ABC van de topsector HTS&M - Berenschot
ABC van de topsector HTS&M - Berenschot
ABC van de topsector HTS&M - Berenschot
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
38<br />
hoe <strong>de</strong> keten eruit ziet. Vervolgens richt men zich dieper op<br />
het proces, waarbij tools zoals Value Stream Mapping kunnen<br />
wor<strong>de</strong>n gebruikt.<br />
S I P O C<br />
Suppliers<br />
The provi<strong>de</strong>r<br />
of inputs to<br />
your process<br />
Inputs<br />
Materials,<br />
resources<br />
or data<br />
required to<br />
execute your<br />
process<br />
Start End<br />
5-7 major steps<br />
Bron: http://mentorsonline.wordpress.com<br />
figuur 16 SIPOC<br />
Proces<br />
A structured set<br />
of activities that<br />
transform a set of<br />
inputs into specified<br />
outputs, providing<br />
value to customers<br />
and stakehol<strong>de</strong>rs<br />
Outputs<br />
The products<br />
or services<br />
that result<br />
from the<br />
process<br />
Customers<br />
The<br />
recipient of<br />
the process<br />
output<br />
SMed (Single Minute exchange of dies)<br />
De SMED-metho<strong>de</strong> of snelwisselsystematiek betreft het zo<br />
efficiënt mogelijk snel omstellen <strong>van</strong> kleuren, mallen en of<br />
matrijzen. Bij grote productievariatie is dit essentieel. Vaak<br />
is 80% <strong>van</strong> <strong>de</strong> tijd te winnen door een goed logistiek snelwisselconcept<br />
voordat men aan allerlei geautomatiseer<strong>de</strong><br />
systemen gaat <strong>de</strong>nken.<br />
SpC (Statistical process Control)<br />
SPC is <strong>de</strong> toepassing <strong>van</strong> statistische technieken bij het<br />
volgen en controleren <strong>van</strong> een proces, bedoeld om ervoor<br />
te zorgen dat er zo efficiënt mogelijk een zo goed mogelijk<br />
product gemaakt wordt.<br />
SPC geeft een richtwaar<strong>de</strong> (target) of doel, een bovengrens<br />
(UCL, upper control limit), een on<strong>de</strong>rgrens (LCL, lower<br />
control limit) en een ver<strong>de</strong>ling <strong>van</strong> het gebied tussen UCL<br />
en LCL in zes even grote gebie<strong>de</strong>n. Die zes gebie<strong>de</strong>n zijn<br />
gebaseerd op <strong>de</strong> standaard<strong>de</strong>viatie: bij een normale ver<strong>de</strong>ling<br />
en een beheerst proces <strong>van</strong> six sigmaniveau, zal 99,99966%<br />
<strong>van</strong> alle testwaar<strong>de</strong>n binnen <strong>de</strong>ze grenzen vallen. De grenzen<br />
zijn in principe gebaseerd op <strong>de</strong> standaard<strong>de</strong>viatie, maar<br />
er kunnen meer<strong>de</strong>re re<strong>de</strong>nen zijn om met vaste grenswaar<strong>de</strong>n<br />
te werken (zoals klantenspecificaties).