SOLUZIONE Esercitazione 1 La soluzione è scritto normale ... - DipCIA
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Università degli Studi di Cagliari - Facoltà di Ingegneria - Corso di <strong>La</strong>urea in Ingegneria Civile - AA 2011 / 2012<br />
Tecnologia dei Materiali e Chimica Applicata – <strong>Esercitazione</strong> II<br />
Prof. Dr. Bernhard Elsener<br />
<strong>SOLUZIONE</strong> <strong>Esercitazione</strong> 1<br />
<strong>La</strong> <strong>soluzione</strong> è <strong>scritto</strong> <strong>normale</strong>, ulteriori spiegazioni (non necessarie per rispondere<br />
alle domande) in corsivo.<br />
ESERCIZIO 1<br />
<strong>La</strong> struttura CCC è così rappresentata:<br />
Figure 1 Struttura metallica CCC <br />
Come si vede chiaramente dalla fig.1<br />
questa è costituita da un atomo centrale<br />
(corpo centrato) circondato da altri 8 atomi.<br />
Nella cella elementare, lungo le diagonali<br />
del cubo, gli atomi sono tra di loro in<br />
contatto come si evince chiaramente dalla<br />
fig. 2.<br />
Chiaramente la diagonale, in funzione della<br />
costante reticolare a, è anche data dalla<br />
relazione:<br />
Detto ciò, il valore richiesto sarà: <br />
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Tecnologia dei Materiali e Chimica Applicata – <strong>Esercitazione</strong> II<br />
Prof. Dr. Bernhard Elsener<br />
ESERCIZIO 2<br />
Figure 2 Cella elementare <br />
1 Quali sono i piani compatti (a) della struttura CFC e (b) della struttura EC <br />
Piani compatti: CFC {111}, EC (0001)<br />
2 Quali sono le direzioni compatte (a) della struttura CFC e (b) della struttura EC <br />
Direzioni compatti: CFC [011], [110], [101], EC [1000], [0100], [0010]<br />
3 Quanti sistemi di scorrimento sono presenti nella struttura CFC e EC <br />
I sistemi di scorrimento sono definiti da una linea compatta (direzione) in un piano<br />
compatto. Come visto nella risposta 2, ogni piano compatto contiene tre linee<br />
compatte. Il reticolo EC ha solamente un piano compatto mentre il reticolo CFC ha<br />
quattro piani compatti (famiglia {111}) che stanno perpendicolo sulle diagonale di<br />
corpo.<br />
EC: 3 sistemi di scorrimento, CFC 12 sistemi di scorrimento. <br />
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ESERCIZIO 3<br />
I fattori che determinano il grado relativo di solubilità sono nell' ordine della loro importanza:<br />
- differenza del raggio atomico (solubilità per ± 15 %);<br />
- reticolo cristallografico identico;<br />
- differenza in elettronegatività;<br />
- differenza nella valenza.<br />
Molto semplicemente, il calcolo della differenza del raggio atomico, si esegue con la formula:<br />
I risultati sono riassunti in tabella.<br />
Sistema<br />
Differenza di<br />
Differenza di<br />
Grado previsto<br />
Massima solbilità<br />
r atomico<br />
elettroneg.<br />
di solubilità<br />
osservata<br />
Cu – Zn + 3.9 % 0.1 Alta 38.3<br />
Cu – Pb + 36.7 % 0.2 Molto bassa 0.1<br />
Cu – Si - 8.6 % 0 bassa 11.2<br />
Cu – Ni - 2.3 % 0 media 100<br />
Cu – Al + 11.7 % 0.3 media 19.6<br />
Cu – Be - 10.9 % 0.3 media 16.4<br />
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ESERCIZIO 4<br />
Lo sforzo richiesto è calcolabile con la formula:<br />
t=σcosλcosf<br />
Dove l’angolo λ rappresenta l’angolo tra la<br />
direzione di σ e la direzione [0-11], mentre l’angolo<br />
f è quello formato tra σ e la <strong>normale</strong> al piano (111).<br />
λ = 45°<br />
f =54,74° (cos f =<br />
) <br />
t = 5,6 MPa<br />
ESERCIZIO 5<br />
Questo fatto si spiega con l’aumento esponenziale del numero di vacanze con la<br />
temperatura.<br />
Infatti l’equazione di Arrhenius mette in relazione in numero di vacanze con la temperatura:<br />
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