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SOLUZIONE Esercitazione 1 La soluzione è scritto normale ... - DipCIA

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Università degli Studi di Cagliari - Facoltà di Ingegneria - Corso di <strong>La</strong>urea in Ingegneria Civile - AA 2011 / 2012<br />

Tecnologia dei Materiali e Chimica Applicata – <strong>Esercitazione</strong> II<br />

Prof. Dr. Bernhard Elsener<br />

<strong>SOLUZIONE</strong> <strong>Esercitazione</strong> 1<br />

<strong>La</strong> <strong>soluzione</strong> è <strong>scritto</strong> <strong>normale</strong>, ulteriori spiegazioni (non necessarie per rispondere<br />

alle domande) in corsivo.<br />

ESERCIZIO 1<br />

<strong>La</strong> struttura CCC è così rappresentata:<br />

Figure 1 Struttura metallica CCC <br />

Come si vede chiaramente dalla fig.1<br />

questa è costituita da un atomo centrale<br />

(corpo centrato) circondato da altri 8 atomi.<br />

Nella cella elementare, lungo le diagonali<br />

del cubo, gli atomi sono tra di loro in<br />

contatto come si evince chiaramente dalla<br />

fig. 2.<br />

Chiaramente la diagonale, in funzione della<br />

costante reticolare a, è anche data dalla<br />

relazione:<br />

Detto ciò, il valore richiesto sarà: <br />

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Prof. Dr. Bernhard Elsener<br />

ESERCIZIO 2<br />

Figure 2 Cella elementare <br />

1 Quali sono i piani compatti (a) della struttura CFC e (b) della struttura EC <br />

Piani compatti: CFC {111}, EC (0001)<br />

2 Quali sono le direzioni compatte (a) della struttura CFC e (b) della struttura EC <br />

Direzioni compatti: CFC [011], [110], [101], EC [1000], [0100], [0010]<br />

3 Quanti sistemi di scorrimento sono presenti nella struttura CFC e EC <br />

I sistemi di scorrimento sono definiti da una linea compatta (direzione) in un piano<br />

compatto. Come visto nella risposta 2, ogni piano compatto contiene tre linee<br />

compatte. Il reticolo EC ha solamente un piano compatto mentre il reticolo CFC ha<br />

quattro piani compatti (famiglia {111}) che stanno perpendicolo sulle diagonale di<br />

corpo.<br />

EC: 3 sistemi di scorrimento, CFC 12 sistemi di scorrimento. <br />

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ESERCIZIO 3<br />

I fattori che determinano il grado relativo di solubilità sono nell' ordine della loro importanza:<br />

- differenza del raggio atomico (solubilità per ± 15 %);<br />

- reticolo cristallografico identico;<br />

- differenza in elettronegatività;<br />

- differenza nella valenza.<br />

Molto semplicemente, il calcolo della differenza del raggio atomico, si esegue con la formula:<br />

I risultati sono riassunti in tabella.<br />

Sistema<br />

Differenza di<br />

Differenza di<br />

Grado previsto<br />

Massima solbilità<br />

r atomico<br />

elettroneg.<br />

di solubilità<br />

osservata<br />

Cu – Zn + 3.9 % 0.1 Alta 38.3<br />

Cu – Pb + 36.7 % 0.2 Molto bassa 0.1<br />

Cu – Si - 8.6 % 0 bassa 11.2<br />

Cu – Ni - 2.3 % 0 media 100<br />

Cu – Al + 11.7 % 0.3 media 19.6<br />

Cu – Be - 10.9 % 0.3 media 16.4<br />

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ESERCIZIO 4<br />

Lo sforzo richiesto è calcolabile con la formula:<br />

t=σcosλcosf<br />

Dove l’angolo λ rappresenta l’angolo tra la<br />

direzione di σ e la direzione [0-11], mentre l’angolo<br />

f è quello formato tra σ e la <strong>normale</strong> al piano (111).<br />

λ = 45°<br />

f =54,74° (cos f =<br />

) <br />

t = 5,6 MPa<br />

ESERCIZIO 5<br />

Questo fatto si spiega con l’aumento esponenziale del numero di vacanze con la<br />

temperatura.<br />

Infatti l’equazione di Arrhenius mette in relazione in numero di vacanze con la temperatura:<br />

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