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f) 国際規格,海外規格,団体規格などの著作権その他の権利が存在する著作物の規定内容,図,表など
は,JIS 解説に転載できない。転載せざるを得ない場合は,当該 JIS 解説作成者(団体)が転載許諾を取
得する(事例 12 参照)。ただし,対応国際規格の序文の概要,対応国際規格の経緯などは要約して記載
してもよい(事例 13 参照)。
5.2 事例
〔事例 10〕 JIS Z 2354 の場合(将来 JIS 化に向けて検討している事項)
7 その他の解説事項
減衰係数の測定において,その測定精度に影響を及ぼす因子として測定する表面における伝達損失
が挙げられる。また,多重反射を用いる場合には,探触子が接触する面での反射損失も考慮する必要
がある。これらの影響をなくすためには,非接触で測定することが最も効果的であり,その手法とし
て電磁カップリングにより超音波を送受信する電磁超音波法がある。なかでも電磁超音波共鳴法は理
論的にも確立されており,横波の減衰係数を測定できる利点があるが,上記の箇条 6 のとおり次回ま
での検討事項となった。
このため,将来の JIS 化に向けて,電磁超音波共鳴法による横波の減衰係数の測定方法に関する参
考情報を,次に示す。
a) 電磁超音波共鳴法の適用範囲 電磁超音波センサ(以下,E M A Tという。)によって金属材料に定
在波(超音波共鳴)を発生させ,その共鳴周波数に対応する横波の減衰係数を非接触で測定する方
法について規定する。この方法は,センサと測定の接触が計測に与える影響を受けない利点をもつ
方法である。
b) 使用装置 使用する装置を,次に示す。また,その構成を,解説図 2 に示す。
1) 高出力パルス発生器 E M A Tのコイルに高出力(500~1000Vp-p)の長方形バースト波を印加でき
るパルス発生器を用いる。
2) 広帯域レシーバ 測定片中での多重反射からなる残響信号を受信できる広帯域レシーバを用いる。
3) 周波数分析装置 受信した残響信号の積分強度を振幅スペクトルとして測定できる周波数分析装
置を使用する。
4) コンピュータ 振幅の周波数依存性から共鳴周波数を求め,このときの残響信号の時間減衰を指
数関数近似して減衰係数を求めるためにコンピュータを使用する。
〔事例 1 1〕 JIS C 8105-2-3 の場合(前回の改正時の解説の記載)
6 その他の解説事項
前回の改正時に解説に記載されていた事項で特に重要と思われる事項について,次に記載する。た
だし,箇条番号等は,今回の改正版の番号に対応させている。
a) 一般的試験要求事項[3.2 c) ] 照明柱一体化形照明器具は,特に試験用サンプルの試料の取扱いが難
しいことから,特に防せい(錆)促進試験等に使用する試料の取得部分を緩和した措置として設け
ている。
b) 用語及び定義(3.3) 対応国際規格には定めていないが,我が国でよく用いられている用語の定義
を加えた。3.3.3A,3.3.3B 及び,3.3.3C は,照明柱に対してどのように取り付けられているかを示す
用語である。また,3.3.1,3.3.2 及び 3.3.3 は,対応国際規格にも記載されている用語で,照明器具
をワイヤでつり,照明する方式(カテナリ照明方式と呼ばれることもある｡)のつり下げワイヤについ
ての用語である。 (以下,省略)
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