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) 使用,保管など特別な注意がある場合には,その旨を記載する。
c) 標準試料,標準物質などの作製の配布元がある場合には,規格の注記などで配布元を記載してもよい
(例 3 参照)。
例 3 注記 試験用のかびの菌株は,独立行政法人製品評価技術基盤機構から分譲されたものがよ
い
4.3.6 試験装置及び/又は測定器具
試験装置及び/又は測定器具は,次による。
なお,校正方法を含めてもよい。
a) 装置・測定器具は,要求される精度に応じて,試験装置及び測定器具の名称並びにそれらの仕様(容
量・精度)を指定する(例 1 参照)。
例 1 JIS P 8154-1 紙及び板紙-加速劣化処理方法-第 1 部:乾燥加熱処理(105 ℃)の場合
4 装置
4.1 循環乾燥機 循環乾燥機は,空気置換率 10 回/時間以上で,105 ℃±2 ℃の温度維持がで
き,かつ,試験中に試料が光又は発熱体からの直接放射に暴露しないように設計したものとする。
その構造は,試料を前記の条件で均一に処理できるものが望ましい。試料装入後に循環乾燥機
の設定条件に 15 分以内で戻るものがよい。
注記 空気置換率の定義及び測定方法については,JIS B 7757(強制循環式空気加熱老化試
験機)に記載がある。
4.2 特性試験機器 特性試験機器は,該当する日本工業規格(以下,“JIS”という。)がある場
合はその規格によるものとし,ない場合には他の適切な試験方法に規定したものとする。
4.3 デシケータ又は他の前処置装置 デシケータ又は他の前処置装置は,相対湿度 10 %~35 %
を保持できるものとする。
注記 デシケータ内の相対湿度は,JIS B 7920(湿度計-試験方法)を参考にして飽和塩法
(塩の飽和水溶液)に従って設定するとよい。
b) 箇条の構成,番号及び記載の方法は,JIS Z 8301 の 6.3.6.2(試薬・その他の物質・材料)に準じる。
c) 製造業者が一つだけの装置は,規定しないことが望ましい。また,装置は,必要な機能,性能などを
規定する。また,性能規定化を図るため試験装置は,試験に影響しない寸法,構造など規定しないこ
とが望ましい。
d) 入手が容易でない装置は,全ての関係者が試験結果の比較ができるように,装置の仕様を規定する。
商標名を使用する場合には,JIS Z 8301 の 6.6.3(商標名の使用)による。
一般的な計測器は,できる限り既存の JIS(ノギス,マイクロメータ,ダイヤルゲージ,電気計測
器など)を指定する(例 2 参照)。
例 2 a) マイクロメータ JIS B 7502 に規定する外側マイクロメータ又はこれと同等以上の精度を
もつもの。
b) ダイヤルゲージ JIS B 7503 に規定する 0.01 mm 目盛ダイヤルゲージ又はこれと同等以上の
精度をもつもの。
c) ノギス JIS B 7507に規定する最小読取長さ 0.05 mm又はこれと同等以上の精度をもつもの。
e) 計測器及び測定器の校正方法は,JIS の中に規定されている事例は多くない。これは,校正作業は経
験的であり,誤差について定式化されたものが少ないからである。しかし,技術の国際化は,これら
経験的なものを明確に文章化することが要求されていることから,できる限り規定するのがよい(例
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