in een magnetisch veld dan ontstaat er een spanning over deze geleider:<br />

U = Blv<br />

Deze spanning is evenredig met de te meten snelheid (of hoeksnelheid).<br />

Figuur 2.34x: Voorbeeld van een tachogenerator.<br />

Een tweede mogelijke uitvoering bestaat uit een getand wiel van ferromagnetisch materiaal dat<br />

zich bevindt op de draaiende as. Het wiel draait dicht bij de pool van een permanente magneet.<br />

Rond de permanente magneet is een spoel gewikkeld. Draait het wiel rond dan gaat de flux<br />

omwonden door de spoel veranderen in de tijd omwille van de variërende reluctantie van de<br />

luchtspleet tussen pool en tand. (Analoog aan de variabele reluctantie positieopnemer uit<br />

paragraaf 9.3). Door inductie ontstaat er een spanning over de spoel.<br />

Beschouw voor de berekening van de geïnduceerde spanning het magnetisch circuit bestaande<br />

uit magneet, luchtspleet en (ferromagnetisch) wiel uit figuur 2.34. De m.m.f. is hier constant<br />

(permanente magneet). De reluctantie R hangt af van de grootte van de luchtspleet tussen wiel<br />

en magneet. Is de tand dicht bij de pool dan is R minimaal, verplaatst de tand zich verder dan<br />

stijgt R, staat de pool tussen twee tanden dan is R maximaal (zie figuur 2.34 die R in functie<br />

van de hoek θ weergeeft). De flux Φ is:<br />

Φ= m.m.f.<br />

R<br />

De totale flux N met n het aantal spoelwindingen is:<br />

N = nΦ= n.mmf<br />

R<br />

Uit figuur 2.34 blijkt dat bij m wieltanden:<br />

__________ - II.34 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

N(θ) ≅ a + b cos(mθ)<br />

Waaruit volgt:<br />

U =− dN<br />

dt =−dN dθ<br />

dθ dt =−[−b.m.sin(mθ)]dθ dt = b.m.ω.sin(mωt)<br />

Dus zowel de amplitude als de frequentie van de uitgangsspanning U is evenredig met de<br />

angulaire snelheid ω. In de praktijk kan het meetsignaal omwille van ladingseffecten en<br />

elektrische storingen in amplitude wijzigen waardoor het 'frequentiesignaal' als meetwaarde de<br />

voorkeur krijgt. Door het tellen van het aantal cycli in een gegeven tijd ontstaat uit het<br />

frequentiesignaal op een eenvoudige wijze een digitaal signaal dat verder verwerkt kan worden.<br />

Een variabele reluctantie tachogenerator wordt bijvoorbeeld toegepast in een turbine debietmeter<br />

om een nauwkeurige meting van het volumetrisch debiet of het totaal volume te geven.<br />

5<br />

θ<br />

N<br />

b<br />

a<br />

a)<br />

0 10 20 30 40 50 60 θ<br />

1 2 3 4 Tand nr<br />

θ<br />

ω<br />

N<br />

Z<br />

b) Getand wiel, m = 18<br />

Figuur 2.34: Werkingsprincipe van een elektromagnetische snelheidssensor.<br />

L 2<br />

Magneet<br />

en spoel<br />

__________ - II.35 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9.5 Wervelstroom verplaatsingsopnemer<br />

Wervelstromen (Eddy-currents) ontstaan door het bekende inductie-effect: ladingdragers in een<br />

geleidend materiaal ondervinden krachten in een veranderend magneetveld en veroorzaken<br />

elektrische stromen in dat materiaal. Een wervelstroomopnemer benut dit effect.<br />

De spoel 1 uit figuur 2.35.a bezit een zekere zelfinductie L, bepaald door zijn constructieve<br />

opbouw. Wanneer zich in de nabijheid van de spoel een metalen voorwerp bevindt, zullen er<br />

tengevolge van het genoemde inductie-effect stromen ontstaan in dat materiaal. Deze stromen<br />

wekken weer een magneetveld op dat tegengesteld gericht is aan het opwekkende veld. De totale<br />

flux N wordt daardoor kleiner en daarmee ook de zelfinductie L van de spoel:<br />

L = N i<br />

Het effect is sterker naarmate de geleidbaarheid van het materiaal toeneemt. Dus: bij nadering<br />

van een elektrisch geleidend, niet ferromagnetisch voorwerp neemt de sensorimpedantie af.<br />

∆Ζ<br />

[%]<br />

10<br />

1<br />

a)<br />

L 2<br />

L 1<br />

x<br />

b)<br />

0<br />

-10<br />

-20<br />

2<br />

5 10 15 20 25 x [mm]<br />

3<br />

1: Ni/Fe (80/20)<br />

4<br />

2: 416 cres<br />

3: 1030 staal<br />

5<br />

4: nikkel<br />

5: aluminium<br />

ρ µr<br />

17<br />

57<br />

12<br />

7,8<br />

2,8<br />

10000<br />

200<br />

200<br />

100<br />

1<br />

Figuur 2.35: a) Principe van een wervelstroom of Eddy-current contactloze verplaatsingsopnemer. L 1<br />

is de<br />

meetspoel, L 2<br />

is de Compensatiespoel. b) Gevoeligheid van variabele reluctantie (1-2) en wervelstroom<br />

verplaatsingsopnemers (3-5).<br />

De tweede spoel uit figuur 2.35.a dient voor temperatuurcompensatie en linearisering, en wordt<br />

in goedkopere typen weggelaten. In dit laatste geval beperkt de toepassing zich meestal tot<br />

contactloze naderings- en drempelschakelaars. Ook niet magnetische, niet geleidende materialen<br />

kunnen gedetecteerd worden door deze te voorzien van een dun laagje geleidend materiaal,<br />

bijvoorbeeld aluminiumfolie. De meetfrequentie ligt in de orde van 1 MHz.<br />

Herinner uit paragraaf 9.3 dat voor de variabele reluctantie positie-opnemer bij nadering van een ferromagnetisch<br />

materiaal de reluctantie afneemt en bijgevolg de zelfinductie L toeneemt:<br />

L = n2<br />

R<br />

Dus: bij nadering van een ferromagnetisch voorwerp neemt de sensorimpedantie toe (en wel sterker naarmate de<br />

permeabiliteit µ r<br />

van het materiaal groter is).<br />

Figuur 2.35.b. geeft voor enkele materialen de gevoeligheid van de tot nog toe besproken<br />

magnetische sensoren.<br />

__________ - II.36 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9.6 De lineair variabele differentiaal-transformator (LVDT)<br />

De Lineair Veranderlijke Differentiaal-Transformator (LVDT) is een elektromechanische<br />

omzetter waarvan het elektrisch uitgangssignaal rechtstreeks evenredig is met de verplaatsing<br />

van een afzonderlijk beweegbare kern. Zoals figuur 2.36.a aangeeft zijn drie spoelen op gelijke<br />

afstand van elkaar aangebracht om een holle cilinder waarin de kern axiaal kan schuiven. De<br />

kern beïnvloedt de weg van de magnetische flux tussen de spoelen.<br />

U uit<br />

U in<br />

U uit<br />

U in<br />

Primaire spoel Secundaire spoelen<br />

Kern<br />

a) b)<br />

Figuur 2.36: a) Opbouw en b) principiële schakeling van de LVDT.<br />

Wanneer de primaire of centrale spoel gevoed wordt door een wisselspanning, dan worden<br />

spanningen geïnduceerd in de twee buitenste spoelen. Deze buitenste of secundaire spoelen<br />

worden in serie en in oppositie verbonden, zodat de twee spanningen in tegenfase zijn. De<br />

netto-uitgangsspanning van de transformator is het verschil van deze twee spanningen. Voor de<br />

centrale stand van de kern zal de uitgangsspanning nul zijn; deze stand noemt men het<br />

evenwichtspunt of de nulstand van de LVDT.<br />

Bij verplaatsing van de kern uit de nulstand, verhoogt de geïnduceerde spanning in de spoel<br />

waarnaar de kern zich beweegt, terwijl de spanning in de andere secundaire spoel verlaagt. Dit<br />

heeft een differentiaalspanning tot gevolg welke lineair met de stand van de kern verandert. Een<br />

verplaatsing van de kern in de tegenovergestelde richting (voorbij de nulstand) geeft een<br />

gelijkaardige spanningskarakteristiek, maar met 180° faseverschuiving.<br />

Positief<br />

in fase<br />

Uitgangsspanning<br />

V uit<br />

Amplitude<br />

V uit<br />

Negatief<br />

in tegenfase<br />

A<br />

B<br />

Positie x<br />

'DC'-karakteristiek na demodulatie<br />

x<br />

Fase<br />

-180<br />

Lichaam in A Lichaam in 0 Lichaam in B<br />

a) b)<br />

Figuur 2.37: 'DC' en 'AC' overdrachtskarakteristiek van LVDT.<br />

'AC'-karakteristiek<br />

__________ - II.37 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Het verloop van de uitgangsspanning in functie van de stand van de kern is dus (binnen de<br />

grenzen van het lineair bereik) een rechte welke door de oorsprong gaat, bij aanduiding van<br />

tegengestelde fase met tegengestelde algebraïsche tekens. Dit geeft de curve uit figuur 2.37.a. De<br />

figuur toont eveneens de relatieve stand van de kern voor de drie vermelde situaties. Bij<br />

uitzetting van de spanning zonder inachtname van de fase heeft de curve een 'V-vorm', zie figuur<br />

2.37.b.<br />

In de praktijk gaat de uitgangsspanning niet precies door nul, omwille van kleine residuele<br />

spanningscomponenten welke elkaar niet annuleren. Dit betekent dat de 'V-vorm' van de curve<br />

uit figuur 2.37.b bij voldoende vergroting lichtjes afgerond is en niet volledig tot de oorsprong<br />

daalt. De 'nul'-uitgangsspanning is zo klein dat ze zonder betekenis is bij de meeste<br />

toepassingen. Voor de uiterst kritische toepassingen kan deze 'nul'-spanning nul gemaakt worden<br />

met behulp van eenvoudige interface schakelingen welke later aan bod zullen komen.<br />

Toepassingen van de LVDT<br />

Door toevoegen van een elastisch element aan de LVDT kan deze dienst doen als krachtsensor.<br />

De LVDT meet de stand van een punt op het elastisch element ten opzichte van een referentiepunt.<br />

Bij ijking van enkele relatieve standen bekomt men een toestel dat elke kracht of elk<br />

gewicht kan meten. Figuur 2.38 geeft twee voorbeelden. De LVDT-kern of de LVDT-mantel is<br />

verbonden met het elastisch element. Het elastisch element kan een veer, een bladveer of een<br />

proefring zijn. Door het aanbrengen van een belasting in punt A, verandert de relatieve positie<br />

van punt A ten opzichte van het stationaire punt B. De grootte van deze verandering is evenredig<br />

met de belasting volgens de wet van Hooke.<br />

Veer<br />

B<br />

B<br />

LVDT<br />

LVDT<br />

Inklemming<br />

Proefring<br />

A<br />

A<br />

a) Kracht of gewicht<br />

b)<br />

Kracht of gewicht<br />

Figuur 2.38: Meten van krachten of gewichten met een LVDT.<br />

De aangelegde kracht kan ook het resultaat zijn van een versnelling. In dit geval zal het totaal<br />

van de massa van het elastisch orgaan plus elke massa welke eraan bevestigd is, bepalend zijn<br />

voor de relatieve stand van punt A t.o.v. punt B bij een gegeven versnelling. Is de versnelling<br />

geen constante dan geeft de opstelling uit figuur 2.39.a de ogenblikkelijke waarde van de<br />

versnelling.<br />

Met behulp van een Bourdon-buis, een diafragma of een balg (Eng.: Bellow), kan de LVDT ook<br />

omgebouwd worden tot een druksensor voor het meten van de druk in gassen en vloeistoffen.<br />

Afhankelijk van de bouwwijze meet de sensor de relatieve, de absolute of de differentiaaldruk of<br />

__________ - II.38 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

hiervan afgeleide grootheden zoals vacuüm of vloeistofsnelheid. Bij elke uitvoering is de<br />

verplaatsing van het elastisch element evenredig met de te meten grootheid. Figuur 2.39.b geeft<br />

een voorbeeld van een Bourdon-buis-LVDT-druksensor.<br />

Bladveer<br />

B<br />

A<br />

LVDT<br />

Bourdon-buis<br />

LVDT<br />

Drukleiding<br />

Inklemming<br />

a)<br />

B<br />

A<br />

Richting van gemeten<br />

versnelling<br />

Figuur 2.39: a) Versnellingsopnemer en b) druksensor gebaseerd op een LVDT.<br />

b)<br />

Bladveer<br />

Elektrische eigenschappen<br />

Voor standaard LVDT's bedraagt de niet-lineariteit ± 0,5% of beter. Door een speciaal ontwerp<br />

of door een beperkt gebruik van het lineair bereik kan de niet-lineariteit beperkt worden tot<br />

± 0,1% of beter. De niet-lineariteit en het lineair bereik van de LVDT worden meestal aangeduid<br />

voor een belasting van 0,5 MΩ.<br />

In tegenstelling tot de potentiometer mag de LVDT echter aan een groot bereik van<br />

belastingimpedanties aangesloten worden, van oneindig tot een impedantie van dezelfde orde als<br />

de differentiaal-impedantie van de secundaire van de LVDT. Dit wordt voor een typische LVDT<br />

aangeduid in figuur 2.40.<br />

Uitgang [V]<br />

3<br />

2<br />

1<br />

400 Hz 1000 Ohm last<br />

400 Hz 0.5 Mega-Ohm last<br />

Spanning<br />

[V]<br />

1<br />

Input: 6.3 Volt<br />

Spanning: 0.5 M Ohm last<br />

Stroom<br />

[mA]<br />

100<br />

0.15 0.1 0.05<br />

60 Hz 1000 Ohm last<br />

60 Hz 0.5 M-Ohm<br />

1<br />

0.05 0.1 0.15<br />

Kernverplaatsing [duim]<br />

Input: 6.3 Volt<br />

0.1<br />

Primaire Stroom<br />

Spanning: 3000 Ohm last<br />

Spanning: 1000 Ohm last<br />

10<br />

2<br />

3<br />

Uitgang [V]<br />

Tegengestelde fase<br />

a) b)<br />

100 1000 10000<br />

50 Frequentie 20000<br />

[Hz]<br />

Figuur 2.40: a) Overdrachtskarakteristiek van LVDT (type 100SS-L) voor verschillende<br />

belastingweerstanden en frequenties. b) Gevoeligheid, weergegeven door de nominale uitgangsspanning bij<br />

0,1 duim verplaatsing en 6,3 Volt ingangsspanning, en primaire stroom i.f.v. de frequentie.<br />

Gevoeligheid en uitgang<br />

__________ - II.39 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

De normale gevoeligheid van een LVDT wordt gewoonlijk aangeduid in mV (of volt)<br />

uitgangsspanning per 0,001 duim (Eng.: Inch) verplaatsing en per volt ingangsspanning (meestal<br />

geschreven als mVuit/0,001"/Vin). In een typische toepassing zal de ingangsspanning een<br />

constante waarde hebben zodat de gevoeligheid dikwijls vereenvoudigd aangegeven wordt in<br />

mV (of volt) uitgangsspanning per 0,001" verplaatsing van de kern.<br />

Aangezien de spanningsgevoeligheid verandert met de frequentie (uitgezonderd in sommige<br />

ontwerpen over een beperkt frequentiebereik) dient de frequentie vermeld te worden bij de<br />

aangeduide gevoeligheid. De eigenlijke uitgangsspanning voor een gegeven verplaatsing wordt<br />

bekomen door de gevoeligheid te vermenigvuldigen met de verplaatsing in duizendsten van een<br />

duim en vervolgens met de voedingsspanning in volt.<br />

Sommige gebruikers verkiezen als aanduiding voor de gevoeligheid de uitgangsspanning bij<br />

normale ingangsspanning en bij nominale verplaatsing van de kern: dit is de nominale<br />

volle-schaal uitgangsspanning.<br />

Figuur 2.40.b geeft de verandering van de uitgangsspanning en primaire stroom van een LVDT<br />

type 100SS-L in functie van de frequentie weer.<br />

Voedingsfrequentie<br />

De standaard LVDT-modellen zijn ontworpen voor gebruik met een voedingsfrequentie gelegen<br />

tussen 50 Hz en 20 kHz. Uitzonderlijk kan deze ook 1 MHz bedragen of meer.<br />

De netfrequentie van 50 Hz is over het algemeen geschikt wanneer statische of quasi-statische<br />

metingen van lineaire verplaatsingen dienen uitgevoerd te worden, welke geen<br />

frequentiecomponenten bevatten boven 5 Hz. Ook de 400 Hz welke in vliegtuigen voorhanden<br />

is, is uitstekend geschikt voor het voeden van een LVDT. (Hogere voedingsfrequenties zijn in<br />

de meeste gevallen toegelaten.)<br />

Algemeen geldt de regel dat de voedingsfrequentie minstens 10 maal groter moet zijn dan de<br />

grootste te meten frequentie van de (mechanische) verplaatsing.<br />

Fasekarakteristieken<br />

De fasehoek tussen de uitgangsspanning en de ingangsspanning kan bij gegeven belasting en<br />

voedingsfrequentie, twee waarden aannemen die 180° t.o.v. elkaar verschillen naargelang de<br />

kern zich aan de ene of aan de andere zijde van de nulstand bevindt. Merk op dat ten gevolge van<br />

de belastingweerstand de fase niet meer 0° of 180° moet zijn. Verplaatsing van de kern heeft<br />

slechts een zeer geringe verandering van de uitgangsfasehoek tot gevolg (±1° in het lineair<br />

gebied). De bepaling van de fasehoek kan gebeuren aan de hand van de equivalente keten voor<br />

de LVDT uit figuur 2.41.<br />

E in<br />

I p<br />

R p<br />

L p L s<br />

R s<br />

Z L<br />

E uit<br />

I p = primaire stroom<br />

R p = primaire weerstand<br />

L p = primaire inductantie<br />

R s = secundaire weerstand<br />

L s = secundaire inductantie<br />

Emf<br />

Z L = belastingsweerstand<br />

Figuur 2.41: Equivalente keten voor LVDT.<br />

__________ - II.40 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Normalerwijze, wanneer de kern door het nulpunt gaat, verandert de uitgangsfase plotseling over<br />

180°. Nochtans, bij ongewone voorwaarden van grote minimum evenwichtsspanning (of<br />

"nul"-spanning), zoals kan voorkomen bij de aanwezigheid van een metaalmassa in de<br />

onmiddellijke omgeving van de transformator, gebeurt de faseverandering over 180° niet abrupt<br />

maar neemt ze de vorm aan van een geleidelijke faseverschuiving in de omgeving van het<br />

nulpunt. Op het nulpunt zelf verschilt de fasehoek 90° van de twee fasehoeken bekomen op een<br />

zekere afstand aan weerszijden van het nulpunt.<br />

Figuur 2.42 illustreert deze faseverandering. Hierin stelt de vector OP de primaire spanning<br />

voor, stellen OS 1<br />

en OS 2<br />

de uitgangsspanningen op de twee tegenovergestelde uiteinden van het<br />

lineair bereik en OS 0<br />

de minimum uitgangsspanning, die voorkomt op het "nul"-punt, voor.<br />

De overige vectoren voorgesteld door een volle lijn geven de uitgangsspanning voor<br />

tussenliggende standen aan. De grootte van de minimum spanning (OS 0<br />

) werd sterk vergroot<br />

voorgesteld om de tekening duidelijker te maken.<br />

S 1<br />

S 0<br />

O<br />

S 2<br />

P<br />

T 1<br />

T 2<br />

Figuur 2.42: Uitgangsfasehoek voor verschillende standen van de kern (de amplitude van de nulspanning<br />

werd omwille van de duidelijkheid sterk vergroot).<br />

De stippellijn geeft de uitgang van een volmaakt in evenwicht gebrachte LVDT met nul<br />

minimum spanning, waarbij OT 1<br />

en OT 2<br />

de uitgangsspanningen zijn bij het uiteinde van het<br />

lineair bereik. Deze lijn gaat door het nulpunt en de fase verandert hier plots over 180°.<br />

Figuur 2.43 geeft tenslotte enkele correctieketens om nul faseverschuiving te bekomen.<br />

In<br />

LVDT<br />

R<br />

Uit<br />

In<br />

LVDT<br />

R<br />

C<br />

Uit<br />

Voor fasenaijling bij positieve hoek<br />

R<br />

LVDT<br />

Uit<br />

LVDT<br />

C<br />

R<br />

Uit<br />

In<br />

In<br />

R<br />

Voor fasevoorijling bij negatieve hoek<br />

Figuur 2.43: Praktische kringen voor het verminderen van de fasehoek van een LVDT.<br />

__________ - II.41 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Opmerkingen:<br />

Mocht de verwerking van de wisselspanningssignalen (amplitude en polariteit) een probleem<br />

zijn, dan kunnen de (duurdere) typen met ingebouwde oscillator en detector een oplossing<br />

bieden. Deze typen staan bekend onder de naam DC-DC LVDT's: zowel de ingang als de<br />

uitgang zijn gelijkspanningen.<br />

LVDT's zijn uitgerust met een roestvrije stalen behuizing welke een goede bescherming<br />

garandeert tegen zowel mechanische invloeden als tegen elektrische en magnetische<br />

stoorvelden.<br />

9.7 Roterend Veranderlijke Differentiaal-Transformator: RVDT<br />

De RVDT is de rotationele uitvoering van de LVDT. Figuur 2.44 geeft een principiële schets.<br />

Het principe is gelijk aan dat van de LVDT, maar de constructie is anders. Het bereik is om<br />

constructieve redenen beperkt tot minder dan 180° verdraaiing. De RVDT kent toepassingen in<br />

werktuigmachines, bij het aanduiden van de stand van kleppen en kranen, bij radarantennes,<br />

scheepsroeren, enz.<br />

U U uit<br />

/ in<br />

U in<br />

U uit 1<br />

U uit 2<br />

α<br />

α<br />

a) b)<br />

Lineair gebied<br />

Figuur 2.44: a) Principiële uitvoering van RVDT en b) overdrachtskarakteristiek.<br />

In tegenstelling tot een rotationele potentiometer, zijn er geen contactborstels of -lopers, is de<br />

resolutie praktisch onbegrensd, de wrijving uiterst klein (rollagers) en is het inertiemoment heel<br />

beperkt. De koppeling tussen rotor en statorspoel gebeurt zuiver elektromagnetisch. Het systeem<br />

is dus vrij van defecten te wijten aan slechte contacten.<br />

__________ - II.42 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

9.8 Resolvers en Synchro's<br />

Synchro's en resolvers bestaan uit een draaibaar opgestelde rotor en een vaste stator die<br />

magnetisch met elkaar gekoppeld zijn. Het zijn inductieve hoeksensoren met als meetbereik een<br />

volle verdraaiing (2π). Ze bestaan uit een variabele transformator met een<br />

hoekstandsafhankelijke koppeling. In tegenstelling tot de LVDT bewegen hier de spoelen ten<br />

opzichte van elkaar.<br />

Het principe van de hoekstandsafhankelijke variabele transformator werkt als volgt: beschouw<br />

twee spoelen waarvan een vaste, de statorspoel en een roterende, de rotorspoel. De inductie van<br />

statorspoel naar rotorspoel zal afhankelijk zijn van de relatieve stand van de twee spoelen, en<br />

meer bepaald evenredig met de cosinus van het hoekverschil tussen beide spoelassen. Figuur<br />

2.45 geeft een situatieschets.<br />

α<br />

R 1 S 1<br />

U 1<br />

U r<br />

R 2 S 2<br />

Figuur 2.45: Principe van roterende transformator.<br />

Indien de rotorspoelas loodrecht staat op de statorspoelas is de inductie nul en zal de<br />

statorspanning eveneens nul zijn. Indien de rotorspoelas evenwijdig ligt met de statorspoelas dan<br />

is de inductie maximaal. Algemeen geldt:<br />

U 1 = kU r sin ωt cos α<br />

met<br />

U 1<br />

de geïnduceerde statorspanning,<br />

k de transformator(versterkings)factor<br />

U r<br />

de amplitude van de aangelegde rotorspanning<br />

α het hoekverschil tussen de twee spoelassen.<br />

Figuur 2.46 geeft twee mogelijke constructies weer voor stator en rotor. De uitvoering A, een<br />

rotor in dubbele T-uitvoering, bezit geen constante reluctantie waardoor het toestel iets minder<br />

nauwkeurig werkt en wordt gebruikt in de goedkopere modellen.<br />

4<br />

3 I<br />

II<br />

2<br />

III<br />

1<br />

IV<br />

d<br />

c<br />

b<br />

a<br />

IV<br />

III<br />

II<br />

Rotor<br />

I<br />

b<br />

c<br />

d<br />

1<br />

2<br />

3<br />

4<br />

Stator<br />

Statordraden<br />

Stator<br />

a<br />

A. Doorsnede B.<br />

Figuur 2.46: Mogelijke uitvoeringen van resolver of synchro.<br />

Rotor<br />

Stator<br />

Rotor<br />

Rotorspoel<br />

Opbouw overeenkomstig A<br />

Sleepringen<br />

__________ - II.43 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

De uitvoering B, met constante luchtspleet en gelijkverdeelde wikkeling, is nauwkeuriger voor<br />

de meting van hoekafhankelijke signalen. Zowel rotorwikkeling als statorwikkeling kunnen uit<br />

meerdere spoelen bestaan. Het grote verschil qua constructie met de DC-motor is het ontbreken<br />

van koolstofborstels voor de commutatie die bij de synchro en de resolver niet van toepassing is.<br />

De rotorspoeluiteinden worden via sleepringen naar buiten gebracht.<br />

Het verschil tussen de synchro en de resolver schuilt in het aantal statorspoelen en de ruimtelijke<br />

onderlinge ligging van deze spoelen.<br />

Synchro<br />

Bij de synchro bestaat de stator uit drie spoelen ruimtelijk 120° t.o.v. elkaar verschoven. In elke<br />

spoel wordt een wisselspanning opgewekt waarvan de amplitude en de polariteit afhankelijk is<br />

van de hoekstand van de rotor. Figuur 2.47 geeft de elektrische voorstelling van een synchro.<br />

Het sterpunt van de statorwikkeling is niet uitwendig bereikbaar. Typische waarden voor de<br />

voedingsfrequentie zijn 50 en 400 Hz, maar ook hogere frequenties zijn toegelaten.<br />

r<br />

Positieve zin<br />

S 1<br />

R 2 S 2 U 23<br />

S 3<br />

R 1 α<br />

U<br />

U 12 U 31<br />

Rotor<br />

Stator<br />

Figuur 2.47: Elektrische voorstelling van een synchro.<br />

Voor de schematische voorstelling uit figuur 2.47 geldt voor U ref<br />

= U r<br />

= A sin ωt:<br />

U S2<br />

- U S1<br />

= A.K sinωt.cos(α - 150°)<br />

U S3<br />

- U S2<br />

= A.K sinωt.cos(α -270°)<br />

U S1<br />

- U S3<br />

= A.K sinωt.cos(α - 30°) met K de transformatieverhouding.<br />

Deze spanningen zijn dus gemoduleerde signalen welke in amplitude afhankelijk zijn van de<br />

hoek. Figuur 2.48 geeft de spanningen weer in gedemoduleerde vorm en dit in functie van de<br />

hoek (vanuit een elektrisch nulpunt).<br />

Amplitude<br />

U S<br />

-U S<br />

1 3<br />

U S<br />

-U S<br />

3 2<br />

90 180 270 360<br />

α<br />

U S<br />

-U<br />

2 S 1<br />

Figuur 2.48: Synchro formaat spanningen.<br />

__________ - II.44 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

In gemoduleerde vorm ziet de spanning tussen S 1<br />

en S 3<br />

eruit als in figuur 2.49.<br />

50<br />

0<br />

-50<br />

0 0.05 0.1 0.15 0.2<br />

Amplitude<br />

i.f.v.<br />

tijd ( + hoek)<br />

Figuur 2.49: Gemoduleerde spanning: U S1<br />

- U S3<br />

(draaggolf 50 Hz - omhullende 433 toeren/min).<br />

Synchro 'verschil'-schakeling<br />

Synchro's worden gebruikt voor het meten van hoeken maar kunnen ook als onderdeel van een<br />

servomechanisme of controleketen dienst doen: hier meten en vergelijken ze de positie van een<br />

last, θ 2<br />

, met de gewenste of opgegeven positie θ 1<br />

. Er worden daarvoor twee synchro's gebruikt:<br />

de 'control transmitter' (CX) en de 'control transformer' (CT). In de 'control transmitter' doet de<br />

rotor dienst als primaire en de statorwikkeling als secundaire met hoekafhankelijke signalen. De<br />

'control transformer' speelt de rol van ontvanger in de controletoepassing. De statorwikkelingen<br />

spelen de rol van primaire, de rotorwikkelingen spelen de rol van secundaire wikkeling.<br />

De uitgang van de 'control transmitter' wordt aangelegd aan de primaire van de 'control<br />

transformer'. Deze krijgt alzo hoekafhankelijke ingangssignalen op de driefasige<br />

statorwikkelingen. Op de rotor wordt nu een spanning geïnduceerd welke afhankelijk is van zijn<br />

hoekstand. Zo is de rotorspanning afhankelijk van de ingangshoek (θ 1<br />

) van de 'transmitterrotor'<br />

en van de uitgangshoek (θ 2<br />

) van de 'transformerrotor'.<br />

S 1 S 3 S 1<br />

S 3<br />

R<br />

CX<br />

CT<br />

2<br />

θ 1 U r<br />

R 1 U R ref 2<br />

R<br />

S 1<br />

2 S 2 θ 2<br />

Figuur 2.50: Synchro 'verschil'-schakeling (onderdeel van synchro-controleketen).<br />

De 'verschil'-keten uit figuur 2.50 levert een signaal op de 'transformerrotor':<br />

U r<br />

= K.U ref<br />

.sin (θ 1<br />

- θ 2<br />

)<br />

__________ - II.45 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Figuur 2.51 geeft het verloop van de CT-rotorspanning bij kleine afwijking rond het punt waar<br />

de in- en uitgangshoek gelijk zijn.<br />

CT - Rotor<br />

Spanning (eff. waarde)<br />

Restspanning<br />

θ − θ 1 2<br />

Figuur 2.51: CT-rotorspanning bij kleine hoekverschillen tussen CX- en CT-rotors.<br />

De effectieve waarde van deze spanning bereikt dus een minimum bij θ 1<br />

= θ 2<br />

. De fase van dit<br />

signaal t.o.v. de referentiespanning U ref<br />

zal bij het punt θ 1<br />

= θ 2<br />

omkeren.<br />

Dit geeft een signaal dat in amplitude en 'in fase' (polariteit) afhankelijk is van het verschil tussen<br />

θ 1<br />

en θ 2<br />

. Bij gebruik van deze keten als comparator in een servosysteem, zal men het<br />

CT-rotorsignaal moeten demoduleren of fase-afhankelijk gelijkrichten (t.o.v. het<br />

referentiesignaal). De ringdemodulator (figuur 2.52) vervult deze rol.<br />

c<br />

Gelijkgericht<br />

Signaal<br />

CT-Rotor<br />

Uref<br />

Figuur 2.52: Ringdemodulator.<br />

Uitvoeringen van Synchro's<br />

De diameter van een synchro varieert van 0,5 duim (inch) tot 3,7 duim. Aan een zijde van de<br />

synchro is een geïsoleerde eindblok aangebracht waarop de aansluitklemmen bevestigd zijn, het<br />

andere einde is een flens om de synchro te monteren. De uitwendige diameter van de synchro<br />

wordt gebruikt als basis voor een indeling in modellen, zo is een synchro met uitwendige<br />

diameter van 1,062 duim (2,7 cm) een model 11 synchro, een synchro met diameter 2,25 duim<br />

(5,715 cm) zal een model 23 synchro zijn.<br />

__________ - II.46 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Resolver<br />

De resolver is een vorm van een synchro (dikwijls synchro resolver genoemd) waarbij de<br />

windingen voor de stator in de ruimte over 90° t.o.v. elkaar verplaatst zijn. Ze worden<br />

geproduceerd in dezelfde standaardmodellen (uitwendige diameter) als de synchro's. Inwendig<br />

zijn verschillende vormen van windingen en configuraties en transformatieverhoudingen<br />

mogelijk. De meest gebruikte resolver heeft een eenfasige rotor en een tweefasige stator (2<br />

windingen 90° in de ruimte verschoven).<br />

α<br />

R 1<br />

Rotor<br />

R 2<br />

Stator<br />

S 1<br />

S 3<br />

+<br />

α<br />

S 2<br />

Figuur 2.53:Elektrische voorstelling van een resolver.<br />

Is de rotor aangesloten op een excitatiespanning U ref<br />

= A sinωt, meestal een wisselspanning op<br />

400 Hz, dan zijn de geïnduceerde resolverformaatspanningen (statorspanningen):<br />

U s1-3<br />

= K.A sinωt. cosα<br />

U s4-2<br />

= K.A sinωt. sinα<br />

S 4<br />

Op ieder ogenblik geeft de resolver op de twee wikkelingen de sinus- en cosinuscomponenten<br />

van de hoek . Vandaar de naam 'resolver' (oplossen naar de hoek).<br />

Toepassingen<br />

Een eerste vorm van gebruik is dus een hoekmeting door sin- en cos-componenten te bepalen,<br />

analoog aan de sinus-cosinus-potentiometer met dit verschil dat de statorspanningen in eerste<br />

instantie gemoduleerde signalen zijn.<br />

Twee resolvers kunnen ook gekoppeld worden in een controleketen, dit analoog met de synchro<br />

controleketen (figuren 2.50 en 2.51). Het blokschema van een achtervolgingsservomechanisme<br />

kan er dan als volgt uitzien:<br />

θ 1<br />

= 0<br />

θ 2<br />

= 0<br />

Tegen Uurwijzerzin<br />

θ 1 U ref<br />

+<br />

U U Demod.<br />

Motor<br />

ref<br />

r<br />

θ II<br />

I<br />

II 2<br />

θ 2<br />

Figuur 2.54: Resolver-controle keten.<br />

__________ - II.47 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

De spanning U rII<br />

verloopt bij constant toerental (geen regeling en op de faseverschuiving na) als<br />

weergeven in figuur 2.49. Na demodulatie geeft dit het verloop uit figuur 2.55.<br />

Amplitude<br />

Tegen Uurwijzerzin draaien<br />

in fase<br />

-180 -90 0 90 180<br />

in tegenfase<br />

Hoekverschil<br />

θ − θ 1 2<br />

Uurwijzerzin draaien<br />

Figuur 2.55: Gedemoduleerde rotorspanning in resolvercontroleketen.<br />

Men zou kunnen denken dat zulk servomechanisme twee stabiele nulpunten kan hebben over een<br />

omwenteling van 360°. Dit gebrek aan eenduidigheid valt weg wanneer men bedenkt dat de<br />

amplitude op zich niet eenduidig is maar dat de fase daarentegen tegengesteld is voor twee<br />

hoeken, die dezelfde amplitude leveren aan de rotoruitgang van resolver II. Om deze reden is er<br />

ook maar één stabiel nulpunt mogelijk bij dit servomechanisme. De demodulator zal er dus voor<br />

zorgen dat de motor tegen uurwijzerzin draait bij een positieve fase en in uurwijzerzin draait bij<br />

een negatieve fase. Het nulpunt op 180° is niet stabiel. (Vergelijk met paragraaf 14.3, figuur 3.6).<br />

Er bestaat nog een derde toepassingsmogelijkheid van de resolver. Leggen we aan de twee<br />

statorwikkelingen een tweefasige wisselspanning, dan ontstaat er in de machine een draaiveld.<br />

Dit illustreert het vectordiagram van figuur 2.56.<br />

Hb<br />

c<br />

a<br />

Va =<br />

V.coswt<br />

c<br />

90 - wt - 90 + wt<br />

a, d<br />

+ wt<br />

0<br />

- wt<br />

w<br />

E<br />

Ha<br />

b<br />

V.sinwt = Vb<br />

b<br />

Figuur 2.56 : Vectordiagram van draaiveld in resolver.<br />

We vertrekken van het feit dat men één pulserende vector in twee in tegengestelde zin draaiende<br />

vectoren ontbinden kan. De wikkelingen a en b liggen ruimtelijk verschoven over 90°.<br />

Verschuiven we nu de stroom in de wikkeling b over een hoek van 90° t.o.v. de stroom in de<br />

wikkeling a, dan krijgen we twee pulserende velden Ha en Hb. Ha wordt ontbonden in de<br />

vectorcomponenten Oa en Ob, terwijl Hb ontbonden wordt in Oc en Od. We zien dat op ieder<br />

moment Ob en Oc tegengesteld zijn terwijl Oa en Od samenvallen. De resulterende vector draait<br />

in de zin van de componenten Oa en Od en met een hoeksnelheid ω. Zijn nu beide velden Ha en<br />

Hb identiek dan geeft dit een cirkelvormig draaiveld. De wikkeling C van de rotor zal dus aan de<br />

__________ - II.48 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

klemmen een wisselspanning afleveren waarvan de amplitude constant is, maar de fase afhangt<br />

van de rotor-hoekstand t.o.v. de nul-as. De rotorspanning is uit te drukken als:<br />

V c<br />

= K.V cos (ωt - ϕ) (bij ϕ = 0° is V c<br />

= K.V a<br />

en bij ϕ = 90° is V c<br />

= K.V b<br />

).<br />

Een hoek kan nu gemeten worden door de faseverschuiving volgens figuur 2.57 te bepalen, wat<br />

mogelijk is op een numerieke manier. In deel III (o.a paragraaf 14.5) volgen nog enkele<br />

toepassingen.<br />

Amplitude<br />

ϕ<br />

Vresolver<br />

Vb<br />

Va<br />

Tijd<br />

Figuur 2.57: De faseverschuiving van de door het draaiveld geïnduceerde rotorspanning is gelijk aan de<br />

hoekstand van de rotor.<br />

Synchro en resolver parameters<br />

Referentiespanning en frequenties:<br />

Synchro's en resolvers worden bekrachtigd met wisselstroom waarvan de frequentie 50 Hz, 400 Hz tot zelfs 1000<br />

Hz kan bedragen. Bij frequenties hoger dan 50 Hz worden de afmetingen van de machine kleiner, zodat ook het<br />

traagheidsmoment verkleint. De (referentie-) spanning bedraagt voor controle synchro's en resolvers meestal 26<br />

V (rms) welke (meestal) een 11,8 V lijn tot lijn uitgangsspanning oplevert.<br />

Impedanties:<br />

Bij synchro's worden volgende impedanties gemeten:<br />

Z ro<br />

: rotor impedantie, stator open;<br />

Z rs<br />

: rotor impedantie, stator kortgesloten;<br />

Z so<br />

: stator impedantie, rotor open;<br />

Z ss<br />

: stator impedantie, rotor kortgesloten.<br />

De statorimpedantie wordt steeds gemeten tussen een klem en een andere klem welke kortgesloten is met de<br />

derde klem. Zie figuur 2.58.<br />

Z ss<br />

Z ro<br />

Rotor<br />

Z rs<br />

Z so<br />

Figuur 2.58: Synchro impedanties.<br />

Een resolver is voor te stellen in een equivalent T-netwerk (figuur 2.59). De impedanties Z 1<br />

, Z 2<br />

en Z 3<br />

kunnen<br />

berekend worden uit Z ro<br />

, Z rs<br />

, Z so<br />

, Z ss<br />

.<br />

Z<br />

1<br />

Z<br />

Z 3<br />

2<br />

Stator<br />

Z 3 = −Z ro (Z ss − Z so ) = Z so (Z ro − Z rs )<br />

Z 1 = Z ro − Z 3<br />

Z 2 = Z so − Z 3<br />

Figuur 2.59: Equivalent T-netwerk.<br />

__________ - II.49 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Nauwkeurigheid, oplossingsvermogen: Het oplossingsvermogen hangt af van de constructie, d.w.z. de fijnheid<br />

van de gleuven en de vorm van de wikkelingen. Nauwkeurige synchro's en resolvers hebben een<br />

oplossingsvermogen van 5 tot 10 boogminuten.<br />

Restspanning: Bij controle synchro's en resolvers bedraagt de restspanning of de nulspanning (zie figuur 2.52)<br />

van 20 tot 50 mV.<br />

Faseverschuiving: De rotorspanning vertoont ten opzichte van de statorspanning een fasevoorijling. Dit geeft de<br />

resolverformaatspanningen:<br />

K.A sin (ωt + α 1<br />

). sinθ<br />

K.A sin (ωt + α 2<br />

). cosθ<br />

Deze verschuivingen kunnen tot 15° bedragen.<br />

9.9 Inductosyn<br />

De inductosyn bestaat als lineaire of als roterende inductosyn. De lineaire inductosyn is een zeer<br />

nauwkeurige verplaatsingsopnemer. Over een gebied van 250 mm is een nauwkeurigheid te<br />

bereiken van 5 tot 1 µm. In de roterende versie is een resolutie mogelijk tot 0,05 hoekseconden.<br />

Beiden hebben ze hetzelfde werkingsprincipe. De lineaire inductosyn is eigenlijk een in een vlak<br />

gewikkelde (stator en rotor van een) resolver. De twee wikkelingen (vlakken) zijn verschuifbaar<br />

en de wikkelingen zitten niet op een ijzeren kern. De twee in een vlak gewikkelde delen zijn een<br />

lat (normaal de eenfasige rotor van een resolver) en een glijder (de stator van de resolver, dus<br />

tweefasig gewikkeld). De lat wordt vast gemonteerd (bv. op het machinebed), de glijder is<br />

gemonteerd op het te positioneren deel van de machine (bv. het machinedeel waarop het<br />

werktuig geplaatst is).<br />

De lat bestaat uit een basismateriaal dat niet ferromagnetisch is zoals staal of aluminium, en<br />

waarvan de temperatuuruitzettingscoëfficiënt aangepast is aan deze van het machine-onderdeel<br />

waarop de lat gemonteerd is. Op dit basismateriaal is een isolatielaag en een wikkeling uit koper<br />

aangebracht. Figuur 2.60 toont de opbouw van de lineaire inductosyn.<br />

De periodieke indeling van de wikkeling is 2p, in het Angelsaksisch meetsysteem is 2p = 0,1<br />

duim, in het metrisch meetsysteem is dit 2 mm.<br />

De glijder bestaat uit twee afzonderlijke wikkelingen, 90° of 2p/4 = 0,5 mm t.o.v. elkaar<br />

verschoven. Er worden meerdere perioden gewikkeld op de glijder om de amplitude van de<br />

geïnduceerde spanningen te verhogen en om de afwijkingen op de lineaire verdeling uit te<br />

middelen over het aantal gebruikte perioden. De geïnduceerde spanningen kunnen verder<br />

vergroot worden door de frequentie van het referentiesignaal op te drijven.<br />

De luchtspleet tussen lat en glijder is ongeveer 0,05 mm. Op de lat wordt als excitatiespanning<br />

een wisselspanning met frequentie van 5 kHz tot 10 kHz aangelegd. Stellen we deze gelijk aan<br />

Vsinωt dan zijn de uitgangsspanningen op de glijderwikkelingen:<br />

KV sin (ωt) sin (2πx/2p)<br />

KV sin (ωt) cos (2πx/2p)<br />

met x de lineaire verplaatsing van de glijder t.o.v. de lat, 2p de wikkelperiode en K de<br />

overdrachtsfactor.<br />

__________ - II.50 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Inductieve Sensoren<br />

Ook de omgekeerde werking is mogelijk. Wanneer op de twee wikkelingen van de glijder twee<br />

spanningen worden aangelegd die in amplitude gelijk maar in fase 90° verschoven zijn, ontstaat<br />

op de lat een geïnduceerde spanning die in fase afhankelijk is van de positie x van de glijder. Dit<br />

principe is analoog aan de werking met constant draaiveld bij de resolver.<br />

Schaal (lineaal)<br />

Slede<br />

2p<br />

Schaal (lineaal)<br />

2p<br />

Cos<br />

Sin<br />

Slede<br />

Figuur 2.60: Opbouw van (lineaire) inductosyn.<br />

Voor de roterende inductosyn is de werking analoog. Is de excitatiespanning op de rotor Vsinωt,<br />

dan zijn de statorspanningen uit te drukken als:<br />

V sin(ωt) sin(N θ)<br />

V sin(ωt) cos(N θ)<br />

Twee wikkelingen 1/4 periode (=90°) verschoven.<br />

met θ de hoekverdraaiing van de rotor t.o.v. de stator en N het aantal polen van de rotor ("2N"<br />

stemt overeen met een volledige omwenteling).<br />

9.10 Samenvatting eigenschappen<br />

Type Meetbereik Gevoeligheid<br />

Resolutie<br />

Niet-lineariteit<br />

(5% FSD)<br />

Diff. Reluctantie 0,1 mm ... 20 mm 10 ... 100 mV/mm.V 0,50<br />

Eddy-current 0,1 mm ... 60 mm 0,1 ... 5 V/mm 0,50 300<br />

LVDT ±0,25 mm ... ± 25 cm 1 ... 500 mV/mm.V 0,1 ... 0,5 500<br />

RVDT<br />

± 40 deg<br />

± 60 deg<br />

1 ... 10 mV/deg.V 0,5<br />

< 3<br />

Resolver/synchro 2π enkele bgmin 0,01<br />

Inductosyn, lin.<br />

Inductosyn, rot.<br />

absoluut: 2 mm, 0.1 duim<br />

cyclisch abs.: enkele m<br />

absoluut: ± 10 bgmin<br />

cyclisch abs.: 2π of meer<br />

0,1 µm<br />

0,05 bgsec<br />

Tabel 2.5: Eigenschappen inductieve sensoren.<br />

T max<br />

(°C)<br />

500<br />

__________ - II.51 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10 Opto-elektrische sensoren<br />

10.1 Inleiding<br />

Bij opto-elektrische verplaatsingssensoren zijn steeds drie elementen van belang: de lichtbron, de<br />

ontvanger en het medium. Vaak zijn nog extra optische hulpmiddelen vereist, zoals lenzen,<br />

golfgeleiders, spiegels of filters. Optische verplaatsingssensoren zijn zodanig geconstrueerd, dat<br />

een variatie in de afstand tussen twee sensordelen of tussen de sensor en een verplaatsbaar<br />

voorwerp een verandering teweegbrengt in de transmissie, reflectie, absorptie, verstrooiing of<br />

breking van een lichtbundel. De meeste sensorprincipes in deze categorie zijn gebaseerd op<br />

reflectie, enkele maken gebruik van transmissie (maar dan wel binair). Zelden worden de overige<br />

mogelijkheden benut. De meest voorkomende lineaire meetmethode berust op het bepalen van<br />

een intensiteitsverandering als gevolg van afstandsvariaties. Omdat licht een zich voortplantende<br />

golf is, kan ook gebruik worden gemaakt van looptijd of van faseverschuivingen<br />

(interferometrie).<br />

Het toepassen bij daglicht of kunstlicht vereist doorgaans extra maatregelen, om de invloed van<br />

omgevingslicht op het sensorsysteem te elimineren.<br />

Optische meetsystemen hebben een aantal belangrijke voordelen t.o.v. hun elektrische<br />

tegenhangers.<br />

Zo kan er geen elektromagnetische koppeling optreden ten gevolge van externe storende<br />

spanningen.<br />

Er kan geen elektrische storing optreden ten gevolge van meerdere aardingspunten.<br />

Optische systemen waarborgen een grotere veiligheid. De bron, de detector en de<br />

signaalverwerkende elementen met hun bijbehorende voedingen kunnen in een veilige ruimte,<br />

zoals de controle kamer, opgesteld worden. Alleen de optische vezels, die dienst doen als<br />

transmissiemedium bevinden zich in de gevarenzone. Hierdoor is het gevaar voor een<br />

elektrische vonk, welke een explosie zou kunnen veroorzaken, onbestaande.<br />

Het meetsysteem is inherent compatibel met optische communicatiesystemen.<br />

Optische vezels kunnen zeer dicht bij elkaar geplaatst worden zonder gevaar voor wederzijdse<br />

storingen of overspraak (Eng.: Crosstalk).<br />

Het grote nadeel van een optisch meetsysteem is de invloed van omgevingslicht en belangrijker<br />

de gevoeligheid aan vervuiling van de meetomgeving.<br />

10.2 Lichtbronnen<br />

Gangbare bronnen voor sensordoeleinden zijn:<br />

gloeilamp of halogeenlamp: eenvoudig, breed spectrum, traag, niet gefocusseerde bundel;<br />

LED (licht-emitterende diode): klein, goedkoop en smaller spectrum; in intensiteit goed<br />

moduleerbaar; verkrijgbaar met lens; infrarood uitvoeringen (niet hinderlijk voor omgeving);<br />

halfgeleider-laser of laserdiode: klein, duurder; in intensiteit moduleerbaar; matige<br />

bundeling (als LED), verkrijgbaar met lens; monochromatisch licht;<br />

gaslaser: grotere afmetingen; duur; monochromatisch licht; smalle bundel, niet moduleerbaar<br />

(externe hulpmiddelen vereist).<br />

__________ - II.52 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

De lichtbronnen bezitten meestal een continue band van golflengtes, met uitzondering van de<br />

lasers. Figuur 2.61 geeft een vergelijkend overzicht tussen de verschillende soorten lichtbronnen.<br />

De golflengtes van deze bronnen liggen meestal tussen 400 nm en 10 µm. Dit is zichtbaar<br />

(400 nm tot 700 nm) of infrarood (700 nm tot 100 µm) licht.<br />

Relatieve Emissie<br />

1,4<br />

1,2<br />

1,0<br />

Neonlamp<br />

HeNe-laser<br />

Wolfraamlamp<br />

0,8<br />

0,6<br />

0,4<br />

0,2<br />

Fluorescentiebuis<br />

Flitslamp<br />

LED<br />

Laserdiode<br />

Kwarts<br />

halogeenlamp<br />

200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800<br />

Golflengte [nm]<br />

Figuur 2.61: Relatieve emissie van verschillende lichtbronnen.<br />

De intensiteit van een bron wordt weergegeven door de spectrale vermogendichtheidsfunctie of<br />

spectrale radiantie S(λ) [W/cm²sr.µm]. De hoeveelheid vermogen (energie per seconde) die door<br />

1 cm² van de bron in een eenheidsruimtehoek [sterradiaal, sr], uitgezonden wordt met golflengtes<br />

tussen λ en λ+∆λ is per definitie gelijk aan S(λ)∆λ. Het totaal uitgezonden vermogen over alle<br />

golflengtes is dan B = ∫ ∞ S(λ)dλ [W/cm²sr], dit is de helderheid of radiantie (Eng.: Brightness of<br />

Radiance). De spectrale stralingsintensiteit I λ<br />

(Eng.: Radiant Intensity) op een golflengte λ van<br />

een bron met oppervlak A s<br />

[cm²], volgens een normale op dit oppervlak, is I λ<br />

= A s<br />

S(λ) [W/sr.µm].<br />

De totale stralingsintensiteit I e<br />

die hiermee overeenstemt, is de integraal over alle golflengtes nl.,<br />

I e = ∫ ∞ A s S(λ)dλ =A s B [W/sr].<br />

Figuur 2.62 toont een typische spectrale vermogendichtheidsfunctie S(λ) voor een GaAlAs LED.<br />

S(λ) heeft een piek bij λ p<br />

= 810 nm en een bandbreedte ∆λ van 36 nm: de oppervlakte onder de<br />

curve, dit is de radiantie B, bedraagt ongeveer 100W/cm²sr. De totale stralingsflux (Eng.: radiant<br />

flux) ligt normaal tussen 1 en 10 mW.<br />

2,0<br />

S( ) λ [W/cm²sr.nm]<br />

B = Opp = 100 W/cm²sr<br />

1,0<br />

∆λ<br />

= 36 nm<br />

λ p<br />

λ<br />

0<br />

770 790 810 830 850<br />

Figuur 2.62: Spectrale vermogendichtheidsfunctie of spectrale radiantie S(λ) voor een GaAlAs LED.<br />

__________ - II.53 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Laserbronnen<br />

Er bestaan verschillende soorten lasers, waarvan het medium een gas, een vloeistof, een vaste<br />

stof (kristal) of een halfgeleider kan zijn. Alle types werken op hetzelfde principe. Volgens het<br />

energiediagram uit figuur 2.63.a heeft het medium twee energieniveau's: het grondniveau E 1<br />

en<br />

de geëxciteerde toestand E 2<br />

. Een overgang tussen deze twee toestanden gaat gepaard met de<br />

absorptie of de emissie van een foton met energie:<br />

hf = E 2<br />

-E 1<br />

waarbij h de constante van Planck en f de frequentie van de straling is.<br />

Indien het medium in thermisch evenwicht is, bevinden de meeste elektronen zich in de<br />

grondtoestand E 1<br />

. Slechts enkele hebben voldoende thermische energie voor de geëxciteerde<br />

toestand E 2<br />

. Wanneer de laser 'opgeladen' wordt door een externe bron, treedt er een populatie<br />

inversie op, waarbij zich meer elektronen in de geëxciteerde dan in de grondtoestand bevinden.<br />

De elektronen keren dan willekeurig terug van geëxciteerde naar grondtoestand met emissie van<br />

een foton (met energie hf): dit is de spontane emissie. Wanneer dit éne foton een ander elektron<br />

aanzet terug te keren naar de grondtoestand waarbij een secundair foton vrijkomt dat in fase is<br />

met het eerste, spreken we van gestimuleerde emissie. Dit is de sleutel tot het werkingsprincipe<br />

van de laser. De twee fotonen creëren er dan vier, enzovoort.<br />

E 1<br />

Spontaan<br />

Gestimuleerd<br />

E 2<br />

a)<br />

2000<br />

S( ) λ [W/cm²sr.nm]<br />

B = Opp = 10 5 W/cm²sr<br />

Stroom<br />

Resonantie<br />

Caviteit<br />

1000<br />

∆λ<br />

= 3,6 nm<br />

p-type<br />

n-type<br />

0<br />

Refecterende lagen<br />

λ p<br />

λ<br />

802 806 810 814 818 [nm]<br />

b) c)<br />

Lichtstraal<br />

Figuur 2.63: Laser bronnen: a) Spontane en gestimuleerde emissie, b) voor GaAlAs laserdiode en c)<br />

constructie van een halfgeleider laserdiode.<br />

Toevoegen van een resonantiecaviteit bevordert dit proces. De weerszijden van de caviteit zijn<br />

spiegels welke de fotonen in de caviteit terugkaatsen, zodat een verdere vermenigvuldiging van<br />

fotonen plaatsvindt. De afstand tussen de spiegels moet gelijk zijn aan een geheel veelvoud van<br />

de golflengte λ (λ=c/f ) om de resonantie te bewerkstelligen. De fotonen verlaten de caviteit door<br />

een smal gaatje in een van de spiegels. Zo ontstaat een smalle intense, monochromatische (bijna<br />

één enkele golflengte), coherente lichtstraal. Coherent betekent dat verschillende punten in de<br />

lichtstraal dezelfde fase bezitten.<br />

__________ - II.54 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Halfgeleider injectie laserdiodes (ILD's) worden gebruikt met optische vezelverbindingen. Ze<br />

bestaan uit hetzelfde materiaal, GaAlAs en InGaAsP, als de LED's maar geven een beter<br />

gefocusseerde, coherente straal met een veel kleinere spectrale bandbreedte ∆λ. Figuur 2.63.b<br />

toont een typische S(λ) voor een GaAlAs ILD met λ p<br />

= 810 nm, ∆λ = 3,6 nm en radiantie B = 10 5<br />

W/cm²sr. De stralingsflux ligt typisch tussen 1 en 10 mW. Figuur 2.63.c geeft schematisch de<br />

constructie van een ILD.<br />

Samengevat<br />

De LED en de halfgeleiderlaser zijn vanwege hun compacte vorm en uitstekende optische<br />

eigenschappen aan te bevelen. Figuur 2.64 geeft nog enkele (vergelijkende) karakteristieken. De<br />

maximale lichtsterkte is afhankelijk van het type LED. Ze is het grootst bij de infraroodbronnen.<br />

De piek-golflengte (figuren 2.62, 2.63.b en 2.64.c) wordt bepaald door het halfgeleidermateriaal<br />

waaruit de PN-laag is opgebouwd. Tabel 2.6 geeft enkele waarden. Tussenliggende golflengtes<br />

(kleuren) zijn ook beschikbaar; zij worden verkregen door kleine toevoegingen van andere<br />

materialen. De optische bandbreedte ∆λ ligt in de orde van 20 tot 40 nm voor een LED en is<br />

enkele nm voor de laserdiode. De bundelbreedte (volgens figuur 2.64.d) hangt af van de<br />

constructie en het al dan niet aanwezig zijn van een ingebouwde lens; voorkomende<br />

bundelbreedtes liggen tussen 5 en 70 graden.<br />

Materiaal Golflengte Kleur<br />

GaP 555-590 nm groen-geel<br />

GaAsP 630-655 nm oranje-rood<br />

GaAlAs 770-850 nm rood<br />

GaAs 930 nm infrarood<br />

InGaAsP 1300-1600 nm infrarood<br />

Tabel 2.6: Piekgolflengtes voor verschillende soorten LED's.<br />

Bij laserdioden is de bundel niet rotatiesymmetrisch; men geeft meestal twee afzonderlijke<br />

waarden op voor de horizontale en de verticale richting. Voorbeeld: 10 respectievelijk 40 graden.<br />

In de behuizing van een laserdiode is vaak een fotodiode ingebouwd, om de intensiteit te regelen.<br />

10<br />

1<br />

I e [mW/sr]<br />

i [mA]<br />

Laserdiode<br />

0<br />

1 10 100<br />

I d i [mA]<br />

λ p λ<br />

a) b) c) d)<br />

Figuur 2.64: Overdrachtskarakteristieken van a) een LED en b) een laserdiode. c) Procentueel<br />

emissiespectrum en d) richtingsdiagram.<br />

0,1<br />

LED<br />

Φe<br />

[W]<br />

100<br />

50<br />

I λ [ %]<br />

rel<br />

ϕ 50%<br />

0<br />

∆λ - 45°<br />

45°<br />

100 50 0 50 100<br />

__________ - II.55 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.3 Lichtontvangers<br />

Gangbare ontvangers voor optische sensorsystemen zijn:<br />

fotoweerstand: klein, goedkoop, gevoelig voor zichtbaar en infrarood licht; geen richtingsselectiviteit,<br />

traag;<br />

fotodiode: klein, goedkoop, gevoelig voor zichtbaar en infrarood licht; matige hoekselectiviteit;<br />

met lens verkrijgbaar; grote bandbreedte;<br />

fototransistor: als fotodiode, echter trager;<br />

diode-array ('solid state' lineaire sensoren): rij diodes in een behuizing; van enkele stuks tot<br />

meer dan 2000; 'random access' (n adreslijnen voor 2 n diodes);<br />

PSD ('position-sensitive' diode): plaatsgevoelige diode (zie paragraaf 10.8); radiometrische<br />

eigenschappen als fotodiode, 1- en 2-dimensionaal;<br />

CCD-camera ('Charge Coupled Device'): 1- en 2-dimensionaal, uiteenlopende resolutie, tot<br />

500x1000.<br />

De lichtontvanger of de lichtdetector zet het invallend licht (vermogen) om in een elektrische<br />

uitgang (weerstand, spanning of stroom).<br />

Fotodetectors zijn halfgeleiders waarbij invallende fotonen of straling de elektronen exciteren tot<br />

geleiding (van valentieband naar geleidingsband), waardoor een meetbaar effect ontstaat. De<br />

detectors reageren enkel op deze fotonen welke een energie-inhoud hc/λ bezitten die ongeveer<br />

gelijk is aan het energieverschil E G<br />

tussen valentie- en geleidingsband. Fotodetectoren hebben<br />

derhalve een smalle spectrale responscurve D(λ) met een piek bij de golflengte λ p<br />

≈ hc/E G<br />

. Er<br />

bestaan twee belangrijke typen fotodetectors: fotoweerstanden gebaseerd op fotogeleiding en de<br />

fotovoltaïsche detectors, waaronder de fotodiode en de fototransistor.<br />

Fotoweerstanden<br />

Bij de fotoweerstanden veroorzaken de geëxciteerde elektronen in de geleidingsband een stijging<br />

in de elektrische geleidbaarheid en dus een daling in de elektrische weerstand. De weerstand R<br />

van de fotoweerstand daalt bij stijgend vermogen P D<br />

van het invallend licht. Het verband is sterk<br />

niet-lineair en wordt derhalve het best logaritmisch weergegeven (zie figuur 2.65.a):<br />

log 10<br />

R = a − b log 10<br />

P D<br />

5<br />

10<br />

10<br />

10<br />

4<br />

3<br />

R [ ] Ω<br />

Detector opp. :0,6 cm²<br />

Relatieve<br />

spectrale<br />

respons<br />

100 %<br />

D ( ) λ<br />

Menselijk<br />

oog<br />

Cadmiumsulfide<br />

Loodsulfide<br />

Indium-<br />

Antimoon<br />

10<br />

2<br />

0 %<br />

0,01 0,1 1 10 P D [mW]<br />

a) b)<br />

0,1 0,6 1,0 3,0 5,3 10<br />

Figuur 2.65: a) Weerstand van Cadmiumsulfide i.f.v. invallend lichtvermogen en b) spectrale responscurven<br />

voor enkele fotoweerstanden.<br />

λ<br />

[ µm ]<br />

__________ - II.56 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Figuur 2.65.b toont de spectrale responscurve D(λ) voor drie gebruikelijke fotoweerstanden.<br />

Cadmiumsulfide (CdS) heeft een piekgolflengte λ p<br />

≈ 0,6 µm en is dus geschikt voor meting van<br />

zichtbaar licht. Loodsulfide (PbS) met λ p<br />

≈ 3,0 µm en indiumantimoon (InSb) met λ p<br />

≈ 5,3 µm,<br />

zijn geschikt voor meting van infrarood straling. Typische waarden voor een indiumantimoon<br />

fotodetector met afmetingen 6,0 x 0,5 mm zijn (gevoeligheid) K = 7 V/mW en (tijdcst) τ =5 µs.<br />

Fotoweerstanden moeten in een meetbrug geplaatst worden om een spanningsuitgangssignaal te<br />

bekomen.<br />

Fotovoltaïsche detectors<br />

Fotovoltaïsche detectors zijn fotodiodes die opgebouwd worden uit P- en N-type gedopeerd<br />

halfgeleidermateriaal. Figuur 2.66.a toont een typische stroom-spanningkarakteristiek voor een<br />

fotodiode in donkere of belichte toestand. Ten gevolge van het invallend licht verschuift de<br />

volledige karakteristiek naar beneden ter waarde van de fotostroom i f<br />

. De fotostroom is<br />

evenredig met het vermogen van het invallend licht P D<br />

opgenomen door de detector:<br />

i f = K D P D<br />

waarbij K D<br />

[A/W] de gevoeligheid is [Eng.: sensitivity of responsivity].<br />

Een (Norton) equivalent schema voor dit type detectors is een stroombron in parallel met de<br />

diodeweerstand R D<br />

en diodecapaciteit C D<br />

, zoals voorgesteld in figuur 2.66.b. Loodtintelluride is<br />

een voorbeeld van een infrarood fotodetector. Deze legering heeft bij 77 K een gevoeligheid K D<br />

gelijk aan 5 A/W en een spectrale respons D(λ) tussen 7 µm en 14 µm met een piek in de buurt<br />

van 10 µm (figuur 2.66.d ).<br />

I<br />

Donker<br />

-<br />

I<br />

+<br />

P<br />

N<br />

+ -<br />

Belicht<br />

V<br />

i f<br />

c)<br />

foton (hc/ λ )<br />

i = f<br />

a)<br />

K D P D<br />

R D<br />

C D<br />

Last<br />

Relatieve<br />

spectrale<br />

respons<br />

100 %<br />

D ( ) λ<br />

Silicium<br />

Germanium<br />

Loodtintelluride<br />

b)<br />

Figuur 2.66: a) Stroom-spanningkarakteristiek van fotodiode, b) Norton equivalente schakeling voor<br />

fotodiode, c) opbouw van een PIN-fotodiode en d) spectrale responscurven van enkele fotovoltaïsche<br />

detectors.<br />

0 %<br />

d)<br />

0,1 0,85 1,5 10<br />

λ<br />

[ µm ]<br />

__________ - II.57 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Figuur 2.66.c toont de opbouw van een PIN-diode. De PIN-diode heeft een laag ongedopeerd<br />

(intrinsiek) I - materiaal tussen de P- en N-lagen. Invallende fotonen creëren additionele<br />

elektron-gat paren in dit gebied wat een verhoging van de fotostroom en de gevoeligheid<br />

vergeleken met de PN-diode tot gevolg heeft. Een gebruikelijke PIN-diode heeft een actief gebied<br />

van 1 mm², een gevoeligheid K D<br />

≈ 0,55 A/W, een piekgolflengte ≈ 0,85 µm en een spectrale<br />

responscurve zoals weergegeven in figuur 2.66.d. De spectrale respons van deze fotodiode stemt<br />

goed overeen met spectrale radiantie S(λ) van GaAlAs LED of ILD bronnen. Door hun kleine<br />

afmetingen zijn ze zeer goed geschikt voor koppeling met optische vezels. De Germanium<br />

PIN-diodes met K D<br />

≈ 0,5 A/W en λ p<br />

≈ 1,5 µm zijn meer geschikt voor toepassingen met lange<br />

golflengtes.<br />

De principiële werking van een 'avalanche' fotodiode verschilt van de werking van de PIN-diode<br />

in één belangrijk opzicht: Waar bij een PIN-diode één foton één elektron opwekt, zal bij een<br />

avalanche fotodiode een vermenigvuldiging optreden welke resulteert in vele elektronen aan de<br />

uitgang voor elk invallend foton.<br />

Figuur 2.67 toont enige karakteristieken van fotodiodes. In het stralingsdiagram van figuur<br />

2.67.b geldt curve a voor een diode met lens en curve b voor een diode zonder lens. De<br />

halfwaardehoeken liggen tussen 10 en 60 graden.<br />

100<br />

i [µA]<br />

f<br />

Fotodiode<br />

50<br />

E [mW/cm²]<br />

0<br />

0 50 100<br />

a) b)<br />

0<br />

- 45° a 45°<br />

-90°<br />

b<br />

90°<br />

100 50 0 50 100<br />

S [mA/mW]<br />

S [mA/mW]<br />

0,5<br />

Si<br />

0,5<br />

InGeAs(P)<br />

λ p λ<br />

0<br />

500 850 1000 [nm]<br />

0<br />

c) d)<br />

λ p λ<br />

1000 1600<br />

[nm]<br />

Figuur 2.67: a) Overdrachtkarakteristiek en b) richtingsdiagram van een fotodiode. c) en d) Spectrale<br />

gevoeligheid van siliciumdiode respectievelijk germaniumarsenidediode.<br />

__________ - II.58 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.4 Transmissiemedium: optische vezels<br />

Een vaak (o.a. voor transport) gebruikt transmissiemedium zijn optische vezels. Een typische<br />

optische vezel bestaat uit twee cilinders zoals weergegeven in figuur 2.68.a. De binnenste<br />

cilinder of kern (Eng.: core) heeft een brekingsindex n 1<br />

. De buitenste cilinder of mantel (Eng.:<br />

cladding) heeft een brekingsindex n 2<br />

< n 1<br />

.<br />

Mantel n 2<br />

a)<br />

Kern<br />

n 1<br />

b)<br />

θ < θ 1 C<br />

θ 1 = θC<br />

θ > θ 1 C<br />

n 2<br />

θ 2<br />

90°<br />

n 1<br />

θ 1 θ 1<br />

Breking en weerkaatsing<br />

θ 1<br />

Kritische hoek<br />

θ 1 θ 1<br />

Volledige inwendige<br />

weerkaatsing<br />

Breking<br />

Extern n 0<br />

Mantel<br />

θ 0<br />

φ Kern<br />

Weerkaatsing<br />

n 1<br />

θ 1<br />

n 2<br />

c)<br />

Figuur 2.68: Principe van optische vezels: a) opbouw, b) weerkaatsing en breking van licht bij een grens<br />

tussen twee materialen en c) totale interne reflectie of verliesloos lichttransport bij optische vezels.<br />

We zullen nu de hoek berekenen waaronder het licht moet invallen zodanig dat het volledig<br />

geleid wordt door de vezel. Een lichtstraal invallend op het scheidingsoppervlak tussen twee<br />

mediums met verschillende brekingsindices wordt voor een deel gereflecteerd en voor een deel<br />

gebroken zoals figuur 2.68.b weergeeft. De brekingshoek θ 2<br />

wordt bepaald door:<br />

n 1 sin θ 1 = n 2 sin θ 2<br />

Omdat n 1<br />

> n 2<br />

, is θ 2<br />

> θ 1<br />

.<br />

Voor een bepaalde hoek, de kritische hoek θ C<br />

genoemd, wordt θ 2<br />

= 90°.<br />

n 1 sin θ C = n 2 of θ C =bgsin ⎛ ⎝ n 2 ⎞<br />

n 1 ⎠<br />

Wanneer θ 1<br />

> θ C<br />

wordt al het licht gereflecteerd. Een optische vezel vervoert dus alle stralen met<br />

een invalshoek groter dan de kritische hoek, door een aantal interne reflecties. Als θ 0<br />

de hoek is<br />

__________ - II.59 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

waarmee het licht invalt op de vezel (zie figuur 2.68.c), dan is θ 1<br />

, de hoek waarmee de straal de<br />

kern binnenkomt, gelijk aan:<br />

n 0 sin θ 0 = n 1 sin θ 1 = n 1 cos φ<br />

met n 0<br />

= 1 voor lucht.<br />

De totale interne reflectie treedt dus op als:<br />

φ≥θ C of sin φ≥ n 2<br />

n 1<br />

of sinθ 1 = cos φ≤<br />

1 − ⎛ 2<br />

n 2 ⎞<br />

⎝ n 1 ⎠<br />

of sinθ 0 ≤ n 1<br />

n 0<br />

1 − ⎛ 2<br />

n 2 ⎞<br />

⎝ n 1 ⎠<br />

Dit definieert de aanvaarde kegel van invallend licht.<br />

n 1 n 2<br />

a)<br />

n 1 n 2<br />

Monomode-stapindex<br />

n 1<br />

n 2<br />

b)<br />

Multimode-stapindex<br />

c)<br />

Multimode-graduele-index<br />

Figuur 2.69: Indexprofiel en voortplantingspad van het licht voor verschillende typen optische vezels.<br />

Figuur 2.69.a toont drie gebruikelijke soorten van optische vezels. De monomode-stapindexvezel<br />

heeft een zeer smalle kern van enkele µm diameter. Dit type optische vezel kan slechts één<br />

voortplantingsmode verzorgen en vergt een coherente laser als bron. De multimode-stapindexvezel<br />

bezit een veel grotere kern van ongeveer 50 µm in diameter (of meer). Verschillende<br />

golven kunnen zich voortplanten in multimode vezels. Omdat de kern een veel grotere diameter<br />

heeft, is de plaatsing van de vezel t.o.v. de bron minder kritisch (betere lichtopvangst) en kunnen<br />

de vezels gemakkelijker met elkaar verbonden worden. Multimode vezels zijn in tegenstelling<br />

tot de monomode vezels, geschikt voor gebruik met LED's. De kern van de multimode-gradueleindex<br />

vezel heeft een niet-uniforme brekingsindex. n neemt parabolisch af van een waarde n 1<br />

op<br />

de centrale as naar n 2<br />

op de grens tussen kern en mantel. Het voortplantingspad van de<br />

lichtgolven is bij deze optische vezels gebogen, hetgeen voordelig is. Maar de vezel is wel veel<br />

duurder dan de stapindex vezel. Een typische waarde voor de buiten diameter van de mantel<br />

(voor alle typen) is 125 µm.<br />

Tenslotte valt op te merken dat ook het transmissiemedium een golflengte gevoelige respons<br />

M(λ) bezit. Deze moet natuurlijk afgestemd zijn op de spectrale radiantie S(λ) van de bron en de<br />

spectrale gevoeligheid D(λ) van de detector.<br />

__________ - II.60 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.5 Intensiteitsmeting<br />

Een optisch meetsysteem kan gebaseerd worden op een intensiteitsmeting van het door een bron<br />

uitgestraald en vervolgens al dan niet via weerkaatsing opgenomen licht. Het meetsysteem uit<br />

figuur 2.70 bestaat uit een aantal optische vezels welke het licht van de bron naar het meetobject<br />

leiden en een aantal vezels welke het weerkaatste licht naar de detector voeren. Deze sensoren<br />

worden gebruikt om verplaatsingen te meten in het gebied van 1/10 µm tot een paar mm.<br />

De bijbehorende elektronica zorgt dan voor een DC uitgangsspanning die evenredig is met de<br />

afstand tussen probe en object.<br />

De verklaring van het verloop van de uitgangsspanning in functie van de afstand, zoals<br />

weergegeven door figuur 2.70 luidt als volgt: Is er geen opening dan kan er geen licht<br />

ontsnappen uit de probetip en is de uitgangsspanning gelijk aan nul. Vergroot de opening dan<br />

wordt er meer en meer van het oppervlak verlicht en de hoeveelheid weerkaatst licht verhoogt.<br />

Dit is een zeer gevoelig en ongeveer lineair meetgebied. Wordt de opening nog groter dan zal op<br />

een bepaald moment het volledig oppervlak verlicht worden. Dit komt overeen met een<br />

maximale waarde van de uitgangsspanning. Daarna gaat een vergroting van de opening<br />

overeenkomen met een vermindering van de uitgangsspanning, want de verlichting van het<br />

object vermindert, het aandeel van het gereflecteerde licht opgevangen door de sensor<br />

vermindert. Dit gebied kan ook gebruikt worden om te meten maar is minder gevoelig (kleinere<br />

helling) en minder lineair. Er zijn dus twee mogelijke meetgebieden.<br />

De gevoeligheid van de sensor is ook sterk afhankelijk van de reflectie-eigenschappen van het<br />

object dat meestal een machineonderdeel is. De sensor moet derhalve gekalibreerd worden voor<br />

dat specifieke oppervlak vooraleer met de metingen te starten.<br />

Er zijn verschillende mogelijke schikkingen van de 'transmitting' en 'receiving' optische vezels.<br />

De willekeurige (Eng.: random) verdeling geeft de beste gevoeligheid en is ook eenvoudiger te<br />

fabriceren. Daarom wordt meestal deze verdeling gebruikt.<br />

Lamp<br />

Fotodetector<br />

Uitgangsspanning [Volt]<br />

Optische<br />

vezels<br />

Opening<br />

Probe<br />

10 V<br />

Meetgebied 1<br />

Stijgende helling<br />

Optische piek<br />

Meetgebied 2<br />

Dalende helling<br />

Hoge reflectie<br />

Willekeurig<br />

Concentrisch<br />

Ontvang centraal<br />

0<br />

0<br />

Lage reflectie<br />

0,02 0,04 0,06 0,08 0,10<br />

Opening [duim]<br />

Halfrond<br />

Concentrisch<br />

Zend centraal<br />

Figuur 2.70: Optisch meetsysteem via intensiteitsmeting.<br />

__________ - II.61 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.6 Incrementele optische encoder<br />

Dit meetsysteem bestaat uit een schijf (roterend) of meetlat (translerend) met opeenvolgende<br />

doorschijnende en niet-doorschijnende strepen. De onderverdeling kan gaan tot 5000 per<br />

omwenteling. Deze schijven worden afgetast met fotocellen, ofwel rechtstreeks ofwel door<br />

middel van een tegenrooster. Bij rechtstreekse aftasting krijgt de optische opnemer alleen licht<br />

van één doorschijnende zone. Bij gebruik van een tegenrooster draait de schijf voor een rooster<br />

dat dezelfde indeling in doorschijnende en donkere zones als de schijf bezit. Bij iedere overgang<br />

van een volledig donkere naar een volledig doorschijnende zone komt het licht van meerdere<br />

rastersteken op de fotocel terecht, hetgeen de gevoeligheid aanzienlijk verhoogt. Zie figuur 2.71.<br />

Tegenrooster<br />

Roterende schijf<br />

Roterende schijf<br />

Rechtstreeks<br />

Met tegenrooster<br />

Figuur 2.71: Aftasting bij roterend optisch meten.<br />

Figuur 2.72.a toont het principe van een optisch meetsysteem, met een digitaal-incrementeel<br />

uitgangssignaal. Een glazen liniaal is voorzien van een licht-donker raster. In de meetkop bevindt<br />

zich aan de ene zijde een lichtbron, die via een collimatorlens een evenwijdige lichtbundel door<br />

de liniaal zendt. Het raster van de liniaal wordt afgebeeld op een tegenraster met gelijke<br />

rastersteek, dat zich eveneens in de meetkop bevindt. Het licht dat door beide rasters valt wordt<br />

gedetecteerd door een fotocel. Indien de meetkop zich langs de liniaal beweegt, zullen de<br />

donkere strepen van beide rasters afwisselend het licht doorlaten en tegenhouden.<br />

Figuur 2.72.b toont het driehoekig signaal dat de fotocel daarbij uitgeeft. De positie volgt uit het<br />

tellen van de (elektronisch gegenereerde) nuldoorgangspulsen.<br />

Collimatorlens<br />

Lineaal<br />

Fotocel<br />

Lamp<br />

Meetpuls<br />

a) b)<br />

x Tegenraster<br />

x<br />

1 rastersteek<br />

Figuur 2.72: a) Werkingsprincipe met tegenrooster en b) bijbehorend uitgangssignaal.<br />

100%<br />

licht<br />

0<br />

100%<br />

donker<br />

x<br />

Het analoge signaal van de fotocel kan drift vertonen, waardoor meetfouten ontstaan. Deze drift<br />

ontstaat door:<br />

variaties in het lichtpad (lichtopbrengst lamp, lokale vervuiling van de liniaal).<br />

drift in de gevoeligheid van de fotocellen.<br />

drift in de analoge elektronica voor de signaalverwerking.<br />

__________ - II.62 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Lineaal<br />

Collimatorlens<br />

Fotocel A<br />

R<br />

Va<br />

Vo<br />

Lamp<br />

Fotocel C<br />

R<br />

Vc<br />

x<br />

Twee tegenroosters<br />

in tegenfase<br />

Figuur 2.73: Driftcompensatie met twee tegenroosters in tegenfase.<br />

Het effect hiervan kan worden gecorrigeerd door twee tegenrasters in tegenfase toe te passen<br />

zoals weergegeven in figuur 2.73. De uitgangssignalen van de fotocellen A en C zijn op ieder<br />

ogenblik gelijk in grootte maar tegengesteld in teken. In de schakeling rechts in de figuur worden<br />

de signalen van elkaar afgetrokken met als resulterende uitgangsspanning:<br />

V 0<br />

= V A<br />

- (-V C<br />

)<br />

Indien door één van bovengenoemde oorzaken een drift V optreedt zal deze in beide fotocellen<br />

gelijk zijn. Het uitgangssignaal van de schakeling wordt nu:<br />

V 0<br />

= (V A<br />

+ V) - (-V c<br />

+ V)= V A<br />

+ V C<br />

waarmee de drift gecompenseerd is.<br />

Tenslotte rest het probleem van de richtingsdetectie. Het digitaal-incrementeel meetsignaal van<br />

figuur 2.72.b bevat immers nog geen richtingsinformatie. Bij incrementele opnemers worden<br />

daarom twee fotocellen geplaatst welke elektrisch 90° t.o.v. elkaar verschoven zijn, zoals figuur<br />

2.74 aangeeft. Bij een verdraaiing of verplaatsing naar één richting, respectievelijk naar de<br />

tegenovergestelde richting, bekomen we de signalen uit figuur 2.75.<br />

Lineaal<br />

Collimatorlens<br />

Fotocel A<br />

Lamp<br />

Fotocel B<br />

x<br />

Twee tegenroosters<br />

90 graden verschoven<br />

Figuur 2.74: Richtingsdetectie door twee tegenroosters 90° verschoven.<br />

De incrementele opnemer levert de signalen A en B, welke 90° verschoven zijn t.o.v. elkaar. B is<br />

voorijlend bij beweging naar rechts, A is voorijlend bij beweging naar links. De logische<br />

schakeling uit figuur 2.76 zal vanuit deze signalen, twee signalen genereren welke voorkomen<br />

afhankelijk van de bewegingsrichting. Het 'DIF'-blokje stelt hier een differentiator voor die enkel<br />

reageert op de overgang van laag naar hoog (stijgende flank).<br />

__________ - II.63 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Rechts<br />

Links<br />

B<br />

A<br />

A<br />

A'<br />

A'<br />

B<br />

A<br />

A<br />

A'<br />

A'<br />

Figuur 2.75: Richtingsgevoelige signalen.<br />

A<br />

B<br />

Diff<br />

A<br />

Diff<br />

A'<br />

En 1<br />

En 2<br />

Rechts<br />

Links<br />

+<br />

Op- en Neerteller<br />

Figuur 2.76: Richtingsgevoelige schakeling.<br />

A'<br />

-<br />

Bij een beweging naar rechts valt A' samen met het hoog zijn van B. De EN-poort 1 zal de<br />

gedifferentieerde impulsen (A') doorsturen op de uitgang RECHTS. De elektronische teller telt<br />

op. Bij de beweging naar links valt niet-A' samen met het hoog zijn van B, de EN-poort 2 zal de<br />

pulsen niet-A' doorsturen op de uitgang LINKS. De elektronische teller telt af.<br />

Resolutie<br />

Een juiste combinatie van de meetsignalen levert een 2-voud en zelfs een 4-voud van de<br />

opnemerfrequentie op. Bij een meetopnemer met 500 incrementen per omwenteling, zijn zo tot<br />

2000 RECHTS/LINKS-pulsen/omwenteling mogelijk. Het schema uit figuur 2.77 levert een<br />

dubbele nauwkeurigheid of een dubbele frequentie.<br />

Rechts<br />

+<br />

A<br />

Diff<br />

A'<br />

Op- en Neerteller<br />

B<br />

B<br />

Links<br />

-<br />

Diff<br />

A A'<br />

Figuur 2.77: Richtingsgevoelige schakeling op dubbele frequentie.<br />

Bij een gewenste resolutie van 1 µm moet volgens bovenstaande techniek de rastersteek 4 µm<br />

bedragen. Dit is optisch niet haalbaar. De meeste optische rasters die worden toegepast in<br />

meetsystemen voor produktiemachines hebben een rastersteek van 40 µm. Soms komt 20 µm of<br />

zelfs 10 µm voor. Om toch tot de gewenste resolutie te komen zal het analoge uitgangssignaal<br />

__________ - II.64 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

moeten worden geïnterpoleerd. In de praktijk wordt 5-, 10- of 25-voudig geïnterpoleerd. De<br />

uiteindelijke resolutie van het meetsysteem wordt dus bepaald door de toegepaste rastersteek en<br />

de interpolatiefactor.<br />

Een tweede mogelijkheid bij translerende systemen voor het creëren van heldere en donkere<br />

zones berust op het Moiré-effect. Door een tegenrooster met gelijke verdeling als de lat onder<br />

een kleine hoek te plaatsen t.o.v. de strepen op de lat, ontstaan horizontaal donkere en heldere<br />

zones zoals aangegeven in figuur 2.78. Verplaatst de lat zich naar rechts, dan lopen deze donkere<br />

zones van boven naar beneden. Bij verplaatsing naar links lopen de zones van onder naar boven.<br />

De afstand tussen de zones is afhankelijk van de gebruikte hoek. Richtingsdetectie gebeurt weer<br />

met 2 fotocellen, op 90° of 1/4 van een periode van elkaar.<br />

Beweging<br />

van het raster<br />

Moiré-lijnen<br />

Beweging<br />

van de lijnen<br />

d<br />

(Vast tegenraster onder een kleine hoek)<br />

Figuur 2.78: Het ontstaan van Moiré-lijnen door het kruisen van rasters.<br />

Door een juiste keuze van de hoek, kan een aanzienlijke resolutieverhoging bekomen worden.<br />

Bij een verplaatsing van de lat over één rastersteek zullen de Moiré-lijnen over een (veel) grotere<br />

afstand (gelijk aan de afstand tussen de Moiré-lijnen) verschuiven.<br />

Ook de opstelling uit figuur 2.79 maakt een gelijkaardige resolutieverhoging mogelijk. Twee<br />

encoders met een klein verschil in steek worden achter elkaar geplaatst.<br />

De geometrische periodiciteit van de banden is het kleinst gemene veelvoud van de afzonderlijke<br />

periodiciteiten. Bij kleine verschillen is die ongeveer gelijk aan de oorspronkelijke periodiciteit<br />

gedeeld door de relatieve afwijking. Wanneer nu de ene encoderstrip één steek verschuift ten<br />

opzichte van de andere, dan verplaatst de band zich ook over een hele periode: de optische<br />

verplaatsing is dus vergroot met een factor gelijk aan de inverse van het relatieve verschil.<br />

De resolutieverhoging is nu mogelijk door te meten over meerdere sleuven en het meetsignaal<br />

te interpoleren. Om een richtingsafhankelijk signaal met een grotere gevoeligheid en<br />

bedrijfszekerheid te bekomen, worden ook hier 4 fotocellen geplaatst.<br />

l 1<br />

l 2<br />

l M<br />

Figuur 2.79: Incrementele encoder met Moiré-effect door verschil in rastersteek.<br />

__________ - II.65 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.7 Absolute optische meetsystemen<br />

De absolute encoders voor rotaties zijn meestal beperkt tot 1 omwenteling. Evenwel is er een één<br />

op één verband tussen de positie en de digitale output. De digitale output is als het ware een<br />

digitale code van de plaats. Figuur 2.80 geeft enkele voorbeelden van uitvoeringsvormen van<br />

plaats- en een hoekverdraaiingsencoders. De uitlezing van de digitale code geschiedt hetzij langs<br />

magnetische weg, hetzij langs elektrische weg, hetzij langs optische weg. Bij de elektrische<br />

uitlezing geleiden de zones met een logische '1', bij de magnetische methode is de logische '1' uit<br />

magnetisch materiaal gemaakt, terwijl voor de optische uitlezing de '1' transparant is.<br />

7<br />

6<br />

5<br />

4<br />

3<br />

7<br />

6<br />

5<br />

4<br />

3<br />

8<br />

2<br />

8<br />

2<br />

9<br />

1<br />

9<br />

1<br />

10<br />

16 of 0<br />

10<br />

16 of 0<br />

Binair<br />

11<br />

12 13 14<br />

15<br />

= 1<br />

= 0<br />

11<br />

12 13 14<br />

15<br />

Gray<br />

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15<br />

Figuur 2.80: Absoluut gecodeerde schijven en latten.<br />

Figuur 2.81 geeft nog een voorbeeld van een absolute optische encoder.<br />

Gecodeerde schijf<br />

a)<br />

10 - 16 Lichtbronnen<br />

10 - 16 Lichtdetectoren<br />

Elektronische<br />

interface<br />

10 tot 16 bit absolute<br />

positie<br />

Figuur 2.81: a) Gray gecodeerde schijf voor en b) constructie van absolute optische encoder.<br />

Voor de uitvoering van de figuur 2.80.a werd de binaire code gebruikt, in figuur 2.80.b is de<br />

uitvoering een Gray-code. Een nadeel van het gebruik van de binaire code is dat in de uitlezing<br />

bij een overgang van een positie naar een volgende, meer bits gelijktijdig wijzigen. Bij de<br />

overgang van 11 (= 1011) naar 12 (1100) bijvoorbeeld, wijzigen 3 bits. Als de bits niet<br />

gelijktijdig wijzigen t.g.v. een slechte uitlezing, of wanneer de encoder stopt tijdens de<br />

overgangsfase van een van de bits, dan zullen er fouten optreden. Vandaar de voorkeur voor een<br />

encoder waarbij de opeenvolgende plaatsen in de code slechts 1 bit van elkaar verschillen (=<br />

progressieve code). De Gray-code, weergegeven in figuur 2.80.b voldoet hieraan. De Gray-code<br />

is echter geen rekencode zoals de zuivere binaire code, waardoor een code-omvormer<br />

noodzakelijk is. Een andere progressieve cyclische code is de 3-excess-code. Een binair getal van<br />

4 bits stemt normaal overeen met de cijfers van 0 tot 15. Indien nu voor de voorstelling van 10<br />

cijfers (0 - 9) 4-bits gebruikt worden, zoals in de BCD-code, bestaat de mogelijkheid 6<br />

combinaties te laten wegvallen. Dit geschiedt in de "overschot van 3 code" door de eerste drie en<br />

de laatste drie cijfers weg te halen. Zo laat de 3-excess-code gebaseerd op de Gray-code per<br />

__________ - II.66 -<br />

Johan Baeten<br />

b)


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

decade de eerste drie en de laatste drie mogelijkheden weg uit de Gray-code. Figuur 2.82 laat de<br />

Gray-code en de 3-excess-code zien. De 3-excess-code heeft de volgende voordelen:<br />

'nul' wordt nu 0010: dit is een eenduidig binair getal en kan niet verward worden met het<br />

ontbreken van informatie.<br />

de code is beperkt redundant, de zes niet gebruikte cijfers kunnen dienen om een beveiliging<br />

uit te voeren.<br />

Gray<br />

a)<br />

4 3 2 1<br />

0<br />

1<br />

2<br />

3<br />

4<br />

5<br />

6<br />

7<br />

8<br />

9<br />

10<br />

11<br />

12<br />

13<br />

14<br />

15<br />

3-Excess<br />

b)<br />

8 7 6 5<br />

4 3 2 1<br />

0<br />

1<br />

2<br />

3<br />

4<br />

5<br />

6<br />

7<br />

8<br />

9<br />

10<br />

11<br />

12<br />

13<br />

14<br />

15<br />

c)<br />

0<br />

g3 g2 g1 g0<br />

+<br />

+<br />

+ + +<br />

b3 b2 b1 b0<br />

EXCLUSIEVE OF<br />

00 = 0<br />

01 = 1<br />

10 = 1<br />

11 = 0<br />

Figuur 2.82: a) Gray-code, b) 3-excess-code en c) omzetting van Gray naar binaire code.<br />

Zoals eerder vermeld heeft de Gray-code als nadeel dat ze geen rekencode is. Het omzetten naar<br />

een zuivere binaire code is echter niet moeilijk. Stellen we een 4-bit Gray-code voor door<br />

g 3<br />

g 2<br />

g 1<br />

g 0<br />

en de overeenkomende binaire code door b 3<br />

b 2<br />

b 1<br />

b 0<br />

dan is de binaire code te bekomen<br />

door volgende bewerkingen:<br />

g 3<br />

⊕ 0 = b 3,<br />

, g 2<br />

⊕ b 3<br />

= b 2<br />

, g 1<br />

⊕ b 2<br />

= b 1<br />

, g 0<br />

⊕ b 1<br />

= b 0<br />

Algemeen geeft dit:<br />

b n<br />

= g n<br />

⊕ 0 en b k<br />

= g k<br />

⊕ b k+1<br />

(met k = n-1, ....,1 , 0 )<br />

Dit leidt tot het logisch schema uit figuur 2.82.c.<br />

Voorbeeld:<br />

g 3<br />

g 2<br />

g 1<br />

g 0<br />

1 0 1 0<br />

0 1 1 0<br />

⊕ ————————————<br />

1 1 0 0<br />

b 3<br />

b 2<br />

b 1<br />

b 0<br />

Omgekeerd volgt de Gray-code uit de binaire code door toepassing van een exclusieve OF-bewerking (bit per bit) op<br />

het binair getal en het over één plaats naar rechts verschoven binair getal.<br />

Voorbeeld:<br />

0 1 0 0 0 (binair)<br />

0 0 1 0 0 0<br />

⊕ ————————————————<br />

0 1 1 0 0 (Gray) b k<br />

⊕ b k+1<br />

= g k<br />

__________ - II.67 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.8 PSD (Eng.: Position Sensitive Detector)<br />

Een PSD is een lichtgevoelige halfgeleiderdiode. De positiegevoelige detector (Eng.: PSD =<br />

Position Sensitive Detector; ook wel Position Sensitive Diode of Position Sensitive Device)<br />

levert een analoog uitgangssignaal waaruit de plaats van een erop vallende lichtbundel kan<br />

worden berekend. Figuur 2.83.a toont schematisch de opbouw van de PSD.<br />

A<br />

P<br />

D<br />

a<br />

b<br />

x<br />

Intrinsiek silicium<br />

Opvallend licht<br />

B<br />

i a<br />

R a<br />

R b<br />

i b<br />

N<br />

i f<br />

A<br />

Lichtgevoelig oppervlak<br />

B<br />

b)<br />

a)<br />

Figuur 2.83: a) Principe en b) elektrisch equivalent model van een PSD.<br />

In de ééndimensionale configuratie bestaat een PSD uit een rechthoekige (bv. 30 x 2 mm 2 )<br />

PN-diode of PIN-diode zoals figuur 2.83.a weergeeft. Het N+-silicium aan de achterzijde is<br />

gemetalliseerd en vormt de tegenelektrode. Het P-silicium aan de voorkant vormt het<br />

lichtgevoelige oppervlak en heeft twee contacten A en B. Een invallende lichtstraal genereert een<br />

fotostroom in de PIN-diode of in een PN-diode die in sperrichting staat ingesteld (waardoor de<br />

depletielaag of het verarmingsgebied ontstaan is). De fotostroom is evenredig met de intensiteit<br />

van het invallende licht. Deze stroom splitst zich in twee stromen i a<br />

en i b<br />

naar de contacten A en<br />

B. Volgens het equivalent elektrisch model uit figuur 2.83.b geeft dit:<br />

i a<br />

i b<br />

= R b<br />

R a<br />

of<br />

i a R a = i b R b = i f<br />

R a R b<br />

R<br />

De PSD is zodanig geconstrueerd dat deze een zeer constante oppervlakteweerstand heeft.<br />

Hierdoor zijn de weerstanden R a<br />

en R b<br />

:<br />

R a<br />

= R(0,5D + x)/D<br />

R b<br />

= R(0,5D - x)/D<br />

waarin R, de totale weerstandswaarde tussen de beide uiteinden, D de afstand tussen de<br />

eindcontacten, en x = 0 de middenpositie is. Het verschil van beide stromen wordt dan:<br />

i b − i a = 2i f<br />

D x<br />

en is lineair afhankelijk van de plaats x, maar ook evenredig met de intensiteit. De som van beide<br />

stromen is gelijk aan de totale fotostroom (i a<br />

+ i b<br />

= i f<br />

) en is dus (enkel) evenredig met de<br />

intensiteit van het invallende licht.<br />

__________ - II.68 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Het quotiënt van verschil- en somstroom hangt slechts af van de positie x van de invallende<br />

lichtstraal:<br />

i b − i a<br />

i b + i a<br />

= 2 D x<br />

Een PSD vereist dus uitleeselektronica waarmee dit quotiënt kan worden gevormd.<br />

De lichtbundel heeft een zekere diameter. De output van de PSD representeert het zwaartepunt<br />

van de bundel. De spectrale responsie van een PSD ligt tussen 400 nm en 1000 nm met een piek<br />

rond 900 nm. De gevoeligheid ligt rond 0,6 A/Watt. De lineariteit is meestal beter dan één<br />

procent, het bereik enige cm.<br />

De resolutie die met een PSD bereikt kan worden, wordt bepaald door de ruis in de signalen i a<br />

en<br />

i b<br />

. Deze ruis wordt veroorzaakt door:<br />

de hagelruis in het signaal en de donker-stroom,<br />

ruis in de weerstanden R a<br />

en R b<br />

,<br />

ruis in de meetversterker.<br />

De nauwkeurigheid die bereikt kan worden ligt in de orde van 1:10.000. De invloed van<br />

donker-stroom en omgevingslicht kan worden verminderd door gepulseerd licht te gebruiken.<br />

Y2<br />

i y 2<br />

X1<br />

i x 1<br />

i y 1<br />

i x 2<br />

X2<br />

Y1<br />

X1<br />

Invallend licht<br />

X2<br />

Figuur 2.84: Tweedimensionale PSD: bij gesperde junctie zijn i x<br />

en i y<br />

fotostromen ten gevolge van de<br />

lichtvlek ter hoogte van (x,y).<br />

Bij de tweedimensionale uitvoeringen zijn er twee tegenover elkaar liggende elektroden<br />

aangebracht: één paar aan de P-zijde en één paar aan de N-zijde. Er is geen gemetalliseerde<br />

achterzijde aanwezig. Figuur 2.84 toont een planaire PN-diode met vrij grote afmetingen, enige<br />

cm². Het verschil tussen de fotostromen door twee tegenover elkaar liggende aansluitingen,<br />

i x1<br />

-i x2<br />

, respectievelijk i y1<br />

-i y2<br />

is recht evenredig met respectievelijk de x- en de y-positie van een op<br />

de diode invallende lichtbundel. Met een dergelijke PSD kan dus de plaats van een lichtbundel in<br />

het tweedimensionale vlak worden gemeten. Deze eigenschap maakt het mogelijk verplaatsingen<br />

en hoekverdraaiingen te meten.<br />

Door de juiste opbouw van 3 tweedimensionale PSD's gecombineerd met drie laserdiodes in een<br />

deels vervormbaar huis, worden bijvoorbeeld krachtsensoren of professionele 'joysticks' of 'space<br />

mouses' gemaakt. Hierbij wordt gebruik gemaakt van triangulatietechnieken, waarvan een<br />

voorbeeld in de volgende paragraaf.<br />

__________ - II.69 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.9 Triangulatie met PSD<br />

Via optische projectie en triangulatie is een afstandsmeting met een PSD mogelijk. Figuur 2.85<br />

geeft de opstelling schematisch weer.<br />

a<br />

Bron<br />

Lens<br />

y<br />

f (focale lengte)<br />

PSD<br />

Figuur 2.85: Triangulatie met PSD.<br />

α<br />

x<br />

Object<br />

(diffuus oppervlak)<br />

y / f<br />

2<br />

PSD Bereik<br />

1,5<br />

1<br />

0,5<br />

0<br />

-0,5<br />

Meetbereik<br />

α = 10°<br />

α = 30°<br />

α = 45°<br />

Absolute grenzen<br />

45°<br />

tg( α)<br />

30°<br />

10°<br />

-1<br />

-cotg( α)<br />

-1,5<br />

-2<br />

Figuur 2.86: Verband tussen te meten afstand en positie van de lichtstip op de PSD, bij wijze van voorbeeld<br />

zijn mogelijk PSD en meetbereik aangegeven.<br />

De relatie tussen de afstand x en de positie y van de lichtvlek op de PSD is niet-lineair, en<br />

afhankelijk van een aantal geometrische parameters:<br />

x = a y.tgα+f<br />

f.tgα−y<br />

0 20 40 60 80 x / a 100<br />

Door de keuze van α, a en f kan voor een bepaalde toepassing een compromis worden gevonden<br />

tussen bereik en niet-lineariteit. Alhoewel niet-lineariteit op zich geen probleem hoeft te zijn,<br />

beperkt ze het bereik tengevolge van onnauwkeurigheid in de verwerkingselektronica. Uit figuur<br />

2.86 is af te leiden dat een fout ∆y in de positie op de PSD, een grotere invloed heeft op de<br />

meetonnauwkeurigheid ∆x naarmate de differentiële gevoeligheid kleiner is. De afstandsmeetsystemen<br />

op basis van een PSD in de handel hebben een bereik van enkele cm tot enige m. De<br />

onnauwkeurigheid hangt sterk af van de lineariteit van de PSD, maar ook van de kwaliteit van de<br />

verwerkingselektronica. Het gebruik van gemoduleerd licht is vrijwel altijd noodzakelijk, om<br />

invloeden van omgevingslicht uit te sluiten.<br />

__________ - II.70 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.10 Lasersensoren<br />

Interferometer<br />

Figuur 2.87 toont het principe van Michelson voor interferometrie: het licht van een<br />

laserlichtbron wordt door de halfdoorlaatbare spiegel deels afgebogen en gericht op een vaste<br />

spiegel (de referentietak, L 1<br />

), deels doorgelaten en op een beweegbare spiegel geworpen (de<br />

meettak, L 2<br />

). Het teruggekaatste licht in de referentie- en meettak wordt via de halfdoorlaatbare<br />

spiegel samengebracht in een detector. Indien de beweegbare spiegel wordt verplaatst, verandert<br />

de lengte van het lichtpad in L 2<br />

. Hierdoor zullen de lichtbundels L 1<br />

en L 2<br />

elkaar afwisselend<br />

versterken (in fase) en verzwakken (uit fase). De afstand tussen twee interferentieperioden is<br />

gelijk aan de golflengte van het gebruikte licht, λ, en komt overeen met een verplaatsing van de<br />

beweegbare spiegel van λ/2.<br />

De golflengte van het gebruikte licht vormt hier dus de meetstandaard. Dit principe werkt alleen<br />

goed indien licht met één golflengte wordt gebruikt. Als lichtbron wordt daarom een laser<br />

genomen, die monochroom en coherent licht produceert. De golflengte van het licht van een<br />

Helium-Neon laser is λ = 0,63 µm. Deze meetstandaard van 0,63/2 ≈ 0,3 µm vormt de basis voor<br />

een positiemeetsysteem met een theoretisch zeer hoge resolutie en nauwkeurigheid.<br />

De voortplantingssnelheid van het laserlicht in lucht is echter afhankelijk van de temperatuur,<br />

druk en vochtigheid van de lucht. Indien hiervoor wordt gecompenseerd kan een<br />

laserinterferometer in een fabrieksomgeving een nauwkeurigheid van 0,5 tot 1,0 µm per meter<br />

meetlengte halen, bij een resolutie van 0,1 µm. Er is slechts één fabrikant van<br />

laserinterferometers (Hewlett-Packard) en het meetsysteem is zo duur, dat het behalve in<br />

nauwkeurige meetmachines alleen wordt toegepast voor kalibratie en keuring van NC-machines.<br />

Vaste spiegel<br />

Laserlichtbron<br />

Referentietak L1<br />

Beweegbare spiegel<br />

Laserbundel<br />

Meettak L2<br />

Halfdoorlaatbare spiegel<br />

Detector<br />

L1<br />

L2<br />

in fase<br />

in tegenfase<br />

L1<br />

L2<br />

Figuur 2.87: Laserinterferometrie: het Michelson-principe.<br />

__________ - II.71 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

Laser dimensiemeter<br />

Lasers vormen de basis van veel meetsystemen. Een voorbeeld is gegeven in figuur 2.88. Met<br />

behulp van een laserstraal wordt een bepaald gebied door een roterend vijfzijdig prisma gescand.<br />

De collimatorlens zorgt ervoor dat de stralen evenwijdig zijn. De snelheid waarmee de laserstraal<br />

het werkgebied afscant is evenredig met de hoeksnelheid van het prisma. De schaduw van het<br />

object wordt gedetecteerd. De lengte van de schaduw in de tijd is evenredig met de breedte van<br />

het object. Het meten van het tijdinterval is nauwkeuriger door het signaal van de fotocel langs<br />

elektronische weg eerst tweemaal te differentiëren. Men krijgt dan als uitgang twee spikes. Door<br />

de differentiatie is het systeem minder gevoelig aan wijzigingen in het belichtingsniveau ten<br />

gevolge van drift in het laservermogen of aan de vervuiling van de werkomgeving.<br />

Collimatorlens<br />

Laser<br />

Roterend<br />

prisma<br />

object<br />

Fotodetector<br />

Versterker<br />

t<br />

Motor<br />

Systeem<br />

oscillator<br />

Teller<br />

Poort<br />

t<br />

Dubbele<br />

differentiator<br />

Digitaal<br />

display<br />

Figuur 2.88: Opstelling van laserdimensiemeter.<br />

__________ - II.72 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Opto-elektrische sensoren<br />

10.11 Looptijdsensoren<br />

Dit type berust op het meten van de tijd die een golf (hier licht) nodig heeft om de te meten<br />

afstand te doorlopen. Meestal zijn bron en ontvanger vast opgesteld tegenover een verplaatsbare<br />

reflector. De weg wordt dan twee maal doorlopen, zodat x = vt/2, met v de voortplantingssnelheid.<br />

Daar licht zich zeer snel voortplant, zijn de looptijden klein: in vacuüm (en lucht) legt<br />

het licht 1 meter af in ongeveer 3 ns. Daar de voortplantingssnelheid (via de brekingsindex)<br />

varieert met de temperatuur, druk en luchtsamenstelling (in het bijzonder de vochtigheid) is voor<br />

zeer hoge nauwkeurigheid compensatie nodig voor deze grootheden.<br />

Commerciële sensoren die gebaseerd zijn op het looptijdprincipe gebruiken halfgeleiderlasers<br />

die korte pulsen genereren. Door de grote voortplantingssnelheid is de resolutie beperkt;<br />

afhankelijk van de afstand (variërend van enige tientallen cm tot meer dan 10 km) is de resolutie<br />

0.1 tot 1 mm, de onnauwkeurigheid enkele mm tot enkele cm.<br />

10.12 Samenvattende tabel<br />

Volgende tabel geeft een aantal richtwaarden voor de verschillende optische meetsystemen.<br />

Type<br />

Meetbereik<br />

(volle schaal)<br />

Gevoeligheid<br />

resolutie<br />

T max<br />

( ° C )<br />

Encoders<br />

Incr. lineair 1 cm ... 3 m 80 lijnen/mm 80<br />

Incr. angulair 2π 18000 1ijnen/2π 80<br />

Abs. lineair l cm ... 3 m l µm<br />

Abs. angulair 2π 13 bit<br />

PSD 5 ... 300 cm 10 µm 50<br />

Interferometer 0 ... 40 m 5 nm<br />

Looptijd 10 cm - 10 km 3.3 ns/m 50<br />

Tabel 2.7: Optische sensoren.<br />

__________ - II.73 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11 Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.1 Inleiding<br />

Sensoren in deze categorie berusten op het piëzo-elektrisch effect. Materialen die dit effect<br />

vertonen, produceren een oppervlaktelading als ze worden gedeformeerd ten gevolge van een<br />

mechanische kracht. De lading is over een groot bereik evenredig met die kracht. Doorgaans is<br />

de sensor uitgevoerd als condensator, zodat volgens q = CV het uitgangssignaal ook als spanning<br />

beschikbaar is. De gevoeligheid van piëzo-elektrische sensoren wordt gekarakteriseerd met de<br />

ladingsgevoeligheid S q<br />

[C/N of C/m/s² of C/g] of de spanningsgevoeligheid S V<br />

= S q<br />

/C [V/N of<br />

V/m/s² of V/g].<br />

Er bestaan globaal drie groepen piëzo-elektrische materialen:<br />

natuurlijke piëzo-elektrische materialen; het bekendste voorbeeld is kwarts (kristallijn SiO 2<br />

);<br />

keramische materialen (polykristallijn), bijvoorbeeld bariumtitanaat;<br />

polymeren (bekendste voorbeeld PVDF).<br />

De materialen van de beide laatste groepen worden kunstmatig piëzo-elektrisch gemaakt door ze<br />

bij hogere temperatuur (boven de zgn. Curie-temperatuur) gedurende een zekere tijd bloot te<br />

stellen aan een sterk elektrisch veld ('polen'). Na afkoeling blijft het materiaal gepolariseerd en<br />

vertoont het piëzo-elektrische eigenschappen.<br />

De piëzo-elektrische gevoeligheid van kwarts is laag maar stabiel: in de orde van 2 pC/N.<br />

Keramische materialen hebben een veel grotere gevoeligheid, variërend van 100 tot meer dan<br />

1000 pC/N; polymeer heeft een gevoeligheid rond 25 pC/N. De piëzo-elektrische gevoeligheid<br />

van gepoolde materialen neemt echter af met de tijd, aanvankelijk snel, later steeds langzamer.<br />

Het verval verloopt negatief exponentieel, zoals weergegeven in figuur 2.89.<br />

S<br />

Gevoeligheid<br />

Keramiek<br />

Kwarts<br />

10 10² 10³ 10 4<br />

t [dagen]<br />

Figuur 2.89: Verval van piëzo-elektriciteit.<br />

Piëzo-elektrische sensoren zijn toe te passen als druk- of krachtopnemer, en met een geijkte<br />

massa (seismische massa) als versnellingsopnemer. Door de afwezigheid van bewegende delen<br />

is dit soort sensoren uiterst robuust te construeren en in een hermetisch gesloten behuizing onder<br />

te brengen. Natuurlijk zijn er ook enkele nadelen aan piëzo-elektrische sensoren. De opgewekte<br />

lading kan via de inwendige weerstand van het kristal langzaam wegvloeien, waardoor statische<br />

metingen zijn uitgesloten. Omdat kristaldeformatie ook kan optreden tengevolge van thermische<br />

effecten, zijn piëzo-elektrische sensoren ook temperatuurgevoelig.<br />

__________ - II.74 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.2 Het piëzo-elektrisch effect<br />

De piëzo-elektrische kristallen (elementen) werken als volgt: Bij het aanleggen van een kracht op<br />

het kristal, gaan de kristalatomen een beetje van plaats veranderen t.o.v. de normale positie van<br />

de atomen in het kristalrooster.<br />

x = 1 k F<br />

met k de stijfheid (typisch 2.10 9 N/m)<br />

Door die vervorming van het kristalrooster ontstaat er een lading q op het kristal evenredig met<br />

de verplaatsing x:<br />

q = Kx = K k F = SF<br />

Dit is het direct piëzo-elektrisch effect.<br />

Het woord 'piëzo' komt van het Grieks 'piezein', wat drukken betekent. Figuur 2.90 geeft een<br />

principiële voorstelling van het kristal.<br />

F<br />

F<br />

+ + + + +<br />

- - - - -<br />

q<br />

C<br />

F<br />

- - - - -<br />

+ + + + +<br />

q<br />

C<br />

F<br />

Figuur 2.90: Piëzo-elektrische opnemer.<br />

De dynamische relatie tussen verplaatsing x en kracht F is voor te stellen door een tweede orde<br />

systeem:<br />

X(p)<br />

F(p) = 1/k<br />

1<br />

p 2 + 2ζ<br />

ωn 2 ω n<br />

p + 1<br />

waarbij ω n<br />

= 2π f n<br />

(zeer) groot is ( f n<br />

= 10 tot 100 kHz) en ζ zeer klein is, ordegrootte 0,01.<br />

Omgekeerd, wanneer men een elektrische spanning V aanlegt over het kristal, dan ontstaat er een<br />

mechanische verplaatsing x evenredig met V:<br />

x = S.V<br />

Dit is het invers piëzo-elektrisch effect.<br />

Om de lading q van het direct piëzo-elektrisch effect te meten, worden twee metalen elektrodes<br />

geplaatst aan de twee zijden van het kristal. Dit geeft een condensator met capacitieve waarde C N<br />

(= ε 0<br />

εA/d). De Norton equivalente voorstelling van het kristal is dan een stroombron in parallel<br />

met de capaciteit C N<br />

waarbij de stroom:<br />

i N = dq<br />

dt = Kdx dt<br />

__________ - II.75 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

Wanneer we x vervangen door F/k, wordt deze betrekking:<br />

i N = K k<br />

dF<br />

dt = SdF dt<br />

Indien de verplaatsing x, constant blijft, m.a.w. wanneer de kracht F constant is, dan is dF/dt =<br />

0<br />

en dus is i N<br />

nul. Het zijn dus alleen de verandering van de kracht of de verandering van de<br />

verplaatsing x die een stroom i N<br />

veroorzaken. Naast de voorstelling als stroombron kan de<br />

opnemer ook gezien worden als spanningsbron met een capaciteit in serie. Dit geeft de twee<br />

equivalente schema's weergegeven in figuur 2.91 (in de figuur onderworpen aan een trilling).<br />

C i ~ C N R i<br />

q N e a<br />

= =<br />

S q a C N R N<br />

S V a<br />

Zeer groot<br />

a) b)<br />

Zeer klein<br />

Figuur 2.91: Equivalente schema's van een piëzo-elektrische opnemer :a) ladingsbron en b) spanningsbron.<br />

De weerstand R N<br />

in parallel met de capaciteit C N<br />

is bij de piëzo-opnemer zeer groot en wordt<br />

meestal verwaarloosd. Wanneer de piëzo-opnemer onderworpen is aan een sinusvormige trilling<br />

geeft hij een sinusvormige spanning af. De voorstelling van de opnemer als spanningsbron met<br />

een capaciteit C N<br />

in serie is weergegeven in figuur 2.91.b.<br />

Indien de piëzo-elektrische sensor rechtstreeks verbonden wordt met een meettoestel<br />

(beschouwd als een zuivere weerstandsbelasting R L<br />

), via een kabel welke gemodelleerd wordt als<br />

een zuivere capaciteit, dan geeft dit het schema uit figuur 2.92.<br />

i = K N<br />

dx<br />

dt C N C k<br />

R L<br />

Figuur 2.92: Equivalent schema voor een piëzo-elektrisch krachtmeetsysteem.<br />

De TF van stroom i N<br />

naar opgenomen spanning V L<br />

voor het schema uit figuur 2.92 is:<br />

V L (p)<br />

i N (p) = R L<br />

1 + R L (C N + C k )p<br />

Het totale meetsysteem geeft dan als verband tussen te meten kracht F en gemeten spanning V L<br />

:<br />

V L (p)<br />

F(p) = V L i N X<br />

i N X F =<br />

Sensor Kabel Opnemer<br />

S τp<br />

(C N + C k ) (1 +τp)<br />

1<br />

⎛<br />

⎝ 1 p 2 + 2ζ<br />

ωn 2 ω n<br />

p + 1 ⎞ ⎠<br />

met τ = R L<br />

(C N<br />

+ C k<br />

)<br />

__________ - II.76 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

Dit verband benadrukt de twee nadelen van dit elementair meetsysteem:<br />

De spanningsgevoeligheid S V<br />

= S/(C N<br />

+ C k<br />

). De gevoeligheid hangt bijgevolg af van de<br />

kabelcapaciteit C k<br />

en dus ook van de lengte van de kabel.<br />

Het dynamisch gedeelte van de TF (met verwaarlozing van de opnemer-dynamica) is:<br />

G(p)=<br />

τp 1<br />

(1 +τp) ⎛<br />

⎝ 1 2<br />

p 2 + 2ζ<br />

ω<br />

ω n<br />

p + 1 ⎞<br />

n ⎠<br />

Het tweede orde systeem is eigen aan alle elastische elementen en kan niet vermeden worden.<br />

Dit stelt echter geen probleem indien de hoogste signaalfrequentie ω max<br />

(veel) kleiner blijft<br />

dan ω n<br />

. De eerste factor τp/(1+τp) geeft aan dat het systeem niet gebruikt kan worden voor het<br />

meten van DC en langzaam variërende krachten.<br />

Als illustratie geeft figuur 2.93.a de frequentieresponsie van G(jω) weer.<br />

Versterking [dB]<br />

50<br />

0<br />

-50<br />

b)<br />

Met ladingsversterker<br />

a)<br />

Oorspronkelijk systeem<br />

(spanningsmeting)<br />

-100<br />

-1 0 1 2 3 4 5 6<br />

10 10 10 10 10 10 10 10<br />

Fase [°]<br />

90<br />

45<br />

0<br />

-45<br />

-90<br />

-135<br />

Met ladingsversterker<br />

Oorspronkelijk systeem<br />

(spanningsmeting)<br />

-180<br />

-1 0 1 2 3 4 5 6<br />

10 10 10 10 10 10 10 10<br />

Frequentie [rad/sec]<br />

Figuur 2.93: Frequentierespons van piëzo-elektrisch meetsysteem: a) als spanningsmeting, b) met<br />

ladingsversterker. De gebruikte variabelen zijn: f n<br />

= 27 kHz, ω n<br />

= 1,7.10 5 rad/s, ζ= 0,01, C N<br />

= 1600 pF,<br />

C k<br />

=600 pF, R L<br />

= 10 6 Ω, τ = 2,2 ms en voor de ladingsversterker τ F<br />

= R F<br />

C F<br />

= 1 sec.<br />

Het nuttig meetbereik voor de spanningsmeting ligt tussen 3/τ en 0,2 ω n<br />

, met de gegeven<br />

parameters is dit tussen 216 Hz en 5,4 kHz, waar 0.95 ≤ ⎜G(jω)⎜ ≤ 1,05 en de faseverschuiving<br />

bijna nul is. Voor veel toepassingen is dit echter onvoldoende.<br />

__________ - II.77 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

De vermelde nadelen van de spanningsmeting worden vermeden door gebruik te maken van een<br />

ladingsversterker (of lading-spanningsomzetter) zoals aangegeven in figuur 2.94. Dit is een<br />

integrator die in het ideale geval een uitgangssignaal geeft dat evenredig is met de lading q. Het<br />

ideale systeem geeft dan een van nul verschillend uitgangssignaal bij een statische kracht.<br />

4<br />

10 pF<br />

C F<br />

i = N<br />

dq<br />

dt<br />

0 0<br />

i = 0 i = 0<br />

1600 pF 600 pF<br />

C N<br />

C k<br />

i<br />

1<br />

i F<br />

V<br />

- = 0<br />

i<br />

- = 0<br />

i = 0 +<br />

8<br />

10 Ω<br />

-<br />

+<br />

R F<br />

6<br />

10 Ω<br />

R L<br />

V o<br />

0 0 0<br />

Sensor Kabel Ladingsversterker<br />

Opnemer<br />

Figuur 2.94: Equivalente schakeling voor piëzo-elektrisch meetsysteem met ladingsversterker.<br />

Voor figuur 2.94 geldt:<br />

i 1 = i F + i −<br />

en de lading over de terugkoppelcapaciteit C F<br />

is:<br />

q F = C F (V − − V o )<br />

Voor de ideale operationele versterker is i +<br />

= i -<br />

= 0 en is V -<br />

= V +<br />

. In dit geval wordt dat V -<br />

= V +<br />

= 0<br />

en i F<br />

= dq/dt, zo dat<br />

i 1 = i F = dq F<br />

dt<br />

=−C F<br />

dV o<br />

dt<br />

Omdat de spanningsval over de capaciteiten C N<br />

en C k<br />

nul is, vloeit er ook geen stroom door<br />

zodat:<br />

i 1 = i N = dq<br />

dt<br />

Samen geeft dit:<br />

dV o<br />

dt<br />

=− 1<br />

C F<br />

dq<br />

dt → V o =− q<br />

C F<br />

(In de veronderstelling dat V o<br />

= 0 als q = 0).<br />

De totale TF voor het meetsysteem met ladingsversterker wordt dan:<br />

V o (p)<br />

F(p) = S 1<br />

C F ⎛<br />

⎝ 1 p 2 + 2ζ<br />

ωn 2 ω n<br />

p + 1 ⎞ ⎠<br />

__________ - II.78 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

De statische spanningsgevoeligheid S V<br />

is nu S/C F<br />

, deze is enkel afhankelijk van de<br />

terugkoppelcapaciteit van de ladingsversterker en onafhankelijk van de sensor- of kabelcapaciteit.<br />

In het ideale geval is de factor τp/(1+τp) niet aanwezig en is ⎜G(jω)⎜ = 1 bij ω = 0. In<br />

de praktijk is een terugkoppelweerstand R F<br />

noodzakelijk om drift t.g.v. DC-stromen te<br />

vermijden. Dit levert opnieuw de factor τ F<br />

p/(1+τ F<br />

p) op in de totale TF met τ F<br />

= R F<br />

C F<br />

. Bij<br />

voldoende grote keuze van R F<br />

en C F<br />

zal de frequentieresponsie naar beneden toe toch nog gelijk<br />

lopen met versterking 1 tot onder 1 Hz. Bijvoorbeeld, met R F<br />

= 10 8 Ω en C F<br />

= 10 4 pF is τ F<br />

= 1 sec;<br />

⎜G(jω)⎜ = 0,95 bij ω = 3 rad/sec ≈ 0,5 Hz.<br />

11.3 Piëzo-elektrische versnellingsopnemers<br />

Piëzo-elektrische sensoren worden vaak gebruikt voor het meten van versnellingen en trillingen<br />

door toevoegen van een seismische massa m. Indien de versnellingsopnemers (of de behuizing)<br />

een versnelling a ondergaat, ontstaat ten gevolge van de traagheid een kracht F = ma die inwerkt<br />

op de seismische massa en het kristal. Hierdoor ontstaat de lading q = SF, met S [C/N] de<br />

ladingsgevoeligheid van het kristal t.g.v. een kracht. De ladingsgevoeligheid S qa<br />

voor een<br />

gegeven versnelling is dan:<br />

S qa = ∆q<br />

∆a = Sm<br />

[C/m/s²]<br />

of uitgedrukt in de eenheden C/g, met 1 g = 9,81 m/s² geeft dit:<br />

S qa = ∆q = 9, 81 Sm<br />

∆a<br />

[C/g]<br />

Bij gebruik van de versnellingsopnemer of accelerometer met een ladingsversterker met<br />

terugkoppelcapaciteit C F<br />

wordt de overeenstemmende statische spanningsgevoeligheid:<br />

S VaLV =(−) ∆V<br />

∆a<br />

=(−)9,<br />

81Sm<br />

C F<br />

[V/g]<br />

De dynamische karakteristiek (tweede orde massa-veersysteem, waardoor de gevoeligheid een<br />

piek vertoont bij de resonantiefrequentie) zoals eerder beschreven blijft natuurlijk behouden.<br />

Opgelet: Redeneren met de spannnigsgevoeligheid kan zeer gevaarlijk zijn. De eigenlijke waarde<br />

van de spanningsgevoeligheid hangt immers af van de gebruikte schakeling: het maakt dus<br />

verschil als gemeten wordt met open dan wel met 'kortgesloten' klemmen bij de spanningsmeting,<br />

en natuurlijk als een spanningsversterker dan wel een ladingsversterker gebruikt wordt.<br />

Neem bijvoorbeeld het open systeem in onbelaste toestand uit figuur 2.91.b. Bij definitie van de<br />

ladingsgevoeligheid als voorheen S qa<br />

= q a<br />

/a en de spanningsgevoeligheid als S Va<br />

= e a<br />

/a dan is<br />

voor het gegeven schema uit figuur 2.91, S VaOL<br />

= S qa<br />

/C N<br />

(Ga dit na!). Dit is de open-lusspanningsgevoeligheid<br />

of de spanningsgevoeligheid in onbelaste toestand, hetgeen duidelijk<br />

verschilt van het hoger vermeld resultaat bij gebruik van de ladingsversterker.<br />

De gebruikte spanningsgevoeligheid in paragraaf 11.5 is deze open-lus-spanningsgevoeligheid.<br />

De index 'OL' is echter weggelaten. Zoals in paragraaf 11.5 aangetoond wordt zal, de eigenlijke<br />

__________ - II.79 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

spanningsgevoeligheid (dit is met belasting) weerom wijzigen ten gevolge van de<br />

ingangsbelasting van de spanningsmeting.<br />

Samengevat zijn bij het toepassen van piëzo-elektrische sensoren als versnellingsopnemers de<br />

volgende punten van belang:<br />

Nuttig frequentiegebied:<br />

minimum: bepaald door de diëlektrische verliezen en de uitleeselektronica, f min<br />

≈ 0,3 Hz;<br />

maximum: bepaald door de resonantiefrequentie.<br />

De sensoren bezitten ook een transversale gevoeligheid (loodrecht op de hoofdas), welke<br />

globaal 1 tot 3% van de gevoeligheid in de hoofdrichting bedraagt.<br />

De sensor vormt een mechanische belasting voor het meetobject. Daarmee veranderen de<br />

versnelling a en de resonantiefrequentie ω van het object ten opzichte van de onbelaste<br />

toestand (met m de massa van de versnellingsopnemer en M die van het object):<br />

versnelling: a L<br />

= a 0<br />

M/(M+m);<br />

resonantiefrequentie: ω L =ω 0 .<br />

M+m<br />

de seismische massa m kan gaan van 1 gram tot 500 gram.<br />

M<br />

Figuur 2.95 geeft een voorbeeld van een versnellingsopnemer waarbij een piëzo-elektrisch<br />

kristallen plaatje geklemd zit tussen de seismische massa en het omhulsel. Het geheel is<br />

samengeschroefd (geperst) om een grote statische voorbelasting op het kristal aan te brengen.<br />

Afhankelijk van de richting zal de aangelegde versnelling een belasting (drukkracht)<br />

veroorzaken welke groter of kleiner kan zijn dan de statische voorbelasting.<br />

Figuur 2.95: Piëzo-elektrische versnellingsopnemers (accelerometer):<br />

a) op samendrukking en b) op afschuiving.<br />

__________ - II.80 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.4 Bevestiging van accelerometers<br />

Door de bevestiging van de accelerometer op het testobject ontstaat een nieuw massa-veersysteem.<br />

De verbinding is de veer, de opnemer is de massa. De resonantie van dit systeem moet<br />

uiteraard boven het opgemeten frequentiegebied liggen. Figuur 2.96 geeft enkele bevestigingsmogelijkheden.<br />

De bevestiging met schroef(draad) vereist getabte gaten en vlakke oppervlakken. Het<br />

bereik is 32 kHz.<br />

Bevestiging met bijenwas is een snelle en eenvoudige methode. Het bereik is 30 kHz.<br />

Gebruik van bijenwas heeft wel enkele beperkingen. Zo is de maximaal toegelaten<br />

temperatuur 40 o C, de maximale versnelling is 100 m/s 2 .<br />

Bij ferromagnetische structuren is de bevestiging met magneet eenvoudig. De opnemer is<br />

makkelijk verplaatsbaar maar relatief zwaar. Het bereik is (slechts) 8 kHz.<br />

Een laatste mogelijkheid is de handprobe. Deze is zeer snel maar niet echt repeteerbaar<br />

met een bereik tot 700 Hz.<br />

Piëzo-elektrisch<br />

element voor afschuiving<br />

Driehoekige<br />

centrale paal<br />

Voorspanveer<br />

Voorspanring<br />

Seismische<br />

massa<br />

Piëzo-elektrisch<br />

element voor druk<br />

UItgang<br />

Uitgang<br />

a)<br />

Basis<br />

b)<br />

c)<br />

Dunne film<br />

siliconen<br />

vet<br />

e)<br />

Magneet<br />

d)<br />

Dunne laag<br />

bijenwas<br />

Max. Temp = 40 o C<br />

f)<br />

Handprobe<br />

Gepunte tip<br />

Figuur 2.96: Bouw en bevestiging van accelerometers. a) Accelerometer op afschuiving, b) accelerometer<br />

op samendrukking. c) Frequentiekarakteristiek bij bevestiging met schroef, d) met bijenwas, e) met magneet<br />

en f) bij een handprobe.<br />

__________ - II.81 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.5 Interfacing bij het spanningsequivalent<br />

Zoals eerder vermeld kan een piëzo-elektrische sensor gemodelleerd worden als ladingsbron of<br />

als spanningsbron. De voorgaande paragrafen gebruikten het ladingsbronmodel om de voordelen<br />

van de ladingsversterker aan te geven. Bij wijze van voorbeeld worden hier, voor hen die dit<br />

beter past, dezelfde besluiten afgeleid met behulp van het spanningsbronmodel.<br />

De bronimpedantie is een capaciteit C N<br />

, gelijk aan die van het kristal zelf. Een eventueel<br />

ladingslek is te vertolken met een weerstand R s<br />

. De twee manieren om het ladingssignaal om te<br />

zetten in een (gemakkelijker te verwerken) spanning zijn de directe spanningsmeting en de<br />

lading-spanningsomzetter (meestal aangeduid met ladingsversterker). Van beide methoden zijn<br />

in figuur 2.97 eenvoudige interface circuits weergegeven met inbegrip van de kabel die de sensor<br />

met de verwerkingsschakeling verbindt, welke zeker niet altijd verwaarloosd kan worden.<br />

Bij de spanningsuitlezing, (ditmaal met een niet-inverterende operationele versterker) geldt:<br />

V o = A<br />

jωR s C N<br />

met<br />

1 + jωR s (C N + C k ) S Vaa A = R 1 + R 2<br />

R 1<br />

De overdracht heeft dus het karakter van een hoogdoorlaatfilter. Alleen voor hoge frequenties,<br />

dat wil zeggen: ωR s<br />

(C N<br />

+ C k<br />

) >> 1, is de overdracht frequentie-onafhankelijk, en bedraagt dan V o<br />

= A.S Va<br />

a .C N<br />

/(C N<br />

+ C k<br />

). Er treedt signaalverzwakking op tengevolge van de ingangsimpedantie<br />

van de versterker (welke misschien niet rechtstreeks gemodelleerd is, maar gezien kan worden<br />

als een stukje van R s<br />

en C N<br />

) en de kabelcapaciteit. De overdracht hangt dus af van de<br />

kabelcapaciteit, en daarmee van de lengte van de kabel. Bij wijziging van de kabel moet dus de<br />

gevoeligheid (=A.S qa<br />

/(C N<br />

+ C k<br />

) = A.S.m/(C N<br />

+ C k<br />

)) van het systeem opnieuw worden vastgesteld.<br />

S Va a<br />

=<br />

S qa a<br />

C N<br />

R s<br />

C k<br />

+<br />

-<br />

R 1 R 2 V o<br />

a)<br />

C N<br />

Sensor Kabel Versterker<br />

C N<br />

C F<br />

S Va a<br />

=<br />

S qa a<br />

C N<br />

b)<br />

R F<br />

-<br />

R s<br />

C k<br />

+<br />

Sensor Kabel Versterker<br />

V o<br />

Figuur 2.97: Interfacing voor piëzo-elektrische kristallen; a) spannings- en b) ladingsuitlezing.<br />

__________ - II.82 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

Dit nadeel heeft de ladingsuitlezing van figuur 2.97.b niet: de teruggekoppelde operationele<br />

versterker legt de ingangsspanning op nul (virtuele aarde), zodat de kabel en het sensorkristal<br />

spanningsloos zijn: hun capaciteit en ook hun weerstanden spelen geen rol meer.<br />

De lading van het kristal wordt overgedragen op de terugkoppelcapaciteit, waarvan de spanning<br />

op de uitgang verschijnt. Uitgaande van een ideale operationele versterker is de uitgangsspanning<br />

V o<br />

= -(C N<br />

/C F<br />

)S Va<br />

a , en is dus inderdaad onafhankelijk van de kabeleigenschappen en<br />

ook onafhankelijk van de frequentie. (Vergelijk deze uitkomst met die van paragraaf 11.3!)<br />

Om te voorkomen dat de offsetspanning en de biasstroom van de operationele versterker door de<br />

terugkoppelcapaciteit C F<br />

worden geïntegreerd tot een alsmaar toenemende uitgangsspanning, is<br />

een terugkoppelweerstand R F<br />

noodzakelijk. De uitgangsspanning van het circuit wordt hiermee:<br />

V o =−<br />

jωR FC N<br />

S Va a<br />

1 + jωR F C F<br />

Ook deze overdracht heeft een hoogdoorlaat-karakter met een kantelpunt dat nu uitsluitend<br />

wordt bepaald door de elektronische componenten van de ladingsversterker. Afhankelijk van het<br />

gekozen type operationele versterker (ladingsversterker) kan het kantelpunt worden gelegd bij<br />

frequenties tot minder dan 0,01 Hz. Echt statisch meten blijft evenwel niet mogelijk.<br />

__________ - II.83 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.6 Voorbeelden<br />

Voorbeeld 1<br />

Een piëzo-opnemer met een ladingsgevoeligheid S qa<br />

van 11,18 pC/g heeft een capaciteit C N<br />

van<br />

1014 pF. De 4 meter lange kabel die hieraan verbonden is, heeft een capaciteit van 90 pF/m. Hoe<br />

groot is de spanningsgevoeligheid S Va<br />

van dit geheel ?<br />

De totale capaciteit C = 1014 + 4 * 90 = 1374 pF. De spanningsgevoeligheid S Va<br />

= S qa<br />

/C =<br />

11,18 / 1374 = 8,6 mV/g.<br />

Voorbeeld 2<br />

We wensen trillingen met een frequentie f = 1 Hz, opgenomen door een accelerometer met<br />

(totale) capaciteit van 1000 pF, te versterken. Hoe groot moet de ingangsweerstand R L<br />

van de<br />

versterker zijn, opdat dit signaal maximum 3 dB lager zou zijn dan dit van de hogere<br />

frequenties ? (Equivalent model: Spanningsmeting over belastingweerstand.)<br />

De grensfrequentie f s<br />

= 1/2πR L<br />

C. Hieruit volgt dat R L<br />

= 1/2πf s<br />

C = 10 12 /(2π∗1*l000) = 160 MΩ.<br />

Voorbeeld 3<br />

De ladingsgevoeligheid S qa<br />

van een accelerometer is 5 pC/g. Wanneer men deze accelerometer<br />

verticaal zet en men draait hem vervolgens 180°, dan veroorzaken we hierdoor een versnelling<br />

van 2g. Door het verschil in uitgangsspanning tussen deze twee metingen te bepalen kan men de<br />

accelerometer aldus ijken. Deze accelerometer heeft een totale massa m van 32,4 gram, zijn<br />

resonantiefrequentie is 20 kHz. Hoe groot is de ladingsgevoeligheid S? Indien het verschil in<br />

uitgangsspanning 20 mV bedraagt, hoe groot is dan de spanningsgevoeligheid S Va<br />

? Hoe groot is<br />

de totale capaciteit C (kabel + piëzo-element) ?<br />

Antwoord: S = 15,73 pC/N, S Va<br />

= 10 mV/g , C = 500 pF.<br />

Voorbeeld 4<br />

Een motor draait 600 toeren per minuut, de trilling die hij veroorzaakt heeft dezelfde frequentie.<br />

De capaciteit van de accelerometer is 1000 pF, hoe groot moet de ingangsweerstand R i<br />

van de<br />

versterker zijn opdat dit signaal niet meer dan 3 dB lager zou zijn dan dit van de hogere<br />

frequenties.<br />

Antwoord: R i<br />

= 15,9 MΩ.<br />

Tabel 2.8 geeft nog enkele typische waarden.<br />

Type<br />

Meetbereik<br />

benedengrens<br />

Meetbereik<br />

(volle schaal)<br />

Gevoeligheid<br />

T (°C)<br />

Versnelling 2.10 -5 m/s² 10 3 ... 10 6 m/s² 0,1 ... 50 pC/ms -2 -200 ... 500<br />

Kracht 10 2 ... 10 6 N 2 ... 4 pC/N ... 300<br />

Druk 10 7 ... 10 8 Pa 20 ... 800 pC/MPa ... 200<br />

Tabel 2.8: Piëzo-elektrische sensoren.<br />

__________ - II.84 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Piëzo-elektrische sensoren<br />

11.7 Kabel met dubbele afscherming bij spanningsmeting<br />

Zoals hoger gezien, zal de ingangsweerstand R i<br />

van de versterker zeer hoog moeten zijn indien<br />

we ook trillingen met lage frequenties willen versterken. Schakelingen die hiervoor in<br />

aanmerking komen zijn niet-inverterende versterkers en spanningsvolgers.<br />

Niettegenstaande dit, mag de kabel tussen de piëzo-opnemer en de versterker niet te lang zijn.<br />

Immers zoals hoger aangegeven, daalt de spanningsgevoeligheid als de kabelcapaciteit toeneemt.<br />

Voor zeer grote kabellengten is de verzwakking van het signaal zo groot dat de signaal/ruis<br />

verhouding te klein wordt. Daarbij komt nog dat de ingangskabel gevoelig is voor ongewenste<br />

signalen afkomstig van stoorvelden evenals voor ruis te wijten aan torsie (t.g.v. het bewegen)<br />

van de kabel.<br />

Soms maakt men bij de spanningsmeting gebruik van een kabel met dubbele afscherming. De<br />

piëzo-opnemer wordt aangesloten tussen de centrale geleider A en de buitenste afscherming D.<br />

Aan de andere kant van de kabel is de geleider A aan de ingang van een eenheidsversterker<br />

aangesloten. De uitgang van de eenheidsversterker wordt verbonden met de binnenste<br />

afscherming B zoals figuur 2.98.<br />

De uitgang van deze versterker volgt de ingang op enkele procenten na. Dit betekent dat de<br />

afscherming B de potentiaalveranderingen van de centrale geleider A op enkele procenten na<br />

volgt, zodat de stroom hiertussen zeer klein is. Met andere woorden de capaciteit van de kabel<br />

vormt dan slechts een zeer kleine belasting voor de piëzo-opnemer. De capaciteit tussen de<br />

buitenste afscherming D en de afscherming B vormt nu wel een belasting voor de uitgang van de<br />

versterker, doch deze kan dit vermogen zonder problemen leveren. Dankzij deze techniek<br />

kunnen kabels met grotere lengte gebruikt worden (tot 15 a 20 m) zonder sterke vermindering<br />

van de gevoeligheden met de bijkomende eigenschap dat de versterking van het systeem geijkt<br />

kan blijven in gevoeligheidseenheden van de opnemer.<br />

C N<br />

B<br />

D D<br />

B<br />

R s<br />

A A<br />

Kabel<br />

C i<br />

R i<br />

V o<br />

Sensor<br />

Versterker<br />

Figuur 2.98: Gebruik van kabel met dubbele afscherming bij spanningsmeting met piëzo-opnemer.<br />

__________ - II.85 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

12 Ultrasone sensoren<br />

12.1 Inleiding<br />

Ultrasoonsensoren zijn sensoren die werken met behulp van geluidsgolven op frequenties hoger<br />

dan waarneembaar voor het menselijk oor, dit is hoger dan 18 kHz. Ultrasone geluidsgolven<br />

gedragen zich hetzelfde als geluidsgolven op lagere frequenties; nochtans bezitten ze een aantal<br />

voordelen:<br />

Geluidsgolven op hogere frequenties hebben kortere golflengtes; dit betekent dat de breking<br />

en afbuiging rond obstakels met een gegeven afmeting overeenkomstig verkleint. Het is (o.a.)<br />

daarom gemakkelijker een ultrasone geluidsgolf te focusseren en te richten.<br />

Het feit dat ultrasoon geluid niet hoorbaar is maakt het een interessant werkingsprincipe: b.v.<br />

in militaire toepassingen.<br />

Ultrasoon geluid kan zonder gevaar gebruikt worden in biomedische toepassingen: b.v. voor<br />

het meten van huiddikten.<br />

Algemeen kunnen geluidsgolven zonder problemen door metalen pijpen en vaten passeren.<br />

Dit betekent dat het volledige meetsysteem uitwendig gemonteerd kan worden. Dit is zeer<br />

belangrijk voor het meten bij bijvoorbeeld 'gevaarlijke' vloeistoffen (zoals corrosieve,<br />

radioactieve, explosieve of ontvlambare vloeistoffen).<br />

Het gebruik van geluid voor sensordoeleinden heeft ook een aantal voordelen boven licht:<br />

Zo is het ongevoelig voor rook, vuil, damp en dergelijke,<br />

is er geen (kunstmatige) belichting nodig: het werkt ook in het donker,<br />

ze kunnen gebruikt worden voor detectie van (onzichtbare) scheuren en barsten en<br />

er volstaan vaak eenvoudige en goedkope omvormers (transducenten).<br />

Net als bij optische sensoren spelen vooral drie sensordelen een rol: de bron, de ontvanger en het<br />

medium zoals de basisopstelling uit figuur 2.99 aangeeft. Zender en ontvanger zijn bijvoorbeeld<br />

piëzo-elektrische kristallen. Door een sinusoïdale spanning aan te leggen op de zender, zal het<br />

kristal een overeenstemmende sinusoïdale vervorming ondergaan (invers piëzo-elektrisch effect).<br />

Het kristal brengt de trilling over op (de moleculen van) het medium. De trilling plant zich voort<br />

tot bij de ontvanger en veroorzaakt ter hoogte van het (ontvanger-) kristal een wisselende druk.<br />

Volgens het direct piëzo-elektrisch effect ontstaat dan een lading q op het kristal, welke<br />

uiteindelijk resulteert in een wisselende sinusoïdale spanning aan de uitgang van het systeem.<br />

l<br />

x F<br />

q, i<br />

Z L<br />

Belasting<br />

V o<br />

Signaalgenerator<br />

Zender<br />

Transmissie<br />

Medium<br />

Ontvanger<br />

Figuur 2.99: Basisopstelling bij een 'ultrasone overbrenging'.<br />

Akoestische sensorsystemen berusten meestal op looptijdmetingen. De eigenschappen van het<br />

medium hebben doorgaans een grotere invloed op het meetresultaat dan bij optische<br />

sensorsystemen.<br />

__________ - II.86 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

12.2 Akoestische transducenten<br />

Er bestaan vier typen akoestische transducenten: piëzo-elektrische, elektrostatische,<br />

elektromagnetische en magnetostriktieve transducenten. Alleen de twee eerstgenoemde zijn<br />

geschikt voor ultrasone toepassingen. De transductie-effecten zijn allemaal reversibel. Dit wil<br />

zeggen dat een transducent als bron (zender) en als detector (ontvanger) kan dienen. Er zijn<br />

systemen met een afzonderlijke zender en ontvanger, en systemen waarin één transducent<br />

afwisselend als bron en als detector fungeert.<br />

Vrijwel alle toegepaste transducenten kunnen worden beschreven met een trillend vlak. Elk deel<br />

van dit vlak gedraagt zich als een akoestische puntbron. De geluidsintensiteit in een punt op een<br />

zekere afstand van de transducent is te berekenen door de bijdrage van alle trillende punten van<br />

dat vlak te sommeren. Afhankelijk van de plaats in de ruimte zullen sommige golven elkaar<br />

versterken, en elkaar op andere plaatsen uitdoven (interferentie). Dit verklaart het verloop van de<br />

axiale intensiteit in figuur 2.100.a en het gelobde richtingsdiagram van figuur 2.100.b.<br />

P<br />

Geluidsintensiteit<br />

75°<br />

60°<br />

45°<br />

30°<br />

15°<br />

Fresnelzone<br />

Fraunhofer-zone<br />

x<br />

r² r² afstand tot plaat met straal r<br />

a) 2λ λ ( λ = golflengte)<br />

b)<br />

Figuur 2.100: a) Verloop axiale intensiteit langs hoofdas en b) voorbeeld richtingsdiagram.<br />

0°<br />

Hoofdas<br />

15°<br />

Er treedt geen uitdoving meer op vanaf een afstand r 2 /λ langs de hoofdas. Het gebied binnen die<br />

afstand heet Fresnel-zone (of nabije veld), het gebied daarbuiten de Fraunhofer-zone (of verre<br />

veld).<br />

Een belangrijke parameter is ook de bundelbreedte van de geluidsgolf. Figuur 2.101 geeft het<br />

verband tussen bundelbreedte, afmeting van de zender en golflengte. Hoe kleiner de radiale<br />

afmeting r van de transducent, of hoe groter de golflengte λ, des te meer gedraagt de transducent<br />

zich als een puntbron (brede bundel). Een smalle bundel, wat vaak juist gewenst is in<br />

verplaatsingsmeetsystemen, vereist een grote afmeting ten opzichte van de golflengte. Of<br />

omgekeerd zal bij constante afmeting een smallere bundel ontstaan als de frequentie f (= c/λ, zie<br />

later) hoger wordt, maar een afnemend bereik omdat de demping sterk toeneemt naarmate de<br />

frequentie stijgt.<br />

r² / λ<br />

75°<br />

60°<br />

45°<br />

30°<br />

r<br />

ϕ<br />

tg( ϕ ) = λ / r<br />

x<br />

Figuur 2.101: Bundelbreedte ϕ in relatie tot afmeting r en golflengte λ.<br />

Elektrostatische transducent<br />

__________ - II.87 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

Dit type bestaat uit een vaste plaat en een beweegbare plaat, welke beide een vlakke-plaatcondensator<br />

vormen cfr. capacitieve opnemers. Bij gebruik als ontvanger wordt een min of meer<br />

constante lading op de beweegbare plaat gezet (via een grote weerstand wordt de plaat aan een<br />

hoge spanning gelegd, enkele honderden V). Geluid (trillende moleculen) doet de plaat<br />

meebewegen. Daar de lading constant is en de plaatafstand varieert, zal de spanning over de<br />

platen veranderen in het ritme van de geluidstrillingen. Dit is het uitgangssignaal van de<br />

ontvanger. Om een grote gevoeligheid te behalen maakt men de plaat uiterst dun. Bij gebruik als<br />

zender stuurt men de plaat aan met een wisselspanning. De opgewekte ladingen gaan elkaar<br />

afstoten waardoor de plaat gaat trillen in het ritme van de aangelegde spanning. Deze trilling is<br />

weliswaar niet zuiver sinusoïdaal.<br />

Figuur 2.102: Elektrostatische ultrasoon zender/ontvanger.<br />

Figuur 2.102 geeft een voorbeeld van de opbouw van een elektrostatische ultrasoon zender/<br />

ontvanger (zoals gebruikt in het labo). Hij is speciaal ontworpen om een korte ultrasone puls uit<br />

te sturen en om te werken als een elektrostatische microfoon om de puls terug te ontvangen. Een<br />

speciale plastiek folie, bedekt met een dunne geleidende laag goud, is opgespannen over een<br />

cirkelvormig gegroefde aluminium plaat. De achterzijde van de folie is een isolator. Op deze<br />

wijze ontstaat een condensator gevormd door folie en plaat. Voor het opwekken van de ultrasone<br />

puls wordt een spanning van 400 V aan de zender aangelegd. De uitgezonden puls is een<br />

onhoorbaar geluid bestaande uit 16 pulsen met een frequentie van 49.5 kHz.<br />

De voornaamste kenmerken van de elektrostatische transducent zijn:<br />

breedbandig (tot enkele MHz voor de kleinste typen);<br />

relatief goedkoop (grotere typen; hoe kleiner of breedbandiger, hoe duurder);<br />

hoge spanning vereist (enige honderden volt voor een voldoende gevoeligheid).<br />

__________ - II.88 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

Piëzo-elektrische transducenten<br />

Dit type bestaat uit een laag piëzo-elektrisch materiaal: kwarts (een van nature piëzo-elektrisch<br />

materiaal), keramiek (dat door een kunstmatige behandeling piëzo-elektrisch is gemaakt) of<br />

polymeer (het meest bekende is PVDF of PVF2). Het piëzo-elektrische effect houdt in dat<br />

deformatie van het materiaal (door druk) polarisatie opwekt, hetgeen resulteert in een<br />

oppervlaktelading. Door tegenoverliggende vlakken te voorzien van metalen elektroden is die<br />

lading te meten. Men kan ook de spanning tussen de elektroden opvatten als het uitgangssignaal,<br />

immers V = q/C. De gevoeligheid van deze kracht- of druksensor is te beschrijven met de<br />

ladingsgevoeligheid S = q/F (enkel afhankelijk van het materiaal) of de spanningsgevoeligheid S V<br />

= V/F (mede bepaald door de afmetingen van het materiaal via C). Het verband tussen beide is S<br />

= C.S V<br />

. Het inverse piëzo-elektrische effect uit zich in een deformatie tengevolge van een<br />

aangelegde spanning: x = SV. Het materiaal kan dus trillen in het ritme van een aangebrachte<br />

wisselspanning. Piëzo-elektrisch materiaal vertoont steeds beide effecten en kan derhalve als<br />

geluidsbron en als ontvanger dienen.<br />

V<br />

i<br />

i<br />

C<br />

i<br />

m<br />

L<br />

1<br />

C<br />

1<br />

R<br />

1<br />

Figuur 2.103: Equivalente elektrische schakeling voor piëzo-kristal (met inbegrip van mechanisch tweede<br />

orde systeem).<br />

Piëzo-elektrische transducenten voor akoestische toepassingen worden altijd in resonantie<br />

bedreven, namelijk op de natuurlijke (mechanische) eigenfrequentie van het kristal dat in feite<br />

een massa-veer-demper systeem is (zie ook paragraaf 11.2). Het kristal wordt opgenomen in een<br />

gesloten kring om alzo een permanente oscillator te bekomen. Om het principe van de<br />

kristaloscillator te verklaren, moeten we de totale elektrische impedantie van het kristal bepalen.<br />

Dit kan gebeuren met behulp van het equivalente schema uit figuur 2.103, welke de fysische<br />

capaciteit van het kristal voorstelt parallel met een RLC-keten die overeenstemt met het<br />

mechanisch tweede orde (massa-veer-demper) systeem. De impedantie van de RLC-keten is:<br />

•<br />

x<br />

Z E (p)= V(p)<br />

i m (p) = V F<br />

•<br />

F i m x = 1 F(p)<br />

(Sk) 2 •<br />

x (p)<br />

met q = Kx, V = F/K en K = Sk .<br />

of rekening houdend met het mechanische tweede orde systeem met massa m, demping b en<br />

stijfheid k:<br />

Z E (p)=<br />

1 ⎛<br />

(Sk) 2 ⎝<br />

mp + b + p k ⎞ ⎠ ≡ L 1p + R 1 + 1<br />

C 1 p<br />

Uit de (puur wiskundige) gelijkstelling volgt:<br />

L 1 =<br />

m<br />

(Sk) , R 2 1 =<br />

b<br />

(Sk) 2<br />

, C 1 = S 2 k<br />

__________ - II.89 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

Amplitude [K Ohm]<br />

Fase [°]<br />

Figuur 2.104: Elektrische impedantie van typisch piëzo-elektrisch kristal. Buiten het getoond bereik is het<br />

verloop zuiver capacitief, dit is amplitude dalend 20 dB/dec en hoek = -90°.<br />

De totale elektrische TF (V/i = Z = H(p) ) is dan:<br />

H(p)=<br />

10<br />

5<br />

0<br />

1.8 1.9 2 2.1 2.2 2.3<br />

30<br />

0<br />

-30<br />

-60<br />

22°<br />

ω n ω 1<br />

-90<br />

1.8 1.9 2 2.1 2.2 2.3<br />

Frequentie -lineaire schaal x 10 5 [rad/sec]<br />

C 1 L 1 p 2 + C 1 R 1 p + 1<br />

CC 1 L 1 p 3 + CC 1 R 1 p 2 + (C 1 + C)p ≅<br />

1161 Ohm<br />

Kristal parameters:<br />

m = 5.10 -2 kg,<br />

k = 2.10 9 N/m,<br />

b = 200 Ns/m,<br />

S = 2.10 -10 C/N,<br />

C = 1600 pF,<br />

f n<br />

= 31.8 kHz,<br />

L 1<br />

= 312,5 mH,<br />

R 1<br />

= 1250 Ω,<br />

C1 = 80 pF,<br />

ω n<br />

= 2.10 5 r/s,<br />

ω 1<br />

= 2,05.10 5 r/s<br />

1 − C 1 L 1 ω 2 + jC 1 R 1 ω<br />

−CC 1 R 1 ω 2 + jω[(C 1 + C) − CC 1 L 1 ω 2 ]<br />

Figuur 2.104 geeft het Bode-diagram van bovenstaande TF met enkele typische waarden voor het kristal. In de<br />

figuur springen twee belangrijke frequenties naar voren. De eerste is de natuurlijke eigenfrequentie ω n<br />

=<br />

k/m = 1/ L 1 C 1 van het mechanisch systeem. Op deze frequentie is de TF lokaal ongeveer minimaal. (Tellerterm<br />

1 − C 1 L 1 ω 2 = 0). ω n<br />

wordt de serie-resonantiefrequentie genoemd.<br />

De tweede frequentie is ω 1<br />

= (C 1 + C)/(L 1 C 1 C) waarbij complexe term in de noemer nul is, zodat de impedantie<br />

lokaal ongeveer maximaal is. ω 1<br />

= wordt de parallelle-resonantiefrequentie genoemd. Beneden ω n<br />

en boven ω 1<br />

is de<br />

hoek van H = -90°, het kristal gedraagt zich als een zuivere capaciteit. Tussen ω n<br />

en ω 1<br />

is de hoek van H ≈ +0°, het<br />

kristal is hier resistief / inductief. (Afhankelijk van de parameters kan de hoek hiertussen zelfs bijna +90° worden.)<br />

V<br />

i<br />

Kristal<br />

H(p)<br />

V ref<br />

-<br />

+<br />

G(p)<br />

Versterker<br />

i<br />

C<br />

L<br />

1<br />

C<br />

1<br />

R<br />

1<br />

Figuur 2.105: Schematische voorstelling van kristaloscillator.<br />

Figuur 2.105 geeft een schematische voorstelling van de kristaloscillator. De versterker met TF<br />

G(p) moet de oscillatie in het kristal met TF H(p) verwezenlijken en onderhouden via de<br />

terugkoppeling. Voor de schakeling uit figuur 2.105 gelden volgende vergelijkingen:<br />

i<br />

V ref − V = G(jω)<br />

en<br />

V<br />

i = H(jω)<br />

__________ - II.90 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

waaruit volgt:<br />

i G(jω)<br />

=<br />

V ref 1 + H(jω)G(jω)<br />

Dit is de klassieke TF van een gesloten regelkring welke oscilleert als de versterking van GH = 1<br />

en de hoek van GH = -180°. Gegeven de versterking en hoek van H bij ω n<br />

(figuur 2.104), moet<br />

om een oscillator te bekomen, de versterking en hoek van G gelijk zijn aan:<br />

G(jω n ) = 1 = 8, en<br />

1161 61.10−4 ∠G(jω n ) =−158 o<br />

Merk op dat als resonantiefrequentie de waarde ω n<br />

gekozen wordt omdat dit de natuurlijke<br />

mechanische eigenfrequentie van het kristal is. De TF van spanning V naar verplaatsing x<br />

vertoont op deze frequentie een piek waardoor het (vermogen van het) uitgestraald geluid<br />

maximaal is. Kleine wijzigingen in de frequentie zijn wel mogelijk door G lichtjes aan te passen.<br />

x(p)<br />

V(p) =<br />

S<br />

met<br />

m<br />

k p2 + b p + 1 ω n = k/m ζ=<br />

k<br />

b<br />

2 km<br />

De gevoeligheid is dus het grootst in een zeer smalle band rond de resonantiefrequentie. Dit<br />

wordt vaak aangegeven met de (mechanische) kwaliteitsfactor Q (kringkwaliteit), welke zo groot<br />

mogelijk moet zijn:<br />

Q =<br />

mk = 1 met ζ de dempingscoëfficiënt (standaard 2e orde systeem).<br />

b 2ζ<br />

Samengevat zijn de belangrijkste kenmerken van keramische transducenten: ze zijn smalbandig<br />

(resonerend), robuust en redelijk goedkoop.<br />

Samen met de akoestische eigenschappen van het materiaal waarin het kristal is gemonteerd<br />

(raakvlak naar 'buitenwereld') resulteert de trilling van het kristal in een uitgestraalde geluidsdruk<br />

en omgekeerd. Figuur 2.106 geeft voorbeelden van zender en ontvanger frequentieresponsies. In<br />

figuur 2.106.a zijn de dB-waarden relatief t.o.v. 1µbar, dit is dB = 20 log(P/1µbar)<br />

bij een voedingsspanning van 1 V RMS. Voor figuur 2.106.b zijn de dB-waarden relatief t.o.v. 1<br />

V, dit is dB = 20 log(V gemeten<br />

/1V).<br />

dB<br />

+20<br />

+10<br />

2 mogelijke trillingswijzen<br />

Uitzetten + Longitudinale golf<br />

-<br />

a)<br />

0<br />

34 36 38 40 42 44<br />

f [kHz]<br />

-<br />

+<br />

+ -<br />

- 50<br />

- 60<br />

- 70<br />

Afschuiven<br />

c)<br />

- +<br />

Transversale golf<br />

- 80<br />

b)<br />

34 36 38 40 42 44<br />

f [kHz]<br />

Figuur 2.106: Frequentieresponsie van a) zender en b) ontvanger. c) Mogelijke trillingsmoden.<br />

__________ - II.91 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

12.3 Het akoestische medium.<br />

Voor de voortplantingssnelheid c van het geluid (zowel voor longitudinale als voor transversale<br />

golven) geldt :<br />

c = f.λ<br />

c is de snelheid waarmee de golf zich in de ruimte voortplant, of de snelheid waarmee het<br />

fenomeen 'overdruk = deeltjes dicht bij elkaar' zich in de ruimte voortplant. De frequentie f geeft<br />

aan hoe snel de geluidsdruk verandert indien we ter plaatse blijven staan. De golflengte λ is de<br />

afstand tussen twee opeenvolgende plaatsen met 'maximale overdruk' in de golf. Figuur 2.107<br />

geeft een schematisch overzicht van de drie parameters.<br />

Golflengte λ<br />

Geluidsdruk<br />

P<br />

λ<br />

c = tg(a) = λ /T<br />

Vooraanzicht: Geluidsdruk<br />

Overdruk<br />

afstand<br />

Onderdruk<br />

a<br />

afstand /tijd<br />

T<br />

= 1/ f<br />

tijd<br />

a) b)<br />

Bovenaanzicht: fysische beweging van deeltjes<br />

Voortplantingsrichting van longitudinale golf<br />

Figuur 2.107: Voorstelling van longitudinale golf.<br />

De geluidssnelheid in een bepaald medium hangt af van de juiste elasticiteitsmodulus en de<br />

dichtheid ρ van dit medium:<br />

c =<br />

elasticiteitsmodulus<br />

ρ<br />

Gassen en in het algemeen ook vloeistoffen laten geen afschuiving toe, zodat hier enkel<br />

longitudinale golven mogelijk zijn. In vaste stoffen kunnen zowel longitudinale als transversale<br />

golven optreden. (In een transversale golf staat de elementaire deeltjes beweging loodrecht op de<br />

voortplantingsrichting van de golf).<br />

De akoestische voortplantingssnelheid is eveneens afhankelijk van de temperatuur (beweeglijkheid<br />

van de moleculen) en voor gassen ook van de vochtigheidsgraad.<br />

Bijvoorbeeld:<br />

c = c 0<br />

(1+k T<br />

T) =331,4(1+1,83.10-3 T) m/s (voor droge lucht met T in 0 C)<br />

dus ongeveer 2% stijging per 10 K. De invloed van luchtvochtigheid op c wordt beschreven met de<br />

empirische uitdrukking<br />

__________ - II.92 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

c = c 0<br />

(1 + k w<br />

p w<br />

) = 331,4(1 + 2,8.10 -7 p w<br />

) m/s<br />

met p w<br />

de partiële waterdampspanning in Pa. De verzadigingsdampspanning bij 18 0 C is ongeveer 2 kPa,<br />

zodat de maximale invloed bij die temperatuur slechts 5.10 -4 bedraagt, en meestal wordt verwaarloosd.<br />

De geluidssnelheid is ruwweg 10 6 maal lager dan de lichtsnelheid; looptijdverschillen zijn dan<br />

ook gemakkelijker te meten, maar de meetsnelheid is beduidend lager. De veel grotere golflengte<br />

van geluid maakt het moeilijker geluidsbundels te manipuleren (bijvoorbeeld focusseren of<br />

evenwijdige bundels te maken).<br />

Door moleculaire absorptie dempt een akoestische golf tamelijk snel (exponentieel) uit. Behalve<br />

door absorptie wordt de geluidsintensiteit ook nog verzwakt door verstrooiing (door in de lucht<br />

zwevende deeltjes).<br />

De akoestische impedantie Z A<br />

bepaalt de vermogensoverdracht tussen twee media.<br />

Z A = P u ≅ cρ<br />

met P de wisseldruk en u de deeltjessnelheid.<br />

Op het grensvlak van twee media (bijvoorbeeld transducent-lucht) treedt reflectie op: een deel<br />

van het vermogen wordt teruggekaatst, het resterende deel plant zich voort in het tweede<br />

medium. De reflectie is evenredig met Z 1<br />

-Z 2<br />

/ Z 1<br />

+ Z 2<br />

, met Z 1<br />

en Z 2<br />

de akoestische impedanties<br />

van media 1 en 2. Om weinig vermogensverlies te hebben moeten de impedanties van de<br />

materialen dus zo dicht mogelijk bij elkaar liggen. Tabel 2.9 vermeldt, ter vergelijking van<br />

grootte-ordes, enige eigenschappen van diverse materialen.<br />

Omdat de akoestische impedantie van alle sensormaterialen sterk verschilt van die van het<br />

medium lucht is de vermogensoverdracht bij zender en bij ontvanger slecht voor transmissie<br />

door lucht. Men probeert dit euvel enigszins te verhelpen met een aanpassingslaag (Eng.:<br />

matching layer). Ook het materiaal waarop de transducent is bevestigd (Eng.: backing)<br />

beïnvloedt het gedrag in belangrijke mate.<br />

Dichtheid Snelheid Impedantie<br />

Medium kg/m 3 m/s kg/m 2 s<br />

Lucht 1,30 330,00 430,00<br />

Water 10³ 1,5.10³ 1,5.10 6<br />

Keramiek 7,5.10³ 3,2.10³ 3,0.10 7<br />

Staal 7,8.10 3 6,0.10 3 4,7.10 7<br />

PVDF 1,8.10³ 2,2.10³ 2,5.10 6<br />

Tabel 2.9: Akoestische eigenschappen van diverse materialen.<br />

__________ - II.93 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

12.4 Meetmethoden<br />

Er bestaan twee basismethoden voor het meten van afstand met behulp van akoestische signalen:<br />

discontinu en continu.<br />

Discontinue meetmethode<br />

De zender zendt een korte geluidspuls uit in de richting van het voorwerp waarvan de afstand<br />

moet worden bepaald (t.o.v. het sensorsysteem). Het geluid plant zich voort, reflecteert tegen het<br />

voorwerp en wordt weer ontvangen. De tijd tussen zenden en ontvangen geeft de verplaatsing.<br />

Aangezien gewacht moet worden met het uitzenden van een volgende puls tot de echo van de<br />

voorgaande is ontvangen, is de informatiestroom discreet in de tijd.<br />

Figuur 2.108 geeft een voorbeeld van de pulsechotechniek. Een piëzo-elektrisch kristal zendt een<br />

puls uit in materiaal 1. Als de karakteristieke (akoestische) impedantie van materiaal 1<br />

verschillend is van die van materiaal 2 wordt praktisch alle pulsenergie gereflecteerd aan het<br />

oppervlak tussen materiaal 1 en materiaal 2. De gereflecteerde puls wordt gedetecteerd door het<br />

kristal, nu werkend als ontvanger. De tijd tussen de vertrekkende puls en de gereflecteerde puls,<br />

T t<br />

wordt gemeten. De puls heeft een afstand 2 l afgelegd:<br />

T t = 2l<br />

c<br />

Met c de snelheid van het geluid in materiaal 1. Bij gekende c, kan l berekend worden. Deze<br />

techniek wordt gebruikt<br />

om dikten te meten (groot verschil tussen de impedantie van de meeste stoffen en lucht)<br />

om scheuren te detecteren<br />

bij een niveaumeting: reflectie op het oppervlak vloeistof-gas<br />

RF<br />

oscillator<br />

RF<br />

versterker Schakelaar<br />

Kristal<br />

Puls-<br />

Generator<br />

Echo<br />

Verwerking<br />

l<br />

Materiaal 1 Materiaal 2<br />

Tijdbasis<br />

Oscilloscoop<br />

Ideaal scoopbeeld<br />

Spanning<br />

1e uitgestraalde puls<br />

Gereflecteerde<br />

pulsen<br />

T t<br />

tijd<br />

Figuur 2.108: Voorbeeld ultrasoon meetsysteem: Pulsechotechniek.<br />

__________ - II.94 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

Door diverse oorzaken zijn nauwkeurigheid en bereik beperkt:<br />

door de beperkte bandbreedte van de transducent (i.h.b. bij piëzo-elektrische typen) is bij een<br />

vervormde weerkaatste puls het begin niet meer goed vast te stellen.<br />

pulsvervorming treedt ook op door ruis en andere stoorsignalen; bij grote afstanden is dit<br />

effect sterker<br />

Bij gebruik van één transducent kan pas ontvangen worden als de volledige puls is verzonden.<br />

Dit limiteert de minimum te meten afstand. Ook bij afzonderlijke zender en ontvanger bestaat<br />

deze limiet, doordat directe overspraak (elektrisch dan wel akoestisch) moeilijk afdoende is te<br />

onderdrukken. Verkorten van de puls verkleint ook de energie-inhoud ervan waardoor de<br />

signaal-ruisverhouding verslechtert.<br />

Continue meetmethode<br />

De fase tussen een continu uitgezonden sinusvormige geluidsgolf en zijn ontvangen echo is een<br />

maat voor de afgelegde afstand. De informatie is echter slechts eenduidig over één periode, dus<br />

het bereik is beperkt. De resolutie daarentegen kan groot zijn (bijv. bij l graad faseresolutie en<br />

6 mm golflengte is de verplaatsingsresolutie 16 µm). Bovendien heeft deze methode het voordeel<br />

dat op elk moment informatie bestaat over de verplaatsing, in tegenstelling tot bij de voorgaande<br />

methode.<br />

Amplitude<br />

Ontvangen signaal<br />

∆ t<br />

Uitgezonden signaal<br />

Tijd<br />

Figuur 2.109: Continu meting door frequentiemodulatie (FM) (Eng.: shirp).<br />

Het eenduidige meetbereik kan worden vergroot door een FM-signaal uit te zenden (Eng.: shirp<br />

zie figuur 2.109). Indien de frequentie van het zendsignaal lineair in de tijd varieert: f = f 0<br />

(1 - kt),<br />

dan is op ieder moment het frequentieverschil tussen verzonden signaal en ontvangen signaal<br />

gelijk aan:<br />

∆f = f 0<br />

(1-kt) - f 0<br />

{1-k(t-∆t)} = f 0<br />

k∆t<br />

De afstand tot het object volgt dan uit:<br />

l = c∆t<br />

2 = c∆ f<br />

2kf 0<br />

Deze methode verenigt enige voordelen van de hiervoor beschreven methoden: het zendsignaal<br />

is continu (gunstig voor de signaal-ruisverhouding) en het bereik is groter (hangt samen met de<br />

frequentiezwaai). Omdat de frequentie varieert zijn uitsluitend breedbandige transducenten<br />

toepasbaar.<br />

__________ - II.95 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

12.5 Ultrasone Doppler-debietmeter<br />

De ultrasone Doppler-debietmeter wordt gebruikt om het debiet of de snelheid van een vloeistof<br />

in een pijp te meten. De debietmeter wordt extern bevestigd aan de pijp en is dus nuttig voor de<br />

debietmeting van corrosieve vloeistoffen.<br />

De werkwijze is gebaseerd op het dopplereffect:<br />

Als bron en ontvanger van de geluidsgolven bewegen t.o.v. elkaar dan gaat de frequentie van het<br />

ontvangen signaal verschillend zijn van de frequentie van het uitgezonden signaal. De grootte<br />

van het frequentieverschil hangt af van de relatieve snelheid van de bron t.o.v. de ontvanger.<br />

B<br />

O<br />

a) f ∆ t cycli = f ∆ t λ meter<br />

b)<br />

B<br />

O'<br />

O<br />

v ∆ t meter = v ∆ t/ λ cycli<br />

c)<br />

B B'<br />

v ∆ t meter<br />

( f λ -v) ∆ t meter<br />

O<br />

Figuur 2.110: Het Doppler-effect.<br />

Figuur 2.110 geeft de drie mogelijke gevallen weer:<br />

a) Bron en ontvanger staan stil:<br />

Gedurende de tijd ∆t zijn er f∆t cycli en wordt er een afstand van f∆tλ meter afgelegd.<br />

b) Ontvanger O beweegt naar bron B met snelheid v:<br />

Gedurende de tijd ∆t heeft de ontvanger een afstand v∆t afgelegd. Na ∆t is de ontvanger in<br />

punt O'. De ontvanger ontvangt v∆t/λ meer cycli dan wanneer hij niet zou bewegen. Het<br />

totaal aantal ontvangen cycli is<br />

f∆t + v∆t<br />

λ = ⎛ ⎝ f + v ⎞<br />

λ ⎠ ∆t<br />

De frequentie van het ontvangen signaal is dus<br />

f<br />

= f + v λ = f + fv c = f c + v<br />

c<br />

met c de snelheid van de golf.<br />

Als de ontvanger in de omgekeerde richting beweegt, ontvangt hij minder cycli en uit<br />

dezelfde redenering volgt de frequentie f ' van het ontvangen signaal gelijk aan<br />

f<br />

= f c − v<br />

c<br />

__________ - II.96 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

c) Bron B beweegt naar ontvanger O met snelheid v:<br />

Gedurende de tijd ∆t heeft de bron een afstand v∆t afgelegd. Na ∆t is de bron in punt B'.<br />

De afstand B'O is f∆tλ-v∆t = ∆t( f λ−v). De golflengte λ' is:<br />

λ =<br />

totale afstand<br />

aantal cycli<br />

=<br />

∆ t( f λ−v)<br />

f ∆ t<br />

=λ− v f<br />

=λ c − v<br />

c<br />

Als de bron in de andere richting beweegt, weg van O, is<br />

λ =λ c + v<br />

c<br />

Figuur 2.111 geeft de opstelling van de debietmeter. Het kristal zendt een golf uit met frequentie<br />

f, snelheid c, en hoek θ t.o.v. de stromingsrichting. In de vloeistof zijn er vaste deeltjes, belletjes<br />

die bewegen met de snelheid v van de vloeistof. De frequentie van de geluidsgolven t.o.v. de<br />

deeltjes is:<br />

f<br />

= f c + v cos θ<br />

c<br />

(Geval b), bron staat stil, ontvanger beweegt naar bron toe met snelheid v).<br />

De invallende golven op de deeltjes worden naar alle richtingen verstrooid. Een deel wordt<br />

verstrooid terug in de richting van het kristal. De golflengte van de ontvangen geluidsgolven is:<br />

λ<br />

=λ c − v cos θ<br />

c<br />

(Geval c), bron (deeltje) beweegt naar ontvanger (kristal) toe).<br />

Berekening van de ontvangen frequentie f " met de eigenschap λ"f " = λ' f ' = c :<br />

f = λ λ f = c<br />

c − v cos θ f = c<br />

c − v cos θ<br />

= 1 + v c cos θ<br />

1 − v c cos θ f<br />

De frequentieverandering ∆f is dan<br />

c + v cos θ<br />

c<br />

f<br />

∆f = f<br />

− f = ⎛ 1 + v c cos θ<br />

⎝ 1 − v c cos θ − 1⎞ ⎠ f = 2v c cos θ<br />

1 − v c cos θ f<br />

v/c is klein; typische waarden zijn v = 10m/s en c = 10 3 m/s dus v/c= 10 -2 zodat:<br />

∆f ≅<br />

2f cos θ<br />

c<br />

v<br />

Het frequentieverschil is dus evenredig met de snelheid v.<br />

Het schema uit figuur 2.111.b geeft de nodige bewerkingen om van het ontvangen signaal te<br />

komen tot een signaal dat evenredig is met ∆f of dus ook evenredig met v.<br />

__________ - II.97 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Ultrasone sensoren<br />

Debietmeter<br />

R/X<br />

T/X<br />

Sommeren<br />

Gelijkrichter<br />

Laagdoorlaatfilter<br />

∼∆ f / 2<br />

Uitgang<br />

Snelheid v [m/s]<br />

f ''<br />

θ<br />

f<br />

R.F.<br />

R.F.<br />

Versterker Oscillator<br />

f ''<br />

f<br />

R/X T/X<br />

a)<br />

Luchtbellen of opgeloste materie<br />

b)<br />

Ontvanger<br />

Zender<br />

Figuur 2.111: a) Opstelling en b) schakeling voor Doppler-debietmeter.<br />

Eerst wordt het ontvangen signaal, dat sterk verzwakt is, terug versterkt tot het dezelfde<br />

amplitude V heeft als het uitgezonden signaal. Het ontvangen signaal wordt opgeteld met het<br />

uitgezonden signaal:<br />

V som = V sin 2πf t + V sin 2πf t= 2V cos 2π( f − f ) t<br />

2<br />

sin 2π( f<br />

+ f ) t<br />

2<br />

Dit is een amplitude gemoduleerd signaal met als draaggolffrequentie (f + f '')/2 en als<br />

modulatiefrequentie ∆f/2. Het gelijkgericht en vervolgens gefilterd signaal is sinusoïdaal met een<br />

frequentie ∆f/2, welke evenredig is met de vloeistofsnelheid.<br />

Amplitude<br />

1<br />

0.5<br />

Uitgezonden en ontvangen<br />

signaal: 40 Hz - 44 Hz<br />

Amplitude<br />

2<br />

1<br />

Som van beide signalen<br />

0<br />

0<br />

-0.5<br />

-1<br />

-1<br />

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5<br />

Tijd [sec]<br />

-2<br />

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5<br />

Tijd [sec]<br />

Amplitude<br />

2<br />

1.5<br />

1<br />

0.5<br />

Gelijkgerichte som<br />

Amplitude<br />

Resultaat na laagdoorlaatfilter<br />

1.5<br />

1/ ∆ f<br />

1<br />

0.5<br />

0<br />

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5<br />

Tijd [sec]<br />

0<br />

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5<br />

Tijd [sec]<br />

Figuur 2.112: Verschillende signalen voor de schakeling uit figuur 2.111.b. (Gebruikte laagdoorlaatfilter is<br />

een 6e orde Butterworth-filter met afsnijfrequentie bij 40 Hz.)<br />

__________ - II.98 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetprincipes<br />

Chemische sensoren<br />

13 Chemische sensoren<br />

Een belangrijke categorie van sensoren waarbij het meetsignaal afhankelijk is van de chemische<br />

samenstelling of van een chemische reactie in het te meten product zijn de groep van chemische<br />

sensoren. Voorbeelden zijn gaschromatografie of PH-meting.<br />

Deze categorie van sensoren valt echter buiten het bestek van deze cursus.<br />

__________ - II.99 -<br />

Johan Baeten


Deel III<br />

Meetgrootheden<br />

14 Positiemeting<br />

Positiemeetsystemen vormen een belangrijke component in iedere NC-machine. De nauwkeurigheid<br />

van de NC-machine wordt in eerste instantie bepaald door de nauwkeurigheid van de<br />

positiemeting of wegmeting. Wat gemeten wordt is de stand van het werkstuk t.o.v. het<br />

werktuig, dus niet de eigenlijke afmetingen van het werkstuk.<br />

14.1 Indeling van het positiemeetsysteem<br />

De meetsystemen (en de regelkring) onderscheiden zich door vier eigenschappen:<br />

open Ù gesloten kring<br />

direct Ù indirect<br />

analoog Ù digitaal<br />

absoluut Ù incrementeel<br />

Open en gesloten kring<br />

Figuur 3.1 geeft een voorbeeld van een open kring systeem. Alleen door middel van de<br />

weginformatie moet het systeem precies de gevraagde stand bereiken. Dit wordt verwezenlijkt<br />

met een elektrische stappenmotor al dan niet met een hydraulische versterking.<br />

Slede<br />

Weginformatie<br />

Stuur-<br />

Informatie<br />

Motor<br />

Stand<br />

Kogelomloopspil<br />

Stappenmotor<br />

Figuur 3.1: Open kring: Schematisch en voorbeeld.<br />

__________ - III.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Voordelen:<br />

technologisch eenvoudig<br />

geen meetsysteem, geen comparator<br />

Nadelen:<br />

voor een elektrische stappenmotor is er een vermogensturing nodig, welke duurder is<br />

naarmate het gewenste vermogen groter is;<br />

bij een elektrische stappenmotor met hydraulische versterker is een hydraulische groep nodig;<br />

stappenmotorsturing is trager dan gesloten-kring-regeling.<br />

Figuur 3.2 geeft de gesloten-kring-regeling weer. Indien er in de regelkring een grote versterking<br />

aanwezig is, wordt dit ook een servosysteem genoemd. Bij CNC-machines is dit meestal het<br />

geval omdat grote massa's nauwkeurig gepositioneerd moeten worden.<br />

Meetsysteem<br />

Stuur-<br />

Informatie<br />

+<br />

-<br />

Meetinfo<br />

Motor<br />

Stand<br />

Meetsysteem<br />

Vergelijker<br />

Kogelomloopspil<br />

Figuur 3.2: Gesloten kring: Schematisch en voorbeeld.<br />

Gelijkstroommotor<br />

Meetplaats: direct versus indirect meten<br />

Bij cartesiaanse machines met translerende sleden (alle gereedschapswerktuigen en sommige<br />

industriële robots) zijn er twee plaatsen waar de sledepositie kan worden gemeten:<br />

direct, aan de slede. Hiervoor is een lineair meetsysteem nodig.<br />

indirect, via de schroefspil. Hierbij wordt een roterende positiemeetopnemer gebruikt die op<br />

de spil of achterop de servomotor gemonteerd is.<br />

Indirect<br />

Direct<br />

X<br />

c<br />

+<br />

-<br />

Voeding<br />

Servomotor<br />

θ<br />

Overbrenging<br />

Schroefspil<br />

Slede<br />

X<br />

w<br />

X<br />

w<br />

Roterend<br />

Meetsysteem<br />

θ<br />

X<br />

w<br />

Lineair<br />

Meetsysteem<br />

Figuur 3.3: Indirecte versus directe positiemeting.<br />

Roterende positiemeetsystemen zijn goedkoper dan lineaire meetsystemen. Daartegenover staat<br />

dat indirect meten onnauwkeuriger is: er wordt via de schroefspil en soms ook via een<br />

overbrenging gemeten. Hierbij worden twee functies met tegenstrijdige eisen gecombineerd:<br />

enerzijds moeten overbrenging en schroefspil grote krachten kunnen overbrengen;<br />

anderzijds fungeert de spil als nauwkeurige meetstandaard.<br />

__________ - III.2 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Deze zware en tegelijk nauwkeurige schroefspillen zijn eveneens duur en - in combinatie met<br />

een roterend meetsysteem - inherent minder nauwkeurig dan een lineair meetsysteem. Een<br />

belang- rijke overweging in het voordeel van indirect meten is, dat daarmee de dynamica van de<br />

machineslede buiten de servokring valt.<br />

Samengevat zijn de voor-en nadelen van indirecte positiemeting:<br />

Voordelen:<br />

roterende meetopnemer veel goedkoper dan lineair meetsysteem<br />

machinedynamica en dode slag van de slede vallen buiten de servoregelkring<br />

gemakkelijk te monteren en eenvoudig<br />

kleine ingenomen ruimte<br />

Nadelen:<br />

onnauwkeurig: spoedfouten en thermische uitzetting van de schroefspil worden meetfouten<br />

Momenteel is de situatie zo, dat alleen waar zeer nauwkeurig gepositioneerd moet worden, zoals<br />

bij kottermachines en bij nauwkeurige draaimachines, nog direct (dus met een lineair meetsysteem)<br />

wordt gemeten.<br />

Analoog versus digitaal<br />

De te meten sledepositie is een analoge grootheid. De door de besturing gecommandeerde positie<br />

is een digitale waarde. Positiemeetsystemen geven of een analoog, of een digitaal uitgangssignaal.<br />

Dit bepaalt of het aftrekpunt in de servokring analoog of digitaal zal zijn.<br />

Analoge meetsystemen vormen een fysische grootheid om in een andere fysische grootheid. Zo<br />

zet de analoge opnemer de wegverplaatsing om in een spanningsverandering.<br />

De verplaatsing wordt lineair of rotatief gemeten.<br />

Digitale meetsystemen vormen een fysische (analoge) grootheid om in cijfers of in een nummer.<br />

Dit nummer kan absoluut gemeten of incrementeel opgebouwd worden.<br />

Absoluut versus incrementeel<br />

Absolute digitale meetsystemen geven voor iedere positie in het meetbereik een uniek getal af.<br />

Binnen één digitaal increment kunnen geen tussenwaarden worden aangegeven. De fout die<br />

wordt gemaakt in de omzetting van de gemeten analoge waarde naar het dichtstbij liggende<br />

digitaal getal, wordt quantisatiefout genoemd.<br />

Incrementeel-digitale meetsystemen geven geen getal, maar één puls per doorlopen<br />

meetincrement; vandaar de benaming incrementeel. Wil men van deze incrementen een absoluut<br />

getal maken, dan zal men de pulsen in een elektronisch register moeten opvangen en sommeren.<br />

Kenmerken van een incrementeel systeem zijn:<br />

vlottend nulpunt: zonder belang waar men begint te tellen<br />

nadeel: een fout (een puls die gemist wordt) blijft aangehouden bij volgende meetpunten<br />

(correctie moet voorzien worden door geregeld een absoluut nulpunt op te zoeken).<br />

Voordeel van absolute systemen zijn:<br />

fout gemaakt bij een bepaalde meting, wordt niet overgedragen naar volgende metingen.<br />

het nulpunt kan verschuiven om correcties toe te laten voor<br />

__________ - III.3 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

- slijtage op werktuigen<br />

- fouten in opstellingen<br />

Nadeel van een absoluut systeem blijft echter de kostprijs.<br />

Oorspronkelijk was de elektronica nog weinig betrouwbaar; een storing of een spanningsuitval<br />

veroorzaakte het verlies van de positiewaarde waardoor veel waarde gehecht werd aan absolute<br />

digitale meetsystemen. Samengestelde, meersporige codeschijven of -linialen gaven een absoluut<br />

getal, dat niet verloren ging na een spanningsuitval. Met de toegenomen betrouwbaarheid van de<br />

elektronica zijn deze veel duurdere absolute meetsystemen in onbruik geraakt.<br />

In de loop van de korte geschiedenis van numerieke besturingssystemen zijn zeer uiteenlopende -<br />

soms uitgesproken exotische - meetsystemen ontwikkeld en toegepast. Nu de NC-technologie<br />

een zekere graad van volwassenheid heeft bereikt, convergeert de toepassing van meetsystemen<br />

in NC-machines in de richting van een tweetal systemen:<br />

(cyclisch) absoluut-analoge inductieve systemen, gebaseerd op resolvers en inductosyns.<br />

digitaal-incrementeel optische systemen.<br />

14.2 Eisen aan positiemeetsystemen<br />

Naast de belangrijke specificaties wat betreft nauwkeurigheid en resolutie moeten aan<br />

positiemeetsystemen voor NC-productiemachines de volgende eisen worden gesteld:<br />

- functioneren onder 'meetonvriendelijke' omstandigheden: het meetsysteem moet bestand<br />

zijn tegen spanen, koelvloeistof en trillingen. De elektronica van het meetsysteem moet<br />

bestand zijn tegen de vaak sterke elektromagnetische stoorvelden, die in de fabriek kunnen<br />

optreden. Beruchte stoorbronnen zijn spanningspieken in thyristorsturingen en grote<br />

aanloopstromen in hoofdspilaandrijvingen. Vaak vergeten storingsbronnen zijn bovendien<br />

relais en elektromagnetisch bediende kleppen;<br />

- grote verhouding resolutie/meetbereik. Een resolutie van 1 µm over een meetbereik van 1<br />

meter is voor de meeste NC-machines een normale eis. Hieruit volgt een verhouding<br />

resolutie/meetbereik van 1: 10 6 .<br />

Bij metingen in het algemeen geldt dit als een extreme eis.<br />

- nauwkeurigheid. De onnauwkeurigheid is het verschil tussen de werkelijke positie en de<br />

aangegeven positie. (De resolutie of het oplossend vermogen is de kleinste verplaatsing die<br />

door het positiemeetsysteem kan worden aangegeven). In de praktijk is de resolutie van een<br />

positiemeetsysteem kleiner dan de onnauwkeurigheid.<br />

- de meetsnelheid moet groter zijn dan de maximale sledesnelheid van de machine. Op deze<br />

stationaire snelheid zijn soms trillingen gesuperponeerd, die leiden tot snelheidspieken die<br />

zo'n 20% boven de maximale sledesnelheid kunnen liggen.<br />

- real-time meten. Er mag in het meetsysteem geen grote tijdvertraging bestaan tussen de<br />

positiemeting en het uitgeven van de positiewaarde. In de praktijk is een verwerkingstijd<br />

van enige milliseconden toelaatbaar.<br />

__________ - III.4 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.3 Positie-opnemers met meerdere snelheden<br />

Het oplossingsvermogen van absolute opnemers (optisch, resolver, inductosyn...) kan men<br />

mechanisch (via een overbrenging) laten overeenstemmen met het gewenst oplossingsvermogen<br />

van de numeriek bestuurde as van de werktuigmachine.<br />

Bij een absoluut optische encoder stemt bijvoorbeeld de laagst beduidende bit overeen met een<br />

asverplaatsing van 2 µm. Daar deze encoders meestal beschikbaar zijn in een 6 tot 16 bits<br />

Gray-code zal de totale wegverplaatsing niet groter zijn dan 2 16 maal 2 µm = 0,13 m. Bij<br />

resolver- en synchrotoepassingen is een oplossingsvermogen van 5 tot 10 boogminuten<br />

gangbaar. Indien we een oplossingsvermogen van 5 min laten overeenstemmen met een lineaire<br />

verplaatsing van de machine-as van 2 µm, krijgen we een totale absolute mogelijk te meten<br />

verplaatsing van (2x60x360)/5 = 8640 µm = 8,64 mm. Bij een lineaire inductosyn is de te meten<br />

wegafstand dan weer beperkt door de periodieke indeling van de wikkelingen (de afstand 2p = 2<br />

mm).<br />

Een meting over de volledige wegafstand is enkel mogelijk door de opnemers cyclus absoluut te<br />

laten meten of door combinatie van meetsystemen met meerdere snelheden.<br />

Optisch absolute encoders<br />

Neem bijvoorbeeld een 6 bit schijf (max. 64 aanduidingen) direct gekoppeld met de as van de<br />

leispil en een 12 bit schijf (max. 4096) gekoppeld langs een overbrenging van 64:1, dit geeft bij<br />

64 omwentelingen van de as een output van 64 maal 4096 posities. Voor een resolutie van 2 µm<br />

komt hiermee een absolute meting tot 0,524 m overeen.<br />

Meertoeren encoders zijn te verkrijgen in vele afmetingen, overbrengingsverhoudingen en<br />

resoluties.<br />

Resolvers en synchro's<br />

Twee of meer synchro's of resolvers worden ofwel mechanisch ofwel elektrisch met een<br />

overbrengingsverhouding gekoppeld. In dubbele snelheidssystemen is de verhouding gewoonlijk<br />

1:8, 1:10, 1:18, 1:32 of 1:36.<br />

S1 S2 S3<br />

1:N<br />

Grof<br />

Fijn<br />

R1<br />

R2<br />

R1<br />

R2<br />

Vref<br />

S1 S2 S3<br />

Figuur 3.4: Synchro's met meerdere snelheden (mechanisch gekoppeld).<br />

__________ - III.5 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

De resolutie van een dubbelsnelheidssysteem is gelijk aan deze van de resolver of synchro voor<br />

fijnmeting gedeeld door de overbrengingsverhouding. Bijvoorbeeld een resolver met resolutie<br />

van 6 min en een overbrenging van 1:36 geeft een resolutie van ± 10 boogseconden. Omgekeerd<br />

zal bij behoud van de resolutie de totale wegmeting vergroten.<br />

Een mechanische overbrenging heeft natuurlijk zijn nadelen maar ook elektrisch koppelen is<br />

mogelijk door gebruik te maken van een 'multipole' synchro of resolver. Een eerste set<br />

statorwindingen is zodanig gewikkeld dat bij een rotorrotatie van 360°, het spanningspatroon N<br />

keer door nul gaat. De andere set statorwikkeling levert normale synchro- of resolversignalen.<br />

('Multipole' synchro's of resolvers zijn te verkrijgen met standaard synchro- of<br />

resolverspanningen en frequenties, en dit vanaf model 18 .)<br />

De verwerking van de uitgangssignalen van een dubbelsnelheidssysteem leidt wel tot enige<br />

moeilijkheden. Neem het schema weergegeven in figuur 3.5, dit is een synchro controleketen op<br />

twee snelheden.<br />

Grof<br />

Vref<br />

V1<br />

1<br />

N<br />

1<br />

N<br />

Fijn<br />

V<br />

N<br />

Figuur 3.5: Synchro-controleketen met meerdere snelheden.<br />

De spanningen V 1<br />

en V N<br />

kunnen in gedemoduleerde vorm dienst doen als stuursignalen voor een<br />

servoversterker met motor welke de hoek θ 1<br />

moet navolgen. De regeling schakelt dan om van de<br />

spanning V 1<br />

naar de spanning V N<br />

(van grof naar fijn) als de amplitude van de spanning V 1<br />

kleiner<br />

wordt dan een ingestelde waarde. Figuur 3.6 geeft de gedemoduleerde spanningen V 1<br />

en V N<br />

weer<br />

bij een hoekverdraaiing over 360°, dit in het geval van een even overbrengingsverhouding<br />

(figuur 3.6.a) en een oneven (figuur 3.6.b).<br />

Bij een even overbrenging bestaat er een gebrek aan eenduidigheid. Een stabiele positionering<br />

kan zowel bij een hoekverschil (θ 2<br />

- θ 1<br />

) van 0° of 180° plaatsvinden. Zoals figuur 3.6.b aantoont<br />

is dit voor een oneven overbrenging niet meer het geval.<br />

Een andere methode om een foutieve positionering tegen te gaan is het gebruik van de synchro of<br />

resolver over slechts 150° in plaats van de volle 360°. Hierdoor is eveneens het verband tussen<br />

spanningsverandering en hoekverandering meer lineair hetgeen het regelgedrag verbetert.<br />

De meest gebruikte oplossing bij wegmeting is daarom een opstelling met drie synchro's,<br />

een voor de grofregeling: 150° voor 1000 mm wegafstand;<br />

een voor de middenregeling: 150° voor 50 mm wegafstand;<br />

een voor de fijnregeling: 150° voor 2 mm wegafstand.<br />

__________ - III.6 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

De regeling schakelt hierbij automatisch over van grof- naar midden- en van midden- naar<br />

fijnmeting naargelang de aangeduide zones bereikt zijn.<br />

Verdraaiing over 360° van de grof-rotor (cx) t.o.v. ct<br />

Grof<br />

rotor<br />

Fijn<br />

rotor<br />

180°<br />

Tegengestelde hellingen<br />

0° 180°<br />

Gelijke hellingen<br />

stabiel op 0° en 180°<br />

a) EVEN overbrenging<br />

360° relatieve<br />

verdraaiing<br />

Verdraaiing over 360° van de grof-rotor (cx) t.o.v. ct<br />

Grof<br />

rotor<br />

Fijn<br />

rotor<br />

180°<br />

Tegengestelde hellingen<br />

0° 180°<br />

Tegengestelde hellingen<br />

instabiel op 180°<br />

b) ONEVEN overbrenging<br />

360° relatieve<br />

verdraaiing<br />

Figuur 3.6: Gedemoduleerde fijn- en grofsynchrospanningen bij even en oneven overbrengingen.<br />

Inductosyn<br />

De inductosyn wordt in systemen met meervoudige snelheden dikwijls gebruikt om de<br />

fijnregeling te verzorgen, meestal over een afstand van 2 mm. Hiervoor kan ook een "triple<br />

inductosyn" genomen worden welke een drievoudige inductosyn is die drie signalen uitgeeft op<br />

verschillende snelheden.<br />

__________ - III.7 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.4 Numerieke verwerking bij incrementele meetsystemen<br />

Om in een gesloten kring een positionering op numerieke wijze uit te voeren moet men de<br />

weginformatie en de meetinformatie numeriek vergelijken. De uitgang van deze vergelijker of<br />

comparator zal dan een analoge servosturing aansturen om de uitgangsas nauwkeurig te<br />

positioneren. Naargelang het gekozen meetsysteem, die de weginformatie opneemt, zijn er<br />

verschillende oplossingen mogelijk. Deze paragraaf bespreekt de verschillende aspecten die van<br />

belang zijn bij gebruik van een incrementeel meetsysteem. In de volgende paragrafen komt de<br />

verwerking van absolute digitale en analoge meetsystemen aan bod.<br />

Zoals bij alle incrementele stuursystemen, is de comparator in hoofdzaak een elektronische<br />

teller. De telcapaciteit hangt af van de gewenste nauwkeurigheid en van de meetlengte.<br />

Bijvoorbeeld: bij een lengte van 1m met een nauwkeurigheid 5µm moet de teller een bereik<br />

hebben van 0 tot 200.000. Bij een binaire teller is de nodige capaciteit dan 18 bits.<br />

Bij een Alles-of-niets-sturing moet de teller een preselectieorgaan hebben, om de af te leggen<br />

weg in de teller vast te leggen. Van daaruit telt deze terug tot nul.<br />

Opdat de as niet onmiddellijk stilstaat wanneer de teller nul is, is een snelheidsverandering kort<br />

voor het bereiken van het doel, vereist. Op een gegeven afstand van het doel zal de snelheid<br />

zodanig verlagen dat het overblijvend traagheidskoppel van de motor en de belasting kleiner is<br />

dan het wrijvingskoppel. Bij uitschakelen van de motor zal deze onmiddellijk stoppen. In de<br />

teller is dan een tweede preselectie nodig om de 'remafstand' in te stellen.<br />

Bij het incrementeel sturen volgens hogervermeld principe, treedt echter een moeilijkheid op. Bij<br />

een foute positionering wordt de fout overgedragen op de volgende positioneringen. Dit kan<br />

voorkomen worden door het gebruik van een op- en afteller, die als tweepuntsregelaar werkt<br />

d.w.z. dat wanneer de machine doorloopt over nul, de teller de richting omschakelt en terug naar<br />

nul brengt.<br />

Om een proportionele vergelijker te bekomen, is een op- en afteller nodig. De referentiewaarden<br />

moeten continu ingegeven worden aan de teller, de gemeten waarden moeten deze<br />

referentiewaarden continu neertellen. De teller is verbonden met een digitaal/analoog omzetter<br />

(D/A), die de analoge servomachine stuurt. De teller geeft in dit geval op elk ogenblik het<br />

verschil tussen referentiewaarde en meetwaarde welk als proportioneel stuursignaal dient.<br />

Voor een regeling in beide richtingen moet de teller richtingsgevoelig zijn en dit zowel voor<br />

referentiewaarde als meetwaarde. Figuur 3.7 geeft het blokschema.<br />

Meetw. Rechts<br />

Ref. Links<br />

Meetw. Links<br />

Ref. Rechts<br />

of<br />

of<br />

+<br />

-<br />

Teller<br />

D/A Servo<br />

Figuur 3.7: Vergelijker voor proportionele sturing.<br />

__________ - III.8 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

De teller wordt aangestuurd met pulsen, geleverd vanuit de referentie of vanuit de meting met<br />

richtingslogica. Deze pulsen verschijnen volledig asynchroon op de telleringang wat tot fouten<br />

kan leiden. De OF-poorten kunnen immers geen gelijktijdig of overlappende ingangspulsen<br />

verwerken (OF-poorten tellen niet op). Om een nauwkeurige telling mogelijk te maken moeten<br />

de verschillende pulsen (referentie rechts en links, meetwaarde rechts en links) van elkaar<br />

gescheiden worden. De pulsenscheiding kan op twee wijzen gebeuren:<br />

met behulp van een microprocessor of<br />

met behulp van digitale schakelingen.<br />

Figuur 3.8 geeft het schema voor een comparator uitgevoerd met behulp van een microprocessor.<br />

µ-proc.<br />

Parallelle<br />

output<br />

D/A<br />

Servo<br />

r<br />

Interrupt<br />

FF<br />

FlagR<br />

s<br />

Richlogica<br />

FF<br />

r<br />

tings-<br />

FlagL s<br />

Figuur 3.8: Pulsenscheiding door gebruik van µ-processor.<br />

Incrementeel<br />

Meetsysteem<br />

Aan de microprocessor is een parallelle output poort gekoppeld, waarlangs de software-matige<br />

teller aan de D/A-omzetter doorgegeven wordt. Twee flipflops koppelen de uitgang van de<br />

richtingslogica aan de processor langs een interrupt-ingang. De software zorgt dan voor de teller,<br />

de referentiesignalen, de comparator en de pulsenscheiding.<br />

+5V<br />

clear<br />

Ref.R<br />

D P<br />

FF1<br />

T R<br />

Q<br />

D P<br />

FF2<br />

T R<br />

Q<br />

NAND11<br />

op<br />

T1<br />

Ref.L<br />

D P<br />

FF3<br />

T R<br />

Q<br />

D P<br />

FF4<br />

T R<br />

Q<br />

NAND12<br />

Teller<br />

af<br />

T2<br />

Meetw.L<br />

D P<br />

FF5<br />

T R<br />

Q<br />

D P<br />

FF6<br />

T R<br />

Q<br />

NAND13<br />

D/A<br />

Ui<br />

T3<br />

Servo<br />

Meetw.R<br />

T4<br />

D P<br />

FF7<br />

T R<br />

Q<br />

D P<br />

FF8<br />

T R<br />

Q<br />

NAND14<br />

Meetw.L<br />

Meetw.R<br />

Incrementaal<br />

Opnemer<br />

Richtingslogica<br />

Figuur 3.9: Digitale pulsenscheider.<br />

__________ - III.9 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Naast de microprocessor bestaan er ook digitale schakelingen om de referentie- en meetpulsen te<br />

scheiden. Figuur 3.9 geeft een schakeling weer om de 'comparator' (voor een positionering)<br />

digitaal uit te voeren. Het probleem is hier dat de stuurpulsen vanuit het referentiesignaal en<br />

vanuit de meetwaarde nauwkeurig moeten geteld worden in een "op/af-teller". Het nauwkeurig<br />

tellen, zonder verlies van een enkele puls, moet gebeuren vanuit een "pulsenscheider". Zoals<br />

eerder aangehaald verschijnen de pulsen voor de referentiewaarden en de meetwaarden volledig<br />

asynchroon. Bij het omkeren van de richting wordt het probleem nog erger, de meetwaarde wil<br />

bv. optellen op hetzelfde tijdstip als dat de referentiewaarde wil optellen. Vier signalen moeten<br />

daarom volledig van elkaar in de tijd gescheiden worden vooraleer ze op de op- en aftellijn van<br />

de teller mogen verschijnen.<br />

De uitgang van de teller levert dan het foutsignaal ε ss<br />

in digitale vorm. Na een digitaal/analoog<br />

omzetter kan hiermee een servokring gestuurd worden.<br />

---Oscillator---<br />

BOSC<br />

D P Q<br />

FF9<br />

T R Q<br />

+5V<br />

D P Q<br />

FF10<br />

T R Q<br />

T1<br />

T2<br />

NAND1<br />

T3<br />

NAND2<br />

---Taktgenerator---<br />

T4<br />

Figuur 3.10: Taktgenerator voor digitale pulsenscheider.<br />

De taktgenerator uit figuur 3.10 baseert zich op een oscillator op hoge frequentie (bv. 100 kHz).<br />

Deze frequentie wordt twee maal gedeeld. Gecombineerd geeft het geheel vier taktpulsen T1, T2,<br />

T3 en T4 welke in tijd verschoven zijn. Figuur 3.11.a geeft enige tijdsignalen weer.<br />

BOSC<br />

FF9 (:2)<br />

FF10 (:4)<br />

NAND1<br />

NAND2<br />

T1<br />

T2<br />

T3<br />

T4<br />

Figuur 3.11.a: Signalen overeenkomstig schakeling uit figuur 3.10.<br />

__________ - III.10 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Met de pulsenscheider kunnen de vier kanalen gesynchroniseerd worden op verschillende<br />

tijdstippen. Voor ieder kanaal is er:<br />

een D-flipflop die de stijgende flank van het ingangssignaal registreert<br />

een D-flipflop die synchroniseert op een taktpuls<br />

een poort om het gesynchroniseerde signaal door te takten met behulp van een andere<br />

taktpuls. Dit doortakten zal eveneens de registratie flipflop resetten.<br />

De gesynchroniseerde signalen worden met OF-poorten zodanig gecombineerd dat:<br />

de optellijn van de teller bediend wordt vanuit REF.R of MEETW.L<br />

de aftellijn bediend wordt vanuit REF.L of MEETW.R.<br />

De vier mogelijke pulsen worden dus in de tijd verschoven en kunnen nauwkeurig bijgehouden<br />

worden in de teller. Figuur 3.11.b toont tenslotte het tijdschema voor een puls op REF.R en<br />

REF.L.<br />

Ref.R<br />

FF1<br />

FF2<br />

O1<br />

Ref.L<br />

FF3<br />

FF4<br />

D1<br />

Takten<br />

T1 T2 T3 T4 T1 T2<br />

Figuur 3.11.b: Tijdschema van enkele meet- en referentiesignalen.<br />

Opmerking: De positieregeling (alles-of-niets of proportioneel) kan natuurlijk ook gebeuren met<br />

behulp van digitale absolute positiemeetsystemen. Hierbij is geen pulsenscheiding meer nodig.<br />

De op/af-teller wordt hier immers vervangen door een vergelijkingselement dat op elk ogenblik<br />

het verschil maakt tussen gewenste en gemeten (absolute) positie.<br />

__________ - III.11 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.5 Digitale verwerking van (absolute) analoge positiemeetsignalen: Numerieke fasemeting<br />

Synchro's, resolvers en inductosyns leveren analoge signalen welke de meetinformatie of<br />

meetpositie bevatten. Voor digitale verwerking van deze signalen met digitale logica of met een<br />

microprocessor moeten deze omgezet worden in digitale hoek- of lengte-informaties. Deze<br />

omzetting kan volgens verschillende principes gebeuren.<br />

Figuur 3.12 geeft een schakeling gebaseerd op een eenvoudige RC-faseverschuiving, weer.<br />

Vx<br />

Vy<br />

Vref<br />

R<br />

VA<br />

C<br />

Vx<br />

45° Fasevoorijling<br />

Vref45<br />

Nuldoorgangs<br />

detector (2X)<br />

(Schmitt-trigger)<br />

VA<br />

Vref45<br />

s<br />

r<br />

Bistabiele<br />

Multivibrator<br />

Klok pulsen<br />

Teller<br />

θ digitaal<br />

---Resolver---<br />

Vy<br />

Tijd<br />

θ<br />

Vref<br />

Pos.<br />

Figuur 3.12: Numerieke fasemeting bij resolver met behulp van een RC-kring.<br />

Indien ωRC = 1, zal de faseverschuiving tussen V a<br />

en V ref<br />

gelijk zijn aan θ - 45°, waarbij θ de<br />

hoekstand van de resolver is. Dit volgt uit:<br />

of<br />

i = V x − V A<br />

R<br />

V A =<br />

= V A − V y<br />

1/jωC<br />

Vsinωt (cos θ+jωRC.sinθ)<br />

1 + jωRC<br />

met V x<br />

= V.sinωt.cosθ en V y<br />

= V.sinωt.sinθ<br />

Indien ωRC = 1, is de hoek van de teller gelijk aan θ en de hoek van de noemer 45°.<br />

De ongewenste faseverschuiving van 45° in de noemer wordt gecompenseerd door een<br />

fasenaijlingsnetwerk zoals aangeduid in figuur 3.12. De Schmitt-triggers (of nuldoorgangsdetectors)<br />

sturen een bistabiele multivibrator. De settijd van deze vibrator is evenredig met de<br />

faseverschuiving θ. Gedurende de settijd worden klokpulsen geteld. Het resultaat van de teller is<br />

rechtstreeks het digitaal equivalent van de analoge hoek θ. De nauwkeurigheid van dit systeem is<br />

afhankelijk van de stabiliteit van de frequentie van de draaggolf V ref<br />

en van de stabiliteit en<br />

nauwkeurigheid van C en R, omwille van de voorwaarde ωRC = 1.<br />

Bij gebruik van een dubbel RC-netwerk, zoals in figuur 3.13, is een fasevoorijling van 90° nodig.<br />

De nauwkeurigheid zal echter minder afhankelijk zijn van de draaggolffrequentie of van de<br />

condensatoren. Ook zullen de eventuele driftfouten op de hoek θ volledig gecompenseerd<br />

worden. De numerieke fasemeting wordt nu toegepast op de spanningen V A<br />

en V B<br />

. Het gemeten<br />

interval is een maat voor 2θ. Nadelig is wel de halvering van het bereik. We krijgen nu immers<br />

dezelfde digitale uitgang bij de hoek θ en de hoek (θ+180°).<br />

__________ - III.12 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

VA VB (+90°)<br />

Vx<br />

Vy<br />

R<br />

C<br />

VA<br />

C<br />

R<br />

VB<br />

2θ<br />

Tijd<br />

Figuur 3.13: Robuustere schakeling voor numerieke fasemeting bij resolvers.<br />

Voor figuur 3.13 gelden volgende vergelijkingen:<br />

of<br />

V x − V A<br />

R<br />

= V A − V y<br />

1/jωC en V x − V B<br />

1/jωC = V B − V y<br />

R<br />

V x<br />

- V A<br />

= jωRC(V A<br />

- V y<br />

) en V B<br />

- V y<br />

= jωRC(V X<br />

- V B<br />

)<br />

Combinatie van deze vergelijkingen levert:<br />

V A cos θ+jωRC.sinθ<br />

=<br />

V B sin θ+jωRC.cosθ<br />

Hieruit volgt dat de faseverschuiving tussen V A<br />

en V B<br />

gelijk is aan 2θ-90° indien ωRC = 1.<br />

Bij het bestuderen van de resolver werd nog een andere toepassingsmogelijkheid beschreven:<br />

wek in de stator een draaiveld op zodat de rotor een spanning aflevert met een constante<br />

amplitude en waarvan de fase afhangt van de hoekstand. Figuur 3.14 geeft het blokschema van<br />

een fasesturing gebaseerd op dit principe. De EN-poort wordt gestuurd door de kanteelspanning<br />

van 200 Hz enerzijds en door de uitgang van de voorgeselecteerde teller anderzijds. De<br />

voorselectie van de teller stelt de te sturen hoek voor. Wanneer het cijfer fs bereikt is (telritme<br />

200 kHz) stuurt de teller de poort open. Het signaal van 200 Hz ligt dan reeds aan de poort maar<br />

kan pas aan de uitgang van de poort verschijnen wanneer de teller deze poort opent. Zo wordt<br />

een signaal van 200 Hz bekomen met een faseverschuiving gelijk aan fs. Dit signaal doet de<br />

flipflop kippen terwijl het meetsignaal van de rotor fr de flipflop terugkipt. Integratie van de<br />

uitgang van de flipflop levert een continue spanning die evenredig is met het verschil tussen de<br />

stuurfase (fs) en de fase van de rotor (fr). Deze spanning kan rechtstreeks het analoge<br />

servomechanisme aandrijven om de positionering te bekomen bij fs - fr = 0.<br />

Generator<br />

(200 kHz)<br />

fs<br />

Voorselectie<br />

Teller<br />

r<br />

Deler<br />

1/1000<br />

200Hz<br />

fr<br />

fs<br />

Omzetter<br />

sinwt<br />

coswt<br />

Flipflop<br />

Comparator<br />

Pulsvormer<br />

Servo<br />

Versterker<br />

Resolver<br />

Rotor<br />

Motor<br />

Figuur 3.14: Numerieke fasesturing met behulp van een resolver.<br />

__________ - III.13 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.6 Synchro-en-resolver-naar-digitaal-omzetters<br />

Moderne synchro-en-resolver-naar-digitaal-omzetters worden gefabriceerd als modules en als<br />

hybride, geïntegreerde schakelingen. Ze zijn in staat om synchroformaatspanningen of<br />

resolverformaatspanningen om te zetten naar een digitaal formaat. De woordlengte van de<br />

digitale code varieert van 10 tot 18 bits. Er zijn twee types van omzetters:<br />

gebaseerd op 'tracking'<br />

gebaseerd op 'successive approximation'<br />

Deze twee types werken volgens verschillende principes en worden dus ook in verschillende<br />

toepassingen aangewend. Bij een numerieke besturing zijn de omzetters gebaseerd op het<br />

'tracking'-principe, meer aangewezen. Dit blijkt uit het werkingsprincipe. Figuur 3.15 geeft het<br />

schema van de 'tracking resolver to digital convertor'.<br />

Input buffer<br />

Referentie<br />

Sin θ<br />

Cosθ<br />

Grd<br />

Nauwkeurige<br />

Sin / Cos<br />

Vermenigvuldiger<br />

Digitale hoek<br />

φ<br />

~sin( θ − φ)<br />

Fout<br />

Versterker<br />

Fasegevoelige<br />

Gelijkrichter<br />

+ Demodulatie<br />

Voltage Controlled Oscillator<br />

DC<br />

Fout<br />

Hoek<br />

Offset<br />

Input<br />

Op - neer<br />

Teller<br />

V.C.O<br />

Integrator<br />

φ<br />

Latch<br />

controle<br />

Snelheid<br />

φ<br />

Three state output buffer<br />

Digitale hoek<br />

Figuur 3.15: Blokschema van 'Tracking resolver to digital convertor'.<br />

Stel dat de teller een hoek φ aanduidt en dat de resolverspanningen gegeven worden door<br />

V x<br />

= V.sinωt.cosθ en V y<br />

= V.sinωt.sinθ met θ de rotorhoekstand. De cosinus-vermenigvuldiger<br />

geeft V.sinωt.sinθ.cosφ. De sinusvermenigvuldiger geeft V.sinωt.cosθ.sinφ. De<br />

verschilversterker geeft als foutsignaal V.sinωt.(sinθ.cosφ.-cosθ.sinφ) = V.sinωt.sin(θ-φ).<br />

Dit wisselspanningssignaal wordt gedemoduleerd tot een spanning proportioneel aan sin(θ - φ),<br />

waarvan de integraal als ingang dient voor de spanning-frequentie-omzetter (V.C.O). De<br />

uitgangspulsen van de V.C.O. zullen de teller op- en neertellen totdat sin(θ - φ) = 0 of tot φ = θ.<br />

Dan stelt de digitale uitgang de hoekstand θ voor.<br />

Een 'tracking convertor' laat dus automatisch de digitale uitgang volgen op de ingangshoek,<br />

zonder hiervoor een extern commando te geven. Verandert de ingang niet dan doet de omzetter<br />

niets. Een ingangsverandering geeft automatisch een aanpassing van de digitale uitgangswaarde<br />

telkens een hoekverandering optreedt welke evenredig is met de minst beduidende bit (LSB).<br />

__________ - III.14 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Bijvoorbeeld: Bij een 12-bit omzetter zal de uitgangsteller aangepast worden bij een hoekverandering van<br />

(360/4096) of 5,3 minuten.<br />

De integrator in de omzetter maakt het systeem equivalent aan een type 2 servokring. Dit wil<br />

zeggen dat het foutsignaal nul blijft indien de ingang met een constante snelheid verandert.<br />

Eigenschappen van 'tracking convertors'<br />

De werking is niet afhankelijk van de amplitudes van de ingangssignalen, maar van de<br />

verhouding tussen deze signalen. Een spanningsval over de ingangssignalen is relatief<br />

onbelangrijk zodat lange lijnen mogelijk zijn.<br />

Gelijke signaalvervorming geeft geen aanleiding tot fouten. Een kanteelgolf i.p.v. een<br />

sinusgolf is mogelijk.<br />

Omwille van de integrator in de omzetter is deze weinig gevoelig voor storingen.<br />

De digitale waarde geleverd door de omzetter is steeds aangepast of 'fris'. Vele omzetters<br />

bevatten een ingebouwde 'output latch' met 'three state' uitgangen voor een soepele koppeling<br />

aan de microprocessor.<br />

Uit het blokschema gegeven in figuur 3.15, blijkt dat de ingang van de spanning-frequentie<br />

omzetter (V.C.O.) een gelijkspanning is welke evenredig is met de snelheid van de<br />

ingangshoekverandering. Dit signaal is uitwendig beschikbaar en kan gebruikt worden als<br />

snelheidsmeting (analoog aan een tachogenerator voor snelheidsmeting). Figuur 3.16 geeft als<br />

voorbeeld het gebruik van dit signaal bij een positionering in een servoregelkring met<br />

snelheidsterugkoppeling.<br />

µ-Proc.<br />

Digitale<br />

Fout<br />

Digitale<br />

Positie<br />

D/A<br />

Resolver<br />

Digitaal<br />

Omzetter<br />

Rlo Lhi<br />

Vel<br />

DC<br />

Snelheidsspanning<br />

Vermogen<br />

Versterker<br />

Motor<br />

Resolver<br />

Vref<br />

Belasting<br />

Referentie<br />

Figuur 3.16: Blokschema voor regelkring met snelheidsterugkoppeling.<br />

De nauwkeurigheid is de maximale fout (negatief of positief) welke optreedt bij een volledige<br />

verdraaiing over 360°. Een vooropgestelde nauwkeurigheid bij een zekere temperatuur kan<br />

slechts bekomen worden als de frequentie en de amplitude van ingangs- en referentiesignalen<br />

minder dan 10% afwijken van hun nominale waarden en op voorwaarde dat de<br />

faseverschuiving tussen referentie- en ingangssignalen minder dan 20° bedraagt.<br />

__________ - III.15 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

De 'tracking rate' geeft de snelheid van de ingangshoekverandering welke door de 'tracking'<br />

kan gevolgd worden. Hoe groter de referentiefrequentie waarvoor de converter gemaakt is,<br />

des te groter is de maximale 'tracking rate'. Moderne omzetters geven een maximum van 10%<br />

van de referentiefrequentie.<br />

Bijvoorbeeld: bij 400 Hz referentiefrequentie kan de 'tracking rate' 40 omw/sec of 2400 omw/min bedragen.<br />

De resolutie wordt bepaald door de waarde van het LSB, m.a.w. door de woordlengte van de<br />

digitale uitgang t.o.v. de totale (gewenste) te meten hoek meestal 360°. Met N = de<br />

woordlengte geeft dit:<br />

resolutie = 360<br />

2 N<br />

De versnellingsfactor specificeert de reactie van de converter op ingangsversnellingen.<br />

k a = ingangsversnelling<br />

fout op uitgangshoek [t−2 ]<br />

Voorbeeld: indien een versnelling van 20.000°/sec², een uitgangsfout van 1 bit (de LSB) geeft in een 12-bit<br />

converter, dan is:<br />

k a = 20000 = 227500 bit/ sec2<br />

360/4096<br />

dit stemt overeen met :<br />

- 1 hoekminuut uitgangsfout bij een versnelling van 227.500 hoekmin/sec²<br />

- 1 graad uitgangsfout bij een versnelling van 227.500°/sec²<br />

Voor een gekende k a<br />

-waarde ligt de versnelling voor 1 bit fout vast. Dit is echter niet de<br />

maximale waarde van de versnelling. Zonder verlies van de controle zal de converter<br />

ongeveer 5° als fout tussen de ingang en de uitgang kunnen nasporen. De converter kan<br />

daarom ongeveer 5 maal de versnelling gegeven door de k a<br />

-factor verdragen.<br />

Voorbeeld: Met k a<br />

= 110.000 bit/sec² is de maximale versnelling ongeveer 600.000°/sec² of 1666 omw/sec².<br />

Deze maximale versnelling mag slechts gedurende een korte periode aanliggen.<br />

Voorbeeld: Bij een maximum versnelling van 600.000°/sec² en een "tracking rate" van 36 omw/sec, zal de<br />

tijd waarover deze versnelling mag aanliggen gelijk zijn aan (36x360)/600.000 = 21,6 msec.<br />

De versnellingsfactor is vooral belangrijk bij het gebruik van inductosyns waar hoge<br />

versnellingen moeten geregistreerd worden.<br />

'Tracking convertors' verwerken inwendig resolver-formaat spanningen en dus ook<br />

inductosyn-formaat spanningen. De grootte van de spanningen geleverd door de verschillende<br />

types van resolvers en inductosyns zijn nogal verschillend. Indien de gemeten spanningen<br />

afwijken van de nominale waarden kunnen deze toch aangesloten worden door gebruik te maken<br />

van weerstanden aan de ingang van de converter (de ingangsimpedantie van de converter is<br />

meestal immers zuiver ohms). Figuur 3.17 geeft een voorbeeld.<br />

__________ - III.16 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

19 V signaal<br />

S4<br />

Converter voor<br />

26 V<br />

S3<br />

- 26 V ref<br />

REF<br />

16 K<br />

S2<br />

- 11,8 V signaal<br />

16 K<br />

S1<br />

Rlo<br />

Rhi<br />

Figuur 3.17:Aansluiting van converter voor niet-standaard spanningen.<br />

Om een synchro te verbinden met een tracking converter, moet deze laatste voorzien zijn van<br />

een ingangsoptie. Dit is meestal een op een elektronische manier gebouwde<br />

Scott-T-transformator. Deze transformator zorgt tevens voor het aanpassen van het<br />

spanningsniveau tot standaard waarden. Voor het aansluiten van synchro's welke hoge<br />

spanningen leveren, is het gebruik van een converter met ingebouwde elektrische transformator<br />

te verkiezen. Figuur 3.18 geeft het schema van de Scott-T-transformator.<br />

s1<br />

1:R1<br />

V sin ω t sin θ<br />

s3<br />

K<br />

V1 = V sin ω t sin θ<br />

240°<br />

1:R2<br />

120°<br />

V2 = V sin ω t cosθ<br />

s2<br />

Figuur 3.18: Scott-T-transformator.<br />

Voor een verhouding 1:1 tussen primaire en secundaire spanningen kunnen we de factoren R 1<br />

, R 2<br />

en K berekenen:<br />

of<br />

V 1<br />

= V s1-s3<br />

als R 1<br />

= 1<br />

Vsinωt.cosθ = V 2<br />

= V.R 2<br />

[sinωt.sin(θ+120°) + Ksinωt.sinθ]<br />

cosθ = R 2<br />

[sin(θ+120°) + Ksinθ]<br />

Uitrekenen in twee punten geeft:<br />

θ = 0° Ö 1 = R 2<br />

cos30° Ö R 2<br />

= 2/ 3<br />

θ = 90° Ö 0 = 2/ 3 [-sin30° + K] Ö K = 0,5<br />

__________ - III.17 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.7 Toepassingsvoorbeelden<br />

Lineaire inductosyn<br />

Figuur 3.19 laat het gebruik zien van een inductosyn/resolver-naar-digitaal-converter in een<br />

inductosyn controle kring. De lat van de inductosyn wordt bekrachtigd vanuit een<br />

AC-stroomgenerator met een frequentie tussen 5 en 10 kHz. Het gebruik van een stroombron is<br />

hier te prefereren omdat de faseverschuiving tussen de latspanning en de glijderspanningen van<br />

een inductosyn minder nauwkeurig te definiëren is bij een spanningssturing. Doordat de<br />

latwikkeling hoofdzakelijk ohms is, zal bij een stroomsturing een 90° fasevoorijling optreden.<br />

Door het inbrengen van een extra fasevoorijlingsnetwerk in de referentie-ingang van de omzetter<br />

wordt de faseverschuiving tussen referentie- en signaalingang van de omzetter geminimaliseerd.<br />

Vermogenversterker<br />

Stroomgenerator<br />

serieschakeling van inductosyn tracks<br />

Inductosyn<br />

schaal<br />

Schroefspindel<br />

Microschakelaar<br />

Motor<br />

Inductosyn slede<br />

Initiële waarde<br />

90° fase<br />

Verschuiving<br />

op. amp.<br />

op. amp.<br />

vel<br />

sgn com<br />

cos<br />

sin<br />

busy<br />

inhibit<br />

+15V<br />

gnd<br />

-15V<br />

+5V<br />

Rlo<br />

Rhi<br />

Dir.<br />

RC<br />

12<br />

IRDC 1730<br />

1<br />

Processor<br />

D/A<br />

omzetter<br />

Versterker<br />

Figuur 3.19: Schakelschema voor digitale positiemeting met inductosyn.<br />

De versterkers op de ingangssignalen zijn nodig om de inductosynspanningen aan te passen aan<br />

de converter. Beide versterkers moeten een gelijke versterking inhouden en moeten zo dicht<br />

mogelijk bij de inductosynglijder geplaatst worden.<br />

De converter levert een 12 bit digitaal woord, een DIR-signaal dat de telrichting van de converter<br />

aangeeft en een nuldoorgangspuls (RC-signaal) dat aangeeft wanneer de converteringang<br />

overgaat op een volgend spoor van de inductosyn (overloop in de teller).<br />

Enkel omwille van de resolutie zou een 10 bit converter volstaan. De resolutie is immers de<br />

lengte van één inductosynspoor (2 mm) gedeeld door 2 10 of 2/1024 = 2µm. Een 12 bit converter<br />

is echter te verkiezen omwille van trillingsdemping. Omzetters voor inductosyns moeten een<br />

zeer hoge volgsnelheid en een hoge versnellingsfactor bezitten. Omzetters welke gemaakt<br />

worden voor hogere draaggolffrequenties bieden hieromtrent betere eigenschappen.<br />

__________ - III.18 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Voorbeeld: Bij een lineaire snelheid van 10 m/min en een inductosyn met 2 mm periodieke indeling is een<br />

volgsnelheid van 83 sporen per seconde vereist. Een versnelling van 1500 sporen/sec² is nodig om vanuit<br />

stilstand over een afstand van 5 mm te versnellen tot een maximale snelheid van 10 m/min.<br />

De processor houdt de absolute positie bij door het tellen van de spoorovergangen (langs het<br />

RC-signaal) en door de digitale waarde van de converter te lezen. Dit geeft een cyclus absolute<br />

meting. Het bepalen van een absolute nulpositie (bijvoorbeeld bij het inschakelen van de sturing)<br />

is mogelijk door het bepalen van het spoor waar de nulpositie zich bevindt, door middel van een<br />

schakelaar ('micro switch') en door vervolgens een nuldoorgangspuls op te sporen.<br />

Resolver<br />

Figuur 3.20 geeft als voorbeeld een mogelijk schema om op digitale wijze de absolute positie te<br />

bepalen met behulp van een resolver en een resolver-naar-digitaal-omzetter.<br />

Merk op dat de beste referentiespanning voor de converter ligt rond 2 kHz. Bij deze eerder hoge<br />

frequentie wordt de faseverschuiving tussen rotor- en statorspanningen immers kleiner en is de<br />

converter minder gevoelig hiervoor. Versterkers op de ingangssignalen zijn niet nodig. Bij<br />

niet-standaard spanningen gebruikt men weerstanden.<br />

Referentie<br />

generator<br />

Resolver<br />

Machine bed<br />

s1 s2 s3 s4<br />

Motor<br />

naar servo<br />

indien gewenst<br />

Schroefspindel<br />

Microschakelaar<br />

Initiële waarde<br />

Anti 'bounce'<br />

circuit<br />

IRDC 1730<br />

vel<br />

sgn com<br />

cos<br />

sin<br />

busy<br />

inhibit<br />

+15V<br />

gnd<br />

-15V<br />

+5V<br />

Rlo<br />

Rhi<br />

Dir.<br />

R.C.<br />

12<br />

1<br />

LSB<br />

5 11 9 10 1 15 5 11 9 10 1 15<br />

14 LS191 13 14 LS191 13<br />

16 7 6 2 3 16 7 6 2 3<br />

+5V +5V<br />

MSB<br />

Naar de volgende tellers<br />

afhankelijk van de lengte<br />

en de resolutie<br />

Resolver hoekstand<br />

binnen één omwenteling<br />

Resolver omwenteling teller<br />

Figuur 3.20: Resolver-schakelschema voor een absolute digitale positiemeting.<br />

__________ - III.19 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

14.8 Systemen met meerdere snelheden bij digitale meting<br />

Meerdere snelheden kunnen, zoals eerder vermeld, bekomen worden door de synchro's<br />

mechanisch te koppelen of door gebruik te maken van meerpolige synchro's.<br />

Het probleem van conversie van de analoge positie naar een digitale waarde is op te lossen door<br />

gebruik te maken van meerdere omzetters. De overbrengingsverhouding tussen grof- en<br />

fijnsynchro moet echter kleiner zijn dan wat principieel mogelijk is.<br />

Voorbeeld: bij gebruik van een 10 bit omzetter op de grofsynchro en een 10 bit omzetter op de fijnsynchro<br />

zou principieel een overbrenging van 2 10 = 1024 mogelijk zijn. In de praktijk zal echter een overbrenging<br />

van bijvoorbeeld 2 8 = 256 gekozen worden (zie verder).<br />

De minst beduidende bits van de grofsynchroconverter hebben in de globale digitale waarde een<br />

te groot gewicht: de fout op het grofsynchro-LSB is immers van dezelfde grootte orde als de<br />

totale waarde van het fijnsynchro-woord. Daarom is een overlapping tussen grof en fijnuitlezing,<br />

door de overbrengingsverhouding kleiner te nemen, noodzakelijk.<br />

Voorbeeld: Twee 10 bit omzetters en een overbrenging van 32:1 geven een overlapping van 5 bits (2 5 =32)<br />

om te komen tot een 15 bit digitaal woord: de 10 bits van de fijnconverter en de 5 meest beduidende bits van<br />

de grofconverter. 15° in de grofsynchro geeft 15° x 32 = 480° of 120° in de fijnsynchro. Dit geeft<br />

bijvoorbeeld:<br />

dig. uitgang grof : 0000101010<br />

dig. uitgang fijn: 0101010101<br />

dig. uitgang 15 bit: 000010101010101<br />

Bij een binaire overbrengingsverhouding wordt de digitale uitgang van de fijnomzetter<br />

verschoven over een aantal plaatsen (5 plaatsen bij 32 als overbrenging). De totale uitgang is<br />

deze van de digitale-fijn-uitgang aangevuld met de niet-overlappende bits van de<br />

digitale-grof-uitgang. De overbrengingsverhouding bepaalt hier dus het aantal bits die erbij<br />

komen ten gevolge van de grofmeting. De overlapping is dan gelijk aan de woordlengte minus<br />

het aantal extra bits.<br />

Voor een niet binaire overbrenging is het probleem niet meer op te lossen door een zuivere<br />

verschuiving. De synchronisatie en de deelfunctie nodig om twee digitale uitgangen te<br />

combineren, kan opgelost worden door toepassing van speciale schakelingen, bijvoorbeeld de<br />

TSL1612 van Memory Devices. De totale resolutie hangt dan af van:<br />

de overbrengingsverhouding<br />

de resolutie van de fijnconverter<br />

Voorbeeld: Een overbrenging van 18:1 met een 14 bit converter voor de fijnsynchro geeft een resolutie van<br />

14+4 = 18 bits. De "4" vinden we op de volgende wijze: 2 4 = 16, 16 is het grootste binair getal kleiner dan<br />

18, met 18:1 de overbrengingsverhouding.<br />

Figuur 3.21 geeft als voorbeeld een opstelling weer voor een positiemeting op drie snelheden, 2<br />

resolvers en een roterende inductosyn. De overbrenging tussen resolver 1 en resolver 2 is 36:1.<br />

Rekening houdend met het aantal cycli bij een inductosyn met 720 polen per omwenteling, is de<br />

overbrenging tussen resolver 2 en de inductosyn 10:1.<br />

__________ - III.20 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Inductosyn<br />

met 720 polen<br />

Stator<br />

Rotor<br />

Stroom<br />

generator<br />

Resolver 1<br />

Ref.<br />

Verhouding 1:1<br />

Ref.<br />

Referentiespanning, 90° voorijlend op stroom<br />

θ<br />

Verhouding 1:36<br />

Resolver 2<br />

Resolver naar<br />

digitaal<br />

convertor<br />

Ref.<br />

RDC1700 TSL 1612<br />

Resolver naar<br />

digitaal<br />

convertor<br />

Cos<br />

Sin<br />

Rlo<br />

Rhi<br />

Ref.<br />

IRDC1730<br />

Inductosyn naar digitaal<br />

convertor<br />

RDC1700<br />

12<br />

Ruw<br />

(verhouding 10:1)<br />

Fijn<br />

Logische processor voor 2 snelheden<br />

TSL 1612<br />

Ruw<br />

(verhouding 36:1)<br />

12+3 Fijn<br />

Logische processor voor 2 snelheden<br />

15+5<br />

20 bit<br />

digitale<br />

uitgang<br />

voor de<br />

hoek θ<br />

Totale absolute hoekmeting<br />

over 256° graden<br />

Figuur 3.21: Systeem met drie snelheden in de positieopname, waarbij twee resolvers en één roterende<br />

inductosyn.<br />

In plaats van een roterende inductosyn kan voor de fijnregeling eveneens gekozen worden voor<br />

een lineaire inductosyn. De overbrengingsverhouding volgt dan uit de omzetting van de<br />

roterende beweging in een translatie. Een volledig absolute meting is zo mogelijk met de<br />

fijnregeling op directe wijze uitgevoerd.<br />

14.9 Cyclus absoluut naar incrementeel<br />

Bij een resolver wordt absoluut gemeten binnen één omwenteling, wat kan overeenkomen met<br />

een lineaire verplaatsing van bijvoorbeeld 2 mm. Figuur 3.22 geeft de resolver schematisch<br />

weer. De rotorwikkeling levert een nulspanning wanneer de richting van de rotorspoel (hoek δ)<br />

overeenkomt met de resulterende statorfluxrichting (hoek α). De meetmethode gaat er voor<br />

zorgen dat bij een bepaalde rotorspoelstand of -richting de statorfluxrichting draait door het<br />

aanpassen van de verhouding φ 1<br />

/φ 2<br />

, totdat de rotorspanning U r<br />

= 0.<br />

φ 1<br />

~ U 1<br />

= U 0<br />

cosα<br />

en zodat U r<br />

= U r0<br />

sin(δ - α)<br />

φ 2<br />

~ U 2<br />

= U 0<br />

sinα<br />

De wegmeting is dus gebaseerd op het navoeren van de spanningen U 1<br />

en U 2<br />

om zo het<br />

hoekverschil δ - α voortdurend op nul te houden. Wegens de eenduidigheid moet het<br />

hoekverschil (δ - α) in het bereik ± 90° liggen, wat overeenkomt met een afstand van 1 mm.<br />

__________ - III.21 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Positiemeting<br />

Spoelas<br />

Ur<br />

Spoelrichting<br />

Veldrichting<br />

φ<br />

δ<br />

φ<br />

1<br />

φ<br />

2<br />

α<br />

U1<br />

U2<br />

φ2<br />

δ<br />

α<br />

φ1<br />

φ<br />

Figuur 3.22: Resolver schema.<br />

Figuur 3.23 laat het blokschema zien van de wegmeting en -regeling. De gedemoduleerde en<br />

afgevlakte rotorspanning (U r<br />

) wordt toegevoerd aan een spanning-frequentie-omzetter. De<br />

uitgangspulsen ( f x<br />

) dienen als stuursignalen voor de digitale spanningsverzorging, welke de<br />

spanningen U 1<br />

en U 2<br />

oplevert om de spoelrichting (hoek δ) na te volgen en dus de foutspanning<br />

op de rotor (U r<br />

) af te bouwen.<br />

De pulsen f x<br />

dienen als aanduiding van de gemeten stand en als incrementele meetwaarde voor<br />

de wegregeling. De wegmeting moet daarom een regelkring inhouden met zeer hoge<br />

snelheidsversterking zodat de meetwaarde traagheidsloos de machinebeweging volgt. De hoge<br />

snelheidsversterking zorgt er tevens voor dat het hoekverschil (δ - α) beperkt blijft tot ± 90° bij<br />

de hoogste snelheden (normaal slechts 20°/sec).<br />

Wegregeling<br />

Wegmeting<br />

Referentie<br />

Meetwaarde<br />

Meetwaarde teller<br />

Aanduiding meetwaarde<br />

Pulsenscheiding<br />

Teller S<br />

Spanning-frequentieomzetter<br />

fx<br />

f0<br />

Digitale<br />

Spanningsverzorging<br />

D/A<br />

Demodulator<br />

Toerentalregeling<br />

T<br />

M<br />

Figuur 3.23: Incrementele regelkring met absolute analoge positiemeting.<br />

Opmerkingen:<br />

Een belangrijke component van de meting is natuurlijk de digitale spanningsverzorging welke<br />

de spanning U 0<br />

cosα en U 0<br />

sinα moet genereren. Dit gebeurt met behulp van de<br />

basisfrequentie f 0<br />

en de meetpulsen f x,<br />

, gebruikmakend van een aantal delers. Voor de exacte<br />

werking en opbouw verwijzen we naar de literatuur.<br />

Volledig analoog aan de resolver kan deze werkwijze toegepast worden bij een inductosyn als<br />

meetsysteem.<br />

Ur<br />

Tacho Motor Resolver<br />

__________ - III.22 -<br />

Johan Baeten<br />

U1<br />

U2


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

15 Drukmeting<br />

Drukmetingen vormen een belangrijke groep. Vaak zijn druk- en verschildrukmetingen<br />

rechtstreeks belangrijke parameters in het te regelen proces. Anderzijds kunnen vele fysische<br />

grootheden gemeten worden op basis van druk- of verschildrukmetingen, zoals metingen van<br />

niveau, debiet en temperatuur.<br />

15.1 Definities en begrippen<br />

Druk is gedefinieerd als "de kracht die op een bepaald oppervlak inwerkt" of :<br />

P = F/S<br />

Dit is op zichzelf een vrij duidelijke definitie. Moeilijker wordt het echter wanneer we de plaats<br />

in de ruimte of, voor ons op de aarde, de atmosfeer mee in rekening willen brengen. Elk<br />

voorwerp op aarde is immers onderhevig aan de atmosferische druk. Bij gegeven kracht F op<br />

oppervlak S, ontstaat er een druk die samen met de atmosferische druk een resultante zal<br />

vormen. We moeten dus bij het meten van een druk steeds aangeven t.o.v. welke referentie dit<br />

gebeurt.<br />

Figuur 3.24 geeft de verschillende mogelijkheden weer. De zwarte stip duidt steeds de referentie<br />

aan. De pijl duidt de eigenlijke gemeten druk aan.<br />

Buitenluchtdruk<br />

Vacuüm in %<br />

Overdruk<br />

0 %<br />

25 %<br />

50 %<br />

75 %<br />

100 %<br />

Onderdruk<br />

Absolute druk<br />

Relatieve druk<br />

Atmosferische druk<br />

1,013 bar = 76 cm kwikdruk<br />

Absolute nuldruk<br />

Figuur 3.24: Verschillende mogelijke referenties bij drukmetingen.<br />

De vacuüm druk is de mate van onderdruk uitgedrukt in procenten vacuüm. De atmosferische<br />

druk is 0% vacuüm. De absolute nuldruk is 100% vacuüm.<br />

De hydrostatische druk is, naar analogie met de kolom lucht die op elke oppervlakte-eenheid<br />

van de aarde drukt, de druk die een vloeistofkolom uitoefent op de wanden en bodem van die<br />

kolom. Zo zal een kwikkolom in een buis volgens figuur 3.25 een hydrostatische druk uitoefenen<br />

welke in evenwicht is met de atmosferische druk. De lengte van de kwikkolom is een maat voor<br />

de hydrostatische druk onderaan in de kolom en in dit geval dus ook voor de atmosferische druk.<br />

Op die manier kan dus gemakkelijk de atmosferische druk gemeten worden.<br />

Tot hier toe werden alleen statische drukken beschreven nl., drukken veroorzaakt door een stof<br />

in rust. Een dynamische druk ontstaat als gevolg van de stromingssnelheid (kinetische energie)<br />

van een fluïdum.<br />

__________ - III.23 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

H = ± 76 cm<br />

Vacuüm<br />

Kwik<br />

Atmosferische druk<br />

Figuur 3.25: Drukmeting als hoogte-vloeistofkolom.<br />

15.2 Eenheden<br />

Omdat druk zich onder vele vormen kan manifesteren, bestaan er ook veel eenheden van druk.<br />

De officiële SI-eenheid voor druk is Pascal: Pa = [N/m²]. Hieruit afgeleid is de eenheid bar =<br />

100.000 Pa of 10 N/cm².<br />

Verder geeft 1 atm de atmosferische druk weer gelijk aan 760 mmKK (mm-kwikkolom).<br />

Onderdruk of vacuümdruk wordt uitgedrukt in mbar, % of meestal in mmKK = Torr. Tenslotte<br />

wordt in de persluchtregeltechniek nog vaak de Engelse drukeenheid PSI = 'Pounds per Square<br />

Inch' gebruikt.<br />

Tabel 3.1 geeft een overzicht van de omrekeningsfactoren tussen de verschillende eenheden.<br />

Pa bar atm Torr kg/cm² PSI<br />

Pa 1 E-5 9,87.E-6 0,01 1,02.E-5 14,5.E-5<br />

bar E5 1 0,99 750,06 1,02 14,50<br />

atm 101325,00 1,01 1 760,00 1,03 14,70<br />

Torr 133,32 l,33.E-3 0,0013 1 0,00 0,02<br />

kg/cm² 0,98.E5 0,98 0,9679 735,60 1 14,22<br />

PSI 6894,60 0,07 0,07 51,72 0,07 1,00<br />

Tabel 3.1: Omrekeningstabel.<br />

__________ - III.24 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

15.3 Druksensoren: een overzicht<br />

In deel II zijn reeds verschillende principes om druk te meten aan bod gekomen. We geven hier<br />

nog even een overzicht:<br />

In een elastische vervormingsopnemer levert de te meten druk een bepaalde arbeid op een<br />

meetelement. Evenwicht ontstaat wanneer de tegenkracht, opgeroepen door het materiaal van de<br />

sensor, even groot wordt als de kracht die de te meten druk levert. De verplaatsing die het<br />

meetelement ondergaat, is evenredig met de grootte van de druk, zolang het materiaal zich in het<br />

elastische gebied bevindt. Dit betekent dat het element niet overbelast mag worden, daar er zich<br />

dan plastische vervormingen zouden voordoen.<br />

De drie belangrijkste elastische vervormingsopnemers zijn de Bourdon-veer, de balg en het<br />

membraan. Men noemt ze ook wel eens de primaire drukmeetelementen omdat ze rechtstreeks<br />

met het te meten medium in contact komen. Figuur 3.26 geeft enkele voorbeelden.<br />

Figuur 3.26: Voorbeelden elastische elementen.<br />

Indien het elastische element met een 'wijzer' verbonden is, krijgen we een rechtstreekse<br />

uitlezing van de druk. Meestal wordt er echter een elektronische meetomvorming toegepast.<br />

De elektronische zenders bestaan uit een elektrisch detectiesysteem, een elektronische versterker,<br />

elektrische leidingen om het signaal over te brengen en een elektronische verwerkingseenheid,<br />

die de signaalgrootte op het display brengt of dadelijk de informatie gebruikt om b.v. de<br />

regelactie te sturen. Als detectiesysteem komen zowel potentiometrische, capacitieve als<br />

inductieve (b.v. LVDT) methoden in aanmerking. Verder zijn er nog de piëzo-elektrische en<br />

piëzo-resistieve opnemers.<br />

Figuur 3.27 geeft (bij wijze van voorbeeld) de opstelling voor een drukmeting gebaseerd op een<br />

reluctantie omvorming (zie hoofdstuk 9.3).<br />

Spoelen<br />

Drukgevoelig membraan<br />

Bourdon-buis<br />

Spoelen<br />

Anker<br />

Elektromagnetisch kern<br />

Luchtspleten<br />

Figuur 3.27: Drukopnemers met reluctantie-omvormer.<br />

Elektromagnetisch kern<br />

__________ - III.25 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

Piëzo-elektrische drukopnemers komen enkel in aanmerking voor dynamische metingen. Ze zijn<br />

temperatuurgevoelig en vereisen ruisarme voedingskabels en bijzondere versterkers, eigen aan<br />

het gebruik van een piëzo-elektrisch kristal. Daar tegenover staat echter het grote dynamische<br />

meetbereik (tot 60 bar), de grote bandbreedte en de kleine en stevige bouw.<br />

De volgende paragrafen bespreken verder nog de halfgeleider (piëzo-resistieve) druksensor en<br />

geven enkele praktische voorbeelden.<br />

15.4 Halfgeleider of piëzoresistieve druksensoren<br />

Principe<br />

De werking van dit type sensoren is gebaseerd op het piëzo-resistief gedrag van halfgeleiders:<br />

ten gevolge van een druk op het halfgeleidermateriaal ontstaat er een verschuiving van atomen<br />

die gepaard gaat met een weerstandsverandering. In halfgeleiders is dit piëzo-resistief effect<br />

honderd maal groter dan de weerstandsverandering ten gevolge van de vervorming. De kern van<br />

dit type sensoren bestaat uit een meetcel die opgebouwd is uit de systeemchip en een<br />

silicium-membraan waarin weerstandsbaantjes geïntegreerd zijn. Die baantjes zijn geplaatst in<br />

een Wheatstone-brug en een buiging van het membraan tengevolge van externe druk veroorzaakt<br />

een onbalans van de brugschakeling welke een maat is voor de externe druk. De k-factor is<br />

ongeveer gelijk aan 120.<br />

Kenmerken<br />

De weerstandsverandering is anisotroop dit wil zeggen dat de verandering afhankelijk is van de<br />

richting waarin de druk inwerkt op het halfgeleidermembraan. De weerstandscoëfficiënten<br />

kunnen zowel positief als negatief zijn en worden onder meer bepaald door de graad van<br />

dopering, door de dikte en de oppervlakte van het membraan en door de ordening van de<br />

weerstandsbanen. De gevoeligheid is in de orde grootte van 13 mV brugspanning per volt<br />

voedingsspanning per bar verschildruk.<br />

Figuur 3.28 geeft een voorbeeld van opbouw en uitvoeringsvorm.<br />

SiO 2<br />

p-Si<br />

doorsnede AB<br />

n -<br />

Si membraan<br />

n + - Si draagring<br />

Vacuüm poort<br />

Draagring<br />

Druk poort<br />

A<br />

p-Si<br />

B<br />

Al-geleider<br />

b)<br />

Behuizing<br />

a)<br />

membraan<br />

Figuur 3.28: Halfgeleider druksensor: a) opbouw en b) mogelijke uitvoeringsvorm.<br />

__________ - III.26 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

Voordelen<br />

De betrouwbaarheid en gevoeligheid van dit type sensoren is groot. Bovendien is de lineariteit<br />

zeer goed (afwijkingen tot 0,5%). De uitgangsspanning is relatief groot en de druk- en<br />

temperatuurhysteresis blijven beperkt. Het meetbereik gaat van enkele Pa tot een paar duizend<br />

bar. Tenslotte bieden deze sensoren nog een aantal praktische voordelen zoals een grote<br />

levensduur, compacte constructie en lage kostprijs.<br />

Nadelen<br />

Tengevolge van de grote temperatuursafhankelijkheid van het halfgeleidermateriaal moet men de<br />

nodige compensatielogica voorzien. Tegenwoordig wordt deze logica meer en meer geïntegreerd<br />

op het sensor-IC zelf. Door onnauwkeurigheden bij het technische proces is er soms een<br />

nulpuntsfout: de brug is dan niet volledig in evenwicht als er geen drukbelasting is.<br />

Nauwkeurigheid: 0,1 % van MW (momentane waarde) + 0,02 % / 10K van MW.<br />

15.5 Capacitieve drukopnemer<br />

De capacitieve drukopnemer bestaat in verschillende uitvoeringsvormen. We onderscheiden<br />

olievrije of oliegevulde, relatieve of absolute, al dan niet differentiële (verschil-) drukopnemers.<br />

Figuur 2.27.b geeft de basisuitvoering weer. Dit is een relatieve of absolute olievrije<br />

drukopnemer. De druksensor bestaat typisch uit keramische platen met daarop een opgedampte<br />

goudlaag. De afstand tussen de twee 'platen' (het meetmembraan en de basis) is 25 µm. Door de<br />

druk verkleint de afstand tussen de platen hetgeen een capaciteitsverhoging geeft die recht<br />

evenredig is met de druk. Afhankelijk van het drukbereik hebben de membranen een dikte van<br />

0,2 tot 1,6 mm. Het capacitieve olievrije meetprincipe zorgt voor een zeer kleine responstijd.<br />

Figuur 3.29.a geeft een voorbeeld van een oliegevulde verschildrukopnemer. De oliekanalen<br />

verbinden de drukmembranen met de meetcel. Deze meetcel moet niet noodzakelijk capacitief<br />

zijn.<br />

Bij de differentiële capacitieve verschildrukopnemer uit figuur 3.29.b staan de twee meetkamers<br />

eveneens via een klein verbindingskanaaltje en een zeer geringe hoeveelheid olie met elkaar in<br />

verbinding. Door drukverhoging aan een zijde van de opnemer zal het membraan iets naar<br />

binnen gedrukt worden en is door verkleining van de afstand tussen de platen een<br />

capaciteitsverhoging meetbaar. Tegelijkertijd zorgt de olieverplaatsing aan de andere zijde<br />

ervoor dat het membraan iets naar buiten gedreven wordt, waardoor een capaciteitsverlaging<br />

optreedt. Dit maakt een differentieel meetprincipe mogelijk. Door op beide zijden van de sensor<br />

druk uit te oefenen wordt alleen het drukverschil gemeten. Deze sensoropbouw maakt<br />

drukverschilsensoren bestand tegen zeer hoge statische drukken bij zeer kleine meetbereiken.<br />

Voordelen:<br />

De olievrije opnemers zijn zeer robuust en stabiel, hebben een hoge nauwkeurigheid en een lage<br />

temperatuurcoëfficiënt. De differentiële verschildrukopnemers zijn geschikt voor zeer kleine<br />

meetbereiken vanaf 1 mbar.<br />

Keramische sensoren zijn bijzonder drukstootbestendig. Sensoren met metaalmembranen kunnen<br />

daarentegen meten bij hoge statische drukken, tot 700 bar.<br />

__________ - III.27 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Drukmeting<br />

a)<br />

b)<br />

Figuur 3.29: a) Oliegevulde verschildrukopnemer, b) Differentiële capacitieve verschildrukopnemer.<br />

Nadelen:<br />

Keramische sensoren hebben altijd een Viton, EPDM of Kalrez afdichting tussen het membraan<br />

en de metallische body-aansluiting. Absolute keramische sensoren kunnen tot 'slechts' 40 bar<br />

meten. Sensoren met metaalmembranen zijn kwetsbaarder voor sterke drukstoten en abbrasieve<br />

producten.<br />

Nauwkeurigheid:<br />

Absolute drukopnemers: 0,1 % van MW + 0,02 % /10 K van MW.<br />

Differentiële Verschildrukopnemers: 0,1 % van SE (schaaleindwaarde). +0,06%/10K van SE.<br />

__________ - III.28 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16 Temperatuurmeting<br />

De temperatuur T (of θ) met als eenheid de Kelvin [K] is evenals de lengte en de massa één van<br />

de basisgrootheden van de stof. De Kelvin [K] is de thermodynamische temperatuur die gelijk is<br />

aan het 1/273,16 gedeelte van de thermodynamische temperatuur van het tripelpunt van water. In<br />

de praktijk wordt de temperatuur vaak weergegeven in graden Celsius [°C]. Soms is de<br />

temperatuur in Fahrenheit gegeven:<br />

T C<br />

= 5/9 . (T F<br />

- 32)<br />

De temperatuur kan op verschillende manieren gemeten worden.<br />

16.1 Kwikthermometer, Alcoholthermometer<br />

Kwik heeft een regelmatige uitzetting en is bruikbaar van -40 tot 300 °C, en tot 750 °C indien de<br />

ruimte boven het kwik gevuld is met stikstof onder druk (30 bar).<br />

Naast kwik worden ook andere vloeistoffen als thermometervulling gebruikt, bijvoorbeeld:<br />

alcohol (-100 °C tot 70 °C), tolueen (-80 °C tot +l00 °C) of pentaan (-180 °C tot 25 °C).<br />

Door de relatief grote afmetingen en de traagheid is dit meetsysteem wel voor<br />

temperatuurmetingen maar niet voor automatisering geschikt.<br />

16.2 Bimetaalthermometer<br />

Bij een bimetaalthermometer zijn twee verschillende metalen tot een strip of band op elkaar<br />

gewalst. De twee metalen hebben een verschillende thermische uitzetting. Zo ontstaat een<br />

vervorming (kromtrekken) die een maat is voor de temperatuur.<br />

De bimetaalthermometer wordt toegepast voor het meten van de temperatuur in ovens en als<br />

Aan/Uit thermostaat voor het regelen van de temperatuur in lokalen, ovens, koelkasten,<br />

diepvriezers enz.<br />

Tengevolge van de relatief grote massa zijn ze vrij traag. Toch worden ze zeer veel toegepast.<br />

Het verschil tussen in- en uitschakeltemperatuur (i.e. de differentieel) is ongeveer 2 Kelvin. Om<br />

de differentieel te verkleinen, zodat de lokaaltemperatuur minder schommelt, is meestal een<br />

zogenaamde 'anticipatieweerstand' R in de lokaalthermostaat ingebouwd. Bij het sluiten van het<br />

contact in gevolge de temperatuurdaling in het lokaal, vloeit er ook een kleine stroom door de<br />

anticipatieweerstand R. Door de warmteontwikkeling in R samen met de warmte van de<br />

opwarmende radiatoren, zal het contact eerder openen dan zonder deze weerstand R.<br />

__________ - III.29 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16.3 Vloeistofdruk- en dampdrukthermometers<br />

Bij een vloeistofdrukthermometer is een metalen reservoir, voorzien van een Bourdon-buis,<br />

volledig gevuld met vloeistof (kwik, ether, petroleum). Bij temperatuurstijging zet de vloeistof<br />

meer uit dan het metaal, waardoor drukverhoging optreedt. Deze drukverhoging, die een maat is<br />

voor de temperatuur, kan gebruikt worden om temperaturen te meten (thermometer) of om<br />

temperatuurgevoelige regelingen te maken.<br />

Bij de dampdrukthermometer is het een manometer die de verzadigde dampspanning van de<br />

vloeistof in het meetelement aanwijst. Gebruikte vloeistoffen zijn: zwaveldioxide, methaan,<br />

ether of kwik. De schaal is niet lineair, maar bij kleine temperatuurvariaties zijn grote<br />

drukvariaties mogelijk, waardoor het een gevoelig meetinstrument is.<br />

Deze thermometers worden o.a. toegepast in thermostatische kranen of thermische<br />

regelafsluiters:<br />

Thermostatische kranen: Indien de temperatuur in het lokaal stijgt, verhoogt de druk van<br />

het temperatuurgevoelig element. Hierdoor zal de thermostatische kraan meer sluiten<br />

waardoor minder warm water naar de radiator stroomt.<br />

Thermische regelafsluiters: Het temperatuurgevoelig element wordt in dit geval meer of<br />

minder verwarmd d.m.v. een ingebouwde verwarmingsweerstand (van bijv. 22Ω9 of 15<br />

Watt). Indien er geen stroom door het ingebouwd verwarmingselement vloeit, is de<br />

regelafsluiter in principe dicht. Daalt de temperatuur in het lokaal dan dient men er voor te<br />

zorgen dat iets meer vermogen en dus iets meer warmte ontwikkeld wordt in de<br />

verwarmingsweerstand waardoor de regelafsluiter verder opent.<br />

__________ - III.30 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16.4 Weerstandstemperatuurmeting (met metaalweerstanden)<br />

De weerstandstemperatuurmeting is gebaseerd op de relatie tussen weerstandswaarde en<br />

temperatuur van een meetweerstand:<br />

R(T)=R 0 (1 +αT +βT 2 + .. . )<br />

Hierin zijn T de temperatuur in °C of K, R 0<br />

de weerstand bij 0 °C, R(T) de weerstand bij T °C<br />

en α, β, ... de temperatuurcoëfficiënten eigen aan het materiaal.<br />

We onderscheiden metaalweerstanden, welke een relatief kleine positieve temperatuurcoëfficiënt<br />

α (PTC) bezitten, en halfgeleiderweerstanden, waaronder NTC- en PTC-weerstanden. Deze<br />

laatste worden behandeld in paragraaf 16.5.<br />

Tabel 3.2 geeft een aantal karakteristieken van (gebruikte) metaalweerstanden. In de engelstalige<br />

literatuur spreekt men meestal van "Resistance Temperature Detector" of kort weg van RTD.<br />

Materiaal Temp.gebied °C Temp.coëff. α Ω/°C<br />

Platina -200 tot 850 0,39<br />

Nikkel -80 tot 320 0,67<br />

Koper -200 tot 260 0,38<br />

Tabel 3.2: Karakteristieken van enkele metaalweerstanden.<br />

Platina wordt het meest gebruikt als temperatuurgevoelige metaalweerstand. De Pt100 is een<br />

temperatuuropnemer uit platina waarvan de weerstand 100 Ω bedraagt bij 0 °C. De voornaamste<br />

eigenschappen van deze opnemer zijn:<br />

De Pt100-opnemer kan worden gebruikt over een tamelijk groot temperatuurgebied (-200<br />

tot 850 °C).<br />

De Pt100 heeft een zeer goede stabiliteit over een lange periode (deze is veel beter dan bij<br />

het thermokoppel Chromel-Alumel).<br />

De weerstandsverandering per graad Celsius is ongeveer 0,38 Ω/°C ; deze waarde is<br />

evenwel niet volledig constant over het ganse temperatuurgebied.<br />

Meestal bevindt het weerstandselement zich in een buis (zakbuis of Eng.: thermowell) die<br />

mechanische en chemische bescherming biedt. Hierdoor is eveneens vervanging van de<br />

temperatuuropnemer zonder dat het proces wordt gestoord, mogelijk. Tabel 3.3 geeft een<br />

overzicht van mogelijke beschermende materialen.<br />

De Pt100-opnemer gedraagt zich als een eerste orde systeem. De tijdconstante τ is 0,1 tot<br />

1 sec, afhankelijk van de afmetingen (van enkele mm tot 0,5 m). τ kan echter 5 tot 10 maal<br />

groter worden t.g.v. de beschermbuis.<br />

Benaderend geldt R(T)=100 + 0, 390802.T − 5, 802.10 −5 .T 2<br />

In mindere mate komen ook Pt50, Pt200, Pt500 en Pt1000-opnemers voor; zij hebben<br />

overeenkomstige weerstandswaarden.<br />

Bij de Pt100 is de niet-lineariteit tussen 0 en 400°C ongeveer 3% en tussen 0 en 800°C ongeveer<br />

7% . Bij toepassing in data acquisitiesystemen is linearisering dan ook noodzakelijk.<br />

__________ - III.31 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Figuur 3.30: Voorbeeld: Pt100 in beschermbuis.<br />

Corrosie-tabel<br />

Concentratie<br />

Temperatuur [°C]<br />

koper<br />

messing<br />

fosforbrons<br />

nikkel<br />

staal<br />

304 (X5CrNi 18 9)<br />

316 (X5CrNiMo 18 10)<br />

347 (X10CrNiNb 18 9)<br />

monel<br />

tantaal<br />

titaan<br />

alcoholen elke 100 •<br />

ammoniak elke 100 • •<br />

azijnzuur elke 100 •<br />

benzine - •<br />

boorzuur - 200 •<br />

chroomzuur elke 150<br />

forforzuur elke 100 •<br />

freon - 150 •<br />

kerosine elke 150 •<br />

koolstofdioxyde (nat) - •<br />

kwikchloride 10 % 25<br />

melk - • • • •<br />

natriumchloride 30 % 150 •<br />

salpeterzuur 50 % 20 • • •<br />

salpeterzuur 65 % 100 • •<br />

stoom - • • •<br />

water (zoet) - • • • • • •<br />

water (zout) - • • •<br />

waterstofchloride (droog) - 250, •<br />

zoutzuur 1-25% 100<br />

zuurstof elke 25 •<br />

zwaveldioxyde - 250 •<br />

zwavelkoolstof - 100 •<br />

zwavelzuur elke 212 •<br />

Tabel 3.3: Mogelijke materiaalkeuze van beschermbuizen (gegevens uit brochure van Thermo Electric).<br />

__________ - III.32 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Naast Platina komen ook Nikkel-weerstand-opnemers voor. Ni100 wordt gebruikt vanwege zijn<br />

grote temperatuurcoëfficiënt. Deze opnemer is bruikbaar van -60 °C tot +250 °C. In dit geval is:<br />

R(T)=100 + 0, 5485.T + 6, 65.10 −4 .T 2 + 2, 805.10 −9 .T 4 − 2.10 −15 .T 6<br />

Zoals uit de formule blijkt is de lineariteit van Ni veel slechter dan van Pt. De opnemer bezit<br />

bovendien neiging tot drift in de tijd. Om deze twee redenen wordt Ni enkel bij lagere<br />

temperaturen gebruikt als de eisen op gebied van nauwkeurigheid minder hoog zijn.<br />

Het meten<br />

Het nauwkeurig meten van de kleine weerstandsverandering per graad Celsius gebeurt normaal<br />

met een Wheatstone-brug. De stroom door de brug (enkele mA) mag echter niet te groot zijn,<br />

anders veroorzaakt deze een temperatuurstijging en dus een fout. Een vermogen van 10 mW<br />

veroorzaakt een temperatuurstijging van 0,3 °C.<br />

Andere oorzaken van fouten zijn de weerstandsverandering t.g.v. de temperatuur van de<br />

leidingen naar de Pt100. Immers de Pt100 bevindt zich meestal op een zekere afstand van de<br />

brug. Door het gebruik van drie draden kan dit probleem worden opgelost.<br />

Vanwege de kleine weerstandsverandering is het spanningsverschil tussen de meetpunten zeer<br />

klein en een versterker is bijgevolg noodzakelijk. De eisen op gebied van nauwkeurigheid,<br />

stabiliteit en ruis waaraan de versterker moet voldoen zijn zeer groot.<br />

Meten bij onevenwicht<br />

Meestal is het zo dat de brug maar in evenwicht is voor een bepaalde temperatuur, de brug<br />

wordt dus niet voor iedere meting in evenwicht gebracht. In dit geval is de spanningswaarde van<br />

het onevenwicht afhankelijk van de voedingsspanning van de brug. De voedingsspanning moet<br />

bijgevolg zeer constant zijn. Ook mag het onevenwicht van de brug niet te groot zijn vermits er<br />

anders geen lineair verband is tussen de gemeten spanning en de verandering van de weerstand<br />

t.g.v. de temperatuur.<br />

Vaak wordt een actieve brug gebruikt. De weerstandsverandering t.g.v. de temperatuur heeft nu<br />

geen invloed op de stroom, zodat er hier wel een lineair verband is tussen de uitgangsspanning<br />

van de versterker en de weerstandsverandering van de Pt100. De voedingsspanning moet ook<br />

hier zeer constant blijven, vermits de uitgangsspanning evenredig is met de voedingsspanning.<br />

Voordelen<br />

Eenvoudig, universeel en economisch meetprincipe. De sensor is demonteerbaar onder<br />

procescondities. Ook mogelijk met explosieveilige koptransmitters al dan niet met<br />

communicatiemogelijkheid voor parametrering en bewaking op afstand.<br />

Nadelen: Niet voor meetbereiken hoger dan 650 °C<br />

Nauwkeurigheid: 0,5 °C. abs.<br />

__________ - III.33 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16.5 Temperatuurmeting met behulp van een halfgeleider<br />

De halfgeleider geeft een verandering in weerstand die afhankelijk is van de temperatuursverandering.<br />

Achtereenvolgens bespreken we:<br />

de Si-weerstand,<br />

thermistors,<br />

junctieweerstanden en<br />

temperatuurgevoelige stroombronnen.<br />

Halfgeleider-temperatuur-opnemers bezitten een langdurige en hoge stabiliteit, zijn goedkoop en<br />

klein van afmeting. Halfgeleiders inclusief behuizing zijn te maken volgens klantenspecificaties.<br />

Nadelig is vaak het beperkt temperatuurbereik.<br />

Si-massaweerstand<br />

Si-weerstanden hebben een positieve temperatuurscoëfficiënt α = 0,7 % per °C. Ze zijn lineair<br />

binnen ± 0,5% tussen - 65 °C en 200 °C. De nominale weerstandswaarden zijn gelegen tussen<br />

10 Ω en 10 kΩ met een tolerantie van 1 % tot 20 %.<br />

Deze weerstanden zien er uit als 1/4 watt weerstanden. Als meetelement worden ze bij voorkeur<br />

in een brug geschakeld.<br />

Thermistors<br />

De geleidbaarheid σ = (n.µ n<br />

+ p.µ p<br />

)q. Bij een zuivere halfgeleider is n = p = n i<br />

waarbij n i<br />

de intrinsieke concentratie<br />

is. Bij stijging van de temperatuur stijgt de dichtheid van gat/elektronen paren. Theoretisch is:<br />

n i 2 = A 0 T 3 e −Ego/kT<br />

met E go<br />

de energie in [eV] vereist om een covalente binding te verbreken m.a.w. de<br />

energieafstand tussen de geleidings- en valentieband bij 0 Kelvin, k de constante van Boltzmann in<br />

[eV/Kelvin] en A 0<br />

een evenredigheidsconstante.<br />

Bij thermistors gebruikt men geen Si of Ge doch wel gesinterde materialen zoals NiO, Mn 2<br />

0 3<br />

en<br />

C 2<br />

0 3<br />

. We onderscheiden PTC- en NTC-thermistors:<br />

De PTC-thermistors hebben meestal een zeer sterke stijging van de weerstand in een<br />

beperkt temperatuurgebied, m.a.w. zij hebben in dat gebied een zeer grote positieve<br />

temperatuurscoëfficiënt zoals aangegeven in figuur 3.31. Buiten het betreffende<br />

temperatuurgebied is de temperatuurcoëfficiënt negatief of nul.<br />

R<br />

[k Ω ]<br />

T<br />

[°C]<br />

T<br />

1<br />

T<br />

2<br />

Figuur 3.31:. Karakteristiek van PTC-thermistor.<br />

__________ - III.34 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

De PTC-thermistors worden niet zo zeer gebruikt om temperaturen te meten, doch wel om<br />

toestellen te beveiligen, bijvoorbeeld als beveiliging tegen overbelasting:<br />

- De PTC-thermistor kan in serie geschakeld worden met de te beveiligen belasting. In<br />

normale omstandigheden is zijn weerstand laag. Bij een te grote stroom stijgt I 2 R en dus<br />

de temperatuur, de weerstand wordt dan zeer groot.<br />

- Een andere mogelijkheid is deze waarbij de PTC als temperatuurvoeler wordt gebruikt.<br />

Zo kan de PTC-voeler ingebouwd worden tussen de wikkelingen van een motor om deze te<br />

beveiligen tegen te hoge temperaturen.<br />

Enkele kenmerkende grootheden zijn:<br />

1. de weerstandswaarde bij 25 °C (bijvoorbeeld 25 Ω)<br />

2. de schakeltemperatuur (bijvoorbeeld 75 °C)<br />

3. de temperatuurcoëfficiënt (bijvoorbeeld 25 % / °C)<br />

4. de thermische tijdconstante (bijvoorbeeld 20 sec)<br />

5. de maximum toegelaten spanning (bijvoorbeeld 245 V RMS<br />

)<br />

NTC-weerstanden daarentegen hebben een vrij grote negatieve temperatuurcoëfficiënt. De<br />

relatieve weerstandsverandering per graad Celsius is merkelijk groter dan bij een Pt100,<br />

doch is lager dan bij een PTC. Het weerstandsverloop in functie van de temperatuur is niet<br />

lineair:<br />

R = R 0 e β(1/T−1/T 0)<br />

met β een constante afhankelijk van het materiaal (≈ 4000) en T (en T 0<br />

) de absolute<br />

temperatuur in K. Figuur 3.32 geeft een typische NTC-karakteristiek weer<br />

Er bestaan NTC's die bruikbaar zijn van -25 °C tot +125 °C. De uiterste waarden zijn -200<br />

°C en +1000 °C. Afhankelijk van de uitvoering kan de weerstand bij 25 °C laag (4 Ω) tot<br />

zeer hoog (470 kΩ) zijn. De temperatuurcoëfficiënt is meestal ≈ -4 % / Kelvin. De<br />

thermische tijdconstante is afhankelijk van de massa (ordegrootte enkele seconden).<br />

R<br />

[k Ω ]<br />

T<br />

[°C]<br />

Figuur 3.32: Typische NTC-karakteristiek.<br />

__________ - III.35 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Junctiehalfgeleiders<br />

Junctiehalfgeleiders zijn eveneens geschikt voor temperatuurmeting. Bij een diode is:<br />

I = I r<br />

⎛<br />

⎝ e qV<br />

kT − 1 ⎞ ⎠<br />

of<br />

V =( kT q )ln( I<br />

I r<br />

+ 1)≅( kT q )ln( I<br />

I r<br />

)<br />

bij<br />

I >> I r<br />

met k de constante van Boltzmann = 8,62.10 -5 eV/K (1,38.10 -23 J/K),<br />

q de lading van een elektron (q=1,602.10 -19 C en 1eV =1,602.10 -19 J),<br />

T de temperatuur in Kelvin,<br />

I r<br />

de inverse saturatiestroom,<br />

I de stroom door de diode en<br />

V de spanning over de diode.<br />

Bijvoorbeeld: bij 300 K is V T<br />

∆<br />

=<br />

kT/q = 25,86 mV.<br />

Het junctiepotentiaal bij diodes en transistoren verandert dus over een groot temperatuurgebied.<br />

Deze verandering van junctiepotentiaal (= dV/dT) is<br />

bij Si = - 2 mV/°C<br />

bij Ge = - 2,5 mV/°C<br />

bij Schottky-diodes = -1,5 mV/°C<br />

Bij 25°C is de typische spanningsval over de diode<br />

bij Si = 0,7 V<br />

bij Ge = 0,2 V<br />

bij Schottky-diodes = 0,3 V<br />

Bijvoorbeeld: Bij 125°C en bij een constante stroom (1 mA) daalt het junctiepotentiaal met (125 - 25) x 2 =<br />

200 mV. Er staat nu 0,7-0,2 = 0,5 V over de Si-diode.<br />

Figuur 3.33 geeft de karakteristieken van de TO-92 transistor-temperatuur-opnemer.<br />

a) b)<br />

Figuur 3.33: a) Basis-Emitter spanning V BE<br />

[mV] i.f.v. de Collector-Emitter stroom I C<br />

[mA] en<br />

b) Basis-Emitter spanning V BE<br />

[mV] i.f.v. de omgevingstemperatuur T A<br />

[°C].<br />

__________ - III.36 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Aangezien de diodespanning eveneens een functie is van de stroom door de diode, zal de<br />

voeding dienen te gebeuren door een constante stroombron. Om een nauwkeurige<br />

uitgangsspanning te bekomen moet de diode gekalibreerd worden of ze moet samen met een<br />

andere aangepaste diode als paar in een brug worden opgenomen. Afhankelijk van de toepassing<br />

bedraagt de thermische tijdconstante enkele seconden.<br />

Temperatuurgevoelige stroombron (IC)<br />

Er bestaan eveneens temperatuurgevoelige stroombronnen. Dit zijn meestal relatief complexe<br />

(IC) schakelingen, waarbij een stroom vloeit die lineair stijgt met de temperatuur. De stroom is<br />

van de orde µA /Kelvin.<br />

Een voorbeeld van zo een IC is het type AD590 van Analog Devices. De uitgangsstroom is<br />

1 µA/Kelvin wanneer de voeding gelegen is tussen +4V en +30V en dit in een<br />

temperatuurgebied van -55 °C tot +150 °C.<br />

16.6 Stralingstemperatuurmeting (of pyrometrie)<br />

Alle objecten boven het absolute nulpunt (-273 °C) stralen een infraroodenergie uit.<br />

Infraroodmeters meten de hoeveelheid uitgestraalde infraroodenergie als maat voor de<br />

temperatuur.<br />

De infraroodmeter registreert met behulp van een lens het temperatuurverschil tussen object en<br />

meter. Dit gebeurt door het meten van de thermo-elektrische spanning die de infraroodstraling<br />

van het te meten object veroorzaakt.<br />

De belangrijkste voordelen zijn:<br />

Het contactloos meten van oppervlakte temperaturen.<br />

Toepasbaar voor hoge meetbereiken.<br />

De temperatuur van bewegende objecten kunnen worden gemeten, zoals walsen, lassen en<br />

naden of onderdelen in machines. Onhandig geplaatste of gevaarlijke objecten, bijvoorbeeld<br />

zuren, kunnen worden gecontroleerd. Ook de temperatuur van objecten met een lage<br />

thermische massa is te meten zoals bladeren van planten of hele delicate apparatuur.<br />

De belangrijkste nadelen zijn:<br />

De temperatuur van glimmende voorwerpen is moeilijk te meten t.g.v. reflectie. In dergelijke<br />

gevallen is de meting minder nauwkeurig dan conventionele meetmethoden.<br />

Alleen metingen van oppervlaktetemperatuur zijn mogelijk.<br />

Infraroodmeters worden toegepast in bereiken van -46 °C tot 2500 °C. Hun nauwkeurigheid<br />

bedraagt maximaal 1,0 °C absoluut.<br />

__________ - III.37 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16.7 Thermokoppels<br />

Het Seebeck-effect<br />

Indien twee geleiders a en b aan een uiteinde samengevoegd worden en indien er een<br />

temperatuurverschil ∆T is tussen deze plaats (de warme las) en het ander koude einde (zie figuur<br />

3.34) dan ontwikkelt zich op de koude plaats een open-circuit spanning ∆V tussen de open<br />

uiteinden van de geleiders; dit is het thermokoppel.<br />

T + ∆ T<br />

Warme zijde<br />

Figuur 3.34: Thermokoppel-principe: Seebeck-effect.<br />

Dit effect, "Seebeck-effect" genoemd, naar de ontdekker ervan T. J. Seebeck, is mathematisch uit<br />

te drukken als:<br />

∆V =α s ∆T<br />

Draad a<br />

Draad b<br />

waarbij α s<br />

de Seebeck-coëfficiënt voorstelt in V/K (of meer gebruikelijk in pV/K).<br />

Het Seebeck-effect is de som van het Peltiër-effect en het Thomson-effect, dit laatste is evenwel<br />

veel kleiner dan het eerste:<br />

E = C 1 (T 1 − T 2 )+C 2 (T 1 2 − T 2 2 )<br />

Peltiër-effect Thomson-effect<br />

T<br />

+<br />

∆<br />

- V<br />

Koude zijde<br />

2<br />

Voor koper-constantaan is E = 37,5 (T 1<br />

- T 2<br />

) - 0,045 (T 1<br />

junctietemperatuur in Kelvin en E de spanning in pV<br />

-T 22<br />

), waarbij T 1<br />

en T 2<br />

de absolute<br />

Metalen<br />

α s<br />

[µV/K]<br />

bij 273 K<br />

α s<br />

[µV/K]<br />

bij 300 K<br />

Thermokoppels<br />

α s<br />

[µV/K]<br />

bij 273 K<br />

α s<br />

[µV/K]<br />

bij 300 K<br />

Pb -0,995 -1,047 Type J 50,000 51,000<br />

Cu 1,700 1,830 (Fe / Cu-Ni)<br />

Ag 1,380 1,510 Type K 39,000 41,000<br />

Au 1,790 1,940 (Ni-Cr / Ni-Al )<br />

Pt -4,450 -5,280 Type R 5,000 6,000<br />

Pd 0,900 -9,990 (Pt - 13 % Rh / Pt)<br />

W 0,130 1,070 Type S 5,000 7,000<br />

Mo 4,710 5,570 (Pt - 10 % Rh / Pt)<br />

Cr 18,800 17,300 Type T 39,000 41,000<br />

V 0,130 1,000 (Cu / Cu-Ni)<br />

Rh 0,480 0,400<br />

Ni -18,000<br />

Al -1,700<br />

Tabel 3.4: De absolute Seebeck-coëfficiënt voor enkele thermokoppels.<br />

__________ - III.38 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Bovenstaande formule klopt in de praktijk niet helemaal zodat men vaak empirisch te werk gaat.<br />

Er is gebleken dat alleen een combinatie van twee verschillende materialen, een zogenaamd<br />

thermokoppel, het Seebeck-effect teweeg brengt. Voor twee draden van hetzelfde materiaal is als<br />

gevolg van symmetrie geen Seebeck-effect waar te nemen, het is echter wel aanwezig.<br />

De Seebeck-coëfficiënt<br />

De Seebeck-coëfficiënt α s<br />

is afhankelijk van de chemische samenstelling van het materiaal en<br />

van de temperatuur. De coëfficiënt is voor enkele metalen en thermokoppels gegeven in tabel 3.4<br />

bij 273 K en 300 K.<br />

Hogere waarden van de coëfficiënt zijn gemeten voor halfmetalen (zoals bismut) en voor<br />

halfgeleiders, waardoor ze beter geschikt zijn voor praktische toepassingen.<br />

Daar de Seebeck-coëfficiënt temperatuurafhankelijk is, dienen thermokoppels te worden<br />

gekalibreerd over het gebruikte temperatuurgebied.<br />

Voornaamste thermo-elektrische wetten<br />

Er gelden volgende thermo-elektrische wetten:<br />

1. De thermokoppelspanning wordt niet beïnvloed indien een derde metaal in een van de<br />

twee geleiders of tussen de draden van de warme las wordt geschakeld op voorwaarde dat<br />

de bijkomende juncties op gelijke temperatuur blijven. De grootte van het contactpotentiaal<br />

is uitsluitend afhankelijk van de temperatuur en niet van het contactoppervlak.<br />

2. De totale thermokoppelspanning van in serie geschakelde thermokoppels is gelijk aan de<br />

som van de spanningen van de verschillende afzonderlijke thermokoppels. E AC<br />

= E AB<br />

+<br />

E BC<br />

. Dit geldt zowel voor thermokoppels van dezelfde als voor thermokoppels van<br />

verschillende soort.<br />

3. Indien een thermokoppel een emk E l<br />

bij junctietemperaturen T 1<br />

en T 2<br />

, en een emk E 2<br />

bij<br />

junctietemperaturen T 2<br />

en T 3<br />

heeft, dan is bij junctietemperaturen T 1<br />

en T 3<br />

de emk E 1<br />

+<br />

E 2<br />

. Volgens de eerste wet hebben de verbindingsdraden tussen de koude juncties en de<br />

voltmeter geen invloed als zij maar op dezelfde temperatuur worden gehouden.<br />

Volgens diezelfde wet mogen de thermokoppeljuncties gesoldeerd worden. De zogenaamde<br />

koude las is normaal de referentiejunctie, wanneer deze koude las zich niet op 0 °C bevindt, kan<br />

de laatste wet toegepast worden.<br />

Thermokoppels<br />

De thermokoppels die veelal in de industrie gebruikt worden, zijn in tabel 3.5 weergegeven. Het<br />

meest gebruikte thermokoppel is Chromel-Alumel (Type K), het is niet alleen bruikbaar tot<br />

tamelijk hoge temperaturen (tot 1200 °C), maar het is bovendien vrij lineair. De spanning is<br />

ongeveer 40 pV/K (zie tabel 3.). Andere vaak gebruikte thermokoppels zijn ijzer/constantaan<br />

(type J) en koper/constantaan (Type T); ze zijn bestand tegen zeer hoge temperaturen. De<br />

temperatuur/spanning relatie is niet geheel lineair maar wel zeer reproduceerbaar. De<br />

thermokoppeltemperatuursensoren zijn, afhankelijk van het toegepaste type, leverbaar in (deel-)<br />

bereiken van -40 °C tot + 1600 °C.<br />

__________ - III.39 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Figuur 3.35: Thermokoppelspanningen als functie van de temperatuur voor enkele thermokoppels<br />

T<br />

Type<br />

Koper-Constantaan<br />

(Cu-CuNi)<br />

Temp.<br />

Bereik [°C]<br />

Gevoel.<br />

[µV/°C]<br />

Eigenschappen<br />

-40/350 ≈ 40 - nauwkeurig (± 1°C of ± 1 %)<br />

- voor lage temp.(tot -200 °C)<br />

J<br />

E<br />

K<br />

Ijzer-Constantaan<br />

(Fe-CuNi)<br />

Chromel-Constantaan<br />

(NiCr-CuNi)<br />

Chromel-Alumel<br />

(NiCr-NiAl)<br />

-40/750 ≈ 50 - goedkoop<br />

-40/900 ≈ 60 - grote gevoeligheid<br />

-40/1200 ≈ 40 - lineair<br />

- groot temperatuurgebied<br />

N<br />

S<br />

Nicrosi-Nisil<br />

(NiCrSi-NiSi)<br />

Platina-PtRh10<br />

(Pt - PtRh 10 %)<br />

-40/1200 ≈ 36 - lineair (vergelijk met K)<br />

0/1600 ≈ 9 - voor hoge temp.<br />

- niet lineair<br />

R<br />

Platina-PtRh13<br />

(Pt - PtRh 13 %)<br />

0/1600 ≈ 9 - voor hoge temp.<br />

- niet lineair<br />

B PtRh6-PtRh30 600/1700 ≈ 5 - voor hoge temp.<br />

Tabel 3.5: Essentiële eigenschappen van enkele thermokoppels.<br />

Meten van de thermokoppelspanning<br />

Daar de thermische emk een DC-spanning is van de orde mV, dient zij te worden versterkt met<br />

een versterker met een zeer kleine offset-spanning.<br />

De referentietemperatuur is meestal 0 °C. Een referentiethermokoppel in een smeltend ijsbad of<br />

het gebruik van een compensatiespanning in serie met het thermokoppel kunnen hiervoor<br />

worden gebruikt.<br />

__________ - III.40 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

Figuur 3.36: Temperatuurmeting met ijsbad als referentietemperatuur<br />

Figuur 3.37: Temperatuurmeting met twee thermokoppels (meetpunt en referentie), met bijkomende<br />

thermokoppels t.g.v. materiaalovergangen : aan iedere verbindingsklem: chromel-brons,<br />

brons-tinverbinding, tin-kopperleiding; aan de voet: tweemaal koper-tin, tin-rhodium/staal,<br />

rhodium/staal-kovar; en aan de versterker: tweemaal kovar-goud, goud-aluminium, aluminium-silicium.<br />

Er bestaan ook IC's, bijvoorbeeld de types AD594/5/6/7 van Analog Devices, die het signaal van<br />

het thermokoppel versterken tot 10 mV / °C en die inwendig een ijspunt compensatie hebben.<br />

Deze IC's hebben ook een alarm uitgang.<br />

Voordelen<br />

Eenvoudig, universeel en economisch meetprincipe.<br />

De sensor is demonteerbaar onder procescondities.<br />

Ook mogelijk met explosieveilige koptransmitters of koptransmitters met communicatiemogelijkheid<br />

voor parametrering en bewaking op afstand.<br />

Geschikt voor zeer hoge temperaturen.<br />

Nadelen<br />

Wanneer geen koptransmitter wordt toegepast, is een kostbare compensatiekabel nodig.<br />

Niet geschikt voor lagere temperaturen.<br />

Toepassingsvoorbeeld<br />

Toepassingen situeren zich vooral bij het meten van hoge temperaturen bv. voor regeling van<br />

smeltbaden en gietprocessen. De nauwkeurigheid is ±2 °C absoluut.<br />

Het thermokoppel wordt echter ook gebruikt als beveiliging o.a. bij atmosferische gasketels. De<br />

warmte van de waakvlam verwarmt het thermokoppel dat op zijn beurt de gasklep openhoudt.<br />

De waakvlam is een kleine gasvlam die de atmosferische brander ontsteekt wanneer er warmte<br />

door de ketel moet geleverd worden. Als de waakvlam om een of andere reden dooft, zal de<br />

gasklep sluiten zodat er geen ontplofbaar gas de stookplaats zou vullen.<br />

__________ - III.41 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Temperatuurmeting<br />

16.8 Vergelijkend overzicht<br />

Tabel 3.6 geeft tenslotte een vergelijkend overzicht van de belangrijkste temperatuurmeetmethoden.<br />

Eigenschap Thermokoppel Weerstand Thermistor<br />

Stabiliteit (drift) 1°C drift /jaar minder dan 0,1 °C /jaar 0,1 °C tot 3 °C/jaar<br />

Gevoeligheid 10 tot 50 V/°C 0,2 tot 10 Ω/°C 100 tot 100 Ω/°C<br />

Temperatuurbereik -180 °C tot 1700 °C -260 °C tot 850 °C -100 °C tot 290 °C<br />

Uitgangssignaal 0 tot 60 mV 1 tot 6 V 1 tot 3 V<br />

Vermogendissipatie 1,6.10 -7 W 0,04 W 0,81 W<br />

Prijs 35 - 125 Euro 75 - 200 Euro 1 - 5 Euro<br />

Lineariteit (zeer) goed zeer goed slecht<br />

Speciale kenmerken grootst temp.bereik zeer nauwkeurig en stabiel<br />

Tabel 3.6: Vergelijkend overzicht.<br />

__________ - III.42 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17 Niveaumeting<br />

In de categorie van niveaumetingen komen zowel niveauschakelaars, welke het overvullen of<br />

leeglopen van een tank signaleren, als (analoge) niveaumetingen voor. De volgende paragrafen<br />

bespreken beide groepen.<br />

17.1 Geleidbaarheid niveauschakelaar voor vaste stoffen<br />

Het overschrijden van een bepaald niveau wordt gemeten door de weerstandverandering tussen<br />

sensor en metalen wand of tussen twee sensoren t.g.v. de aan-of afwezigheid van een geleidend<br />

product te meten.<br />

In een metalen vat of tank met elektrisch geleidende stoffen wordt een deels geïsoleerde<br />

meetelektrode aangebracht (zie figuur 3.38). Indien het product de elektrode nog niet raakt, zal<br />

de elektrische weerstand tussen elektrode en tankwand relatief hoog zijn. Wanneer het niveau<br />

stijgt en het geleidende product een verbinding maakt tussen elektrode en wand zal de weerstand<br />

afnemen. Het verschil in weerstand wordt door een geleidbaarheidsversterker waargenomen. Het<br />

doorgeven van het schakelpunt kan, afhankelijk van de gekozen elektronica, op meerdere<br />

manieren geschieden. Als er geen metalen wand aanwezig is worden twee sensoren toegepast.<br />

Dit meetprincipe is eenvoudig en relatief goedkoop. Het is eveneens geschikt voor zeer visceuze<br />

en schuimvormende producten. Met twee elektroden (of drie in een kunststoftank) is een<br />

tweepuntsregeling of pompsturing mogelijk.<br />

De elektroden mogen echter niet vervuilen door vet of niet-geleidende aangroei. Beperkt<br />

toepasbaar bij producten met wisselende geleidbaarheid of kleinere geleidbaarheid dan 5 µS.<br />

Nauwkeurigheid: afhankelijk van montage 1 tot 10 mm abs.<br />

Figuur 3.38: Niveauschakelaar op basis van weerstandwijziging tussen de elektrode en metalen wand..<br />

__________ - III.43 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.2 Tril- en stemvorkniveauschakelaar voor vloeistoffen en vaste stoffen.<br />

De tril- en stemvorkniveauschakelaars bestaan uit een symmetrische trilvork. De basis van de<br />

trilvork is een membraan dat weer deel uitmaakt van een inschroefgedeelte of flens (zie figuur<br />

3.39). Hierdoor bestaat de proceszijde uit één stuk metaal. De trilvork wordt via het membraan<br />

piëzo-elektrisch op zijn resonantiefrequentie van ca. 400 Hz in lucht voor trilvork en ca. 120 Hz<br />

voor stemvork, gebracht.<br />

Trilvork in vloeistoffen<br />

De dimensionering van de trilvork is dusdanig dat bij onderdompelen in vloeistof de<br />

resonantiefrequentie ongeveer 20 % (80 Hz) verschuift. Een ontvangstkristal neemt de<br />

resonantiefrequentie op en via een vergelijkingsschakeling wordt een frequentieverschuiving<br />

gedetecteerd. De nauwkeurigheid bedraagt 3 tot 5 mm.<br />

Stemvork in vaste stoffen (poeders)<br />

Reeds bij geringe demping door vaste stoffen zal de stemvork stoppen met trillen.<br />

Stemvorkniveauschakelaars bestaan in korte en<br />

buis- of kabelverlengde uitvoeringen.<br />

De nauwkeurigheid is, afhankelijk van montage,<br />

10 tot 40 mm abs.<br />

Voordelen: Universeel toepasbaar, geen afregeling<br />

nodig en relatief goedkoop. Geschikt voor zeer<br />

visceuze producten en onafhankelijk van elektrische<br />

eigenschappen van het product. In elke stand te<br />

monteren.<br />

Nadelen: Niet geschikt voor zwevende bestanddelen<br />

in vloeistoffen groter dan 10 à 12 mm (blijft tussen de<br />

vorken zitten).<br />

Trilvorkniveauschakelaars worden vooral als<br />

(storingsvrije) droogloop- en overvulbeveiliging<br />

gebruikt (ter vervanging van oude vlotter systemen).<br />

c)<br />

a) b)<br />

Figuur 3.39: Voorbeelden van a) opbouw b) uitvoering en c) toepassing van tril- en stemvorkschakelaars.<br />

__________ - III.44 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.3 Capacitieve niveauschakelaar of -meter voor vloeistoffen en vaste stoffen<br />

De capaciteitswaarde tussen meetelektrode en tegenelektrode, meestal de wand van tank of silo,<br />

door aan- of afwezigheid van product is een maat voor het niveau (zie ook paragraaf 8.5). Deze<br />

methode is zowel toepasbaar voor niveauschakelaars als voor niveaumeters. Bij voldoende<br />

capacitief onderscheid tussen twee producten is ook de scheidingslaag hiertussen te meten.<br />

Voordelen: Voor vloeistof en vaste stof, geen bewegende delen, hoge druk en temperatuurbestendig<br />

en in zeer agressieve producten toepasbaar.<br />

Nadelen: Beperkt toepasbaar bij (niet geleidende) wisselende producten.<br />

De nauwkeurigheid is voor schakelaar 5 tot 25 mm abs en voor niveaumeters 0,5 - 1% van SE.<br />

Toepassingen: Capacitieve niveauschakelaars worden vooral gebruikt voor detectie of alarmering van vaste stoffen<br />

in de levensmiddelenindustrie, de veevoederindustrie, zand, grind, cement en in de bulkchemie. Capacitieve<br />

sensoren zijn er in diverse uitvoeringen: kleine , staaf- of kabelversies afhankelijk van hun toepassing en<br />

montagemogelijkheden. Met PTFE of PFA als sensormaterialen worden capacitieve sensoren veelvuldig in de<br />

chemie toegepast. Keramische isolatie maakt deze sensoren ook geschikt voor zeer hoge drukken en temperaturen<br />

Capacitieve niveaumeters worden uitsluitend toegepast voor vloeistoffen. Veelvuldige toepassing van PFTE of PFA<br />

elektrode-isolatie heeft tot gevolg dat capacitieve sensoren ook in de voedingsmiddelenindustrie worden gebruikt.<br />

Mede door de geringe vervuiling (geen aangroei) van deze isolatie-materialen zijn ze echter ook bruikbaar in<br />

afvalwater, proceswater en drinkwater. Met capacitieve sensoren zijn eveneens scheidingslagen te meten tussen<br />

water en koolwaterstoffen in de petrochemie.<br />

Figuur 3.40: Voorbeeld capacitieve niveaumeting.<br />

17.4 Ultrasone niveaumeter in vloeistoffen en vaste stoffen<br />

Het meetprincipe steunt op de looptijdmeting en reflectie van ultrasone geluidsgolven. Zie<br />

hoofdstuk 12. (Niet te verwisselen met RADAR meting zie verder).<br />

Voordelen: Contactloos en geschikt voor wisselende producten (vloeistoffen en vaste stoffen).<br />

Is buiten de tank of silo af te regelen en niet afhankelijk van elektrische eigenschappen van<br />

het product. Toepasbaar voor zeer kleine tot grote niveauhoogten. Meetbereiken van circa 20<br />

cm tot 45 meter<br />

Nadelen: Het product mag niet te veel schuimvorming geven of te zacht zijn (moet<br />

reflecteren). Niet geschikt voor drukken hoger dan ca 3 bar en in vacuüm.<br />

Nauwkeurigheid: 0,2 % van SE.<br />

__________ - III.45 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.5 Hydrostatische niveaumeter voor vloeistoffen<br />

Deze meter meet de hydrostatische druk van een vloeistofkolom met behulp van een relatieve<br />

drukopnemer. De hydrostatische niveausensor bestaat uit een meetmembraan dat praktisch altijd<br />

hydraulisch gekoppeld is aan een capacitieve of rekstrookjesopnemer. Bij de capacitieve<br />

opnemer wordt de geringe membraanverplaatsing via een condensator gemeten terwijl bij een<br />

rekstrookjesopnemer (meestal in dun-filmtechniek) een weerstandvariatie wordt gemeten.<br />

Uiteraard meet een hydrostatische niveausensor massa en dus alleen maar een reproduceerbaar<br />

niveau bij constante soortelijke massa. Meetbereiken variëren van circa 50 cm tot meer dan 100<br />

meter.<br />

Voordeel: Eenvoudige inbouw en inregeling. Meet massa van de vloeistofkolom in plaats<br />

volume. Geschikt voor wisselende productconcentraties (met zelfde massa) en onafhankelijk van<br />

elektrische eigenschappen van het product. Is buiten de tank in te regelen en te kalibreren. In<br />

compact, buis- en kabelverlengde uitvoering leverbaar.<br />

Nadeel: Meet massa in plaats van volume. Product mag niet uitharden.<br />

Nauwkeurigheid: 0,2% van MW + 0,1 % / 10 K van SE.<br />

Figuur 3.41: Voorbeeld hydrostatische drukmeting.<br />

h<br />

ρ<br />

P a<br />

P 1<br />

P 2<br />

P 1 - P 2 = ρ g h<br />

h<br />

P 2<br />

P 2<br />

ρ<br />

P a<br />

P 1<br />

Figuur 3.42: (Hydrostatische) Niveaumeting in open en gesloten tank.<br />

__________ - III.46 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.6 Microgolf- of radar-niveaumeting in vloeistoffen.<br />

Een radar-niveausensor bestaat uit een gecombineerde zender en ontvanger in het GigaHertz<br />

bereik (ISM band), waarmee de looptijd van een uitgezonden en door het vloeistofoppervlak<br />

gereflecteerde microgolfpuls (elektromagnetische golf) gemeten wordt. De looptijd is een directe<br />

maat voor de niveauhoogte in de tank. De voortplantingssnelheid van microgolven is niet<br />

afhankelijk van druk, temperatuur, dampvariaties, stof of nevelvorming. Dit in tegenstelling tot<br />

ultrasoon geluidsgolven.<br />

Het te meten product moet echter wel een bepaalde diëlektrische constante bezitten om het<br />

onderscheid tussen gas en vloeistoffase mogelijk te maken. Radar-niveausensoren kunnen zowel<br />

direct in de tank als in een by-pass worden gemonteerd (zie figuur 3.43). Voor toepassing in<br />

agressieve producten is het sensorgedeelte leverbaar in PTFE. Het uitgangssignaal is 4-20 mA.<br />

Figuur 3.43: Voorbeeld RADAR niveaumeting: a) uitvoering voor proces tank, b) voor buffer - of stockage<br />

tanks en c) in (bestaande) by-pass.<br />

Voordelen:<br />

Contactloos en geschikt voor wisselende vloeistoffen. Geschikt voor vacuüm, hoge drukken (64<br />

bar) en sensortemperaturen (250 °C). Hoge nauwkeurigheid en reproduceerbaarheid. Toepasbaar<br />

bij grote niveauhoogten (tot 35 m).<br />

Nadelen:<br />

Signaalverlies door turbulentie, schuimvorming of hoge diëlektrische constante (groter dan 2)<br />

van het product leiden tot een kleiner meetbereik.<br />

Toepassingen:<br />

Bij praktisch alle vloeistoffen in de chemie of op schepen in grote opslagtanks met (wisselende)<br />

chemicaliën. Voor meetbereiken van circa 1 tot 35 meter. Vooral daar waar door turbulentie,<br />

aangroeimogelijkheden, vacuüm, druk of hoge temperatuur contactloos meten de voorkeur<br />

geniet. Geschikt voor het meten van zeer agressieve, visceuze of kleverige stoffen onder zware<br />

procescondities. Ook toepasbaar als zeer nauwkeurige afstandsmeting in stoffige omgeving.<br />

Nauwkeurigheid: 0,1% van SE<br />

__________ - III.47 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.7 Microgolf- of radar-niveaumeting en -schakeling in vaste stoffen.<br />

Niveaumeting in vaste stoffen of poeders tot korrelgroottes van 20 mm kan<br />

gebeuren door de looptijd van een microgolf te meten die door een kabel<br />

geleid wordt. De intersectie van de kabel met het productoppervlak<br />

weerkaatst de microgolf t.g.v. de verandering van diëlektrische constante.<br />

Figuur 3.44 geeft een uitvoeringsvoorbeeld.<br />

Dit meetsysteem biedt volgende voordelen:<br />

ongevoelig voor veranderingen in producteigenschappen<br />

ongevoelig aan vochtigheid, stof, aankleving, druk of temperatuur<br />

geschikt voor alle vaste stoffen (bloem, cement, granen, kalk, zand, ...<br />

met een korrelgrootte kleiner dan 20 mm.<br />

De maximale meetafstand bedraagt 20 m, de maximale temperatuur<br />

120 °C.<br />

Meting van vaste stoffen met grotere korrelgroottes gebeurt best<br />

contactloos met ultrasone golven.<br />

Figuur 3.44: Levelflux.<br />

van E&H.<br />

Figuur 3.45: Voorbeeld: microgolfniveauschakelaar voor grofkorrelige vaste stoffen.<br />

Naast de (geleide) microgolfmeting zijn er ook microgolfniveauschakelaars, waarvan een<br />

voorbeeld gegeven in figuur 3.45. De zender van de microgolfschakelaar zendt een<br />

hoogfrequente radarstraling uit. De ontvanger aan de tegenliggende zijde meet de<br />

stralingsintensiteit. Afhankelijk van de productsamenstelling en -hoeveelheid wordt de straling<br />

verzwakt of geheel geabsorbeerd, hetgeen de schakelversterker activeert.<br />

De radargolven penetreren niet door metallische of geleidende materialen. Bij metalen tankwanden<br />

is derhalve een 'venster' uit kunststof, keramiek of glas noodzakelijk.<br />

De microgolfschakelaar is een onderhoudsvrij meetsysteem, niet beïnvloed door stof , damp of<br />

vervuiling. De zender en ontvanger kunnen enkele meters uit elkaar geplaatst worden. Dit<br />

meetprincipe is ook toepasbaar voor telling van stukgoed of positionering van objecten.<br />

Het zendvermogen is zo gering dat geen enkel gevaar bestaat voor personen die zich permanent<br />

in de directe omgeving van de zender bevinden.<br />

__________ - III.48 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.8 Gammastraalniveauschakelaar en -meting<br />

Een gammameting is opgebouwd uit een zender en een ontvanger, elk aan tegenliggende zijde<br />

gemonteerd. De zender is in dit geval een radioactief isotoop dat zuivere gammastraling uitzendt.<br />

De stralingsbron, kobalt 60 of cesium 137, is in een hermetisch gesloten capsule verpakt. De<br />

capsule wordt in een afsluitbare bronhouder gebracht. De detector (een Geiger -Müller telbuis)<br />

meet aan de andere zijde, bij een geopende bronhouder en geen productbedekking, een geringe<br />

stralingsintensiteit. Zodra zich tussen bron en detector product ophoopt, daalt de<br />

stralingsintensiteit en detecteert de meting dit als een niveaustijging. De preparaatsterkte, de<br />

gevoeligheid van de detector en eventuele afscherming worden zo berekend dat ook aan de<br />

detectorzijde geen enkel stralingsgevaar optreedt, zelfs niet bij een lege tank.<br />

Voor een continue niveaumeting en een enkelvoudige niveausignalering worden verschillende<br />

types detectoren ingezet. Figuur 3.46 geeft een voorbeeld.<br />

Figuur 3.46: Voorbeeld: gammastraalniveauschakelaar en -meting in silo en liggende cilindrische tank.<br />

De gammameting wordt eigenlijk alleen dan toegepast, als alle andere meetprincipes het laten<br />

afweten. Moeilijke procescondities en inbouwsituaties zijn aanleiding voor het inzetten van de<br />

contactloze gammameting. Voorbeelden van deze extreme procescondities zijn:<br />

hoge temperatuur<br />

hoge druk<br />

zeer giftige stoffen<br />

grofstoffelijke stortgoederen<br />

aangroeiende en visceuze media<br />

en natuurlijk alle mogelijke combinaties hiervan.<br />

Toepassing in de voedingsindustrie is toegestaan daar zuivere gammastraling het product niet<br />

kan besmetten. De te meten producten mogen zelf niet radioactief zijn en de dichtheid van het<br />

product dient zich duidelijk te onderscheiden van die van lucht.<br />

Opmerking: Kobalt 60 heeft een groot doordringingsvermogen, wat het mogelijk maakt grote<br />

afstanden of dikke tankwanden te doorstralen. Dit preparaat wordt hoofdzakelijk voor<br />

niveauschakelaars gebruikt. Cesium 137 waarborgt een lange inzettijd zonder tussen afregeling.<br />

De absorptiekarakteristiek van cesium is beter voor een lineaire niveaumeting.<br />

De halfwaardetijd, dit is de tijd nodig voor een bron om tot op de helft van haar oorspronkelijke<br />

stralingsintensiteit te vervallen, bedraagt 5,3 jaar voor kobalt 60 en 32 jaar voor cesium 137.<br />

__________ - III.49 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Niveaumeting<br />

17.9 Overige niveaumeettechnieken<br />

Naast de reeds besproken niveaumeettechnieken zijn er nog:<br />

metingen via peilstok (bij vaste stoffen)<br />

meting via peilglazen (by-pass) (bij vloeistoffen)<br />

vlotterniveaumeting (bij vloeistoffen)<br />

gewichtmeting van gevulde tank, bv. via rekstrookjes<br />

draaivleugelschakelaar (bij vaste stoffen)<br />

Figuur 3.47: Voorbeelden van vlotter-niveaumeting.<br />

Tabellen 3.7 en 3.8 op de volgende pagina's geven een vergelijkend overzicht tussen de<br />

verschillende niveauschakelaars en niveaumetingen.<br />

__________ - III.50 -<br />

Johan Baeten


Tabel 3.6:<br />

Overzicht<br />

niveauschakelaars<br />

Resistief<br />

Principe Toepasbaar Voordelen Nadelen Opmerkingen<br />

Plotse verandering in<br />

geleidbaarheid<br />

Niet agressieve,<br />

geleidende vloeistoffen<br />

Robuust<br />

Geen bewegende delen<br />

Stof- of condensaatgevoelig<br />

Wisselspanning gebruiken tegen<br />

elektrolyse<br />

Trilvork<br />

Piëzo-elektrische<br />

resonantie<br />

Capacitief Plotse capaciteitswijziging<br />

Microgolven<br />

Demping van<br />

horizontale golf<br />

Vloeistoffen , poeders en<br />

fijnkorrelige stoffen<br />

Vloeistoffen, ook met<br />

schuim en vaste stoffen<br />

Vloeistoffen en vaste<br />

stoffen<br />

Robuust<br />

Onafhankelijk van<br />

stofeigenschappen<br />

Robuust<br />

Geen bewegende delen<br />

Contactloos<br />

Geen invloed<br />

Hoorbare frequentie<br />

Ongevoelig bij stoffen<br />

met lage ε of hoge<br />

luchtvochtigheid<br />

Duur<br />

Niet bij metalen tanks<br />

Zeer nauwkeurig<br />

Ongevoelig voor schuim en stroming<br />

Meer toegepast dan continue meting<br />

Zeer nauwkeurig met horizontale<br />

elektrode<br />

Ook bruikbaar voor stukmeting<br />

Gammastralen<br />

Demping van<br />

horizontale straling<br />

Altijd, ook<br />

voedingsstoffen<br />

Contactloos<br />

Geen invloed<br />

Duur<br />

Stralingsgevaar<br />

Meer gebruikt dan meting<br />

Vooral met kobalt 60<br />

Optisch<br />

Vlotter<br />

Al of niet reflectie van<br />

licht Vloeistoffen<br />

Vlotter met magnetische<br />

of balgkoppeling<br />

-schakelaar<br />

Vloeistoffen Eenvoudig<br />

Onafhankelijk van druk,<br />

temperatuur<br />

Klein<br />

Explosieveilig<br />

niet voor kleverige<br />

media<br />

Opletten voor abnormaal<br />

omgevingslicht<br />

Mechanische sleet<br />

Vuilgevoelig Verticale en horizontale uitvoeringen<br />

Algemene opmerking: Overige niveauschakelaars kunnen afgeleid worden uit analoge meetprincipes , bv ultrasoon.


Tabel 3.7:<br />

Overzicht<br />

niveaumeting<br />

Capacitief<br />

Principe Toepasbaar Voordelen Nadelen Opmerkingen<br />

Wijzigende capaciteit<br />

t.g.v. ε wijziging<br />

Ultrasoon Looptijd - echo<br />

Hydrostatisch H = ∆P / ρ g<br />

Microgolven 1<br />

Microgolven 2<br />

Gammastralen<br />

Vlotter<br />

Vrije lucht<br />

Looptijd / reflectie<br />

Geleide puls<br />

Looptijd / reflectie<br />

Dempingsgraad van<br />

zijdelingse straling<br />

Magnetische vlotter in<br />

by-pass<br />

Vloeistoffen, poeders en<br />

grof stortgoed met hoge<br />

diëlektrische constante ε<br />

Vloeistoffen en (grofkorrelige)<br />

vaste stoffen<br />

Tot 45 m en 80 °C<br />

Vloeistoffen (ook<br />

agressieve, toxische,<br />

aangroeiende, brandbare)<br />

Bij vloeistoffen voor<br />

extreme toepassingen<br />

Tot 250 °C, 0 tot 64 bar<br />

Fijnkorrelige (


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18 Debietmeting<br />

18.1 Definities<br />

Debietmetingen worden traditioneel opgedeeld in massa- en volumemetingen. Tussen massadebiet<br />

en volumedebiet bestaat er een eenvoudig verband in het geval van onsamendrukbare<br />

vloeistoffen bij constante temperatuur. Voor samendrukbare gassen is het verband minder<br />

eenvoudig.<br />

Het volumedebiet Q V<br />

heeft als eenheid m 3 /sec.Het massadebiet Q m<br />

heeft als eenheid kg/sec. Voor<br />

vloeistoffen met constante dichtheid ρ, geldt:<br />

waarin<br />

m =ρV<br />

Q m =ρQ V<br />

m = massa in kg<br />

ρ = dichtheid of volumetrische massa in kg/m 3<br />

V = volume in m 3<br />

Door het feit dat gassen samendrukbaar zijn, vervalt het eenvoudig verband dat bestaat bij<br />

vloeistoffen. Bij wijziging van druk en temperatuur, verandert het volume van een bepaalde<br />

gashoeveelheid. Daarom wordt bij een gasdebiet altijd de bedrijfstoestand (P en T) vermeld, of<br />

wordt het debiet herleid tot normaalvoorwaarden (P = 1 bar en T = 273 K). De omrekening<br />

gebeurt via de universele gaswet<br />

waarin<br />

PV<br />

T<br />

= nR = cte<br />

n = aantal mol<br />

R = universele gasconstante<br />

De viscositeit van een vloeistof is een maat voor de onderlinge invloed van de vloeistofdeeltjes<br />

op elkaar. Bij het afremmen van een bepaalde vloeistoflaag, zullen de omliggende lagen ook in<br />

meer of mindere mate vertragen. Hoe hoger deze onderlinge invloed, hoe groter de<br />

viscositeitscoëfficiënt. Zo heeft olie een veel hogere viscositeit dan water.<br />

De dynamische viscositeit η wordt uitgedrukt in Pa.s of Ns/m². De technische eenheid is Poise,<br />

naar de Franse geleerde Poiseuille: 1 Poise = 0,1 Pa.s = 0,1 Ns/m² of 1 centiPoise = 0,001 Pa.s<br />

De viscositeit is sterk temperatuurafhankelijk. Tabel 3.8 geeft enkele waarden voor olie en water.<br />

temp<br />

[°C]<br />

olie<br />

[Poise]<br />

water<br />

[centiPoise]<br />

0° 53 1.8<br />

20° 9.9 1<br />

40° 2.3 0.66<br />

60° 0.8 0.47<br />

80° 0.3 0.36<br />

100° 0.17 0.28<br />

Tabel 3.8: Viscositeitswaarden voor olie en water.<br />

__________ - III.53 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

De kinematische viscositeit υ houdt bovendien rekening met de soortelijke massa ρ [kg/m³].<br />

υ= η ρ<br />

[m²/s]<br />

De technische eenheid is Stokes. 1 Stokes = 10 -4 m²/s<br />

Laminaire en turbulente stroming<br />

Reynolds toonde aan dat er twee totaal verschillende stroomregimes bestaan, door een kleurstof<br />

te injecteren volgens de aslijn van de stroming, met de bedoeling de stroomlijnen zichtbaar te<br />

maken. Bij een laag debiet of wanneer de snelheid in de leiding klein is, vormt de kleurstof een<br />

fijne rechte lijn. De kleurstof vermengt zich niet met de vloeistof eromheen. Dit betekent dat de<br />

stroming in de leiding in evenwijdige laagjes verloopt die langs elkaar bewegen, daarbij<br />

evenwijdig blijven en zich niet met elkaar vermengen. Omdat de beweging in laagjes gebeurt,<br />

spreekt men van een laminaire stroming.<br />

Bij gelijkblijvende leidingdiameter met een groter debiet, dit is met een grotere stromingssnelheid,<br />

verloopt de kleurstofdraad niet langer rechtlijnig, maar krijgt ze een schommelend,<br />

trillend uitzicht zoals weergegeven in figuur 3.48.b. De kleurstof vermengt zich evenwel niet met<br />

de omgevende vloeistof. Bij nog grotere stromingssnelheden vermengt de kleurstof zich volledig<br />

met de vloeistof in de buis. Dit wordt een turbulente stroming genoemd.<br />

Re < Re c Re ≅ Re c<br />

Re > Rec Re = ∞ υ = 0<br />

Laminair Overgang Turbulent Ideaal Turbulent<br />

a) b)<br />

c)<br />

Figuur 3.48: Stromingspatroon: a) laminair b) overgang en c) turbulent.<br />

Snelheidsprofiel<br />

Deeltjesbeweging<br />

Experimentele studies wezen uit dat niet alleen de waarde van de gemiddelde snelheid in de buis<br />

het stromingsregime bepaalt, maar dat ook de diameter van de leiding en de viscositeit van de<br />

vloeistof een invloed hebben. Het turbulente stromingsregime wordt des te eerder bekomen,<br />

naarmate de gemiddelde snelheid v en de diameter D van de leiding groter zijn en de viscositeit<br />

(υ of η) kleiner is. Het dimensieloze Reynolds-getal groepeert deze drie parameters:<br />

Re = vD υ = vDρ<br />

η<br />

Het Reynolds-getal geeft de verhouding tussen de traagheidskrachten (evenredig met vDρ ) en de<br />

viscositeitskrachten (evenredig met η).<br />

__________ - III.54 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Bij kleine waarden van Re is de stroming laminair. Bij grote waarden van Re is de stroming<br />

turbulent. De overgang van laminaire naar turbulente stroming gebeurt niet altijd bij hetzelfde,<br />

welbepaalde Re-getal. Er bestaat een overgangsregime waarbij de stroming niet meer laminair is,<br />

maar toch nog niet uitgesproken turbulent. De kritische waarde van het Re-getal (Re c<br />

) waarbij<br />

de overgang laminair-turbulent plaatsvindt, kan dus niet duidelijk bepaald worden. Voor de<br />

stroming in leidingen is 2000 < Re c<br />

< 4000.<br />

Des te groter het Reynolds-getal, des te eenpariger is de snelheidsverdeling. Immers, bij een<br />

laminaire stroming zal het vloeistoflaagje aan de wand, door de invloed (wrijving) van die wand,<br />

haast stilstaan, naar het centrum van de leiding toe zal elk laagje wat sneller vloeien zoals<br />

figuur 3.48.a weergeeft. De gemiddelde snelheid van de stroming is hier v = v max<br />

/ 2.<br />

Wanneer de viscositeit kleiner is, en Re dus groter, werken de laagjes veel minder remmend op<br />

elkaar, zodat de maximale snelheid reeds dicht bij de wand wordt behaald (zie figuur 3.48.c). De<br />

gemiddelde snelheid van de stroming is nu v ≅ 0,8 v max<br />

. In de praktijk zijn de meeste stromingen<br />

turbulent.<br />

18.2 Verschildrukmetingen<br />

Wet van Bernouilli<br />

De wet van Bernouilli berust op het behoud van energie. Wanneer een vloeistof met een<br />

dichtheid ρ door een buis met ongelijke doorsneden A l<br />

en A 2<br />

stroomt, dan is - bij verwaarlozing<br />

van de wrijving - de energiedichtheid van de vloeistof bij doorsneden 1 en 2 even groot. Dit<br />

levert de wet van Bernouilli, die een verband legt tussen de verschillende drukgrootheden in de<br />

doorsneden 1 en 2:<br />

waarin<br />

p 1 + 1 2 ρv 1 2 +ρgh 1 = p 2 + 1 2 ρv 2 2 +ρgh 2<br />

p = de druk in de vloeistof<br />

v = de gemiddelde stroomsnelheid<br />

h = de hoogte<br />

A = de buisdoorsnede<br />

2<br />

1<br />

A 2<br />

2<br />

v<br />

A 2<br />

1<br />

v ρ = ρ = ρ<br />

P 1<br />

1 2<br />

2<br />

P 1<br />

h<br />

1<br />

h<br />

Figuur 3.49: Wet van Bernouilli: behoud van energie in een stromend fluïdum (hier onsamendrukbaar).<br />

__________ - III.55 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Indien de beide doorsneden zich op dezelfde hoogte, bevinden dan is h 1<br />

= h 2<br />

. Door gebruik te<br />

maken van de continuïteitsvergelijking (A l<br />

.v l<br />

= A 2<br />

.v 2<br />

) volgt uit de vergelijking van Bernouilli een<br />

betrekking die het debiet door de buis uitdrukt in functie van het drukverschil tussen de beide<br />

doorsneden:<br />

Q = A 2 k ∆p met k =<br />

2<br />

ρ ⎛ ⎝ 1 − A 2 2 /A 1<br />

2 ⎞<br />

⎠<br />

Het drukverschil neemt dus kwadratisch toe met het volumedebiet. Door het drukverschil te<br />

meten en het resultaat door een worteltrekkerschakeling te voeren, vindt men zo een lineaire<br />

aanduiding van het volumedebiet.<br />

Meetflens of diafragma (Eng.: Orifice plate)<br />

Toepassing van de Bernouilli-wet op een horizontale leiding met een sterke vernauwing levert<br />

het eerder vermeld verband tussen het debiet en het drukverschil.<br />

De vernauwing wordt hier gevormd door een schijf met een cirkelvormige opening. Figuur 3.50<br />

geeft de opstelling en het drukverloop weer. Net bij het diafragma is er een sterke vermindering<br />

van de statische druk, omdat de snelheid toeneemt. Achter het diafragma neemt de snelheid weer<br />

af en de statische druk herstelt zich. Toch blijft er een zeker drukverlies door de verhoogde<br />

wrijvingsverliezen bij de stroming door het diafragma. Dit drukverlies is uiteraard ongewenst en<br />

dient zoveel mogelijk beperkt te worden.<br />

Drukmeetpunten<br />

Drukmeetpunten<br />

D<br />

d<br />

d<br />

d'<br />

a) b)<br />

Statische<br />

druk P<br />

Statische druk<br />

langs de wand<br />

Statische druk<br />

in het hart<br />

van de leiding<br />

PDrukverlies Pv<br />

c)<br />

Figuur 3.50: Differentiële-druk-meetflens-debietmeters: a) met drukmeetpunten in l en l/2, b) met<br />

drukmeetpunten in de hoeken, c) Schets van het drukverloop over de meetflens.<br />

Meting van het verschil tussen de druk een eind voor het diafragma en de druk net achter het<br />

diafragma, en toepassing van de bovenstaande formule geeft het te meten debiet. Toch voldoet<br />

de theoretische formule niet ten volle. Er treden immers parasitaire verschijnselen op:<br />

__________ - III.56 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Zo zijn er nog de wrijvingsverliezen van de vloeistof tegen de wand. De optimale afwerking<br />

van de leiding moet er voor zorgen dat deze minimaal blijven.<br />

De opening van de schijf (dit is de kleinste opening in de stroombuis), is niet precies gelijk<br />

aan de kleinste opening in het stroompad. De stroming vertoont de neiging nog te vernauwen<br />

na de meetflens.<br />

De drukverliescoëfficiënt C, die de verhouding geeft van het werkelijke debiet tot het uit de<br />

theoretische betrekking berekende ideaal debiet, houdt rekening met deze beide verschijnselen.<br />

Het werkelijke debiet Q is dan:<br />

Q = CA 2 k ∆p<br />

ISO-normen (b.v. ISO 5167) en andere standaarden geven de experimenteel bepaalde waarden<br />

van de drukverliescoëfficiënt C voor verschillende debietmeters, over een breed gebied van<br />

fluïdumcondities en voor gekende diameters d, D en dichtheid ρ.<br />

Opmerkingen i.v.m. de installatie:<br />

Het product dat door het apparaat stroomt, moet uit een zuivere fase bestaan; het mag dus geen vloeistof zijn met<br />

daarin vaste deeltjes of gasbellen, of een gas met veel condensaatdruppels. De drukvermindering mag geen<br />

verdamping verwekken. Het gat in de meetschijf moet altijd scherp en haaks zijn afgedraaid aan de hoge<br />

drukzijde en moet vrij van vuil en bramen zijn. Al deze onvolkomenheden zouden immers een extra drukval<br />

teweeg brengen, wat niet alleen een foutieve meting kan veroorzaken, maar wat tevens kostelijk is aangezien<br />

het drukverlies ook aan het uiteinde van de leiding voelbaar is.<br />

De meetschijfverhouding d/D ligt bij voorkeur tussen 0,3 en 0,8.<br />

Het diafragma is soms voorzien van een kleine vent-opening. Indien het fluïdum een vloeistof is waarin gassen<br />

aanwezig zijn, dient de opening zich bovenaan te bevinden, zodat het gas dat zich ophoopt aan de bovenzijde<br />

van het diafragma, toch voorbij de hindernis kan geraken. Is het fluïdum een gas waarin condensaat kan<br />

aanwezig zijn, dan moet de opening zich onderaan bevinden, zodat het condensaat kan doorvloeien.<br />

Het toestel moet zo geplaatst zijn dat het voorafgegaan wordt door een rechtlijnig buissegment van minstens 15<br />

D lengte, afhankelijk van de meetschijfverhouding en van de buiselementen die het diafragma voorafgaan. Ook<br />

achter de meetschijf moet een recht segment van 5 tot l0 D geplaatst worden. Dit is noodzakelijk om een<br />

storingvrij stromingsprofiel te verkrijgen aan de ingang van de meetschijf. (D is de leidingsdiameter).<br />

Voordelen<br />

eenvoudig te vervaardigen en dus goedkoop<br />

gemakkelijk te installeren.<br />

verwisselbaar en aan te passen aan andere debieten.<br />

Nadelen<br />

De meting beïnvloedt het debiet, daar het meetelement steeds een groot blijvend drukverlies<br />

tot gevolg heeft.<br />

een beperkt meetbereik per meetschijf<br />

stroomegalisatieleidingen voor en na het meetelement zijn noodzakelijk.<br />

__________ - III.57 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Stuwbuis (Eng.: Nozzle)<br />

Bij het meten van grote debieten zijn stuwbuizen meer aangewezen. Bij gelijke<br />

diameterverhouding d/D en verschildruk zal de stuwbuis ongeveer 65% meer debiet doorlaten<br />

dan de meetschijf onder dezelfde voorwaarden. Dit houdt in dat het drukverschil, en daarmee<br />

ook het blijvend drukverlies over het meetelement kleiner is bij de stuwbuis dan bij de<br />

meetschijf. De constructie van de stuwbuis is robuuster en gestroomlijnder en weerstaat beter<br />

aan erosie dan de meetschijf. Wat betreft egalisatieleidingen, geldt hetzelfde als bij meetschijven.<br />

Drukmeetpunten<br />

stroming<br />

D<br />

d<br />

Druksleuven<br />

Gemonteerd<br />

tussen buisflenzen<br />

Gemonteerd in<br />

draagring<br />

Nadelen<br />

hogere aanschafkosten<br />

minder eenvoudige montage<br />

Voordelen<br />

langere levensduur, geen erosie<br />

wegens de vormgeving<br />

kleiner blijvend drukverlies<br />

Figuur 3.51: Stuwbuis differentiële debietmeter.<br />

Venturi-buis<br />

De Venturi-buis wordt allereerst toegepast als een gering blijvend drukverlies van belang is of<br />

als de vloeistof of het gas veel vaste stoffen bevat, aangezien ophoping hier niet gemakkelijk kan<br />

voorkomen. Eventueel condensaat voor de Venturi kan af en toe afgelaten worden langs een<br />

spuikraantje. Tenslotte verdient de Venturi-buis ook de voorkeur bij vloeistoffen met hogere<br />

viscositeit, daar de meting met Venturi minder beïnvloed wordt door de viscositeitsveranderingen.<br />

P<br />

Figuur 3.52: Venturi-buis.<br />

__________ - III.58 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Venturi-buizen zijn geconstrueerd volgens het theoretisch juiste profiel voor de uitstroming van<br />

debieten, hetgeen een minimum aan wervelingen en dus drukverlies veroorzaakt. Dit drukverlies<br />

is des te kleiner naarmate de verwijderingshoek kleiner is. Venturi-buizen zijn dure<br />

instrumenten, en ook hier is een egalisatieleiding voor en achter het toestel nodig.<br />

Dall-buis<br />

Een laatste drukverschildebietmeter, welke een combinatie is van de vorige, is de Dall-buis,<br />

weergegeven in figuur 3.53. Zij combineert een hoog gemeten drukverschil, zoals bij de<br />

meetflens, met een laag permanent drukverlies (zelfs iets beter dan de Venturi-buis met dezelfde<br />

openingshoek).<br />

D<br />

d<br />

Figuur 3.53: Dall-buis voor differentiële-druk-debietmeting.<br />

Tabel 3.9 geeft een vergelijkend overzicht met een aantal indicatieve waarden voor de<br />

verschillende verschildrukdebietmetingen (Bron: ‘Principles of measurement systems’, J.P.Bently).<br />

Parameter Venturi-buis Stuwbuis Dall-buis Meetschijf<br />

Benaderende waarde voor C 0,99 0,96 0,66 0,6<br />

Relatieve waarden van<br />

gemeten drukverschil 1 1,06 2,25 2,72<br />

Permanent drukverlies als % 10-15% 40-60% 4-6% 50-70%<br />

van gemeten drukverschil<br />

Tabel 3.9: Indicatieve waarden voor verschildrukdebietmetingen.<br />

__________ - III.59 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18.3 Snelheidsprobes voor gas- en vloeistof debietmetingen<br />

Pitot-buis<br />

Het principe van de Pitot-buis is gebaseerd op het meten van de snelheid in één punt van de<br />

leiding. Om het totaal debiet te bepalen, dient de verhouding tussen de snelheid in het gemeten<br />

punt en de gemiddelde snelheid gekend te zijn. Dit is nu net de moeilijkheid: de verhouding<br />

tussen de gemiddelde snelheid en de maximale snelheid (in het midden van de buis) verschilt<br />

immers naargelang het stromingsregime. Voor een laminaire stroming bedraagt die verhouding<br />

0,5, voor een volledig turbulente stroming ongeveer 0,8. Alle tussenliggende waarden zijn<br />

mogelijk. Het hangt dan ook van de juiste schatting van deze correctiefactor af, hoe goed de<br />

Pitot-buis zal presteren.<br />

De Snelheidsmeting volgt uit de wet van Bernouilli voor een horizontale stroming (h 1<br />

= h 2<br />

):<br />

P + 1 2 ρv2 = Cte<br />

Hierin is P de statische druk, en (1/2)ρv² de dynamische druk. De som van beide is de totale<br />

druk. Het verschil tussen de totale en de statische druk, beide afzonderlijk gemeten, levert de<br />

dynamische druk, waaruit de stroomsnelheid volgt. Het te meten debiet is evenredig met de<br />

vierkantswortel van het gemeten drukverschil.<br />

De statische druk wordt gemeten via een opening langsheen de stroomrichting, zodat de<br />

snelheidscomponenten loodrecht op de opening nul is. Voor de meting van de totale druk, staat<br />

de opening recht in de stroming zoals figuur 3.54 aangeeft.<br />

a)<br />

Figuur 3.54: Pitot-buis.<br />

P Statisch<br />

P<br />

Totaal<br />

P<br />

15<br />

10<br />

5<br />

[Pa]<br />

ρ = 1,2 kg/m³<br />

0 1 2 3 4 5 [m/s]<br />

b)<br />

Om een uniform stromingsprofiel en dus betrouwbare meetresultaten te bekomen, is vóór de<br />

Pitot-buis een recht buissegment met een lengte van ongeveer 50D (met D de leidingsdiameter)<br />

noodzakelijk. Ook achter het meetelement is een behoorlijk lange storingvrije buis nodig.<br />

Bovendien moet de Pitot-buis axiaal gericht zijn. De Pitot-buis is goedkoop en de<br />

installatiekosten zijn laag.<br />

v<br />

Annubar (~Deltabar PMD 130 E+H)<br />

De snelheidsmeting bij de annubar is, net zoals bij de Pitot-buis, gebaseerd op het meten van het<br />

drukverschil tussen totale en statische druk. De Pitot-buis meet de snelheid in één punt, waaruit<br />

door gebruik van een correctiecoëfficiënt de gemiddelde snelheid volgt. De annubar geeft echter<br />

dadelijk een gemiddelde waarde voor de totale druk, zodat daaruit rechtstreeks de gemiddelde<br />

snelheid kan worden berekend.<br />

__________ - III.60 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

De annubar bestaat uit een meetbuis die precies in de diameter van de stroombuis wordt<br />

opgesteld, en waarin zich vijf drukmeetpoorten bevinden. Vier poorten zijn stroomopwaarts<br />

gekeerd, en ze zijn zo over de doorsnede verdeeld, dat ze samen de gemiddelde totale druk<br />

meten. Binnenin de meetbuis bevindt zich een “interpolerende” buis, die de gemiddelde druk van<br />

de vier meetpoorten opneemt, en die druk naar de hoge drukzijde van een verschildrukmeter<br />

brengt. De vijfde meetpoort bevindt zich achteraan de meetbuis. De statische druk, die hier<br />

heerst, wordt naar de lage drukzijde van de verschildrukmeter gebracht.<br />

1<br />

2<br />

3<br />

4<br />

Figuur 3.55: Annubar (Model ANR 75).<br />

Eigenschappen:<br />

De annubar is zo ontworpen dat ze de stroming zo min mogelijk stoort. Dit laat een<br />

nauwkeurigheid toe op de debietmeting van 1% op de reële waarde. Door het uniforme<br />

stromingsprofiel is de repeteerbaarheid zeer goed. Het drukverlies dat over de annubar<br />

ontstaat, is lager dan bij alle andere verschildrukmetingen, zelfs lager dan bij sommige<br />

Venturi-buizen.<br />

Door de vorm van de annubar bouwt er zich tijdens de stroming een hoge druk bufferzone op<br />

net voor de annubar. Deze zone produceert stroomlijnen die afbuigen omheen de annubar,<br />

waarmee ook vaste deeltjes in de vloeistof afbuigen. Dit vermindert de kans op verstopping<br />

en verhoogt de lange termijn stabiliteit (in tegenstelling tot meetschijven waar de rand van het<br />

diafragma door erosie of aangroei vervormt).<br />

Installatie van de annubar kan zonder het proces stil te leggen.<br />

De vier meetpoorten zijn zo opgesteld, dat ze bij een regelmatige stroming precies de juiste<br />

gemiddelde totale druk meten. Maar ook wanneer de stroming geen regelmatig profiel bezit,<br />

of niet storingvrij is, wordt een gemiddelde meting verricht. De spreiding van de vier<br />

meetpunten levert ook dan nog goede meetresultaten. Daarom is het mogelijk de annubar kort<br />

achter een storing, zoals een bocht of afsluiter aan te brengen, zonder een recht buissegment<br />

tussen te plaatsen. De annubar is de enige verschildrukmeter voor debietmetingen waarbij dit<br />

is toegelaten.<br />

Anemometer<br />

De anemometer bestaat uit een weerstandsdraad, welke op een constante temperatuur gehouden<br />

wordt, via een variabele stroom. Indien het debiet wijzigt, zal de weerstandsdraad meer of<br />

minder afkoelen zodat de te leveren stroom eveneens wijzigt. De stroom is dan een maat voor de<br />

vloeistofsnelheid in het gemeten punt.<br />

__________ - III.61 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18.4 Rotameters<br />

De rotameter wordt al zeer lang gebruikt in de meettechniek. De meter geeft een ogenblikkelijke<br />

aanduiding van het debiet. Voor een centrale controle en bediening van het proces is echter een<br />

meter met omvormer (naar een elektrisch signaal) nodig, zodat de rotameter als verouderd<br />

bestempeld wordt. Omwille van het prijsvoordeel, de eenvoudige montage en de mogelijkheid<br />

om lage debieten te meten, weet de rotameter met elektronische zender zich echter te handhaven<br />

naast de nieuwe meetmethodes zoals turbine- en elektromagnetische debietmeters.<br />

De rotameter bestaat uit een conische buis die al dan niet doorzichtig is. Hierin bevindt zich een<br />

draaiende vlotter die zich naargelang het debiet op een bepaalde hoogte instelt. Wanneer het<br />

fluïdum door de groeven aan de zijkant van de vlotter vloeit, zal de vlotter roteren en hierdoor<br />

een stabielere instelling verkrijgen. Rotameters moeten steeds verticaal gemonteerd worden.<br />

(positie vlotter)<br />

h ~ Neerwaartse kracht<br />

v max<br />

Positie<br />

vlotter: h<br />

Evenwicht<br />

v min<br />

a) b) c)<br />

Drukval over vlotter<br />

~ Opwaartse kracht<br />

P<br />

Figuur 3.56: a-b) Voorbeelden van rotameters , c) Drukval over de vlotter i.f.v. de hoogte van de vlotter bij<br />

verschillende snelheden van het fluïdum (schematische voorstelling). Het evenwicht bij een gegeven snelheid<br />

(debiet) stelt zich in waar de neerwaartse zwaartekracht minus de opwaartse stuwkracht gelijk is aan het<br />

drukverschil over de vlotter maal het karakteristiek oppervlak van de vlotter.<br />

Indien er geen vloeistof of gas door de meter vloeit, bevindt de meter zich in de rustpositie. De<br />

beginnende vloeistof- of gasstroom zal in eerste instantie de vlotter oplichten. Maar omdat de<br />

dichtheid van de vlotter groter is dan de dichtheid van het fluïdum is het normale drijfeffect niet<br />

voldoende om de vlotter te verplaatsen. Het drijfeffect is de opwaartse stuwkracht t.g.v. de druk<br />

op een lichaam in een vloeistof (wet van Archimedes). In figuur 3.56.c. heeft de vlotter zich op<br />

een bepaalde plaats in de conische buis ingesteld. Deze vlotter positie volgt uit het evenwicht<br />

van de neerwaartse kracht (verschil van zwaartekracht en stuwkracht) en de opwaartse druk. De<br />

__________ - III.62 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

eerste component is constant. De opgebouwde druk van het quasi stilstaand fluïdum ‘onder’ de<br />

vlotter neemt echter gradueel af wanneer de vlotter naar boven beweegt. Of omdat de afstand<br />

tussen de vlotter en de wand wanneer de vlotter stijgt, vergroot, neemt de verschildruk over de<br />

vlotter af.<br />

Indien het debiet nu vergroot, zal er bij dezelfde positie van de vlotter, dus bij eenzelfde<br />

‘smoringsopening’, een grotere verschildruk over de vlotter ontstaan, zodat het<br />

krachtenevenwicht niet meer voldaan is en de vlotter naar boven geduwd wordt.<br />

Om een lineaire aanduiding te bekomen moet de meter naar boven toe verbreden. Het meetbereik<br />

is afhankelijk van de vlotter-meetbuis combinatie.<br />

Opmerkingen:<br />

Rotameters bestaan met een glazen buis voor onmiddellijke aanduiding of met metalen buis<br />

indien de bedrijfsomstandigheden (te hoge druk, trillingen of te hoge temperatuur) geen glas<br />

toelaten.<br />

Door toepassing van een elektrische of magnetische transmissie kan de rotameter ook in een<br />

geautomatiseerd proces gebruikt worden. De vlotter beweegt dan de kern van een lineaire<br />

differentiaaltransformator of een spoel (zie verder).<br />

Rotameters zijn vanaf een bepaalde waarde viscositeitsafhankelijk. Dit hangt af van de<br />

grootte van de rotameter en van de combinatie meetbuis-vlotter. De viscositeitslimieten<br />

worden opgegeven door de constructeur. Een viscositeitscalibratie is noodzakelijk.<br />

De rotameter moet steeds verticaal geplaatst worden. Kleppen, ellebogen of T-stukken hebben<br />

geen invloed op de meter.<br />

De metalen debietmeters hebben een nauwkeurigheid van 1%, (bij oudere toestellen van 2%<br />

tot 5%).<br />

De rotameter in ‘by-pass’<br />

Rotameters in ‘by-pass’ vinden toepassing bij het meten van grote debieten. In de hoofdleiding<br />

wordt een meetschijf op de gebruikelijke wijze ingebouwd. Op de aftakpunten wordt een<br />

rotameter gemonteerd. Het is dus een drukverschilmeting met doorstroming. Het drukverschil in<br />

de hoofdleiding zal de grootte van de nevenstroom bepalen. De schaal op de rotameter wordt<br />

rechtstreeks uitgedrukt in het debiet welk door de hoofdleiding gaat.<br />

Figuur 3.57: Rotameter in 'by-pass'.<br />

Voordelen:<br />

meetbereik 10:1<br />

lineaire schaal<br />

minder kans op vervuiling door de continue doorstroming<br />

lage prijs t.o.v. verschildrukmeters<br />

__________ - III.63 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Inductieve vlotterdebietmeting<br />

Bij dit type van rotameter, weergegeven in figuur 3.58, wordt de hoogte van de vlotter in de<br />

meetbuis op inductieve wijze gedetecteerd. De primaire spoel van de differentiaaltransformator<br />

wordt met een hoogfrequente, constante stroom gevoed. Aan de vlotter is een ferromagnetische<br />

kern bevestigd die in de spoel op en neer gaat. Over de secundaire spoelen ontstaat een<br />

debietsproportionele spanning. Deze spanning wordt gelijkgericht en aan het elektronisch<br />

gedeelte aangelegd waar de linearisatie en de omzetting naar een standaard (4 - 20 mA) signaal<br />

plaatsgrijpt (zie ook de LVDT).<br />

1. Aansluitflens<br />

2. Meetbuis<br />

3. Differentiaalspoel<br />

4. Dichting<br />

5. Vlotter met ferromagnetische kern<br />

6. Meetkonus<br />

7. Afstandsbuis<br />

8. Aansluitflens<br />

9. Grondplaat met drukring<br />

10. Grondplaat voor transmitter<br />

11. Transmitter<br />

12. Beschermhuis<br />

Figuur 3.58: Rotameter met LVDT als inductieve omvormer.<br />

__________ - III.64 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18.5 Turbinetellers<br />

De turbinetellers meten met behulp van een aangedreven schoepenwiel de stromingssnelheid van<br />

het fluïdum. De rotatie van het schoepenwiel is evenredig met de stromingssnelheid.<br />

Vermenigvuldigd met een bekende meetsectie geeft dit de hoeveelheidsmeting. De beweging van<br />

het schoepenwiel wordt veroorzaakt door de massakrachten van het fluïdum dat daarbij van zijn<br />

oorspronkelijke stromingsrichting afwijkt.<br />

Het is hier niet de bedoeling ons te verdiepen in de vele modellen turbinemeters, die allemaal in<br />

hun mechanische opbouw van elkaar verschillen. Enkel het algemene principe wordt uitgelegd<br />

aan de hand van een voorbeeld, waarna de specifieke verschillen tussen gas- en vloeistoftellers<br />

aan bod komen.<br />

Figuur 3.59: Gasturbineteller<br />

Figuur 3.59 toont een turbineteller voor gas. Via een straalrichter (1) die de eventuele turbulentie<br />

in de gasstroom elimineert, komt het gas met een homogene verdeling door het stromingskanaal<br />

(2). Aangezien (de omzetting van) de kinetische energie van het gas de aandrijfkracht van het<br />

schoepenwiel vormt, is het stromingskanaal zodanig geconstrueerd dat op de plaats van het<br />

schoepenwiel een aanzienlijke snelheidstoename plaatsvindt. De gasstroom activeert het axiaal<br />

gelagerde schoepenwiel (3) waarvan de omwentelingssnelheid praktisch proportioneel is met de<br />

gemiddelde gassnelheid, welke optreedt in de meetring (4). De roterende beweging van het<br />

schoepenwiel wordt via een worm-tandwiel constructie (5) naar een gasdichte magneetkoppeling<br />

(6) overgebracht. Deze koppeling drijft een integrerend rollentelwerk aan.<br />

Ook een elektrische aftasting is mogelijk. De ferromagnetische schoepen induceren dan in een<br />

spoel, extern aan het lichaam aangebracht, een elektrische spanning, waarvan de frequentie<br />

evenredig is met de omwentelingssnelheid van het schoepenwiel, en dus met het debiet. Figuur<br />

3.60 geeft een tweede voorbeeld.<br />

__________ - III.65 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Stroomopwaarts<br />

compartiment<br />

Rotor<br />

Opneemelement<br />

Behuizing<br />

Stroomafwaarts<br />

compartiment<br />

E<br />

E<br />

Q groot<br />

Q klein<br />

t<br />

b) t<br />

a)<br />

Centreerspil<br />

Meter factor<br />

k<br />

Lineariteit binnen<br />

±5%<br />

Te veel wrijving van<br />

fluïdum en lagers<br />

c)<br />

Min<br />

debiet<br />

Normaal werkgebied<br />

Max<br />

Debiet<br />

Q<br />

Var. Ampl.<br />

Cte Ampl.<br />

d)<br />

Q<br />

bmkQ cos mkQt<br />

Integrator<br />

b sin mkQt<br />

Turbinedebietmeter<br />

Schmitttrigger<br />

Naar teller<br />

Figuur 3.60: Turbinedebietmeter: a) Constructie (volgens Lomas, Kent Instruments), b) Signalen, c)<br />

Meterfactorkarakteristiek en d) Blokschema (zie ook paragraaf 9.4: Elektromagnetische snelheidssensor).<br />

Opmerkingen:<br />

Het drukverlies van turbinetellers wordt hoofdzakelijk bepaald door zijn constructie. Om een<br />

grote nauwkeurigheid te bereiken, wordt de snelheid lokaal opgevoerd ten koste van het<br />

drukverlies. Bij maximaal debiet bedraagt dit drukverlies naargelang de uitvoering 0,2 tot 0,6<br />

bar. Het drukverlies is ongeveer kwadratisch afhankelijk van het debiet.<br />

Een meetnauwkeurigheid van beter dan 1% is mogelijk (0,5 % tot 0,1%).<br />

Het belangrijkste onderdeel bij deze tellers om een grote levensduur en reproduceerbaarheid<br />

te bekomen is de lagering. Zowel kogellagers als glijlagers zijn mogelijk.<br />

Praktisch zijn alle turbinetellers die voor hoeveelheids-meting gebruikt worden in één of<br />

andere vorm viscositeitsgecompenseerd. Zonder dergelijke compensatie zijn deze<br />

instrumenten niet bruikbaar.<br />

De toerentallen van turbinetellers in kleine doorlaten liggen bij circa 6.000 Omw/min, in grote<br />

doorlaten bij 500-1000 Omw/min.<br />

Turbinetellers zijn zeer gevoelig aan stromingswervelingen. De nodige maatregelen moeten<br />

getroffen worden om dwarse componenten in het stroomopwaartse stromingsprofiel te<br />

verhinderen (stromingsgelijkrichters, ongestoorde inloopstukken).<br />

__________ - III.66 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Specifieke verschillen tussen gas- en vloeistofmeters<br />

Dezelfde principes gelden voor gas- en vloeistoftellers, maar de uitvoeringsvormen zijn tamelijk<br />

verschillend. Dit volgt hoofdzakelijk uit het feit dat de dichtheid van het fluïdum sterk verschilt.<br />

Atmosferische gassen zijn ongeveer 1000 maal lichter dan vloeistoffen. Aangezien het<br />

aandrijvend moment rechtstreeks evenredig is met de dichtheid van het fluïdum moet bij gassen:<br />

ofwel het schoepenwiel veel lichter lopen<br />

ofwel de sectie vergroot worden.<br />

Om de fluïdumsnelheid ter hoogte van het schoepenwiel zo hoog mogelijk op te voeren moeten<br />

de afmetingen veranderen of zijn stuwringen om een straaleffect te bekomen noodzakelijk. Dit<br />

gaat uiteraard ten koste van extra drukverlies.<br />

18.6 Vortex- of natuurlijke hydrodynamische oscillerende debietmeters<br />

Reeds geruime tijd zijn hydrodynamische oscillaties gekend en onderzocht. Toch vinden we de<br />

praktische toepassing hiervan in de debietmeettechniek slechts een vijftiental jaren geleden<br />

terug, hoofdzakelijk te wijten aan het slechts recent beschikbaar zijn van speciale<br />

signaalopnemers en bijhorende elektronische schakelingen die voor dit type debietmeters<br />

noodzakelijk zijn. De huidige hydrodynamisch oscillerende debietmeters zijn onder te verdelen<br />

in twee groepen:<br />

deze met natuurlijke oscillatie (deze paragraaf).<br />

deze met gedwongen oscillatie: 'swirlmeters' (volgende paragraaf ).<br />

Het eerste onderzoek naar hydrodynamische oscillaties werd gedaan door Strouhal in 1878, naar<br />

aanleiding van het geluid dat ontstond als de wind blies op gespannen telefoondraden.<br />

Afbreekpunt<br />

Afbreekpunt<br />

a) Gestroomlijnd lichaam<br />

b) Stoorelement<br />

l<br />

d<br />

h<br />

h ~= d<br />

l ~= 3,6 h<br />

c) Dimensies<br />

l<br />

Figuur 3.61: Ontstaan van vortices: a) bij gestroomlijnd lichaam, b) bij stoorelement en c) afmetingen van<br />

een geidealiseerde vortexstraat.<br />

Als een fluïdum een hindernis omstroomt, dan kan het medium maar tot op een bepaalde plaats<br />

de wand van de hindernis volgen. Vanaf deze plaats scheurt de stroming af en er vormt zich een<br />

dode zone waarin deze stromen zich tot wervels oprollen. Dit verschijnsel is goed te zien bij<br />

uitstekende rotsen in een snelstromende waterloop. Een merkwaardige vaststelling is echter dat<br />

deze wervels alternerend aan weerszijden van de hindernis ontstaan, zich oprollen, en in een<br />

__________ - III.67 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

regelmatige rij met het fluïdum wegstromen. Dit verschijnsel heet de Karmanse wervelstraat,<br />

genoemd naar de fysicus von Karman die dit verschijnsel voor het eerst onderzocht.<br />

De frequentie waarmee deze wervels zich vormen is de wervelfrequentie f, deze stijgt lineair met<br />

de stroomsnelheid. Er geldt<br />

f = S. v 1<br />

d<br />

waarbij v 1<br />

de gemiddelde snelheid is ter hoogte van de hindernis, d de (karakteristieke) breedte<br />

van de hindernis of het stoorelement en S een dimensieloze Strouhal-getal.<br />

In het bereik der stromingssnelheden waar S constant is, is de wervelfrequentie een directe maat<br />

voor de snelheid, en dus ook voor het debiet.<br />

Stoor- en opneemelementen<br />

z-as<br />

Capacitief<br />

Opneemelement<br />

y-as<br />

Vortex(vorming)<br />

Stoorelement<br />

x-as<br />

Figuur 3.62: Voorbeeld van capacitieve vortexdebietmeter naar E+H Prowirl 77.<br />

Stoorelementen<br />

Om praktische redenen, zoals montage in een installatie, wordt het stoorelement steeds in een<br />

cilindervormige pijp aangebracht. De vorm van het stoorelement moet zodanig gekozen worden<br />

dat<br />

er een hoge graad aan stabiliteit van de vortex- of wervelvorming is. Dit is noodzakelijk om<br />

tot een goede signaal-ruis verhouding te komen.<br />

het lineariteitsgebied zo groot mogelijk is.<br />

de hoeveelheid energie die aan het fluidum onttrokken wordt om de meting mogelijk te<br />

maken en welk een drukverlies veroorzaakt, klein blijft. Deze eis is in strijd met de eerste:<br />

immers hoe beter de vortexvorming en dus ook de meting, hoe groter het drukverlies.<br />

Verschillende vormen van stoorelementen zijn mogelijk met elk hun eigen voor- en nadelen.<br />

Zonder hierover in detail te treden, geeft figuur 3.63 enkele voorbeelden en een vergelijking<br />

tussen een cilindervormig en een rechthoekig stoorelement.<br />

__________ - III.68 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

v<br />

Cilinder Driehoekig Rechthoek Samengestelde vorm<br />

a)<br />

(lage stabiliteit)<br />

S<br />

Strouhal-getal<br />

Meterfactor f/Q<br />

0,3<br />

0,2<br />

0,1<br />

Cilinder<br />

Rechthoek<br />

600<br />

500<br />

400<br />

D<br />

Rechthoek<br />

d<br />

0<br />

b)<br />

10<br />

2<br />

10<br />

3<br />

10<br />

4<br />

10<br />

5<br />

10<br />

6<br />

10<br />

7 Re = vd υ<br />

300<br />

c)<br />

0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6<br />

Verhouding d/D<br />

Figuur 3.63: a) Verschillende stoorelementen (bovenaanzicht), b) Strouhal-getal en c) meetelementfactor.<br />

Opnemers<br />

Elke opnemer welke de wisselende stromingen of vortices kan detecteren voldoet. Dit kunnen<br />

thermistoropnemers zijn welke een wisselende afkoeling waarnemen t.g.v. de wijzigende<br />

stroming, ultrasoonsensoren waarbij de geluidsgolven een in lengte wisselend pad afleggen of<br />

sensoren welke een wisselende druk aan de achterzijde van het stoorelement opnemen.<br />

Voorbeelden hiervan zijn magnetische opnemers waarbij een kogeltje heen en weer beweegt<br />

t.g.v. de wisselende druk, capacitieve druksensoren, rekstrookjes welke een wisselende<br />

vervorming waarnemen of piëzo-elektrische kristallen. Figuren 3.62 en 3.64 geven verscheidene<br />

voorbeelden.<br />

Diafragma's<br />

Ultrasone zender<br />

Piëzo-elektrische druksensoren<br />

Thermische sensoren<br />

(in tegenfase)<br />

Ultrasone ontvanger<br />

Figuur 3.64: Stoorelementen met piëzo-elektrische, thermische en ultrasone opneemelementen.<br />

Eigenschappen van vortexdebietmeter<br />

Experimenten tonen aan dat het Strouhal-getal binnen bruikbare grenzen constant blijft vanaf<br />

een stromingssnelheid die overeenkomt met een Reynolds-getal Re = 10.000 (Zie figuur<br />

3.48.b). Het Re-getal heeft hier betrekking op de afmetingen van het stoorelement, Re =<br />

vdρ/η. Deze waarde beperkt de meter, althans in kleine doorlaten, tot toepassingen op fluïda<br />

met kleine viscositeit.<br />

Binnen de bruikbare grenzen gelden naargelang de uitvoering de volgende waarden:<br />

meetnauwkeurigheid : 0,5 tot 2% van de meetwaarde, typisch ± 0,75% voor vloeistoffen<br />

en ± 1,5% voor gassen (met Re > 10 4 ). Dit is beter dan bij meetflenzen met<br />

verschildrukomzetters maar ondergeschikt aan turbinedebietmeters.<br />

__________ - III.69 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

reproduceerbaarheid : 0,1%<br />

permanent drukverlies bij nominale belasting : 0,25 tot 0,5 bar. Voor een correcte<br />

vortexvorming is het noodzakelijk dat het stromingsprofiel aan de ingang van het toestel<br />

ongestoord is. Als richtlijn voor de vereiste ongestoorde inloop- en uitloopstukken gelden<br />

dezelfde lengten als voor meetflenzen. Vortexmeters worden trouwens geconstrueerd met<br />

dezelfde standaardbuitenmaten als meetflenzen, zodat zij deze zonder probleem kunnen<br />

vervangen. Zo bekomt men een meting met grotere nauwkeurigheid en kleiner drukverlies.<br />

Vortexdebietmeters geven als uitgang een frequentiesignaal dat proportioneel is aan het debiet<br />

zoals bij turbinedebietmeters, maar zij hebben geen bewegende delen, waardoor ze meer<br />

betrouwbaar zijn.<br />

18.7 Debietmeter met gedwongen oscillatie: 'Swirlmeter'<br />

Figuur 3.65 toont een uitvoering van een meettoestel waarin het fluïdum tot oscillatie<br />

gedwongen wordt. Het inloopstuk van de meter voegt aan het axiaal toestromend fluïdum door<br />

vaste geprofileerde schoepen een snelheidscomponente in de omtrekrichting toe. Hierdoor<br />

ontstaat een rotatie van het fluïdum rond de langsas van het apparaat welk een werveling vormt.<br />

Door vergroting van de sectie verandert de drukverdeling in de richting van de rotatie-as; er<br />

ontstaat een secundaire rotatie. De frequentie hiervan kan door een passend meetelement<br />

gemeten worden. Een aangepaste combinatie van alle geometrische afmetingen levert over een<br />

breed gebied een lineair verband tussen stromingssnelheid en frequentie van de secundaire<br />

rotatie.<br />

Meetelement<br />

Secundaire oscillatie<br />

Primaire oscillatie<br />

a)<br />

b)<br />

Figuur 3.65: Principeschetsen van 'Swirlmeter'.<br />

De signaalopnemers zijn van dezelfde aard als bij vortexdebietmetingen. Dit meetprincipe wordt<br />

enkel toegepast voor gasvormige media. Naargelang de bedrijfsvoorwaarden kunnen<br />

meetbereiken in een verhouding 1/100 bestreken worden met een nauwkeurigheid beter dan 1%<br />

van de meetwaarde en een reproduceerbaarheid van 0,1%.<br />

__________ - III.70 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18.8 Massadebietmeters<br />

Vloeistoffen en gassen zoals ruwe olie, natuurlijke gassen of andere brandstoffen worden vaak<br />

getransporteerd en verkocht via pijplijnen. Vermits hierbij de massahoeveelheid de kostprijs<br />

bepaalt, dient hiervoor de massa m van het getransfereerd fluïdum gedurende een gegeven<br />

periode nauwkeurig gekend te zijn. Er bestaan twee methodes om de massa m te bepalen:<br />

door inferentie<br />

rechtstreeks.<br />

Bij de afgeleide methode wordt het massadebiet Q m<br />

berekend uit het volumedebiet en uit de<br />

dichtheid van het fluïdum: Q m<br />

= ρQ v<br />

. Indien de meetomstandigheden met als voornaamste<br />

parameter de temperatuur weinig variëren, is de dichtheid ρ ongeveer constant en is enkel een<br />

meting van het volumedebiet nodig. Indien de temperatuursvariatie echter significant is, moet<br />

ook de dichtheid ρ gemeten worden. Figuur 3.66 toont een typisch meetsysteem gebaseerd op<br />

een turbinedebietmeter (paragraaf 18.5) en dichtheidssensor, welke de dichtheid meet uitgaande<br />

van (de variatie in) de resonantiefrequentie van een met het fluïdum gevuld buisje. De<br />

microprocessor verwerkt de verschillende signalen tot een aanduiding voor de gemeten massa of<br />

het massadebiet.<br />

Schmitt-triggers<br />

&<br />

Tellers<br />

µ-processor<br />

m<br />

m<br />

Turbinedebietmeter<br />

Dichtheidsopnemer<br />

m<br />

Trillend buisje<br />

Figuur 3.66: Afgeleide meting van het massadebiet.<br />

Coriolis-massadebietmeter<br />

De Coriolis-massadebietmeter meet rechtstreeks de doorstromende massa, onafhankelijk van de<br />

massadichtheid van het fluïdum. De meter bestaat uit een hermetisch gesloten roestvrij-stalen<br />

huis, dat één of twee parallelle U-vormige of rechte buizen bevat.<br />

Het werkingsprincipe is gebaseerd op een gecontroleerde opwekking van Coriolis-krachten.<br />

Deze krachten ontstaan wanneer een gegeven massa zowel transleert als roteert:<br />

→<br />

F c = 2m ⎛ → →<br />

⎝ ω× v ⎞<br />

⎠<br />

met<br />

F c<br />

de (amplitude van de) Coriolis-kracht<br />

m de massa<br />

ω de rotatiesnelheid en<br />

v de radiale snelheid in een roterend of oscillerend systeem<br />

(De kracht staat loodrecht op translatie- en rotatievector en is zelf maximaal indien rotatie- en<br />

translatievectoren loodrecht op elkaar staan). De amplitude van de Coriolis-kracht hangt af van<br />

de bewegende massa m en haar snelheid, en dus van het massadebiet.<br />

__________ - III.71 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Figuur 3.67 geeft een mogelijke configuratie weer. De twee buizen worden in tegenfase op hun<br />

natuurlijke eigenfrequentie in trilling gebracht door een magnetische aandrijfspoel, die in het<br />

midden is aangebracht. De buisconstructie is te vergelijken met een holle stemvork. De<br />

natuurlijke eigenfrequentie varieert van 80 tot 110 Hz en de maximale amplitude is kleiner dan 2<br />

mm.<br />

Doorstroomrichting<br />

Rotatie-as<br />

v<br />

ω<br />

F<br />

U-buizen<br />

Doorstroomrichting<br />

ω<br />

v<br />

F<br />

Magneetspoel<br />

F<br />

θ<br />

Magneet<br />

Rechtse detector<br />

θ<br />

Ogenblikkelijke<br />

hoekverdraaiing<br />

F<br />

Opgaande beweging<br />

t.g.v. ogenblikkelijke rotatie<br />

voor onderste buis<br />

Figuur 3.67: Constructie en werking van een Coriolis-debietmeter.<br />

Wanneer een massa door de buizen stroomt wordt deze gedwongen om een verticale snelheid<br />

aan te nemen, t.g.v. de sinusoïdale rotatie rond de aangegeven rotatie-as in de figuur. Als de buis<br />

een opwaartse slag maakt gedurende een halve trillingscyclus zal de massa in de buis een<br />

reactiekracht uitoefenen welke het instroombeen van de buis naar beneden en het uitstroombeen<br />

naar boven drukt. Deze gelijke en tegengestelde krachten zullen de buis verdraaien. Hierdoor<br />

ontstaat er een ogenblikkelijke hoekverdraaiing θ welke evenredig is met de snelheid v, de massa<br />

m en de (sinusoïdale) hoekrotatie ω. Door gepaste verwerking van het meetsignaal van twee<br />

inductieve opnemers, die aan beide kanten van de buis zijn gemonteerd, bekomt men een signaal<br />

dat enkel evenredig is met het massadebiet Q m<br />

.<br />

De twee buizen trillen in tegenfase zodat de resulterende krachten op de inklemming zo klein<br />

mogelijk zijn.<br />

Een tweede mogelijk meetprincipe berust op de detectie van een gewijzigde oscillatie en<br />

modevorm. De Coriolis-krachten, opgewekt in de meetbuizen, veroorzaken een faseverschuiving<br />

in de buisoscillaties. Wanneer er geen stroming is (stilstaand fluïdum) oscilleren de twee buizen<br />

uit figuur 3.68 (1) in fase. Bij een zeker debiet vertraagt de oscillatie aan de instroomzijde (2) en<br />

verhoogt ze aan de uitstroomzijde (3). Indien het debiet toeneemt, zal het faseverschil tussen de<br />

meetpunten A en B ook toenemen. Het meetprincipe is onafhankelijk van temperatuur, druk,<br />

viscositeit, geleidbaarheid of stromingsprofiel. (Het Promass 63 meetsysteem van E+H meet<br />

eveneens de dichtheid via oscillaties en de temperatuur, zodat hieruit andere grootheden kunnen<br />

afgeleid worden).<br />

__________ - III.72 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

Figuur 3.69 geeft bij wijze van voorbeeld, de constructie van de verschillende typen E+H<br />

Promass sensoren.<br />

Figuur 3.68:Coriolis-debietmeter door variatie in trillingswijze (volgens E+H Promass).<br />

1. Behuizing<br />

2. Verdeelstuk<br />

3. Aansluitflenzen<br />

4. Meetbuizen<br />

A: 1 gebogen buis<br />

I: 1 rechte buis<br />

M: 2 rechte buizen<br />

F: 2 gebogen buizen<br />

5. Pakking<br />

6. Plug<br />

7. Doorvoer kabels<br />

8. Elektrodyn. sensoren<br />

9. Excitatiesysteem<br />

10. Torsietrillingsstabilisatie<br />

Figuur 3.69: Doorsnede van E+H Promass 63, type A, I, M en F.<br />

Voordelen:<br />

De Coriolis-massadebietmeter wordt vooral toegepast voor grotere debieten en is uitermate<br />

geschikt voor moeilijke vloeistoffen, eventueel met vaste deeltjes.<br />

Metingen zijn mogelijk vanaf 25 gram/min tot 9000 kg/min (ND 25, 50 en 80 mm)<br />

De nauwkeurigheid is ± 0,5% op de ogenblikkelijke waarde voor gassen en ± 0,1 % voor<br />

vloeistoffen.<br />

Zeer goede repeteerbaarheid<br />

Groot meetbereik: verhouding 1000:1<br />

Geen egalisatieleidingen nodig.<br />

Nadelen:<br />

Kostprijs<br />

Relatief hoog drukverlies bij media met een hoge viscositeit.<br />

Deze meting is een unieke methode voor het meten van massadebieten en voor<br />

doseringstoepassingen.<br />

__________ - III.73 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

18.9 Elektromagnetische debietmeters (E.M.F.- Opnemers)<br />

Een debietmeting moet in principe een directe aanduiding geven van het volume- of massadebiet<br />

dat door een bepaalde proceslijn stroomt. De meeste debietmetingen geven echter een maat van<br />

het debiet via een indirecte meetmethode.<br />

Een aantal processen of stromen zijn ook sterk agressief en kunnen met klassieke meetmethoden<br />

moeilijk gemeten worden. Hetzelfde geldt voor stromingen die geladen zijn met vaste deeltjes en<br />

die dus mogelijk verstopping kunnen veroorzaken. Een ander nadeel van de indirecte<br />

meetmethoden is dat er meestal supplementaire drukverliezen in de leiding worden veroorzaakt<br />

die dan weer energie kosten.<br />

Voor de toepassingen (ongeveer 10%) waar de tot nu toe besproken debietmeters niet voldoen,<br />

zijn andere debietmeters bruikbaar zoals:<br />

de elektromagnetische debietmeter<br />

de ultrasone debietmeter (paragrafen 18.10 en 12.5 )<br />

en de kruiscorrelatiedebietmeter (paragraaf 18.11)<br />

De magnetische debietmeter biedt een degelijke oplossing in de vermelde probleemsituaties. De<br />

leidingdiameter verandert bij deze meting niet. Er komen geen bewegende delen bij te pas en er<br />

zijn geen delen in de leiding die verstopping kunnen veroorzaken. De stroming moet niet<br />

turbulent zijn en bovendien is de afleesschaal lineair en zijn er dus ook geen supplementaire<br />

toestellen zoals worteltrekkers nodig.<br />

Het meetprincipe is opgebouwd rond de wet van Faraday: over de aansluitingen van een<br />

elektrische geleider ontstaat een spanning als deze geleider zich in een magnetisch veld loodrecht<br />

op de krachtlijnen van dit veld beweegt:<br />

E = Blv<br />

De elektrische spanning E is afhankelijk van de magnetische veldsterkte B, van de lengte l van<br />

de geleider en van de snelheid v waarmee de geleider zich in het magneetveld beweegt.<br />

Bij de magnetische debietmeting is de geleider een geleidende vloeistofstroom met gemiddelde<br />

snelheid v. Elektroden in de wand, loodrecht op het veld gericht, meten de spanning.<br />

l<br />

Roestvrij stalen<br />

buis met<br />

diameter D<br />

Magnetische veldspoel<br />

i<br />

B<br />

v<br />

Elektrode<br />

Isolatie<br />

E = Bvl<br />

Q<br />

a)<br />

b)<br />

E<br />

Signaalspanning<br />

Figuur 3.70: a) Geïnduceerde spanning bij beweging van een geleider door een magnetisch veld en b)<br />

toepassing hiervan bij een elektromagnetische debietmeter.<br />

__________ - III.74 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Vermits de vloeistof de plaats inneemt van de geleider is het normaal dat men aan de vloeistof<br />

zelf zekere voorwaarden moet stellen. Zo moet de vloeistof een zekere elektrische geleidbaarheid<br />

vertonen. De minimumwaarde voor de elektrische geleidbaarheid ligt in de grootte-orde van 1<br />

microsiemens/cm. Deze vereiste sluit automatisch het meten van gassen, dampen en<br />

olieproducten uit.<br />

Omdat de gemeten spanning niet mag kortgesloten worden zal men de elektroden en de vloeistof<br />

moeten isoleren van de geleidende buis waar de vloeistof doorstroomt. In de praktijk is de<br />

meetbuis dan ook uitgevoerd in een niet-magnetische staalsoort en is deze meetbuis langs de<br />

binnenkant volledig elektrisch geïsoleerd. Zie figuren 3.70.b en 3.71.<br />

Bij een constant magneetveld zal de opgewekte spanning (bij een bepaalde vloeistofsnelheid)<br />

een polariserend effect hebben op de meting, met het gevolg dat er gaswolkjes optreden aan de<br />

elektroden die de meting compleet ontredderen. Men kan dit tegen gaan door gebruik te maken<br />

van een wisselveld.<br />

De elektroden, de vloeistof en de signaalkabel vormen een spoel bestaande uit één enkele<br />

winding, waardoor een kleine stroom vloeit en die onder invloed staat van het magnetisch veld.<br />

In een dergelijke spoel wordt een bijkomende spanning geïnduceerd. Deze transformatorische<br />

stoorspanning heeft echter niets te maken met de signaalspanning. Hij dient derhalve<br />

geëlimineerd te worden. Dit kan door de signaalkabel zo te monteren dat er een bijkomende<br />

winding ontstaat. De hierin geïnduceerde spanning werkt de stoorspanning tegen.<br />

Bekleding<br />

Elektrode<br />

Figuur 3.71:De meetbuis is elektrisch gescheiden van toevoer- en afvoerleiding. Alle onderdelen zijn<br />

elektrisch geaard.<br />

Een juiste aardverbinding van de E.M.F.-opnemer en de bijbehorende versterker is van<br />

fundamenteel belang voor een goede werking.<br />

Om de elektroden te isoleren van de meetbuis is in elke opnemer een bekleding aangebracht.<br />

Deze bekleding reikt van flens tot flens. De opnemer is dus elektrisch gescheiden van de<br />

transportleiding. Aan de buitenzijde van de E.M.F.-opnemer zijn aardingskabels aangebracht.<br />

Deze dienen te worden verbonden met de flenzen van de transportleiding waartussen de opnemer<br />

wordt gemonteerd. Indien de potentiaal van deze transportleiding afwijkt van de werkelijke<br />

aardpotentiaal dan dient deze werkelijke aardmassa te worden verbonden met de<br />

transportleiding.<br />

__________ - III.75 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

De opgewekte signaalspanning is van de ordegrootte van 1 mV voor v = 1 m/s. De signaalkabel<br />

tussen de E.M.F.-opnemer en de versterker is dan ook een speciale kabel. De capaciteit tussen de<br />

twee geleiders is zeer laag en de kabel heeft een elektrische en magnetische afscherming.<br />

Figuur 3.72: Voorbeeld industriële uitvoering: E+H Promag.<br />

De voordelen van de magnetische debietmeter zijn:<br />

volledig obstructievrij principe (geen drukverlies)<br />

grote nauwkeurigheid<br />

zeer groot meetbereik (0,25 tot 10 m/s)<br />

meetprincipe onafhankelijk van de meeste mediumeigenschappen<br />

te gebruiken tot maximaal 200°C<br />

geen egalisatieleidingen nodig<br />

De nadelen zijn:<br />

duur in aankoop<br />

minimum geleidbaarheid vereist en dus enkel voor geleidende vloeistoffen, niet voor gassen<br />

__________ - III.76 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Meetgrootheden<br />

Debietmeting<br />

E.M.F. met geschakeld gelijkstroomveld<br />

Het fundamenteel verschil tussen de debietmeters met geschakeld gelijkstroomveld en de<br />

standaard E.M.F. is dat de eerste meter werkt op een frequentie van 3 1/8 Hz, terwijl de<br />

standaard E.M.F. gevoed wordt op 50 Hz.<br />

De voeding op 3 1/8 Hz resulteert in een magnetische flux en gemeten spanning zoals<br />

voorgesteld in figuur 3.73. Gedurende de perioden T 1<br />

en T 2<br />

, zo gekozen dat het signaal zeker<br />

stabiel is, worden respectievelijk de signaalniveau’s A en B gemeten en van elkaar afgetrokken,<br />

met<br />

A - B = C<br />

A = debiet + storing<br />

B = storing<br />

C = het werkelijk gemeten debietsignaal, vrij van alle storingen<br />

Het grote voordeel van deze meting is dus dat de ruis-invloed kan worden uitgeschakeld.<br />

Geschakelde Voeding<br />

3 1/8 Hz<br />

Opwekkingsstroom - magnetische flux<br />

tijd<br />

Meetsignaal<br />

T1<br />

T2<br />

tijd<br />

Debietsignaal<br />

A-B = C<br />

Ruis<br />

A B<br />

tijd<br />

Figuur 3.73: Signalen bij elektromagnetische debietmeter met geschakeld gelijkstroomveld.<br />

18.10 Ultrasone debietmeter<br />

Het grote voordeel van de ultrasone debietmeter is dat deze uitwendig op de buizen gemonteerd<br />

kan worden, bijvoorbeeld voor inspectiewerkzaamheden, zonder dat hierbij het proces moet<br />

stilgelegd worden. Ook bij vloeistoffen met vaste deeltjes is de ultrasone debietmeter<br />

aangewezen.<br />

Paragraaf 12.5 behandelde reeds de ultrasone Doppler-debietmeter. Verder vermelden we enkel<br />

het bestaan van de transitietijd en kruiscorrelatie ultrasone debietmeters.<br />

18.11 Kruiscorrelatie debietmeter<br />

Kruiscorrelatie methode veronderstelt dat een bepaalde eigenschap van het fluïdum, zoals<br />

temperatuur, dichtheid, snelheid, geleidbaarheid, op een willekeurige manier verandert. Door op<br />

twee punten te meten en de beschouwde eigenschap te correleren, kan een indicatie van de<br />

snelheid waarmee het fluïdum van het ene naar het ander meetpunt beweegt, bekomen worden.<br />

__________ - III.77 -<br />

Johan Baeten


Tabel 3.10:<br />

Overzicht<br />

debietmeters<br />

Principe<br />

Nominale<br />

diameter D<br />

[mm]<br />

Vloeistof, Gas,<br />

Damp en<br />

Slurrie<br />

Nauwkeurigheid<br />

[%]<br />

Meetflens Drukval in flens 50 - V,G 2 5 - 500<br />

Stuwbuis<br />

Venturi- en<br />

Dall-buis<br />

Drukval en vernauwing 50 - V,G,D 2 5 - 500<br />

Pitot-buis Snelheidsdruk = totale<br />

druk - statische druk<br />

Annubar Snelh.druk = gemiddelde<br />

druk - statische druk<br />

Rotameter<br />

Krachtevenwicht op<br />

verticale roterende vlotter<br />

Drukverlies<br />

[mbar] Voorwaarden Eigenschappen<br />

Egalisatieleiding 15 D<br />

voor en 5 D na<br />

Wortelomvormer<br />

Egalisatieleiding 15 D<br />

voor en 5 D na<br />

Wortelomvormer<br />

/ V,G,D 2 / Egalisatieleiding 50 D<br />

Wortelomvormer<br />

Beperkt meetbereik 3:1<br />

Duurder<br />

Kleiner drukverlies dan flens<br />

Omrekening naar gemiddelde<br />

snelheid<br />

50 - 1000 V,G,D 1 1 - 50 Wortelomvormer Nauwelijks egalisatieleidingen<br />

nodig<br />

3 - 150 V,G 1 1 - 500 Verticale opstelling<br />

Viscositeit < 200 mPas<br />

Turbineteller Schoepenrad in stroming 10 - 800 V,G 0,5 - 1000<br />

Vortex/Swirl<br />

Ultrasoon<br />

Elektromagnetisch<br />

Coriolismassadebiet<br />

Natuurlijke of gedwongen<br />

oscillatie<br />

15 - 200<br />

(à 900)<br />

Geen vaste deeltjes<br />

Gekende viscositeit<br />

Egalisatieleiding 10 D<br />

voor en 5 D na<br />

V,G,D 1 25 - 200 Egalisatieleiding 10 D<br />

voor en 4 D na<br />

Re > 10000<br />

Spanningsopwekking in<br />

magneetveld 2 - 2000 V,S 0,5 0<br />

Verandering van<br />

geluidssnelheid of<br />

-frequentie<br />

Coriolis-krachten in<br />

gedwongen trilling<br />

3 - 10 5 V,S 2 0<br />

Geleidbaarheid ><br />

1µS/cm<br />

Beperkt<br />

snelheidsgebied<br />

Egalisatieleiding 5 à 15<br />

D voor en 3 à 5 D na<br />

1 - 80 V,G,D,S 0,4 1 - 1000 Geen trillingen in<br />

leiding<br />

Meetbereik vlotterafhankelijk<br />

Glazen buizen enkel voor<br />

doorzichtige vloeistoffen<br />

Filter vòòr plaatsen<br />

Teltoepassingen<br />

Uitgebreid temperatuur- en<br />

drukbereik<br />

Lineariteit, onafhankelijk van<br />

dichtheid, viscositeit en druk<br />

Vast nulpunt<br />

Isolatie en aarding !!<br />

Elektroden kunnen aanladen<br />

Kanalen<br />

Medische toepassingen<br />

'Clamp-on'<br />

Vast nulpunt<br />

Ook voor dosering<br />

Vaste deeltjes toegestaan<br />

Duur


Deel IV<br />

Signaalverwerking en -voorstelling<br />

19 Interfacing<br />

19.1 Inleiding<br />

Zoals paragraaf 1 al aangaf, bestaat het meetsysteem uit één of meerdere hoofddelen weergegeven<br />

in figuur 4.1. Deze onderdelen zijn de opnemer-omvormer of sensor, de signaalconditionering,<br />

de signaalverwerking en de gegevensvoorstelling.<br />

Ingang:<br />

Fysische Grootheid<br />

Opneem<br />

Signaal-<br />

Signaal-<br />

Gegevens-<br />

Element<br />

conditionering<br />

verwerking<br />

voorstelling<br />

Te meten Grootheid<br />

( T, F ... )<br />

Gemeten Grootheid<br />

Figuur 4.1: Onderdelen van een meetsysteem.<br />

Deze paragraaf overloopt de verschillende vormen van interfacing welke aan bod zijn gekomen<br />

in delen twee en drie. Dit kan gaan om signaalconditionering bijvoorbeeld de Wheatstone-brug<br />

of signaalverwerking bijvoorbeeld een analoog-digitaalomzetter. We beperken ons hier<br />

hoofdzakelijk tot een opsomming of verwijzing van/naar de verschillende technieken. Een aantal<br />

hiervan werden reeds behandeld. Sommige maken deel uit van andere cursussen. De<br />

verschillende onderwerpen die achtereenvolgens aan bod komen zijn:<br />

De meetbrug: DC of AC<br />

Demodulatie<br />

De versterker<br />

Analoog-digitaal en digitaal-analoog omzetting<br />

Voorbeelden van specifieke elektronische interfacingscomponenten<br />

De volgende paragrafen behandelen dan nog de oscilloscoop en de multimeter.<br />

__________ - IV.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

19.2 De meetbrug<br />

Er bestaan zowel DC- als AC-meetbruggen. De Wheatstone-brug is een DC-meetbrug. Ze bevat<br />

enkel weerstanden als brugelementen. De al dan niet gebalanceerde of actieve brug werd<br />

besproken in paragraaf 7.6, als conditionering van het rekstrookjessignaal. Brugevenwicht treedt<br />

op wanneer het produkt van de tegenover elkaar staande weerstanden gelijk is. Dit principe is<br />

uitbreidbaar voor een meetbrug met veralgemeende impedanties, zoals weergegeven in figuur<br />

4.2. Dit is een AC-meetbrug. Ze bestaat uit vier armen, een spanningsbron en een<br />

spanningsmeter of nuldetector. De vier brugarmen bevatten de al dan niet gekende impedanties<br />

Z1, Z2, Z3 en Z4.<br />

A<br />

B<br />

I 1 I 2<br />

Z 2<br />

C<br />

Z 1<br />

4<br />

Z 3<br />

Z<br />

Nuldetector of<br />

spanningsmeter<br />

Figuur 4.2: Algemene vorm van de AC-brug.<br />

D<br />

De spanningsbron legt over de brug een spanning aan met gewenste amplitude en frequentie. Bij<br />

de gebalanceerde AC-meetbrug duidt de nuldetector nul aan indien de brug in evenwicht is. De<br />

voorwaarde voor evenwicht is dat het potentiaalverschil van A tot C nul is. Dit is zo indien de<br />

spanningsval van B tot A gelijk is aan het spanningsverschil van B tot C, en dit zowel in<br />

amplitude als in fase:<br />

I 1 Z 1 = I 2 Z 2<br />

(complexe vergelijking)<br />

Bij evenwicht is:<br />

I 1 =<br />

E<br />

en I 2 =<br />

E<br />

Z 1 + Z 3 Z 2 + Z 4<br />

Dit geeft als evenwichtsvoorwaarde:<br />

Z 1 Z 4 = Z 2 Z 3 ⇔ Z 1 Z 4 = Z 2 Z 3 en ∠Z 1 +∠Z 4 =∠Z 2 +∠Z 3<br />

Het product van de impedanties van één paar tegenover elkaar liggende armen is gelijk aan het<br />

product van het andere paar tegenover elkaar liggende armen. De veralgemeende impedanties<br />

zijn complexe grootheden welke beschreven worden door amplitude en hoek. Dit houdt in dat de<br />

gelijkheid enkel geldt wanneer zowel de amplitude als de fase van linker- en rechterlid gelijk<br />

zijn. De voorwaarden voor brugevenwicht zijn dan:<br />

1. Het product van de amplitudes van de tegenover elkaar liggende armen moet gelijk zijn.<br />

2. De som van de fasehoeken van de tegenover elkaar liggende armen moet gelijk zijn.<br />

__________ - IV.2 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

AC-bruggen kunnen gebruikt worden om capaciteiten of inductanties te meten. De<br />

gebalanceerde meetbrug is een nauwkeurige meetmethode, die echter niet geschikt is voor<br />

automatische metingen wegens de manuele instelling van het brugevenwicht. Voor een<br />

automatische meting bestaan er R-, L- of C-meters of de vectorimpedantiemeter (niet behandeld<br />

in deze cursus). Figuur 4.3 geeft een aantal voorbeelden van AC-meetbruggen (zonder afleiding).<br />

De Wien-brug uit figuur 4.3 dient zelfs voor het meten van frequenties.<br />

R 1<br />

R 2 R 2<br />

C 1 C 1<br />

E<br />

R 1<br />

R 2<br />

Detector<br />

E<br />

Detector<br />

L x<br />

R 3<br />

R x<br />

R x<br />

a) Maxwell-brug: Inductantiemeting b) Hay-brug: Inductantiemeting (hoge Q)<br />

E<br />

C 3<br />

R 3<br />

C 1 R 1<br />

R 2<br />

R 1 C 3<br />

Detector<br />

E<br />

Detector<br />

C x<br />

R 3<br />

R<br />

R 4<br />

x C 3<br />

c) Schering-brug: Capaciteitsmeting d) Wien-brug: Frequentiemeting<br />

Figuur 4.3: Voorbeelden van AC-meetbruggen.<br />

Paragraaf 8.6 beschrijft het gebruik van de AC-brug als signaalconditioneringselement bij de<br />

capacitieve differentiële opnemer. In paragraaf 9.3 komt een gelijkaardige brug aan bod voor de<br />

variabele differentiële reluctantie positie-opnemer.<br />

__________ - IV.3 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

19.3 Demodulatie<br />

Bij een gemoduleerd signaal is de (meet-) informatie gesuperponeerd op bijvoorbeeld een<br />

draaggolf of zit de meetinformatie vervat in de draaggolf. Bij amplitudemodulatie komt het<br />

meetsignaal overeen met de amplitude van de draaggolf. Dit is het geval bij de LVDT, de<br />

resolver en de synchro (en bij sommige capacitieve opnemers). Bij frequentiemodulatie is het de<br />

frequentie van de draaggolf die de (meet-) informatie bevat. Indien x de te meten grootheid is, U<br />

de gemeten grootheid of spanning en Asin(ωt) de draaggolf, dan geldt<br />

bij amplitudemodulatie: U ≅ x.A sin(ωt)<br />

bij frequentiemodulatie: U ≅ A sin((ω + x)t)<br />

De demodulator moet de meetinformatie x scheiden van de draaggolf Asin(ωt).<br />

Amplitudedemodulatie<br />

Amplitudedemodulatie kan gebeuren op verschillende manieren: via een ringdemodulator , een<br />

fasegevoelige gelijkrichting of via een vermenigvuldiger. Elk van deze technieken gebruikt als<br />

laatste trap een laagdoorlaatfilter.<br />

Gemoduleerd<br />

signaal<br />

T<br />

1<br />

P<br />

-<br />

+<br />

-<br />

+<br />

H c<br />

R<br />

D 1<br />

R<br />

D<br />

A<br />

2<br />

R<br />

D 4 R<br />

D 3<br />

G<br />

B<br />

Gelijkgericht<br />

Signaal<br />

+ -<br />

M<br />

T2<br />

Uref<br />

Figuur 4.4: Ringdemodulator: fasegevoelige gelijkrichting.<br />

Figuur 4.4 geeft de ringdemodulator weer. Het ingangssignaal is het gemoduleerd signaal. De<br />

uitgang is een fasegevoelig gelijkgericht signaal. De werking is als volgt: Indien de draaggolf aan<br />

transfo T 2<br />

positief is, geleiden de dioden D 1<br />

en D 2<br />

. Omdat alle weerstanden in de brug gelijk zijn<br />

komt punt H dan op massapotentiaal M. De op dit ogenblik aanwezige spanning tussen PH<br />

afkomstig van het gemoduleerd signaal verschijnt dus op de uitgang. De volgende halve periode<br />

van de draaggolf is B positief en A negatief, zodat D3 en D4 geleiden waardoor punt G op<br />

massapotentiaal komt. De op dit ogenblik aanwezige spanning tussen P en G verschijnt nu op de<br />

uitgang.<br />

Indien de faseverschuiving van het gemoduleerd signaal 180 o verschuift, zal ook het<br />

uitgangssignaal in polariteit wijzigen.<br />

Niet alleen de frequentie van de draaggolf maar ook de fase moeten overeenkomen met het<br />

gemoduleerd signaal om een juist uitgangssignaal te bekomen.<br />

__________ - IV.4 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

Bij demodulatie door vermenigvuldiging ontstaat volgende signaal:<br />

U = x.A sin(ωt).V ref = x.A sin(ωt)A sin(ωt)= x.A2 (1 − cos(2ωt))<br />

2<br />

Dit is het ingangssignaal van de laagdoorlaatfilter met afsnijfrequentie bij ω (of lager). De<br />

uitgang van deze filter is:<br />

U ≅ x.A2<br />

2<br />

Dit signaal is dus evenredig met x. Indien x zelf een oscillatie is, bijvoorbeeld x = Xsin(αt), dan<br />

is het gedemoduleerd signaal ook sinusvormig. Voorwaarde voor een juiste werking is wel dat de<br />

pulsatie α minstens 10 keer kleiner blijft dan ω, de pulsatie van de draaggolf.<br />

Frequentiedemodulatie<br />

Bij frequentiedemodulatie worden meet- en referentiesignaal (in de tijd) opgeteld. Na<br />

gelijkrichting komt de frequentie van de laagfrequente component van het resulterend signaal<br />

overeen met de te meten grootheid x. Frequentiedemodulatie is vereist bij de continue ultrasone<br />

afstandsmeting of bij de Doppler-snelheids- of debietmeter in paragrafen 12.4 en 12.5.<br />

Fasedemodulatie<br />

Verder zijn er meetopnemers waarbij de meetinformatie vervat zit in de fase van de draaggolf,<br />

bijvoorbeeld U = Asin(ωt+x). Ook dit kan beschouwd worden als een vorm van modulatie. Het<br />

bepalen van de faseverschuiving van het meetsignaal t.o.v. het referentiesignaal gebeurt op<br />

eenvoudige wijze door gebruik te maken van twee Schmitt-triggers (nuldoorgangsdetectie met<br />

hysterese), één voor elk signaal. De tijd tussen de pulsen van de Schmitt-triggers komt overeen<br />

met de te bepalen faseverschuiving. Bij numerieke telling resulteert deze methode rechtstreeks in<br />

een digitaal signaal (met de gekende voordelen van het digitale karakter). Voorbeelden van de<br />

techniek zijn de fasegevoelige capacitieve positieopnemer (paragraaf 8.3), de resolver met<br />

draaiveld (paragraaf 9.8) en de numerieke fasemeting bij resolvers uit (paragraaf 14.5).<br />

__________ - IV.5 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

19.4 De versterker<br />

In een meetsysteem moeten zeer vaak signalen versterkt worden. Dit gebeurt meestal door een<br />

operationele versterker, een instrumentatievertserker of soms door een isolatieversterker.<br />

Een volledige bespreking van de versterker wordt gegeven in andere cursussen. We beperken ons<br />

hier tot een opsomming van een aantal mogelijke uitvoeringen en karakteristieken.<br />

De operationele versterker of opamp<br />

De operationele versterker komt in verschillende uitvoeringen voor:<br />

in open kring (zie figuur 4.5)<br />

als niet-inverterende versterker (zie figuur 4.6)<br />

als inverterende versterker (zie figuur 4.7)<br />

als som- of verschilversterker (zie figuur 4.8)<br />

Open kring versterking = A<br />

V + s<br />

V + in<br />

V - in<br />

+<br />

opamp<br />

-<br />

V - s<br />

V uit<br />

V s + = positieve voeding<br />

V s - = negatieve voeding<br />

V +<br />

in = positieve ingang<br />

V -<br />

in = negatieve ingang<br />

V uit = uitgang<br />

V - < V < V +<br />

s uit s en V = A(V + - V -<br />

uit in in )<br />

Figuur 4.5: De opamp in open kring (Bijvoorbeeld A = 10 6 ).<br />

≅ 0V<br />

V in<br />

-<br />

A<br />

+<br />

V uit<br />

a) Spannigsvolger:<br />

- Hoge ingangsimpedantie<br />

- Lage uitgangsimpedantie<br />

V uit = A(V in − V uit )<br />

V<br />

= in<br />

1 + 1/A<br />

≅ V in<br />

b) Niet-inverterende versterker:<br />

R M<br />

≅ 0V<br />

V in<br />

-<br />

A<br />

+<br />

R F<br />

V uit<br />

V uit = A(V in − R M<br />

R M +R F<br />

V uit )<br />

R M<br />

I L<br />

≅ 0V<br />

V in<br />

-<br />

A<br />

+<br />

Z F<br />

V uit<br />

c) Stroomgenerator:<br />

I hangt enkel af van V en R<br />

I hangt niet af van Z of V<br />

L in M<br />

L F uit<br />

=(1 + R F<br />

R M<br />

)V in<br />

I L<br />

= V in<br />

R M<br />

Figuur 4.6: De opamp als niet-inverterende versterker.<br />

__________ - IV.6 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

I<br />

V in<br />

R M<br />

≅ 0V<br />

-<br />

A<br />

+<br />

Z F<br />

V uit<br />

a) Stroombron:<br />

I = V in<br />

R M<br />

≅ 0V<br />

b) Inverterende versterker:<br />

V in<br />

R M<br />

-<br />

A<br />

+<br />

R F<br />

V uit<br />

V uit<br />

=− R F<br />

R M<br />

V in<br />

V in<br />

Z M<br />

≅ 0V<br />

-<br />

A<br />

+<br />

Z F<br />

V uit<br />

c) Algemene inverterende schakeling:<br />

V uit<br />

=− Z F<br />

Z M<br />

V in<br />

Figuur 4.7: De opamp als inverterende versterker.<br />

V 1<br />

R 1<br />

R 1<br />

-<br />

A<br />

+<br />

R F<br />

V uit<br />

a) Verschilversterker:<br />

V uit<br />

= R F<br />

R 1<br />

(V 2 − V 1 )<br />

V 2<br />

R F<br />

V 1<br />

R 1<br />

b) Sommator:<br />

R 1<br />

V 2<br />

R 1<br />

V n<br />

-<br />

A<br />

+<br />

R F<br />

V uit<br />

V uit<br />

=− R F<br />

(V 1 + V 2 + .. . + V n )<br />

R 1<br />

Figuur 4.8: Verschilversterker en sommator.<br />

__________ - IV.7 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

Bij de ideale operationele versterker vloeit geen stroom aan de + of - ingangspennen, omdat de<br />

ingangsimpedantie oneindig groot is. Bij de ideale opamp met terugkoppeling is bovendien de<br />

spanning aan de positieve-ingangspen gelijk aan de spanning op de negatieve-ingangspen.<br />

De ideale opamp bestaat echter niet. Enkele beperkingen zijn:<br />

Er is een ingangsoffsetspannig (bij nul-input toch een kleine output). Compensatie van deze<br />

offsetspanning is meestal noodzakelijk.<br />

Drift van de offsetspanning.<br />

De ingangsstroom is niet volledig nul.<br />

Niet enkel de verschilspanning tussen de ingangen maar ook de gemeenschappelijke spanning<br />

wordt in zekere mate versterkt. De mate waarin de gelijke spanningscomponent onderdrukt<br />

wordt is weergegeven door de CMRR-factor : de 'Common Mode Rejection Ratio' moet zo<br />

groot mogelijk zijn.<br />

Het uitgangsbereik is iets kleiner dan de voedingsspanningen.<br />

De frequentieband is beperkt.<br />

De instrumentatieversterker<br />

Een instrumentatieversterker is een precissieverschilversterker met vrij goede specificaties:<br />

Hoge ingangsimpedantie.<br />

Lage ingangsstroom, minimaal bij gelijke impedantie tussen ingangen en massa of voeding.<br />

Lage ingangsoffset, lage drift.<br />

Hoge CMRR.<br />

Gebalanceerde verschilingangen.<br />

Hoge lineariteit.<br />

Stabiele versterking die instelbaar is bijvoorbeeld van 1 tot 1000 door 1 of 2 geselecteerde<br />

weerstanden. De weerstand kan inwendig aanwezig zijn of moet uitwendig aangesloten<br />

worden. Soms is de versterker digitaal programmeerbaar.<br />

Lage uitgangsweerstand.<br />

+<br />

Offset-compensatie<br />

Voeding<br />

IA<br />

V S<br />

Sense<br />

V<br />

V uit in V uit = V in .f(R G , R S )<br />

V R<br />

Reference<br />

-<br />

Belasting<br />

R G<br />

R S<br />

Weerstanden voor het<br />

instellen van de versterking<br />

Figuur 4.9: Functioneel schema van een instrumentatieversterker.<br />

Figuur 4.9 geeft het functioneel schema van een instrumentatieversterker weer. Naast de in- en<br />

uitgangsklemmen zijn er klemmen waarop R S<br />

en R G<br />

worden aangesloten om de gewenste<br />

versterking in te stellen. Er zijn twee extra klemmen 'Sense V S<br />

' en 'Reference V R<br />

' die een<br />

__________ - IV.8 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

terugkoppeling van het uitgangssignaal toelaten. Deze terugkoppeling compenseert het<br />

spanningsverlies in de draden naar de belasting of maakt de uitgangsstroom evenredig met het<br />

verschilsignaal op de ingang.<br />

De spanning VR kan gebruikt worden voor fijn regeling van de CMRR en/of voor een 'offset'. De<br />

impedanties moeten zeer laag zijn wanneer de ingangen V S<br />

en V R<br />

worden aangestuurd om geen<br />

'common mode' of offset-fouten te introduceren.<br />

Een enkele operationele versterker (figuur 4.8.a) voldoet niet als instrumentatieversterker: om<br />

een grote versterking te bekomen moet R 1<br />

klein zijn, dit houdt een lage ingangsimpedantie en<br />

een slechte CMRR in.<br />

Figuur 4.10 toont een typische instrumentatieversterker, opgebouwd uit drie opamp. De<br />

niet-inverterende opamps A 1<br />

en A 2<br />

zorgen voor een verschilversterking van de<br />

ingangsspanningen. De opamp A 3<br />

zorgt voor een goede CMRR omwille van de zeer hoge<br />

weerstandswaarde van R 2<br />

.<br />

-<br />

V in<br />

+<br />

A1<br />

-<br />

R 2 R 2<br />

Sense<br />

R 1<br />

UItwendig<br />

UItwendig<br />

R G<br />

-<br />

A<br />

3<br />

+<br />

V uit<br />

=(V + in − V − in )(1 + 2R 2<br />

)<br />

R G<br />

+<br />

V in<br />

R 1<br />

-<br />

A<br />

2<br />

+<br />

R 2 R 2<br />

Reference<br />

UItwendig<br />

Figuur 4.10: Klassiek 3-opamp instrumentatieversterker.<br />

De isolatieversterker<br />

Een isolatieversterker heeft een ingangskring die galvanisch geïsoleerd is van de voeding en van<br />

de uitgang. Isolatieversterkers worden gebruikt voor het meten van kleine DC of laagfrequente<br />

spanningen of stromen in aanwezigheid van hoge common-mode spanningen (tot 1000 V) of<br />

bijvoorbeeld voor het meten van kleine signalen in de geneeskunde, waar de galvanische<br />

scheiding om veiligheidsredenen nodig is. De koppeling wordt meestal gerealiseerd met een<br />

transformator die op hogere frequenties werkt.<br />

__________ - IV.9 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

Interfacing<br />

19.5 Analoog-Digitaal- en Digitaal-Analoogomzetters<br />

Analoog-digitaal omzetters (ADC) en digitaal analoog omzetters (DAC) zijn belangrijke<br />

componenten in signaalverwerking en conditionering. Ook bij de digitale voorstelling van een<br />

meetsignaal zijn ze vanzelfsprekend noodzakelijk.<br />

Er bestaan verschillende types, van zeer goedkoop tot zeer nauwkeurig, robuust of zeer snel, elk<br />

met hun specifieke toepassingen. Een (volledige) bespreking van deze omzetters, de voordelen<br />

van het digitale karakter van het (meetsignaal) bij transmissies, gegevensvoorstelling en -opslag<br />

valt echter buiten het bestek van deze cursus.<br />

19.6 Voorbeelden van elektronische interfacingscomponenten<br />

Deze paragraaf somt een aantal elektronische interfacingscomponenten op. De lijst is verre van<br />

volledig. Ze kan echter in een zoektocht naar de juiste component een startpunt vormen. Voor<br />

specifieke opbouw, eigenschappen en toepassingen wordt verwezen naar de desbetreffende<br />

databoeken.<br />

Instrumentatieversterker AD524 Analog Device<br />

LVDT-signaalconditionering NE/SE5520 Philips<br />

Rekstrookjes-signaalconditionering 2B30, 2B31 Analog Device<br />

Thermokoppelversterkers AD594 Analog Device<br />

Geïsoleerde thermokoppelsignaalcond. 2B50 Analog Device<br />

CMOS 12bit A/D omzetter AD7552 Analog Device<br />

__________ - IV.10 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

20 De oscilloscoop<br />

20.1 De kathodestraalbuis (CRT)<br />

De kathodestraalbuis (Cathode Ray Tube - CRT), zoals weergegeven in figuur 4.11, is het<br />

scherm van de oscilloscoop. Ze heeft als functie een lichtdot te visualiseren op een afstand tot<br />

het centrum van het scherm evenredig met de spanningen U x<br />

(horizontale afstand) en U y<br />

(verticale afstand). Hiertoe genereert men in de CRT een elektronenbundel die normaal het<br />

scherm in het centrum treft. Deze elektronenbundel ondergaat een afbuiging onder invloed van<br />

elektrostatische velden opgewekt tussen evenwijdige afbuigplaten waaraan de<br />

ingangsspanningen worden aangelegd (een horizontale afwijking onder invloed van U x<br />

, een<br />

verticale onder invloed van U y<br />

). Waar de elektronenstraal het met fosfor bedekte scherm treft<br />

ontstaat een lichtspot.<br />

U<br />

y<br />

Versteker<br />

Elektromagnetische<br />

lens<br />

Afbuigplaten<br />

Naversnellingsanode<br />

Gloeidraad<br />

Whenelt<br />

Kathode<br />

El1 El2 El3<br />

U x<br />

Figuur 4.11: De kathodestraalbuis (Eng.: Cathode ray tube - CRT).<br />

Luminescerend scherm<br />

De cilindervormige kathode welke door een gloeidraad indirect verhit wordt, genereert de<br />

elektronenbundel. De verhitting veroorzaakt thermische emissie van elektronen zodat er zich<br />

rond de kathode een wolk van elektronen vormt. De kathode wordt op negatieve potentiaal<br />

gebracht ten opzichte van de anode (zie verder).<br />

Een cilindrische bus die de kathode omringt (de Wehnelt) heeft een regelbare negatieve<br />

potentiaal ten opzichte van de kathode. In de Wehnelt is aan de voorkant een opening gemaakt<br />

waardoor elektronen, aangetrokken door de positieve potentiaal van de anode, kunnen<br />

ontsnappen. Naarmate de Wehnelt negatiever wordt, verkleint de elektronenwolk rond de<br />

kathode en zullen minder elektronen ontsnappen naar de anode toe. Door de potentiaal van de<br />

Wehnelt in te stellen kunnen we dus het debiet aan ontsnappende elektronen regelen.<br />

De elektronenbundel die de Wehnelt verlaat is divergent en wordt daarom door een elektromagnetische<br />

lens gestuurd. Deze lens bestaat uit drie cilinders waarvan er twee (El1 en El3) op<br />

een positieve en één (El2) op een negatieve spanning staan (ten opzichte van de potentiaal van de<br />

kathode). De lenswerking ontstaat door de negatieve potentiaal van E12 naarmate een elektron<br />

verder van de as van de cilinder afwijkt ondervindt het een sterkere afstotingskracht naar het<br />

centrum toe. De cilinders El1 en El3 dienen als anode en staan op 5 à 10 kV ten opzichte van de<br />

kathode. Ze versnellen de elektronen die uit de Wehnelt ontsnappen. De negatieve spanning op<br />

__________ - IV.11 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

El2 bepaalt het convergentiepunt van de lens. Instelling van deze spanning laat toe de<br />

focussering van de elektronenbundel bij te regelen.<br />

Aan de uitgang van de elektromagnetische lens krijgen we dus een hoog energetische,<br />

convergerende elektronenbundel, regelbaar in debiet en focussering. Deze bundel dienen we nu<br />

te laten afbuigen evenredig met de twee spanningen U x<br />

(~horizontale afbuiging) en U y<br />

(~verticale<br />

afbuiging).<br />

Het afbuigsysteem bestaat uit twee paar evenwijdige platen, respectievelijk verticaal en<br />

horizontaal opgesteld. De afbuiging van de elektronenbundel ontstaat door het aanleggen van een<br />

elektrische spanning over deze platen: de horizontaal opgestelde platen (spanning U y<br />

) zorgen<br />

voor een verticale afwijking van de elektronenbundel, de verticaal opgestelde platen voor een<br />

horizontale afwijking. Daar de afwijkingen niet recht evenredig zijn met de aangelegde<br />

spanningen, worden er aan de kathodestraalbuis twee speciale versterkers toegevoegd, die deze<br />

niet-lineariteit compenseren. Zo ontstaat uiteindelijk een afwijking van de elektronenbundel die<br />

evenredig is met de aan de ingang van deze versterkers aangelegde spanningen.<br />

Het scherm zelf tenslotte is bedekt met een luminescerende stof die oplicht onder invloed van het<br />

elektronenbombardement. De focussering wordt dusdanig afgeregeld dat de elektronenbundel het<br />

smalst is waar hij het scherm treft. De hoeveelheid uitgestraald licht is afhankelijk van het debiet<br />

aan elektronen dat het scherm treft, en van de energieïnhoud (de snelheid) van de elektronen. Bij<br />

een te groot elektronendebiet krijgt men echter een wazige dot op het scherm: door de random<br />

snelheidsverdeling van de elektronen bij het verlaten van de Wehnelt werkt de elektromagnetische<br />

lens niet perfect zodat we in plaats van een convergentiepunt een convergentiebol<br />

krijgen, die groter is naarmate het elektronendebiet hoger is. Om een scherp en helder beeld te<br />

bekomen moeten er dus weinig elektronen zijn met een grote energieïnhoud. Daarvoor dienen de<br />

naversnellingsanodes in de hals van de CRT. Deze worden ofwel verbonden met de meest<br />

positieve anode van de elektromagnetische lens, ofwel op een nog hogere potentiaal gebracht (tot<br />

20 kV).<br />

20.2 De analoge oscilloscoop<br />

XY-werking<br />

De XY-instelling dient om U y<br />

(t) te visualiseren in functie van U x<br />

(t). We leggen U y<br />

(t) aan de<br />

verticale-versterker en U x<br />

(t) aan de horizontale-versterker. Hiertoe zetten we schakelaar S5 in de<br />

XY-stand (zie steeds figuur 4.12).<br />

Beide ingangsspanningen worden eerst versterkt in voorversterkers Deze versterkers zijn in<br />

stappen instelbaar door de gebruiker en geijkt in Volts/Div: bij een instelling van 1mV/cm en<br />

een ingangssignaal dat over 3,2 mV varieert krijgen we op het scherm een overeenkomstige<br />

verplaatsing van 32 mm. De instelbare versterkingen variëren meestal van enkele mV/Div tot<br />

enkele V/Div. Het is ook mogelijk om met een speciale regelknop een continue regeling van de<br />

ingangsversterking te verkrijgen, doch in dat geval gaat de calibratie verloren en is de<br />

evenredigheidsconstante tussen schermverplaatsing en ingangsspanningsverandering niet langer<br />

gekend. Normaal staat deze knop in de nulstand.<br />

Voor elk ingangssignaal kunnen we kiezen tussen een AC of een DC gekoppelde ingang<br />

(schakelaar S2). Bij een AC gekoppelde ingang wordt een condensator in serie geschakeld met<br />

het ingangssignaal. De condensator filtert de gelijkspanningscomponent (en de lage frequenties)<br />

uit het signaal waardoor uitsluitend de wisselspanningscomponent overblijft.<br />

__________ - IV.12 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

Een typische toepassing van de XY-werking is het visualiseren van Lissajous-figuren om het<br />

fase- en frequentieverband tussen twee signalen te bestuderen.<br />

A in<br />

DC<br />

S2y<br />

AC<br />

V/Div<br />

10V/Div<br />

2 mV/Div<br />

Vert.<br />

Horz.<br />

B in<br />

DC<br />

S2x<br />

AC<br />

V/Div<br />

Y<br />

Schakelaar<br />

10V/Div<br />

2 mV/Div<br />

XY<br />

S5<br />

YT<br />

X<br />

Ext<br />

A<br />

B<br />

DC<br />

S3<br />

Auto<br />

DC<br />

AC<br />

S4<br />

"Hold off"<br />

Trigger<br />

+<br />

Net<br />

TV<br />

_<br />

Level 5s/Div 2 µ s/Div<br />

Toggle<br />

Oscillator<br />

B<br />

'Alternate'<br />

'Chopped'<br />

A<br />

S1<br />

Figuur 4.12: De analoge tweekanaalsoscilloscoop.<br />

YT-werking<br />

Dit is de normale instelling van de oscilloscoop (S5 in figuur 4.12 in de stand YT). Ze dient om<br />

een periodiek variërende spanning U y<br />

te visualiseren in functie van de tijd. Hiertoe leggen we aan<br />

de horizontale-versterker een zaagtandspanning aan zodat de lichtspot langzaam van links naar<br />

rechts beweegt en dan snel terug (tijdens de teruggaande beweging wordt de intensiteit van de<br />

spot op nul gebracht). Aan de verticale platen leggen we het te meten signaal U y<br />

(t) aan zodat de<br />

lichtspot naast de lineaire beweging van links naar rechts ook een verticale verplaatsing krijgt<br />

evenredig met U y<br />

(t). Door de helling van de zaagtand te regelen kunnen we de snelheid waarmee<br />

de spot van links naar rechts beweegt regelen (hoe scherper deze helling, hoe sneller de spot<br />

beweegt). Deze helling is in stappen instelbaar met behulp van een meerstanden schakelaar<br />

geijkt in tijd/Div (variërend van enkele µs/cm tot enkele sec/cm).<br />

Een probleem treedt op indien de zaagtandfunctie niet gesynchroniseerd is met U y<br />

. We krijgen<br />

dan telkens een tekening van U y<br />

met een verschillende faseverschuiving. Daar U y<br />

vele tientallen<br />

malen per seconde wordt hertekend resulteert dit in een onbruikbaar beeld. Om de zaagtand te<br />

synchroniseren met het ingangssignaal wordt een zogenaamde triggerschakeling toegevoegd.<br />

Deze krijgt als ingang het te meten (periodieke) signaal U y<br />

(t) (figuur 4.12, schakelaar S3 in stand<br />

A). Op het ogenblik dat U y<br />

(t) een bepaalde instelbare waarde bereikt en dat dU y<br />

/dt een bepaald<br />

instelbaar teken heeft, geeft deze schakeling een puls af. De zaagtandgenerator wacht op deze<br />

__________ - IV.13 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

puls, start de zaagtand en wacht na het beëindigen van de zaagtand op een nieuwe puls. Door het<br />

regelen van de triggerspanning en het instellen van de triggerhelling kunnen we steeds hetzelfde<br />

gedeelte van het periodieke signaal U y<br />

(t) op het scherm brengen.<br />

Deze manier van triggeren is niet geheel foutvrij. Signalen die bij het ingestelde triggerniveau en<br />

triggerhelling twee maal per periode de zaagtand triggeren zijn denkbaar. In de praktijk echter<br />

blijkt het voldoende te zijn om helling en niveau in te stellen om in de meeste gevallen een<br />

proper beeld te bekomen. In de andere gevallen kan men een extern signaal (bijvoorbeeld een<br />

blokgolf) genereren met eenzelfde periode als het te meten signaal (of heeft men een dergelijk<br />

signaal ter beschikking). In dat geval moet men triggeren op dat extern signaal: de schakelaar S3<br />

wordt op stand Ext gezet en de zaagtand vertrekt indien het externe signaal de ingestelde<br />

spanning en helling bereikt. Een typisch voorbeeld van deze laatste situatie is het meten van de<br />

uitgang van een versterker waar men aan de ingang een blokgolf aanlegt. Men kan dan het beste<br />

triggeren op de blokgolf.<br />

Merk op dat een slechte keuze van het triggerniveau er voor kan zorgen dat er nooit getriggerd<br />

wordt en dat er geen beeld op het scherm komt (zie ook de uitleg van de AUTO functie later).<br />

De "HOLD-OFF" instelling.<br />

Voor een stabiele triggering is het belangrijk dat de tijdbasisslag steeds op hetzelfde punt van de<br />

te bekijken golfvorm begint. Dit triggerpunt wordt bepaald door niveau en helling (+ of -). Neem<br />

nu de golfvorm uit figuur 4.13 als ingangssignaal.<br />

Ingangssignaal<br />

1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6<br />

Tijdbasis<br />

"Hold-off"<br />

1 2 3<br />

Weergave 1<br />

1 2 3<br />

Weergave 2<br />

4 5 6<br />

+ +<br />

5 6 7<br />

a) Resultaat<br />

b)<br />

1+4 2 5 3+6<br />

1+5 2+6 3+7<br />

Figuur 4.13: Invloed van de "hold-off" instelling: a) foutief beeld, b) correct beeld.<br />

Iedere positieve flank van het ingangssignaal is een mogelijk triggerpunt. Pulsen 2 en 3 uit figuur<br />

4.13.a genereren geen triggerpuls daar de tijdbasisslag reeds begonnen is. Het is pas nadat puls 3<br />

voorbij is dat de tijdbasisschakeling kan hertriggerd worden. Het zal dus puls 4 zijn die de<br />

tweede tijdbasisslag start. Dit is echter op het verkeerde punt van de golfvorm. Het 'foutieve'<br />

resulterende beeld is een overlapping van "Weergave 1" en "Weergave 2".<br />

Met de "Hold-off"-knop wordt de terugslagtijd verlengt om alzo de triggering op puls 4<br />

onderdrukken zoals aangegeven in figuur 4.13.b. Eens de positieve flank van puls 4 voorbij mag<br />

de triggerschakeling terug gevoelig gemaakt worden voor triggerpulsen. Het is dan precies puls 5<br />

die opnieuw de tijdbasis zal starten.<br />

__________ - IV.14 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

De twee- of meerkanaalsoscilloscoop.<br />

In vele gevallen is het nodig om meerdere signalen tegelijk op het scherm te brengen. We<br />

wensen dus meerdere signalen U y<br />

(t) uit te zetten tegenover eenzelfde tijdas.<br />

Een eerste mogelijkheid bestaat erin twee elektronenbundels in eenzelfde CRT te genereren. Dit<br />

gebeurt door in het elektronenkanon twee bundels elektronen te genereren en gebruik te maken<br />

van een speciale elektromagnetische lens. Elke elektronenbundel krijgt zijn eigen stel verticale<br />

platen, doch beide bundels delen eenzelfde stel horizontale platen. Een dergelijke oscilloscoop<br />

noemt men een 'Dual Beam' oscilloscoop. Deze methode is om technische redenen beperkt tot<br />

twee kanalen. De afwerking van het elektronenkanon dient zeer zorgvuldig te gebeuren, zodat er<br />

geen overspraak tussen beide kanalen kan optreden.<br />

Signaal A<br />

Signaal B<br />

Tijdbasis<br />

'Dualbeam'<br />

a)<br />

'Dualtrace'<br />

'Chopped'<br />

b)<br />

'Dualtrace'<br />

'Alternate'<br />

c)<br />

Figuur 4.14: Signalen bij tweekanaalsoscilloscoop.<br />

Een tweede manier om meerdere signalen op het scherm te brengen bestaat erin een gewone<br />

oscilloscoop te gebruiken doch achtereenvolgens het ene en het andere signaal te visualiseren.<br />

Hiertoe brengen we aan de ingang van de verticale-versterker een elektronische schakelaar aan<br />

die snel heen en weer schakelt tussen kanaal A en kanaal B (zie figuur 4.12). Men spreekt dan<br />

van een 'Dual Trace' oscilloscoop.<br />

Er zijn twee manieren van uitvoering:<br />

Een eerste manier, de 'Dualtrace Chopped Mode', bestaat erin de schakelaar heel snel heen en<br />

weer te schakelen (schakelaar S1 in figuur 4.12 in stand 'chopped'). We krijgen dan op het<br />

scherm een beeld zoals in figuur 4.14.b. Dergelijke beelden worden heel snel over elkaar<br />

getekend, en daar er geen enkel verband bestaat tussen de schakelfrequentie en de frequentie van<br />

het te visualiseren signaal ontstaat een continu beeld. Het nadeel van deze methode is dat er een<br />

beeldbuis voor nodig is met een grote bandbreedte voor de verticale verplaatsing. De spot moet<br />

__________ - IV.15 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

heel snel kunnen wisselen tussen beide signalen, veel sneller dan de signalen zelf kunnen<br />

veranderen. Deze methode levert dus problemen op bij signalen met hoge frequentie.<br />

Het alternatief is om eerst een keer het ene signaal te tekenen, en vervolgens, terwijl de spot<br />

terugkeert van rechts naar links, over te schakelen op het tweede signaal en dit te tekenen<br />

(schakelaar S1 in figuur 4.12 in stand 'Alternate'). Vervolgens schakelen we weer terug naar het<br />

eerste signaal enz. Dit is de 'Dualtrace Alternate mode'. Ze heeft als voordeel dat ze minder eist<br />

van de bandbreedte van de oscilloscoop. Het grote nadeel is dat ze slecht werkt voor traag<br />

variërende signalen. Indien het bijvoorbeeld 0.5 sec duurt om een signaal volledig te tekenen,<br />

dan zullen we effectief op het scherm eerst het ene signaal en vervolgens het tweede zien. Daar<br />

0.5 sec veel langer is dan de nagloeitijd van fosfor in de oscilloscoop zullen we nooit beide<br />

signalen gelijktijdig zien, zodat we ook geen vergelijkingen tussen beide signalen kunnen<br />

maken, iets waar het in principe net om te doen is.<br />

'Dualtrace' oscilloscopen hebben meestal de mogelijkheid om te schakelen tussen 'Alternate' en<br />

'Chopped' mode. Voor laag frequente signalen gebruiken we de 'chopped' mode, voor hoog<br />

frequente de 'alternate' mode. Sommige oscilloscopen kiezen zelf welke mode ze gebruiken,<br />

afhankelijk van de stand van de tijdbasis. Is de tijdbasis klein (~1 µsec/div) dan is de 'chopped'<br />

mode ingeschakeld. Is de tijdbasis groot (~0.1 sec/div) dan is de 'alternate' mode actief.<br />

Deze methode, het schakelen tussen verschillende ingangssignalen, is uiteraard niet beperkt tot<br />

twee kanalen. Drie, vier of meerkanaalsoscilloscopen zijn met deze methode mogelijk.<br />

Naarmate het aantal signalen toeneemt worden er uiteraard steeds hogere eisen gesteld aan de<br />

bandbreedte van de beeldbuis om nog een aanvaardbaar beeld te bekomen.<br />

Figuur 4.12 geeft een volledig beeld van een tweekanaals-'dualtrace'-oscilloscoop. Naast de reeds<br />

besproken mogelijkheden kan de schakelaar ook vast in de ene of de andere stand gezet worden,<br />

zodat slechts een van beide signalen geselecteerd wordt. De mogelijk modes zijn dus: A, B,<br />

'Alternate' of 'Chopped'.<br />

De triggerschakeling ontvangt als ingang kanaal A, kanaal B, een Externe bron of het 'Net' (Eng.:<br />

MAINS), een 50 Hz sinus, afgeleid van het lichtnet. Deze laatste keuze laat toe om het signaal<br />

voortdurend op het scherm te brengen zonder rekening te houden met de periodiciteit ervan. Dit<br />

kan nuttig zijn bij metingen op niet-periodieke signalen (zoals ruis) waarbij triggeren moeilijk is.<br />

Het gekozen ingangssignaal wordt vervolgens behandeld alvorens het naar de eigenlijke<br />

triggerschakeling gaat. De verschillende keuzen voor het behandelingsnetwerk zijn:<br />

DC: Het signaal wordt hier (zonder behandeling) gewoon naar de triggerschakeling gevoerd.<br />

AC: Hierbij wordt een capaciteit in serie geschakeld met het ingangssignaal welke alle lage<br />

frequenties wegfiltert. Het triggersignaal wordt dus ontdaan van de DC-componente en van<br />

zeer lage frequenties.<br />

Auto: Hierbij wordt het ingangssignaal geëxpandeerd, zodat we steeds een triggerpuls zullen<br />

krijgen. Het signaal aangeboden aan de triggerschakeling zal steeds een groter bereik hebben<br />

dan kan ingesteld worden met de triggerniveau-knop. Deze mode is dan ook de meest<br />

gebruikte.<br />

TV: Dit is een speciale schakeling die gebruikt wordt bij het meten op televisiesignalen. De<br />

triggering gebeurt op de synchronisatiepuls van het videosignaal.<br />

Ook laag- of hoogfrequente sperfilters zijn mogelijk als voorbehandeling van het triggeringangssignaal.<br />

__________ - IV.16 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

20.3 De analoge geheugenoscilloscoop<br />

De klassieke analoge oscilloscoop kan heel wat problemen niet aan. Deze worden voornamelijk<br />

veroorzaakt door de beperkte schrijfsnelheid en nalichttijd van de kathodestraalbuis. Zo kent de<br />

klassieke analoge oscilloscoop problemen bij:<br />

visualisatie van eenmalige verschijnselen (bijvoorbeeld oplading van een capaciteit)<br />

visualisatie van traag verlopende verschijnselen (LF-signalen)<br />

visualisatie van zeer snelle verschijnselen (HF-signalen)<br />

Hiervoor dienen de speciale oscilloscopen beschreven in deze en volgende paragrafen<br />

Een analoge geheugenoscilloscoop kan in tegenstelling tot de klassieke analoge oscilloscoop met<br />

beperkte nalichttijd, een verschijnsel veel langer vasthouden (tot enkele uren nadat het voor het<br />

eerst op het fosfor geschreven is). Geheugenoscilloscopen gebruiken het fenomeen van emissie<br />

van secundaire elektronen. Bij het elektronenbombardement van primaire elektronen, heeft er<br />

een energieoverdracht plaats die secundaire elektronen aan het oppervlak van het doel doet<br />

vrijkomen. Het aantal elektronen dat vrijkomt hangt ondermeer af van de spanning van het doel.<br />

Afbuigplaten<br />

Schrijfkanon<br />

Secundaire<br />

kanonnen<br />

Elektrodes met<br />

lenswerking voor<br />

hulpelektronen<br />

Fosforlaag<br />

Collectorplaat<br />

Glazen voorplaat<br />

Figuur 4.15: Opbouw van de analoge geheugenoscilloscoop.<br />

Figuur 4.15 toont de elektronenstraalbuis van de geheugenoscilloscoop. Het scherm bestaat nu<br />

uit drie lagen. De diëlektrische laag die de fosfordeeltjes bevat, een achtergrondplaat die dienst<br />

doet als de collector van elektronen en een glazen voorplaat. Er zijn hulpkanonnen toegevoegd.<br />

Deze hulpkanonnen genereren de hulpelektronen. De hulpelektronen bevatten weinig energie. Ze<br />

worden continu uitgezonden en bestrijken het hele scherm. Hierdoor is het scherm zwak<br />

lichtgevend.<br />

Bij het verschijnen van een signaal worden er elektronen met veel energiekracht losgelaten op<br />

het fosfor in een punt P. Er ontstaan secundaire elektronen die opgevangen worden in de<br />

collector. Punt P wordt dus positief, de overige punten blijven ongewijzigd. Het positieve punt P<br />

gaat aldus hulpelektronen aantrekken met een grotere kracht en zal nog meer oplichten. Punt P<br />

blijft elektronen aantrekken en zal nog licht geven op het scherm als er geen elektronen meer van<br />

het schrijfkanon worden aangevoerd. Nadat een signaal op het scherm geschreven is, zorgen de<br />

hulpelektronen er dus voor dat de informatie bewaard blijft.<br />

In normale werking staat de collector op een spanning van 200V. Het beeld kan gewist worden<br />

door de spanning van de collector te reduceren. Als de collectorspanning laag is, is er slechts een<br />

kleine stroom van elektronen naar de collector en wordt de positieve lading in P geneutraliseerd<br />

door de elektronen afkomstig van de hulpkanonnen.<br />

__________ - IV.17 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

20.4 De 'Samplingoscilloscoop'<br />

Wanneer de frequentie van het te visualiseren signaal stijgt, gaat de snelheid van het schrijven<br />

van de elektronenstraal stijgen. Een hogere schrijfsnelheid betekent dat de intensiteit van het<br />

beeld vermindert.<br />

Een eerste mogelijkheid om de bandbreedte van de oscilloscoop (de maximale frequentie van de<br />

signalen, waarbij nog een duidelijk beeld bekomen wordt) te verhogen is de elektronenstraal te<br />

versnellen. Een hogere elektronensnelheid wordt bekomen door de spanning van de<br />

naversnellingsanodes te verhogen.<br />

Een tweede mogelijkheid is het gebruik van een 'samplingoscilloscoop'. In een 'samplingoscilloscoop'<br />

wordt het ingangssignaal gereconstrueerd uitgaande van monsters (Eng.: samples)<br />

genomen tijdens verschillende periodes van het periodieke signaal.<br />

Ingangssignaal<br />

Reconstructie<br />

Triggerpulsen<br />

oscillator<br />

Ingangssignaal<br />

Tijdbasis Factor<br />

Amplitude<br />

Trapspanninggenerator<br />

'Blocking'-<br />

Zaagtandgenerator<br />

Triggerpulsen<br />

'Sampling'-<br />

poort<br />

Verticale<br />

versterker<br />

Zaagtand + trapvormigsignaal<br />

Spanningsvergelijker<br />

Verticaal signaal<br />

Horizontaal signaal<br />

Versterker<br />

Figuur 4.16: Werkingsprincipe van de 'sampling'- of bemonsteringsoscilloscoop .<br />

Figuur 4.16 toont hoe de golfvorm gereconstrueerd wordt. Op het ogenblik dat een<br />

bemonsterings- puls voorkomt, wordt de spanning van het signaal gemeten. De elektronenbundel<br />

wordt verticaal gepositioneerd overeenkomstig deze spanning. Een volgend monster wordt<br />

genomen tijdens de volgende periode van het signaal in een iets latere positie. De<br />

elektronenstraal wordt horizontaal bewogen over een zeer korte afstand en wordt verticaal<br />

gepositioneerd volgens de nieuwe waarde van de ingangsspanning. De oscilloscoop tekent het<br />

signaal dus punt per punt.<br />

De bemonsteringsfrequentie kan tot één honderdste van de signaalfrequentie bedragen.<br />

Figuur 4.16 toont een vereenvoudigd blokdiagramma van de bemonsteringsschakeling. Bij elke<br />

triggerpuls start de 'blocking' oscillator een lineair stijgende spanning (ramp). De spanningsvergelijker<br />

vergelijkt deze spanning met de uitgang van de trapvormige-spanningsgenerator.<br />

Wanneer de twee spanningen gelijk zijn in amplitude verhoogt de generator zijn spanning met<br />

één stap. Op het zelfde ogenblik wordt een bemonsteringspuls gegenereerd waardoor een<br />

monster van het signaal aangelegd wordt aan de verticale-afbuigeenheid. De horizontale<br />

verplaatsing van de elektronenstraal wordt bepaald door de spanning van de trapgenerator.<br />

__________ - IV.18 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong>: Signaalverwerking en -voorstelling<br />

De oscilloscoop<br />

20.5 Digitale geheugenoscilloscoop<br />

De analoge geheugenoscilloscoop heeft volgende nadelen:<br />

Het beeld kan maar een beperkte tijd bewaard blijven. Zolang het beeld bewaard moet blijven,<br />

moet de voeding van het instrument aan blijven.<br />

De lijn van het beeld is meestal niet zo fijn als bij een normale oscilloscoop.<br />

De snelheid is lager dan bij een normale oscilloscoop. Dit beperkt de mogelijke frequentie<br />

van de signalen.<br />

De kathodestraalbuis van een analoge geheugenoscilloscoop is duurder dan die van een<br />

normale oscilloscoop.<br />

Enkel één beeld kan bewaard worden.<br />

Een superieure methode om een beeld te bewaren is het gebruik van een digitale geheugenoscilloscoop.<br />

Bij deze techniek, wordt het signaal gedigitaliseerd, en bewaard in het digitaal<br />

geheugen. Een voordeel van de digitale geheugenoscilloscoop is de mogelijkheid tot verdere<br />

analyse van het gedigitaliseerd signaal bij uitlezing naar een computer.<br />

Y in<br />

DC<br />

S2<br />

AC<br />

DC<br />

S3<br />

AC<br />

V/cm<br />

V/Div<br />

A/D omzetter<br />

Ext. Trigger Adres generator<br />

+<br />

_<br />

Level 5s/Div 2 µ s/Div<br />

Adres-decodering<br />

Data<br />

Data<br />

Data<br />

RAM<br />

Data<br />

Data<br />

Adres-decodering<br />

Adres generator<br />

D/A omzetter<br />

Vert.<br />

Horz.<br />

D/A<br />

Figuur 4.17: Blokschema van de digitale geheugenoscilloscoop.<br />

Figuur 4.17 geeft een schematische weergave van de digitale geheugenoscilloscoop. In een<br />

digitale oscilloscoop kunnen we twee grote delen onderscheiden. Een eerste deel zorgt voor het<br />

capteren en de conditionering van het signaal. Dit gedeelte komt grotendeels overeen met een<br />

normale oscilloscoop. In plaats van het bekomen signaal naar het scherm te sturen, wordt het met<br />

behulp van een analoog/digitaal omzetter gedigitaliseerd en opgeslagen in het RAM-geheugen.<br />

Het RAM-geheugen is in feite een grote lijst van meetresultaten van de aangelegde en<br />

voorversterkte ingangsspanning. De tijdinformatie - wanneer welke meting werd verricht - wordt<br />

bijgehouden door de plaats van het getal in het RAM-geheugen. De eerste RAM-locatie komt<br />

overeen met de eerste meting na de triggerpuls. De laatste geheugenplaats komt overeen met de<br />

laatste meting. De schakeling die de te meten spanning digitaliseert en het bekomen getal in het<br />

geheugen opslaat wacht in het begin op de eerste triggerpuls. Het aantal metingen per seconde<br />

wordt bepaald door de ingestelde tijdbasis. De digitale geheugenscoop biedt de mogelijkheid om<br />

te triggeren op een eenmalige puls zodat een eenmaal ingelezen signaal niet overschreven wordt.<br />

De triggerschakeling dient dan na elke triggerpuls opnieuw manueel gereset te worden.<br />

Het tweede deel van de oscilloscoop heeft geen instelmogelijkheden en doet niets anders dan het<br />

in het geheugen opgeslagen beeld naar het scherm te sturen. Dit gebeurt vele tientallen keren per<br />

seconde. De waarde opgeslagen in de eerste geheugenlocatie komt links op het scherm, de<br />

waarde in de laatste geheugenlocatie rechts.<br />

__________ - IV.19 -<br />

Johan Baeten


Bibliografie<br />

1. Handboek Procesautomatisering, Ten Haagen Stam uitgevers, Kluwer (Deel 2:<br />

Instrumentatie)<br />

2. Sensoren, prof. dr. ir. P.P.L. Regtien, Werktuigb. o&C, Juni 1995<br />

3. Ultrasone Sensoren, Factory Automation, Pepperl+Fuchs<br />

4. Temperatuurmetingen, Endress+Hauser<br />

5. Inform (Magazine), Meten en regelen, Endress+Hauser<br />

6. Instruments Express, Endress+Hauser<br />

7. Express (Magazine), ISI sa-nv<br />

8. Inflow (Magazine), Yokogawa<br />

9. Instrumentation Newsletter, National Instruments<br />

__________ - B.1 -<br />

Johan Baeten


Appendix A: SI-Eenheden<br />

Grondeenheden<br />

Afgeleide eenheden<br />

Oppervlakte<br />

m²<br />

Lengte<br />

Meter<br />

m<br />

m³<br />

Volume<br />

[N/m²]<br />

Pa<br />

Pascal<br />

Druk<br />

[Nm]<br />

J<br />

Joule<br />

Energie<br />

Massa<br />

Tijd<br />

Elektrische<br />

stroom<br />

Temperatuur<br />

Hoeveelheid<br />

stof<br />

Lichtsterkte<br />

Vlakke hoek<br />

Ruimtehoek<br />

Kilogram<br />

kg<br />

Seconde<br />

s<br />

Ampère<br />

A<br />

Kelvin<br />

K<br />

Mol<br />

mol<br />

Candela<br />

cd<br />

Radiaal<br />

rad<br />

Steradiaal<br />

sr<br />

[A.s]<br />

m/s<br />

Snelheid<br />

[1/s]<br />

C<br />

Hz<br />

[Wb/A]<br />

Inductantie<br />

Coulomb<br />

Lading<br />

[cd.sr]<br />

m/s²<br />

Herz<br />

Frequentie<br />

Henry<br />

[C/V]<br />

[V/A]<br />

Lumen<br />

Versnelling<br />

Lichtstroom<br />

N<br />

Farad<br />

Capaciteit<br />

Ohm<br />

[V.s]<br />

Weerstand<br />

[J/s]<br />

W<br />

Verlichtingssterkte<br />

Watt<br />

[Wb/m²] Tesla<br />

H Wb T<br />

[1/Ω]<br />

Newton<br />

F<br />

Ω<br />

S<br />

Siemens<br />

[kg.m/s²]<br />

Kracht<br />

Geleiding<br />

[lm/m²]<br />

Weber<br />

lm lx<br />

Magn.flux<br />

Volt<br />

Lux<br />

V<br />

Vermogen<br />

Magnetische<br />

fluxdichtheid<br />

[W/A]<br />

Elektrische<br />

spanning<br />

naar Hans J. Wilton & Albert J. Wettler<br />

__________ - A.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Formularium<br />

Formularium<br />

Weerstand:<br />

R = ρl<br />

6(l − x)<br />

, ε T =−ν.ε L Balk: ε= , Pilaar: , Torsie:<br />

A<br />

wt 2 E F ε L =− F<br />

AE<br />

Capaciteit:<br />

C = ε 0ε r A ,<br />

d<br />

C cilinder = 2πε rε 0<br />

ln b a<br />

Elektromagnetisch - inductantie:<br />

V H = E H w = wvB , V H = k.i.B<br />

ε= T<br />

πSa 3<br />

Φ= m.m.f.<br />

R<br />

, m.m.f = ni, N = nΦ, L = N , R=<br />

l<br />

,<br />

i µ 0 µ r A<br />

L =<br />

n 2<br />

R 0 + kd<br />

U =− dN<br />

dt = b.m.ω.sin(mωt) , U = Blv<br />

Transformatorisch:<br />

U 1 = kU r sin ωt cos α,<br />

U ref<br />

= U r<br />

= A sin ωt<br />

U S2<br />

- U S1<br />

= A.K sinωt.cos(α - 270°) U s1-3<br />

= K.A sinωt. cosα<br />

U S3<br />

- U S2<br />

= A.K sinωt.cos(α -150°)<br />

U s4-2<br />

= K.A sinωt. sinα<br />

U S1<br />

- U S3<br />

= A.K sinωt.cos(α - 30°)<br />

KV sin (ωt) cos (2πx/2p) V sin(ωt) sin(N θ)<br />

KV sin (ωt) sin (2πx/2p) V sin(ωt) cos(N θ)<br />

Opto-elektrisch:<br />

B = ∫ ∞ S(λ)dλ, I λ<br />

= A s<br />

S(λ),<br />

I e = ∫ ∞ A s S(λ)dλ =A s B<br />

hf = E 2<br />

-E 1<br />

, log 10<br />

R = a − b log 10<br />

P D ,<br />

n 1 sin θ 1 = n 2 sin θ 2 , n 1 sin θ C = n 2 , sinθ 0 ≤ n 1<br />

n 0<br />

i f = K D P D<br />

1 − ⎛ 2<br />

n 2 ⎞<br />

⎝ n 1 ⎠<br />

b k<br />

= g k<br />

⊕ b k+1<br />

(met k = 0, 1, 2 ... n-1) en b n<br />

= g n<br />

⊕ 0 of b k<br />

⊕ b k+1<br />

= g k<br />

i b − i a<br />

i b + i a<br />

= 2 D x<br />

,<br />

x = a y.tgα+f<br />

f.tgα−y<br />

Piëzo-elektrisch:<br />

x = 1 , , x = S.V ,<br />

k F q = Kx = K k F = SF X(p)<br />

F(p) = 1/k<br />

1<br />

p 2 + 2ζ<br />

ωn 2 ω n<br />

p + 1<br />

V L (p)<br />

F(p) = V L i N X<br />

i N X F = S τp 1<br />

(C N + C k ) (1 +τp) ⎛<br />

⎝ 1 p 2 + 2ζ<br />

ωn 2 ω n<br />

p + 1 ⎞ ⎠<br />

S qa = ∆q , ,<br />

∆a = Sm S qa = ∆q = 9, 81 Sm<br />

∆a S<br />

a L<br />

= a 0<br />

M/(M+m), ω L =ω 0<br />

M<br />

M+m<br />

Va LV<br />

=(−) ∆V<br />

∆a<br />

=(−)9,<br />

81Sm<br />

C F<br />

_________ - F.1 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Formularium<br />

Ultrasoon:<br />

Z E (p)= V(p)<br />

i m (p) = V F<br />

Q =<br />

mk = 1 b 2ζ<br />

•<br />

x<br />

F<br />

•<br />

i m x = 1 ⎛<br />

(Sk) 2 ⎝<br />

mp + b +<br />

p k ⎞ ⎠ ≡ L 1p + R 1 + 1<br />

C 1 p<br />

H(p)=<br />

C 1L 1p 2 + C 1R 1p + 1<br />

CC 1L 1p 3 + CC 1R 1p 2 + (C 1 + C)p ≅ 1 − C 1L 1ω 2 + jC 1R 1ω<br />

−CC 1R 1ω 2 + jω[(C 1 + C) − CC 1L 1ω 2 ]<br />

c = f.λ, c = elasticiteitsmodulus<br />

ρ<br />

, Z A = P u ≅ cρ , Z 1<br />

-Z 2<br />

/ Z 1<br />

+ Z 2<br />

T t = 2l<br />

c , f = f 0<br />

(1 - kt),<br />

l = c∆t<br />

2 = c∆ f<br />

2kf 0<br />

f = f c + c<br />

v , f = f c − v totale afstand<br />

c , λ = =λ c − v ,<br />

aantal cycli c<br />

2f cos θ<br />

∆f ≅<br />

c ,<br />

λ =λ c + v<br />

c<br />

v V som = V sin 2πf t + V sin 2πft= 2V cos 2π( f − f ) t sin 2π( f<br />

2<br />

+ f ) t<br />

2<br />

Positie:<br />

k a = ingangsversnelling<br />

fout op uitgangshoek [t−2 ]<br />

φ 1<br />

~ U 1<br />

= U 0<br />

cosα en φ 2<br />

~ U 2<br />

= U 0<br />

sinα : U r<br />

= U r0<br />

sin(δ - α)<br />

Druk:<br />

P = F/S, 1 bar = 100.000 Pa [= N/m²] of 10 N/cm². 1 atm = 9,87.E-6 Pa = 760 Torr [mmKK]<br />

Temperatuur:<br />

T C<br />

= 5/9 . (T F<br />

- 32) en 0 Kelvin = -273,16 °C<br />

R(T)=R 0 (1 +αT +βT 2 + .. . ) , σ = (n.µ n<br />

+ p.µ p<br />

)q, n 2 i = A 0 T 3 e −Ego/kT<br />

R = R 0 e β(1/T−1/T 0)<br />

I = I r<br />

⎛<br />

⎝ e qV<br />

kT − 1 ⎞ ⎠<br />

, V =( kT q )ln( I )<br />

I r<br />

k = 8,62.10 -5 eV/K , q = 1,602.10 -19 C,<br />

1 eV = 1,602.10 -19 J<br />

∆V =α s ∆T , E = C 1 (T 1 − T 2 )+C 2 (T 2 1 − T 2 2 )<br />

Debiet:<br />

m = ρV, Q m =ρQ ,<br />

PV<br />

V = nR = cte, T υ=η ρ<br />

, Re = vD υ = vDρ<br />

η<br />

p + 1 , , ,<br />

2 ρv2 +ρgh = cte Q = A 2 k ∆p k =<br />

2<br />

ρ ⎛ ⎝ 1 − A 2<br />

/A<br />

2⎞<br />

1⎠ Q = CA 2 k ∆p<br />

f = S. v 1<br />

d<br />

,<br />

→<br />

F c = 2m ⎛ → →<br />

⎝ ω× v ⎞<br />

⎠<br />

_________ - F.2 -<br />

Johan Baeten


<strong>Meetsystemen</strong><br />

Formularium<br />

Overige:<br />

sin (x + y) = sin x cos y + cos x sin y<br />

cos(x + y) =cos x cos y − sin x sin y<br />

tan x + tan y<br />

tan (x + y) =<br />

1 − tan x tan y<br />

en<br />

sin x + sin y<br />

sin x − sin y<br />

= 2sin x+y x−y<br />

cos<br />

2 2<br />

= 2cos x+y<br />

2<br />

cos x + cos y = 2cos x+y<br />

2<br />

cos x − cos y =−2sin x+y<br />

2<br />

sin<br />

x−y<br />

2<br />

cos<br />

x−y<br />

2<br />

sin<br />

x−y<br />

2<br />

1<br />

, indien x

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!