utilrap2008. - Aandrijvenenbesturen.nl

54
STW-projecten 1997 / Utilisatierapport STW 2008
T / universiteit twente
STRUCTURAL FAULT-MODEL
BASED TEST GENERATION FOR
MIXED-SIGNAL INTEGRATED
CIRCUITS
03750
ABA
projectleider Dr.ir. H.G. Kerkhoff totale toewijzing in euro
215.793,83
RELIABILITY OF DISPLAY DEVICES
03932
BBA
projectleider Prof.dr.ir. A.J. Mouthaan totale toewijzing in
euro 490.212,42 inkomsten in euro 27.226,81
doelstelling Het ontwikkelen van alternatieve
(structurele in plaats van de gebruikelijke functionele)
testmethodes voor chips met zowel digitale als
analoge schakelingen, om een redelijke time-tomarket
bij goede kwaliteit van steeds complexere
IC’s mogelijk te maken.
resultaat na 5 jaar
Om snel procesfouten in (embedded)
analoge schakelingen in complexe chips te kunnen
detecteren, is een algoritme ontwikkeld, waarmee
automatisch testsignalen te genereren zijn die na
productie fouten in een chip kunnen opsporen op
basis van de structuur (lay-out) van de schakelingen
en fouten in het proces (een zogenaamde ‘fault model
based test algortihm). Dit tool wordt vooralsnog
uitsluitend binnen de UT gebruikt, onder andere als
basis voor een nieuwe STW-aanvraag.
resultaat na 10 jaar
Er zijn geen verdere gegevens
bekend.
doelstelling Doel van het project was lange en korte
termijn betrouwbaarheid van flat panel displays te
onderzoeken en in het bijzonder de gevoeligheid
voor accidentele elektrische ontladingen (ESD).
resultaat na 5 jaar
Het project heeft een model
opgeleverd voor lange termijn stabiliteit van de
gebruikte technologie en een testprocedure en
mogelijke beschermingsmaatregelen voor/tegen ESD.
resultaat na 10 jaar
Er zijn geen verdere gegevens
bekend.
gebruiker(s)
Maser Engineering BV, Enschede /
Philips Flat Panel Display, Eindhoven / Philips LCD
Cells and Modules, Heerlen / Philips Research,
Redhill (Groot Brittannië) / Technische Universiteit
Delft / Universiteit Utrecht
gebruiker(s)
Maser Engineering BV, Enschede / NXP
Semiconductors, Nijmegen / Philips Nederland BV,
Eindhoven