NSC95-EPA-Z-007-001
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4-4 光 觸 媒 之 物 化 特 性 分 析<br />
本 研 究 利 用 : 掃 描 式 電 子 顯 微 鏡 (SEM/EDX)、 感 應 耦 合 電 漿 光 譜 儀 (ICP-AES)、<br />
X 射 線 光 電 子 能 譜 儀 (XPS)… 等 儀 器 , 分 析 光 觸 媒 材 料 中 之 元 素 組 成 、 結 構 、 外 貌 以 及<br />
粒 徑 的 大 小 等 , 以 建 立 其 物 理 、 化 學 性 質 及 成 份 資 料 。 下 表 為 相 關 儀 器 及 其 功 能 整 理 。<br />
表 5 本 研 究 鑑 定 光 觸 媒 材 料 物 化 性 質 所 使 用 之 儀 器 及 其 功 能 整 理<br />
儀 器 型 號 樣 品 性 質 需 求 鑑 定 功 能<br />
ICP JY-38S, Jobinyvon 溶 液 Ti 含 量<br />
BET<br />
Quantachrome<br />
Sample: 粉 末 、 塊 狀 1~2g 比 表 面 積<br />
NOVA 2000<br />
SEM Hitachi 4800<br />
Sample:0.5( 長 )*0.5( 寬 ) cm<br />
表 面 型 態<br />
或 0.5-1g 粉 末<br />
EDX<br />
OXFORD Sample: 0.5( 長 )*0.5( 寬 ) cm<br />
元 素 定 性 分 析<br />
EXLII-QI<br />
或 0.5-1g 粉 末<br />
TEM JEOL JEM-2010<br />
Sample:0.5( 長 )*0.5( 寬 ) cm<br />
結 構 粒 徑 分 佈<br />
或 0.5-1g 粉 末<br />
XRD<br />
Scintag INC. USA Sample:~1 g 粉 末 TiO 2 、BaF 2<br />
XDS-2000<br />
或 2 cm* 2cm<br />
粉 末 晶 型<br />
UV-Vis Shimadzu UV-200<br />
Sample:2-3 mL<br />
催 化 性 能<br />
掃 瞄 範 圍 190-800 nm<br />
4-5 CO 2 還 原 反 應 的 進 行 與 結 果 分 析<br />
將 合 成 的 光 觸 媒 加 入 水 樣 中 , 在 定 溫 下 通 入 CO 2 攪 拌 30 分 鐘 , 等 待 吸 附 作 用 完 成 並<br />
達 到 飽 和 濃 度 。 以 UV 光 源 或 游 離 輻 射 ( 射 源 為 鈷 六 十 , 其 放 射 活 度 為 111.5μCi), 開 始 進<br />
行 CO 2 的 還 原 反 應 , 實 驗 示 意 如 圖 5 所 示 , 裝 置 設 計 如 圖 6 所 示 。 於 固 定 時 間 點 取 樣 以<br />
分 析 產 物 的 種 類 與 濃 度 , 以 比 色 法 (Douglas et al. 1970) 鑑 定 產 物 的 濃 度 分 布 。<br />
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