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Tesi di MASTER in - surfacetreatments.it

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Fig.44.In un processo controllato dallo sta<strong>di</strong>o relativo alla reazione alla superficie, la veloc<strong>it</strong>à <strong>di</strong>deposizione <strong>di</strong>pende dalla temperatura del substrato, al contrario <strong>di</strong> quanto accade nei due casirimanenti .Qualora la temperatura della superficie non sia sufficientemente elevata (fig.4.3. tratto I) non si avràla completa decomposizione delle specie reattive e la veloc<strong>it</strong>à <strong>di</strong> cresc<strong>it</strong>a aumenta <strong>in</strong> manieraesponenziale con la temperatura secondo una legge <strong>di</strong> tipo Arrhenius:⎛ -E A ⎞⎜ ⎟⎠⎝ RTv = A e[4.1.]dove E A è l’energia d’attivazione apparente per la reazione, R è la costante dei gas, T è latemperatura assoluta e A rappresenta il fattore frequenza. In questo regime si possono, qu<strong>in</strong><strong>di</strong>,ottenere film <strong>di</strong> spessore uniforme m<strong>in</strong>imizzando le variazioni <strong>di</strong> temperatura.La figura 4.3., <strong>di</strong> segu<strong>it</strong>o riportata, illustra la <strong>di</strong>pendenza della veloc<strong>it</strong>à <strong>di</strong> deposizione dallatemperatura del substrato.

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