Merovingers in een villa - Rijksdienst voor het Cultureel Erfgoed
Merovingers in een villa - Rijksdienst voor het Cultureel Erfgoed
Merovingers in een villa - Rijksdienst voor het Cultureel Erfgoed
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
gemaakt van röntgenfl uorescentiemetrie (XRF) (zie paragraaf 4.3),<br />
fotogrammetrie en 3D-scann<strong>in</strong>g.<br />
Fotogrammetrie<br />
Fotogrammetrische beeldopname houdt <strong>in</strong> dat fotografi sche opnamen<br />
worden gemaakt, waar de perspectivische verteken<strong>in</strong>g wordt<br />
gecorrigeerd door soft warematige bewerk<strong>in</strong>g. In de archeologische<br />
praktijk worden foto’s van <strong>een</strong> object gemaakt (<strong>in</strong> dit geval de graven).<br />
Deze objecten worden <strong>voor</strong>zien van meetpunten. De opname<br />
wordt soft warematig bewerkt door de meetpunten <strong>in</strong> <strong>een</strong> coörd<strong>in</strong>atenstelsel<br />
te plaatsen. Op deze wijze wordt de opname onthoekt<br />
(ontschrankt). Het resultaat is <strong>een</strong> opname die de werkelijke ligg<strong>in</strong>g<br />
van <strong>het</strong> object benaderd weergeeft .<br />
Het <strong>voor</strong>deel is dat <strong>een</strong> opname veel meer detail opslaat dan <strong>een</strong><br />
‘objectieve’ veldteken<strong>in</strong>g. Details die <strong>in</strong> <strong>het</strong> veld over <strong>het</strong> hoofd<br />
worden gezien, kunnen met behulp van deze techniek wel vastgelegd<br />
worden. Voorwaarde is dat de opnames goed kunnen worden<br />
onthoekt zonder dat <strong>het</strong> beeld te veel wordt vervormd en dat de<br />
opnames <strong>een</strong> hoge resolutie hebben.<br />
De manier van opgraven (niet veel tegelijkertijd open, <strong>in</strong> segmenten<br />
opgraven, gericht op <strong>het</strong> <strong>voor</strong>komen van degradatie tijdens<br />
<strong>het</strong> veldwerk), maakt dat deze techniek we<strong>in</strong>ig heeft opgeleverd.<br />
Er was simpelweg niet één moment waarop alle details van <strong>het</strong><br />
(onderste vlak van <strong>het</strong>) graf goed zichtbaar waren.<br />
3D –scann<strong>in</strong>g en model<strong>in</strong>g<br />
Een andere manier van vast leggen is <strong>het</strong> scannen van de objecten<br />
door middel van <strong>een</strong> laser scanner. Deze techniek is experimenteel<br />
toegepast tijdens de campagnes. De laserscanner meet de objecten<br />
met <strong>een</strong> hoge resolutie. Elke punt op <strong>het</strong> object wordt door de<br />
scanner gemeten en van drie coörd<strong>in</strong>aten <strong>voor</strong>zien. Het resultaat<br />
is <strong>een</strong> puntenwolk waar, bij genoeg met<strong>in</strong>gen, de objecten <strong>in</strong> hoog<br />
reliëf zichtbaar zijn. Hoe meer met<strong>in</strong>gen per mm 2 hoe gedetailleerder<br />
<strong>het</strong> beeld. Het grote <strong>voor</strong>deel is dat de ligg<strong>in</strong>g van de objec-<br />
Afb . 5 Manipuleerbaar 3D beeld van enkele <strong>voor</strong>werpen.<br />
ten <strong>in</strong> <strong>het</strong> veld later van alle kanten opnieuw bekeken kan worden<br />
op <strong>een</strong> computer. Hierdoor is <strong>het</strong> mogelijk om de situatie <strong>in</strong> <strong>het</strong><br />
veld terug te halen. Vooralsnog is er wel <strong>een</strong> grote databewerk<strong>in</strong>g<br />
nodig om uit de puntenwolk verschillende vondsten apart te onderscheiden<br />
van de achtergrond. Gezien de <strong>in</strong>tensieve manier van<br />
opgraven <strong>in</strong> Borgharen leverde 3D scann<strong>in</strong>g, behalve mooie beelden,<br />
we<strong>in</strong>ig meerwaarde <strong>voor</strong> <strong>het</strong> onderzoek (afb . 4 en 5).<br />
4.3 Röntgenfl uorescentiespectrometrie<br />
(XRF)<br />
B.J.H. van Os<br />
Zowel tijdens <strong>het</strong> onderzoek <strong>in</strong> <strong>het</strong> veld als naderhand <strong>in</strong> <strong>het</strong> laboratorium<br />
is veelvuldig gebruikgemaakt van röntgenfl uorescentiespectrometrie<br />
(XRF; x-ray fl uorescence) om de samenstell<strong>in</strong>g van<br />
materialen vast te stellen. Het is g<strong>een</strong> nieuwe techniek, maar er is<br />
nu <strong>een</strong> draagbare uitvoer<strong>in</strong>g van <strong>het</strong> XRF-apparaat (hand held) waardoor<br />
materialen <strong>in</strong> <strong>het</strong> veld kunnen worden geanalyseerd. Op basis<br />
van de resultaten kan direct <strong>een</strong> keuze gemaakt worden hoe om<br />
te gaan met de betreff ende vondst. Ook kunnen chemische elementen<br />
<strong>in</strong> de bodem gemeten worden, van belang <strong>voor</strong> <strong>het</strong> onderzoek<br />
naar chemische processen die van <strong>in</strong>vloed kunnen zijn op de<br />
degradatie van de v<strong>in</strong>dplaats.<br />
Röntgenfl uorescentiespectrometrie is <strong>een</strong> techniek waarbij<br />
gebruik wordt gemaakt van röntgenstral<strong>in</strong>g. Röntgenstral<strong>in</strong>g is<br />
licht met <strong>een</strong> hoge, niet zichtbare frequentie die veel energie bevat.<br />
Bij röntgenfl uorescentiespectrometrie wordt <strong>het</strong> te onderzoeken<br />
monster met röntgenstral<strong>in</strong>g bestraald waardoor elektronen uit<br />
<strong>een</strong> van de b<strong>in</strong>nenste schillen (K of L schil) van <strong>een</strong> atoom vrijkomen.<br />
De vacatures die hierdoor ontstaan worden onmiddellijk<br />
opgevuld door elektronen uit <strong>een</strong> van de buitenste schillen. Hierbij<br />
komt <strong>een</strong> lichtdeeltje vrij dat karakteristiek is <strong>voor</strong> deze opvull<strong>in</strong>g<br />
en <strong>voor</strong> <strong>het</strong> betrokken element. De <strong>in</strong>tensiteit van de röntgenstral<strong>in</strong>g<br />
is bovendien evenredig met de concentratie van <strong>het</strong><br />
element. Detectie v<strong>in</strong>dt plaats door de energie van deze karakteristieke<br />
röntgenstral<strong>in</strong>g (ED-XRF) te meten. De <strong>in</strong>tensiteit van de<br />
karakteristieke röntgenstral<strong>in</strong>g is echter ook afh ankelijk van de<br />
matrix (bulksamenstell<strong>in</strong>g) van <strong>het</strong> monster. Daarom is <strong>het</strong> noodzakelijk<br />
<strong>het</strong> apparaat eerst te kalibreren op <strong>het</strong> type te analyseren<br />
materiaal.<br />
De analyses zijn uitgevoerd met <strong>een</strong> Niton XL3t draagbaar röntgenfl<br />
uorescentie-apparaat (hand held XRF) (afb . 6). Deze is <strong>voor</strong>zien<br />
van <strong>een</strong> grote oppervlakte silicium drift detector waardoor <strong>het</strong> apparaat<br />
geschikt is om lichte elementen zoals zwavel en fosfor te<br />
meten. Het heeft lage detectiegrenzen (lager dan 10 mg/kg) zodat<br />
ook de zwaardere elementen gemeten kunnen worden.<br />
Om de gemeten <strong>in</strong>tensiteiten om te rekenen naar gehaltes wordt<br />
<strong>voor</strong> de metalen gebruik gemaakt van de fundamentele parameter<br />
4 METHODEN EN TECHNIEKEN 25