20.01.2015 Views

utilrap2008. - Aandrijvenenbesturen.nl

utilrap2008. - Aandrijvenenbesturen.nl

utilrap2008. - Aandrijvenenbesturen.nl

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

32<br />

STW-projecten 1997 / Utilisatierapport STW 2008<br />

SILICON DRIFT SENSORS<br />

RELIABILITY OF MICROMECHANICAL<br />

STRUCTURES; TECHNOLOGY,<br />

DESIGN AND 1ST LEVEL PACKAGING<br />

IDENTIFICATION AND PREDICTIVE<br />

CONTROL OF NON-LINEAR SYSTEMS<br />

IN THE PROCESS INDUSTRY<br />

03736<br />

BBA<br />

03780<br />

ABA<br />

03891<br />

BAA<br />

projectleider Prof.dr.ir. C.W.E. van Eijk totale toewijzing in<br />

projectleider Dr.ir. A. Bossche<br />

totale toewijzing in euro<br />

projectleider Prof.dr.ir. M.H.G. Verhaegen<br />

totale toewij-<br />

euro 412.715,00 contracten Bijdrage: Bruker<br />

Nonius BV; Philips Analytical BV inkomsten in euro<br />

77.142,63<br />

433.551,33<br />

zing in euro 436.539,33<br />

doelstelling Ontwikkeling van Silicon drift-sensoren<br />

(SDD) voor de detectie van laag-energetische<br />

Röntgen-straling, geladen deeltjes en licht. Deze<br />

sensoren geven zeer nauwkeurige positie-informatie<br />

(1D of 2D) uit de tijdspanne die elektronen, vrijgemaakt<br />

op de plaats van interactie met de straling,<br />

nodig hebben om naar de collector-elektrode te<br />

driften. De zeer lage capaciteit van de sensor<br />

levert een extreem goede signaal/ruis verhouding.<br />

Toepassingen zijn bijvoorbeeld röntgendiffractie voor<br />

materiaal-analyses, medische diagnostiek en in de<br />

hoge-energie fysica. Gebruikers zijn producenten van<br />

allerlei apparatuur voor element- en structuur-analyse.<br />

resultaat na 5 jaar<br />

Het productieproces voor de SDD<br />

is geoptimaliseerd en uitgebreid met een integratiestap<br />

voor de versterker. De ruisbronnen zijn<br />

gekarakteriseerd. De energieresolutie is echter<br />

nog beperkt, hoewel de oorzaken inmiddels zijn<br />

geïdentificeerd. Het onderzoek naar verbetering van<br />

de resolutie loopt nog, thans in samenwerking met<br />

een Fins bedrijf.<br />

resultaat na 10 jaar<br />

Er zijn geen verdere gegevens bekend.<br />

gebruiker(s)<br />

Bruker AXS BV, Delft / PANalytical BV,<br />

Almelo / Philips Research Europe - Eindhoven /<br />

Rijksuniversiteit Groningen / Technische Universiteit<br />

Delft<br />

doelstelling De afgelopen jaren heeft de ontwikkeling<br />

van MEMS (microelectromechanical systems) een<br />

stormachtig verloop gekend. Over hun betrouwbaarheid<br />

is echter nog weinig bekend. Dit onderzoek is<br />

gericht op: (1) Het bestuderen van de betrouwbaarheid<br />

van druksensoren, versnellingssensoren en resonatoren.<br />

(2) Onderzoek naar packaging technieken.<br />

resultaat na 5 jaar<br />

De lange-termijnstabiliteit van<br />

resonatoren is bestudeerd. De resultaten wijzen er<br />

op dat depositie van een dunne oxidelaag op de<br />

siliciumnitridebalkjes de door oxidatie veroorzaakte<br />

verstijving tegengaat. Een sensor is ontwikkeld die<br />

kleine stofdeeltjes in lucht kan meten. Verder is een<br />

nieuwe etsmethode ontwikkeld voor de fabrikage van<br />

micromechanische structuren en sensoren. Groot<br />

voordeel van deze methode is het gebruik van slechts<br />

één etsstap, zonder gebruik te maken van een hoge<br />

dotering, externe elektroden en speciale etshouders.<br />

resultaat na 10 jaar<br />

Een andere uitkomst van het<br />

project was dat bij micro-mechanische structuren<br />

(dunner dan 1 micrometer) oppervlakteeffecten zoals<br />

adsorptie/de-adsorptie een grote invloed hebben op<br />

de stabiliteit en dus de betrouwbaarheid van deze<br />

structuren. Dit heeft geleid tot een vervolgonderzoek<br />

in het MicroNed project: Integrity of Microelectromechanical<br />

Systems, waarin nauwkerig gekeken gaat<br />

worden naar de fysiche processen die zich aan het<br />

oppervlak afspelen. Dit project loopt nog tot 2011.<br />

gebruiker(s)<br />

Gefran Sensori, Provaglio (Italië) / Melexis<br />

R&D Center, Tessenderlo (België) / Philips Research<br />

Europe, Eindhoven / Technische Universiteit Delft /<br />

Universiteit Twente, Enschede / Universiteit Utrecht /<br />

Xensor Integration BV, Delfgauw<br />

doelstelling In het project zijn methoden ontwikkeld<br />

om de procesindustrie in staat te stellen de huidige<br />

in gebruik zijnde Model Predictive Controller (MPC)<br />

schema’s uit te breiden voor belangrijke categorieën<br />

van niet-lineaire systemen. Deze systemen bevatten<br />

processen, die zelfs voor een beperkt bereik een<br />

niet-lineair gedrag vertonen alsook systemen die<br />

door een beter economisch gebruik niet-lineaire,<br />

dynamische transities ondergaan. Voorbeelden zijn<br />

hoge zuiverheid distillatiekolommen en bioreactoren.<br />

resultaat na 5 jaar<br />

Concrete initiatieven werden tijdens<br />

het project genomen om de relevantie te demonstreren<br />

in een industriële procesindustrie-context. Een<br />

van de genomen initiatieven werd uitgevoerd in<br />

samenwerking met Ipcos en betrof de schatting<br />

van de economische voordelen, die de ontwikkelde<br />

methoden konden hebben voor een hoge zuiverheid<br />

distillatiekolom. De onderzoeksresultaten hebben<br />

niet direct tot producten geleid. Echter ze hebben<br />

wel een stimulans gevormd om de Nederlandse<br />

MPC technologieontwerpers te helpen de richting<br />

te bepalen waarin productvernieuwingen ontwikkeld<br />

zullen worden.<br />

resultaat na 10 jaar<br />

Er is geen verdere informatie<br />

beschikbaar.<br />

gebruiker(s)<br />

DSM Engineering Plastics BV, Geleen /<br />

Esso Nederland BV, Botlek / IPCOS Technology BV,<br />

Boxtel / Tai-Ji Control, Eindhoven / Technische<br />

Universiteit Delft / TNO, Delft / Unilever R & D,<br />

Vlaardingen / Universiteit Twente, Enschede

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!